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HINTERGRUND
DER ERFINDUNG
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Gebiet der Erfindung
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine Bildplattenvorrichtung, die
zur Aufzeichnung und Wiedergabe von Information auf einem optischen
Aufzeichnungsmedium verwendet wird. Insbesondere betrifft die vorliegende
Erfindung eine Technik zur Stabilisierung der Qualität beim Aufzeichnen
und Wiedergeben von Information durch die Bildplattenvorrichtung, die
mit einem Flüssigkristallelement
ausgestattet ist.
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Beschreibung
der verwandten Technik
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Optische
Aufzeichnungsmedien einschließlich
einer Compact-Disc
(nachstehend als CD bezeichnet) und einer Digital Versatile Disc
(nachstehend als DVD bezeichnet) sind in weitem Umfang erhältlich.
Um die auf dem optischen Aufzeichnungsmedium aufgezeichnete Informationsmenge
zur erhöhen,
wurden des Weiteren in den letzten Jahren Untersuchungen über die
hohe Dichte des optischen Aufzeichnungsmediums durchgeführt. Beispielsweise
ist ein optisches Aufzeichnungsmedium hoher Dichte, wie etwa eine
Blu-Ray Disc (nachstehend als BD bezeichnet) auf dem Markt erhältlich.
Daher sind in jüngster
Zeit viele Bildplattenvorrichtungen entwickelt worden, die Information
auf mehreren Typen optischer Aufzeichnungsmedien aufzeichnen und
wiedergeben können.
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Die
Dicke einer Schutzschicht, die eine Aufzeichnungsoberfläche des
optischen Aufzeichnungsmediums schützt, hängt von dem Typ des optischen Aufzeichnungsmediums
ab. Zum Beispiel betragen die Dickenwerte der Schutzschicht einer
CD, einer DVD und einer BD 1,2 mm bzw. 0,6 mm bzw. 0,1 mm. Des Weiteren
kann die Bildplattenvorrichtung, die mehrere Typen optischer Aufzeichnungsmedien
unterstützt,
ein Problem der Qualitätsverschlechterung bei
der Aufzeichnung und Wiedergabe von Information aufweisen, das durch
einen sphärischen
Abbildungsfehler verursacht wird, der durch den Unterschied der
Schutzschicht unter den optischen Aufzeichnungsmedientypen entsteht.
Daher wird herkömmlicherweise
eine Bildplattenvorrichtung vorgeschlagen, bei der ein Flüssigkristallelement
in einem optischen System eines optischen Abnehmers, der in der
Bildplattenvorrichtung vorgesehen ist, angeordnet ist, und eine
Spannung, die an das Flüssigkristallelement
angelegt wird, wird so gesteuert, das eine Phase eines Lichtstrahls,
der durch das Flüssigkristallelement
hindurchgeht, zum Korrigieren des sphärischen Abbildungsfehlers gesteuert
wird.
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Außerdem ist
der Zweck der Anordnung des Flüssigkristallelements
in dem optischen System des optischen Abnehmers nicht auf die Korrektur
des sphärischen
Abbildungsfehlers, wie oben beschrieben, beschränkt, sondern es besteht noch
ein weiterer Zweck des Korrigierens eines Koma-Abbildungsfehlers,
welcher erzeugt wird, wenn eine optische Achse des aus der Lichtquelle
emittierten Lichtstrahls in Bezug auf die Aufzeichnungsoberfläche des
optischen Aufzeichnungsmediums geneigt wird, indem eine an das Flüssigkristallelement
anzulegende Ansteuerspannung gesteuert wird, wie beispielsweise
in JP-A-2000-298862 beschrieben ist.
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Das
Flüssigkristallelement,
das in der Bildplattenvorrichtung zum Zweck des Korrigierens des Wellen-Abbildungsfehlers,
wie zum Beispiel eines sphärischen
Abbildungsfehlers oder eines Koma-Abbildungsfehlers, wie oben beschrieben,
verwendet wird, weist bekanntermaßen Charakteristiken auf, die zusammen
mit einer Tempera turänderung
variieren bzw. schwanken. Aus diesem Grund, wenn die Korrektur der
Schwankung der Charakteristiken aufgrund einer Temperaturänderung
des Flüssigkristallelements
nicht berücksichtigt
wird, gibt es das Problem einer Qualitätsverschlechterung bei der
Aufzeichnung und Wiedergabe von Information durch die Bildplattenvorrichtung,
weil das Flüssigkristallelement
den Wellen-Abbildungsfehler, wie zum Beispiel den sphärischen
Abbildungsfehler oder den Koma-Abbildungsfehler, nicht ausreichend
korrigieren kann.
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Was
diesen Punkt betrifft, so beschreibt beispielsweise JP-A-2000-298862 oder JP-A-2000-40249
eine Technik, in der eine Bildplattenvorrichtung, die mit einem
Flüssigkristallelement versehen
ist, einen Temperatursensor, wie etwa einen in der Bildplattenvorrichtung
angeordneten Thermistor, beinhaltet, um nicht durch die Schwankung der
Eigenschaften des Flüssigkristallelements
aufgrund einer Temperaturänderung
beeinträchtigt
zu werden, und eine Spannung zum Ansteuern des Flüssigkristallelements
wird durch die Verwendung der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements,
die durch den Temperatursensor gemessen wird, und einer Angabe über Phasencharakteristiken und
Antwortcharakteristiken auf eine Temperaturschwankung des Flüssigkristalls
gesteuert, die im Voraus in einem Speicher oder dergleichen, der
in der Bildplattenvorrichtung vorgesehen ist, gespeichert wird.
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Da
jedoch die in JP-A-2000-298862 oder JP-A-2000-40249 beschriebene
Bildplattenvorrichtung einen Aufbau hat, in dem eine an das Flüssigkristallelement
anzulegende Spannung in Antwort auf eine Temperaturänderung
gesteuert wird, indem ein Temperatursensor separat in der Vorrichtung
zum Messen der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements angeordnet
wird, besteht das Problem einer steigenden Anzahl von Komponenten,
eines komplizierten Auf baus der Vorrichtung und einer Zunahme der
Herstellungskosten, wenn die Bildplattenvorrichtung hergestellt
wird.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Angesichts
des vorstehend beschriebenen Problems ist es Aufgabe der vorliegenden
Erfindung, eine Bildplattenvorrichtung mit einem Flüssigkristallelement
zum Zweck der Korrektur eines Wellen-Abbildungsfehlers bereitzustellen, die
den Einfluss einer Schwankung der Eigenschaften des Flüssigkristallelements
aufgrund einer Temperaturänderung
angemessen korrigieren kann, ohne in der Vorrichtung einen Temperatursensor
separat zum Messen der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements
anzuordnen.
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Zur
Lösung
der vorstehend beschriebenen Aufgabe beinhaltet eine Bildplattenvorrichtung
gemäß einem
Aspekt der vorliegenden Erfindung: einen optischen Abnehmer einschließlich einer
Lichtquelle, eines Lichterfassungsabschnitts zum Empfangen eines
Lichtstrahls, um Lichtinformation des Lichtstrahls in ein elektrisches
Signalumzuwandeln, eines optischen Systems zum Komprimieren des
aus der Lichtquelle emittierten Lichtstrahls auf einer Aufzeichnungsoberfläche eines
optischen Aufzeichnungsmediums und zum Leiten des durch die Aufzeichnungsoberfläche reflektierten
Reflexionslichts zum Lichterfassungsabschnitt und eines Flüssigkristallelements, das
in dem optischen System zum Korrigieren eines Wellen-Abbildungsfehlers
angeordnet ist; einen Flüssigkristallelement-Steuerkreis
zum Ansteuern des Flüssigkristallelements
durch Anlegen einer Spannung an das Flüssigkristallelement; einen
Speicherabschnitt zum Speichern einer ersten Information im Voraus,
die eine Beziehung zwischen einer Ansteuerspannung zum Ansteuern
des Flüssigkristallelements
in einem Fall, in dem ein optimales wiedergegebenes Signal durch
Verarbeiten des im Lichterfassungsabschnitt umgewan delten elektrischen
Signals ermittelt wird, und der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements
betrifft, und einer zweiten Information, die eine Beziehung zwischen
den Eigenschaften oder einem Steuerungswert zum Steuern der Eigenschaften
und der Temperatur einer temperaturabhängigen Komponente, deren Eigenschaften eine
Temperaturabhängigkeit
aufweisen, unter den in der Vorrichtung angeordneten Komponenten
betrifft, und einen Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt zum Ermitteln
der Eigenschaften oder des Steuerungswerts der temperaturabhängigen Komponente
zu einer vorgegebenen Zeit, zum Ermitteln der Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements aus
den ermittelten Eigenschaften oder dem Steuerungswert und der zweiten
Information und zum Ermitteln der Ansteuerspannung, die dem Flüssigkristallelement-Steuerkreis
unter Verwendung der Temperatur und der ersten Information zugeführt wird.
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Außerdem ist
gemäß einem
weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung in der Bildplattenvorrichtung
mit dem oben beschriebenen Aufbau die temperaturabhängige Komponente
ein Element, das in dem optischen Abnehmer vorgesehen ist.
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Zusätzlich ist
gemäß einem
noch weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung in der Bildplattenvorrichtung
mit dem oben beschriebenen Aufbau die temperaturabhängige Komponente
das Flüssigkristallelement,
die zweite Information ist eine Information, die eine Beziehung
zwischen einer Antwortzeit, die eine Zeitdauer von der Anwendung
einer vorgegebenen Ansteuerspannung auf das Flüssigkristallelement, bis ein
Wert eines vorgegebenen Signals, der aus dem durch den Lichterfassungsabschnitt
umgewandelten elektrischen Signal ermittelt wird, im Wesentlichen
konstant wird, ist, und der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements
betrifft, und der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt misst die
Antwortzeit durch Anlegen der vorgegebenen Ansteuerspannung an das
Flüssigkristallelement
und ermittelt die Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements durch
Verwendung der ermittelten Antwortzeit und der zweiten Information.
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Außerdem ist
gemäß einem
weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung in der Bildplattenvorrichtung
mit dem oben beschriebenen Aufbau die temperaturabhängige Komponente
ein Halbleiterlaser, der die Lichtquelle ist, die zweite Information
ist eine Information, die den Ansteuerstrom, wenn die Lichtausgangsleistung
des Halbleiterlasers ein vorgegebener Wert ist, und die Temperatur
betrifft, und der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt ermittelt den
Ansteuerstrom zum vorgegebenen Zeitpunkt und ermittelt die Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements
durch Verwendung des ermittelten Ansteuerstroms und der zweiten
Information.
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Gemäß dem ersten
Aufbau der vorliegenden Erfindung ist es möglich, eine Korrektur einer
an das Flüssigkristallelement
anzulegenden Ansteuerspannung in Bezug auf eine Temperaturschwankung
angemessen durchzuführen,
ohne einen Temperatursensor, wie etwa einen Thermistor, separat
vorzusehen. Somit kann eine Bildplattenvorrichtung, die einen geeigneten
Lichtfleck auf der Aufzeichnungsoberfläche des optischen Aufzeichnungsmediums
ungeachtet der Temperaturänderung
ausbilden kann, zu niedrigen Kosten hergestellt werden und des Weiteren
kann der Aufbau der Vorrichtung selbst vereinfacht werden.
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Außerdem ist
gemäß einem
zweiten Aufbau der vorliegenden Erfindung in der Bildplattenvorrichtung
mit dem oben beschriebenen ersten Aufbau die temperaturabhängige Komponente,
die zum Ermitteln der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements verwendet
wird, ein Element, das in dem optischen Abnehmer vorgesehen ist.
Daher ist ein relativer Abstand zwischen dem Flüssigkristallelement und der
temperaturabhängigen
Komponente nicht so groß,
so dass die Korrektur der an das Flüssigkristallelement anzulegenden
Ansteuerspannung in Bezug auf eine Temperaturänderung rund um das Flüssigkristallelement
angemessen durchgeführt
werden kann.
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Zusätzlich wird
gemäß dem dritten
Aufbau der vorliegenden Erfindung in der Bildplattenvorrichtung
mit dem oben beschriebenen zweiten Aufbau die an das Flüssigkristallelement
anzulegende Ansteuerspannung durch Verwenden des Flüssigkristallelements
selbst, das durch die Temperaturänderung beeinträchtigt wird,
gesteuert, so dass die Korrektur der an das Flüssigkristallelement anzulegenden
Ansteuerspannung in Bezug auf eine Temperaturänderung angemessener durchgeführt werden
kann.
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Außerdem wird
gemäß dem vierten
Aufbau der vorliegenden Erfindung in der Bildplattenvorrichtung
mit dem oben beschriebenen zweiten Aufbau die Lichtausgangsleistung
des Halbleiterlasers mit Temperaturabhängigkeit konventionell so gesteuert, dass
sie ungeachtet einer Umgebungstemperaturschwankung konstant ist,
in dem ein Lichtempfangselement für einen vorderen Monitor verwendet
wird. Daher ist es möglich,
einen Aufbau leicht zu realisieren, indem die Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements
ermittelt werden kann, indem eine Beziehung zwischen dem Ansteuerstrom
zum Ansteuern des Halbleiterlasers und der Temperatur genutzt wird,
ohne einen Temperatursensor separat anzuordnen.
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KURZE BESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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1 ist
ein Blockdiagramm, das einen Aufbau einer Bildplattenvorrichtung
gemäß einer
ersten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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2 ist
ein schematisches Diagramm eines optischen Systems eines optischen
Abnehmers, der in einer in 1 gezeigten
Bildplattenvorrichtung vorgesehen ist.
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3A und 3B sind
Erläuterungsdiagramme
zur Beschreibung eines Aufbaus des Flüssigkristallelements, das in
der in 1 gezeigten Bildplattenvorrichtung vorgesehen
ist; 3A ist eine schematische Querschnittsansicht von
diesem und 3B ist eine Draufsicht von diesem.
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4 ist
ein Graph, der einen sphärischen Abbildungsfehler
und ein Muster einer Phasendifferenz zeigt, die in dem Flüssigkristallelement
zum Korrigieren des sphärischen
Abbildungsfehlers erzeugt wird.
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5 ist
ein Blockdiagramm, das einen Aufbau eines Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitts
der in 1 gezeigten Bildplattenvorrichtung zeigt.
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6 ist
ein Diagramm, das schematisch eine Beziehung zwischen einer Phasenschwankung, die
in dem Flüssigkristallelement
entsteht, und der Zeit zeigt, wenn eine vorgegebene Ansteuerspannung
an das Flüssigkristallelement
angelegt wird.
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7 ist
ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen der Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements
und der Antwortzeit des Flüssigkristallelements
zeigt.
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8 ist
ein Flussdiagramm, das ein Steuerungsverfahren für die an das Flüssigkristallelement anzulegende
Ansteuerspannung zeigt, die durch den Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt
der in 1 gezeigten Bildplattenvorrichtung durchgeführt wird.
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9 ist
ein Blockdiagramm, das einen Aufbau einer Bildplattenvorrichtung
gemäß einer
zweiten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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10 ist
ein Blockdiagramm, das eine Beziehung zwischen einem Ansteuerstrom
und der Lichtausgangsleistung eines Halbleiterlasers bei jeder Temperatur
zeigt.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
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Nun
werden die Inhalte der vorliegenden Erfindung im Detail beschrieben,
aber die hier beschriebenen Ausführungsformen
sind lediglich Beispiele, und es sollte verstanden werden, dass
die vorliegende Erfindung nicht so ausgelegt wird, dass sie auf
die Ausführungsformen
beschränkt
ist.
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1 ist
ein Blockdiagramm, das einen Aufbau einer Bildplattenvorrichtung
gemäß einer
ersten Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung zeigt. Eine Bildplattenvorrichtung 1 ist
imstande, Information von einem optischen Aufzeichnungsmedium 12 wiederzugeben
und Information auf dem Aufzeichnungsmedium 12 aufzuzeichnen.
Das Bezugszeichen 2 bezeichnet einen Spindelmotor und das
optische Aufzeichnungsmedium 12 wird in entfernbarer Weise
durch einen (nicht gezeigten) Einspannabschnitt, der am oberen Abschnitt
des Spindelmotors 2 angeordnet ist, gehalten. Dann treibt
der Spindelmotor 2 das optische Aufzeichnungsmedium 12 an, so
dass es sich fortwährend
dreht, wenn Information auf dem optischen Aufzeichnungsmedium 12 aufgezeichnet
oder von dem optischen Aufzeichnungsmedium 12 wiedergegeben
wird. Die Rotationssteuerung des Spindelmotors 2 wird durch
einen Spindelmotor-Steuerungsabschnitt 4 durchgeführt.
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Das
Bezugszeichen 3 bezeichnet einen optischen Abnehmer, der
einen aus der Lichtquelle emittierten Laserstrahl auf das optische
Aufzeichnungsmedium 12 projiziert, so dass Information
auf das optische Aufzeichnungsmedium 12 geschrieben und auf
dem optischen Aufzeichnungsmedium 12 aufgezeichnete Information
gelesen werden kann. 2 ist ein schematisches Diagramm
eines optischen Systems des optischen Abnehmers 3. Wie
in 2 gezeigt ist, wird in dem optischen Abnehmer 3 durch ein
Farbsyntheseprisma 15 bewirkt, dass die aus Lichtquellen 13 und 14 emittierten
Lichtstrahlen dieselbe optische Achse haben, und werden durch eine Kollimatorlinse 16 zu
parallelen Strahlen gemacht. Dann geht der Lichtstrahl durch einen
Strahlteiler 17 hindurch, wird durch einen Totalreflexionsspiegel 18 reflektiert,
so dass seine optische Achse im Wesentlichen senkrecht zu einer
Aufzeichnungsoberfläche 12a des
optischen Aufzeichnungsmediums 12 ist, geht durch ein Flüssigkristallelement 19 hindurch
und wird durch eine Objektivlinse 20 auf der Aufzeichnungsoberfläche 12a des
optischen Aufzeichnungsmediums zum Aufzeichnen von Information komprimiert.
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Reflexionslicht,
das durch das optische Aufzeichnungsmedium 12 reflektiert
wird, geht durch die Objektivlinse 20 und das Flüssigkristallelement 19 in dieser
Reihenfolge hindurch, wird durch den Totalreflexionsspiegel 18 reflektiert
und wird weiterhin durch den Strahlteiler 17 reflektiert,
so dass es durch eine Kondensorlinse 21 auf einem (nicht
gezeigten) Lichtempfangsabschnitt eines Photodetektors 22 komprimiert
wird. Der Photodetektor 22 wandelt das empfangene Lichtsignal
in ein elektrisches Signal um. An diesem Punkt ist die Lichtquelle 13 in
der vorliegenden Ausführungsform
eine integrierte Zwei-Wellenlängen-Laserdiode,
die Lichtstrahlen für
eine CD und für
eine DVD emittiert, während
die Lichtquelle 14 eine Laserdiode ist, die einen Lichtstrahl
für eine
BD emittiert. Daher ist die Bildplattenvorrichtung 1 imstande,
Information auf einer CD, einer DVD und einer BD aufzuzeichnen und
wiederzugeben.
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Der
optische Abnehmer 3 kann drei verschiedene Typen von optischen
Aufzeichnungsmedien 12 unterstützen, und diese verschiedenen
Typen der optischen Aufzeichnungsmedien 12 haben verschiedene
Dicken der Schutzschicht, wie oben beschrieben. Daher besteht das
Problem eines sphärischen
Abbildungsfehlers in dem optischen Abnehmer 3, der nur eine
Objektivlinse 20 wie in der vorliegenden Ausführungsform
hat. Aus diesem Grund ist ein Flüssigkristallelement 19 so
angeordnet, dass es den sphärischen
Abbildungsfehler korrigiert.
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3A und 3B sind
Erläuterungsdiagramme,
die einen Aufbau des Flüssigkristallelements 19,
das in dem optischen Abnehmer 3 vorgesehen ist, beschreiben. 3A ist
eine schematische Querschnittsansicht, die einen Aufbau des Flüssigkristallelements 19 zeigt,
und 3B ist eine Draufsicht des in 3A gezeigten
Flüssigkristallelements 19,
wenn es von oben gesehen wird. Wie in 3A gezeigt,
beinhaltet das Flüssigkristallelement 19 einen
Flüssigkristall 23,
zwei transparente Elektroden 24a und 24b, die
das Flüssigkristall 23 sandwichartig
einschließen,
und zwei Glasplatten 26, die einen Abschnitt 25,
der aus dem Flüssigkristall 23 und
den transparenten Elektroden 24a und 24b besteht,
sandwichartig einschließen.
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Wie
in 3B gezeigt ist, ist die transparente Elektrode 24a,
die das Flüssigkristallelement 19 bildet,
in mehrere konzentrische, kreisförmige
Bereiche 28a-28f unterteilt. Andererseits ist die transparente
Elektrode 24b, die der transparenten Elektrode 24a gegenüberliegt,
nicht unterteilt, sondern bildet insgesamt eine einzelne allge meine
Elektrode. An diesem Punkt ist es möglich, die transparente Elektrode 24b als
mehrere konzentrische, kreisförmige Bereiche
in derselben Weise wie die transparente Elektrode 24a auszubilden.
Ein solcher Aufbau der transparenten Elektroden 24a und 24b ermöglicht es dem
Lichtstrahl, der durch das Flüssigkristallelement 19 hindurchgeht,
eine gewünschte
Phasendifferenz zu erzeugen, so dass ein sphärischer Abbildungsfehler, der
entsteht, wenn Information auf verschiedenen Typen optischer Aufzeichnungsmedien 12 wiedergegeben
oder aufgezeichnet wird, angemessen korrigiert werden kann. An diesem
Punkt sind die transparenten Elektroden 24a und 24b über Führungsdrähte 27 mit
einem Flüssigkristallelement-Steuerkreis
eines Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitts 9, der
später
beschrieben wird, elektrisch verbunden, und der Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 steuert
eine an die transparenten Elektroden 24a und 24b anzulegende
Ansteuerspannung.
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Nachstehend
werden Handlungen des Flüssigkristallelements 19 mit
dem oben beschriebenen Aufbau beschrieben. 4 ist ein
Graph, der einen sphärischen
Abbildungsfehler (eine ausgezogene Linie in der Kurve), der entsteht,
wenn Information auf einem bestimmten optischen Aufzeichnungsmedium 12 wiedergegeben
oder aufgezeichnet wird, und ein Muster einer Phasendifferenz (eine
gestrichelte Linie in der Kurve) zeigt, das durch das Flüssigkristallelement 19 zum
Korrigieren des sphärischen
Abbildungsfehlers entsteht. An diesem Punkt muss das durch das Flüssigkristallelement 19 zu
erzeugende Phasendifferenzmuster die zu dem in 4 gezeigten
Phasendifferenzmuster entgegengesetzte Phase aufweisen, um den sphärischen
Abbildungsfehler aufzuheben, aber das in 4 gezeigte
Muster ist aus praktischen Gründen
nicht die entgegengesetzte Phase. Außerdem gibt die horizontale
Achse in 4 einen Abstand von der Mitte
O der transparenten Elektrode 24a an, die in konzentrische,
kreisförmige Bereiche
unterteilt ist, und die unter der hori zontalen Achse angegebenen
Zahlen entsprechen Ziffern, die die Bereiche der transparenten Elektrode 24a bezeichnen
(siehe 3B).
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Wenn
eine Spannung an die transparenten Elektroden 24a und 24b angelegt
wird, so dass die Bereiche 28a-28f das Phasendifferenzmuster
erzeugen, das die zu dem in 4 gezeigten
Phasendifferenzmuster (die gestrichelte Linie in der Kurve) entgegengesetzte
Phase aufweist, wird der Abbildungsfehler so korrigiert, dass er
ein Niveau zum Wiedergeben oder Aufzeichnen von Information auf
dem optischen Aufzeichnungsmedium 12 hat, das fast unbedeutend
ist, so dass ein geeignetes wiedergegebenes Signal erhalten werden
kann. An diesem Punkt hängt
der Entstehungsbetrag des sphärischen
Abbildungsfehlers von dem Typ des optischen Aufzeichnungsmediums 12 ab,
so dass die durch das Flüssigkristallelement 19 zu
erzeugende Phasendifferenz sowie der Wert der an die transparenten
Elektroden 24a und 24b anzulegenden Spannung entsprechend dem
Typ des optischen Aufzeichnungsmediums 12 unterschiedlich
sein sollten.
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Es
wird wieder auf 1 Bezug genommen, in der die
Bildplattenvorrichtung 1 mit einem Lasersteuerungsabschnitt 5,
einem Servosteuerungsabschnitt 6, einem Aufzeichnungssteuerungsabschnitt 7,
einem Wiedergabesteuerungsabschnitt 8 und dem Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 ausgestattet
ist. An diesem Punkt sind diese Steuerungsabschnitte 5-9 und
der oben beschriebene Spindelmotor-Steuerungsabschnitt 4 mit
einem Systemsteuerungsabschnitt 10 verbunden, der das gesamte
System steuert. Nachstehend wird jeder der Steuerungsabschnitte 5-9 beschrieben.
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Der
Lasersteuerungsabschnitt 5 steuert die Ausgangsleistung
des Laserstrahls, der aus den Halbleiterlasern emittiert wird, die
die in dem optischen Abnehmer 3 vorgesehenen Lichtquellen 13 und 14 sind
(siehe 2). Außerdem
ist der Lasersteuerungsabschnitt 5 mit dem Aufzeichnungssteuerungsabschnitt 7 verbunden
und seine Betätigung wird
durch ein Signal vom Aufzeichnungssteuerungsabschnitt 7 gesteuert.
Der Aufzeichnungssteuerungsabschnitt 7 wird später beschrieben.
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Der
Servosteuerungsabschnitt 6 führt eine Servosteuerung, wie
zum Beispiel eine Fokussierungssteuerung und eine Spursteuerung,
in dem optischen Abnehmer 3 durch. Der Servosteuerungsabschnitt 6 erzeugt
ein Fokusfehlersignal und ein Spurfehlersignal auf der Grundlage
des durch den Photodetektor 22 erhaltenen elektrischen
Signals (siehe 2) und führt einem (nicht gezeigten)
Aktuator, der das Flüssigkristallelement 19 und
die Objektivlinse 20 (siehe 20 für beide)
einschließt
und im optischen Abnehmer 3 vorgesehen ist, ein Ansteuersignal
zu. Der Aktuator, dem das Ansteuersignal zugeführt wird, betätigt jeden
der Abschnitte auf der Grundlage des Signals, um die Fokussierungssteuerung
zum Einstellen des Fokus durch Bewegen der Objektivlinse 20 in
der zur optischen Achse parallelen Richtung und die Spursteuerung
durchzuführen,
um eine Position eines Lichtstrahlflecks mit einer Position einer
auf dem optischen Aufzeichnungsmedium 12 ausgebildeten
Spur durch Bewegen der Objektivlinse 20 in Radialrichtung
des optischen Aufzeichnungsmediums 12 in Übereinstimmung
zu bringen.
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Der
Aufzeichnungssteuerungsabschnitt 7 spielt eine Rolle bei
der Modulierung von Informationsdaten, die von einer (nicht gezeigten)
externen Vorrichtung, wie etwa einem Personalcomputer, über eine
Schnittstelle 11 eingegeben werden, unter Verwendung einer
(nicht gezeigten) Modulationsschaltung und eine Rolle bei der Übertragung
des modulierten Datensignals an den Lasersteuerungsabschnitt 5.
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Der
Wiedergabesteuerungsabschnitt 8 erzeugt ein wiedergegebenes
Signal unter Verwendung des Signals, das durch den Photodetektor 22, der
in dem optischen Abnehmer 3 vorgesehen ist, erfasst wird.
Dann wird das erzeugte wiedergegebene Signal über die Schnittstelle 11 an
eine externe Vorrichtung, wie etwa einen Personalcomputer, gesendet.
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Der
Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 spielt
eine Rolle bei der Steuerung der Ansteuerspannung, die an die transparenten
Elektroden 24a und 24b des Flüssigkristallelements 19,
das in dem optischen Abnehmer 3 vorgesehen ist, anzulegen
ist. Da der sphärische
Abbildungsfehler unter den oben beschriebenen verschiedenen Typen
der optischen Aufzeichnungsmedien 12 unterschiedlich ist,
werden die Daten von an die transparenten Elektroden 24a und 24b anzulegenden
Spannungen für verschiedene
Typen optischer Aufzeichnungsmedien 12 (eine CD, eine DVD
und eine BD) in einem (nicht gezeigten) Speicher gespeichert, der
in dem Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 vorgesehen ist.
Dann ist die Bildplattenvorrichtung 1 der vorliegenden
Ausführungsform
so aufgebaut, dass die Ansteuerspannung nach dem Korrigieren der
Schwankung der Eigenschaften aufgrund einer Temperaturänderung
des Flüssigkristallelements 19 an
das Flüssigkristallelement 19 angelegt
wird. Nachstehend wird der Aufbau der Korrektur der an das Flüssigkristallelement 19 anzulegenden
Ansteuerspannung in Bezug auf eine Temperaturänderung beschrieben.
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5 ist
ein Blockdiagramm, das einen Aufbau des Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitts 9 zeigt.
Der Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 ist
mit einem Speicher (Speicherabschnitt) 29, einem Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 und
einem Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 ausgestattet.
Der Speicher 29 speichert eine erste Information, die eine
Beziehung zwi schen den an das Flüssigkristallelement 19 zur
Optimierung des wiedergegebenen Signals für verschiedene Typen optischer
Aufzeichnungsmedien 12 anzulegenden Ansteuerspannungen
und der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 betrifft.
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Diese
erste Information wird durch Ändern der
Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 in
einem vorgegebenen Temperaturintervall, um die an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende
Ansteuerspannung in einem Fall zu messen, in dem ein Jitter der
Minimalwert wird, der beispielsweise auf der Grundlage eines von
dem Photodetektor 22 (siehe 2) in Bezug
auf jede Temperatur ermittelten elektrischen Signals erzeugt wird,
und durch Organisieren des Messergebnisses in einer Tabelle erzeugt.
Im Fall der vorliegenden Ausführungsform
ist die transparente Elektrode 24a, die das Flüssigkristallelement 19 bildet,
in mehrere konzentrische, kreisförmige
Bereiche 28a-28f unterteilt (siehe 3B),
so dass die an jeden der Bereiche 28a-28f anzulegende
Ansteuerspannung in Bezug auf jede Temperatur gespeichert wird.
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An
diesem Punkt wird, da die an das Flüssigkristallelement 19 in
einem Fall anzulegende Ansteuerspannung, in dem der Jitter der Minimalwert
wird, unter den verschiedenen Typen der optischen Aufzeichnungsmedien 12 unterschiedlich
ist, die Tabelle für
jeden der verschiedenen Typen der optischen Aufzeichnungsmedien 12 erzeugt.
Des Weiteren wird, wenn die in dem Speicher 29 gespeicherte
erste Information in der vorliegenden Ausführungsform erhalten wird, der
Fall, in dem der Jitter, der auf der Grundlage des von dem Photodetektor 22 erhaltenen Signals
erzeugt wird, der Minimalwert wird, als Indikator eines optimalen
wiedergegebenen Signals verwendet, um die an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende
Ansteuerspannung festzulegen, aber die vorliegende Erfindung sollte
nicht auf diesen Aufbau begrenzt werden. Es ist möglich, die
Amplitude eines Spur fehler (Te)-Signals oder eines RF-Signals, das durch
Verarbeiten eines durch den Photodetektor 22 erhaltenen
elektrischen Signals erhalten wird, als Indikator zum Festlegen
der an das Flüssigkristallelement 19 anzulegenden
Ansteuerspannung zu verwenden. An diesem Punkt wird in diesen Fällen das wiedergegebene
Signal optimal, wenn die Amplitude des RF-Signals oder des Te-Signals
ein maximaler Wert wird.
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Außerdem ist
die erste Information, die eine Beziehung zwischen der Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements 19 und
der an das Flüssigkristallelement 19 anzulegenden
Ansteuerspannung bei jeder Temperatur betrifft, in einer Tabelle
organisiert, die in der vorliegenden Ausführungsform im Speicher 29 gespeichert
ist, aber die vorliegende Erfindung sollte nicht auf diesen Aufbau
beschränkt werden.
Beispielsweise ist es möglich,
einen Aufbau zu übernehmen,
in dem, wenn ein bestimmter Beziehungsausdruck als Beziehung zwischen
der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 und der
Ansteuerspannung erhalten wird, der Beziehungsausdruck als die erste
Information im Speicher 29 gespeichert wird.
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Der
Speicher 29 speichert nicht nur die erste Information,
sondern auch die zweite Information, die eine Beziehung zwischen
der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 und
einer Antwortzeit betrifft, die eine Zeit von der Anlegung der vorgegebenen
Ansteuerspannung an das Flüssigkristallelement 19,
bis ein Wert des Jitters, der aus dem von dem Photodetektor 22 erhaltenen
elektrischen Signal entsteht, im Wesentlichen ein konstanter Wert
wird. Nachstehend wird diese zweite Information weiter beschrieben.
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6 ist
ein Diagramm, das schematisch eine Beziehung zwischen einer Phasenschwankung, die
in dem Flüssigkristallelement 19 entsteht,
und der Zeit, wenn eine vorgegebene Ansteuerspannung an das Flüssigkristallelement
angelegt wird, zeigt, in dem die horizontale Achse die Zeit darstellt,
während die
vertikale Achse für
ein Phasenschwankungsverhältnis
steht. Wie aus 6 verstanden wird, ist eine bestimmte
Zeitlänge
als Dauer von der Anlegung einer vorgegebenen Ansteuerspannung an
das Flüssigkristallelement 19,
bis die Phasenschwankung 100% erreicht, erforderlich. Die Zeitdauer,
bis die Phasenschwankung in diesem Fall 100% erreicht, ist die Antwortzeit
des Flüssigkristallelements 19. 7 ist
ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen der Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements 19 und
der Antwortzeit des Flüssigkristallelements 19 zeigt,
und es wird verstanden, dass die Antwortzeit entsprechend der Schwankung
der Charakteristiken aufgrund der Temperaturänderung des Flüssigkristallelement 19 ebenfalls
schwankt.
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Es
gibt verschiedene Messverfahren zum Messen der Antwortzeit des Flüssigkristallelements 19.
In der vorliegenden Ausführungsform
wird eine Zeitdauer vom Anlegen der vorgegebenen Ansteuerspannung
an das Flüssigkristallelement 19 bis
der Wert des aus dem von dem Photodetektor 22 erhaltenen
elektrischen Signal erzeugten Jitters im Wesentlichen ein konstanter
Wert wird, als die Antwortzeit betrachtet. Dann wird die Umgebungstemperatur des
Flüssigkristallelements 19 in
einem vorgegebenen Temperaturintervall geändert, um die Antwortzeit bei
jeder Temperatur zu messen, und die Beziehung zwischen dieser Antwortzeit
und der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements wird in
einer Tabelle organisiert, die die zweite Information sein soll.
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Obwohl
die zweite Information in der vorliegenden Ausführungsform durch Ermitteln
der Antwortzeit aus der Messung des Jitters ermittelt wird, sollte
die vorliegende Erfindung an diesem Punkt nicht auf diesen Aufbau
beschränkt
werden. Es ist möglich,
einen Aufbau zu übernehmen,
in dem die Antwortzeit durch Messung des RF-Signals oder des Te-Signals
ermittelt wird. Außerdem,
obwohl die zweite Information, die die Beziehung zwischen der Umgebungstemperatur
des Flüssigkristallelements 19 und
der Antwortzeit betrifft, in der vorliegenden Ausführungsform
in einer Tabelle organisiert ist, sollte die vorliegende Erfindung
nicht auf diesen Aufbau beschränkt
werden. Es ist möglich,
einen Aufbau zu übernehmen,
in dem beispielsweise, wenn ein bestimmter Beziehungsausdruck als
Beziehung zwischen Vorrichtungstemperatur und Antwortzeit erhalten
wird, der Beziehungsausdruck als die zweite Information im Speicher 29 gespeichert
wird.
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Der
Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 empfängt das
elektrische Signal vom Photodetektor 22 und überträgt das elektrische
Signal an den Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31.
Der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 führt weiterhin
auch die Übertragung
und den Empfang von Information mit dem Speicher 29 durch.
Der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 ist so aufgebaut,
dass er einen Jitterwert der Bildplattenvorrichtung 1 von
dem durch den Photodetektor 22 empfangenen elektrischen
Signal erhält.
Dann beginnt der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30,
den Jitter jede vorgegebene Zeitdauer zu messen. Zu jener Zeit erhält er die
an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende
Spannung jede vorgegebene Zeit, indem die durch Messen der Antwortzeit
des Flüssigkristallelements 19 erhaltene
Antwortzeit, die die Zeitdauer ist, bis der Jitterwert im Wesentlichen
ein konstanter Wert wird, und die erste Information und die zweite
Information, die im Speicher 29 gespeichert sind, verwendet
werden.
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Der
Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 ist mit
den transparenten Elektroden 24a und 24b (siehe 3A)
verbunden, die das Flüssigkristallelement 19 zum
Steuern der Ansteuerspannung des Flüssigkristallelements 19 bilden.
Genauer gesagt, empfängt
der Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 Information
von dem Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 und
legt die Ansteuerspannung an das Flüssigkristallelement 19 unter
Berücksichtigung
der Schwankung der Charakteristiken aufgrund der Temperaturänderung
des Flüssigkristallelements 19 an.
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Die
Steuerung der Ansteuerspannung des Flüssigkristallelements 19,
die durch den Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 mit
dem oben beschriebenen Aufbau durchgeführt wird, wird unter Bezugnahme
auf ein in 8 gezeigtes Flussdiagramm beschrieben.
Die an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende
Ansteuerspannung wird auf einen Anfangswert eingestellt, der ein
vorgegebener Wert gerade nach dem Aktivieren der Bildplattenvorrichtung 1 ist
(Schritt S1). Danach überprüft der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30,
ob eine vorgegebene Zeit verstrichen ist oder nicht (Schritt S2).
Wenn die vorgegebene Zeit verstrichen ist, ändert der Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 die
an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende
Ansteuerspannung in eine vorgegebene Ansteuerspannung, um sie zu
korrigieren, so dass sie eine Ansteuerspannung entsprechend der
Temperaturänderung
ist (Schritt S3). Wenn andererseits die vorgegebene Zeit nicht verstrichen
ist, wird die Ansteuerspannung des Flüssigkristallelements 19 nicht
geändert,
bis die vorgegebene Zeit verstreicht.
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Wenn
dem Flüssigkristallelement 19 die
vorgegebene Ansteuerspannung zugeführt wird, beginnt der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 mit
der Messung des Jitters und misst die Zeitdauer, bis der Messwert
des Jitters im Wesentlichen ein konstanter Wert wird, der als die
Antwortzeit des Flüssigkristallelements 19 betrachtet
wird (Schritt S4). Wenn der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 die
Antwortzeit des Flüssigkristallelements 19 er hält, bestimmt
er die Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 aus
der ermittelten Antwortzeit und der im Speicher 29 gespeicherten zweiten
Information, und er erhält
weiterhin aus der im Speicher 29 gespeicherten ersten Information
die an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende
Ansteuerspannung (Schritt S5), damit das wiedergegebene Signal auf
der Temperatur optimal ist. Die Information hinsichtlich der durch
den Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 erhaltenen
Ansteuerspannung wird an den Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 gesendet
und der Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 ändert die
Ansteuerspannung in einen im Schritt S5 erhaltenen Ansteuerspannungswert
(Schritt S6).
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Danach
wird überprüft, ob das
Ansteuern des Flüssigkristallelements 19 fortgesetzt
wird oder nicht (Schritt S7). Wenn das Ansteuern des Flüssigkristallelements 19 fortgesetzt
wird, geht der Vorgang zurück
zu Schritt S2, so dass der Vorgang der Schritte S2 bis S7 wiederholt
wird. Wenn im Gegensatz dazu das Ansteuern des Flüssigkristallelements 19 beendet
werden soll, beendet der Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 die
Steuerung des Flüssigkristallelements 19.
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Obwohl
der Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 in der vorliegenden
Ausführungsform
die Korrektur der an das Flüssigkristallelement 19 anzulegenden
Ansteuerspannung zu jeder vorgegebenen Zeit durchführt, sollte
die vorliegende Erfindung nicht dahingehend ausgelegt werden, dass
sie auf diesen Aufbau beschränkt
ist. Beispielsweise ist es möglich,
einen weiteren Aufbau zu übernehmen, in
dem er die Korrektur der an das Flüssigkristallelement 19 anzulegenden
Antriebssteuerung bei jedem Ereignis durchführt, beispielsweise, wenn die
Vorrichtung aktiviert wird oder bevor Information aufgezeichnet
oder wiedergegeben wird oder wenn die Quali tät der Aufzeichnung oder Wiedergabe
unter ein vorgegebenes Standardniveau sinkt.
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Weiterhin
wird in der vorliegenden Ausführungsform
bemerkt, dass die Antwortzeit des Flüssigkristallelements 19 eine
Temperaturabhängigkeit
aufweist, und es wird eine Beziehung zwischen der Antwortzeit und
der Temperatur des Flüssigkristallelements 19 zum
Ermitteln der Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 verwendet,
so dass die Ansteuerspannung des Flüssigkristallelements 19 auf
der Grundlage der ermittelten Temperatur korrigiert wird, aber die
vorliegende Erfindung sollte nicht dahingehend ausgelegt werden,
dass sie auf diesen Aufbau beschränkt ist. Der Aufbau kann im Gedanken
und Umfang der vorliegenden Erfindung verschiedentlich modifiziert
werden, ohne davon abzuweichen. Beispielsweise ist es möglich, einen
weiteren Aufbau zu übernehmen,
bei dem eine temperaturabhängige
Komponente mit den Eigenschaften der Temperaturabhängigkeit
in der Nähe
des Flüssigkristallelements 19 angeordnet
und anstelle des Flüssigkristallelements 19 eingesetzt
wird. Als ein solcher Aufbau ist beispielsweise ein Aufbau vorhanden,
bei dem die Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 durch
Nutzen der Temperaturabhängigkeit
der Lichtquellen 13 und 14 (siehe 2), die
aus einem Halbleiterlaser bestehen, ermittelt wird.
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An
diesem Punkt wird es in diesem Fall bevorzugt, dass die temperaturabhängige Komponente ein
Element ist, das an einer Position angeordnet werden kann, die nicht
zu weit vom Flüssigkristallelement 19 entfernt
ist, um die Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 korrekt
zu ermitteln, so dass die Komponente ein beispielsweise in dem optischen
Abnehmer 3 vorgesehenes Element ist.
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Nachstehend
wird eine Bildplattenvorrichtung 51, die eine zweite Ausführungsform
ist, beschrieben, in der die Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 durch
die Nutzung der Temperaturabhängigkeit
eines Halbleiterlasers ermittelt wird. An diesem Punkt sind in der
folgenden Beschreibung der Bildplattenvorrichtung 51 als
der zweiten Ausführungsform
Abschnitte, die sich mit der ersten Ausführungsform überschneiden, mit den gleichen
Bezugszeichen bezeichnet und auf ihre Beschreibung wird verzichtet,
ausgenommen in einem Fall, in dem die Beschreibung insbesondere
notwendig ist.
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9 ist
ein Blockdiagramm, das einen Aufbau der Bildplattenvorrichtung 51 der
zweiten Ausführungsform
zeigt. An diesem Punkt sind der Spindelmotor-Steuerungsabschnitt 4,
der Servosteuerungsabschnitt 6, der Aufzeichnungssteuerungsabschnitt 7 und
der Wiedergabesteuerungsabschnitt 8 (siehe 1 für diese)
in 9 weggelassen, da sie die gleichen Aufbauten wie
in der Bildplattenvorrichtung 1 der ersten Ausführungsform
aufweisen. Die Bildplattenvorrichtung 51 unterscheidet
sich von der Bildplattenvorrichtung 1 der ersten Ausführungsform darin,
dass der in dem Flüssigkristallelement-Steuerungsabschnitt 9 vorgesehene
Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 nicht
mit dem Photodetektor 22 (siehe 2) verbunden
ist, sondern mit einem (nicht gezeigten) Lasersteuerkreis, der in
dem Lasersteuerungsabschnitt 5 vorgesehen ist. In Verbindung
hiermit unterscheiden sich dann Aufbauten der zweiten Information
und des Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitts 30, die
im Speicher 29 gespeichert sind, ebenfalls von dem Fall
der Bildplattenvorrichtung 1 der ersten Ausführungsform.
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10 ist
ein Diagramm, das eine Beziehung zwischen dem Ansteuerstrom und
der Lichtausgangsleistung eines Halbleiterlasers zeigt, der die Lichtquelle 14 für eine BD
auf jeder Temperatur ist. Aus 10 wird
verständlich,
dass die Lichtausgangsleistung des Halbleiterlasers nach Maßgabe der
Umgebungstemperatur des Halbleiterlasers in einem Fall schwankt,
in dem der Ansteuerstrom konstant ist. In Anbetracht dieses Punkts
wird, wenn die Bildplattenvorrichtung 51 eine Wiedergabe
oder Aufzeichnung von Information auf dem optischen Aufzeichnungsmedium 12 durchführt, der
Ansteuerstrom zum Ansteuern des Halbleiterlasers eingestellt, während die
Lichtmenge durch ein Lichtempfangselement für einen (nicht gezeigten) vorderen Monitor
erfasst wird, so dass sie eine vorgegebene Lichtausgangsleistung
wird (die einer punktierten Linie in 10 entspricht).
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Daher
kann die Umgebungstemperatur des Halbleiterlasers ermittelt werden,
wenn der Ansteuerstrom des Halbleiterlasers durch Ermitteln einer
Beziehung zwischen dem Ansteuerstrom und der Temperatur im Fall
einer vorgegebenen Lichtausgangsleistung für einen Halbleiterlaser, der
als Lichtquelle für
die Bildplattenvorrichtung 51 eingesetzt wird, gemessen
wird. An diesem Punkt entspricht der Ansteuerstrom des Halbleiterlasers
in diesem Fall einem Steuerungswert zum Steuern der Lichtausgangsleistung,
der eine für
den Halbleiterlaser einzigartige Charakteristik ist. Des Weiteren
kann, da der Halbleiterlaser (die Lichtquelle 13 oder 14)
an einer Position angeordnet ist, die dem Flüssigkristallelement in der
Bildplattenvorrichtung 51 relativ nahe ist, die Umgebungstemperatur
des Halbleiterlasers die Umgebungstemperatur des Flüssigkristallelements 19 darstellen.
Daher wird als die in dem Speicher 29 zu speichernde zweite
Information eine Beziehung zwischen der Temperatur rund um die Lichtquelle (den
Halbleiterlaser) und dem Ansteuerstrom des Halbleiterlasers im Voraus
gemessen und zu einer Tabelle organisiert.
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Der
Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 misst den Ansteuerstrom
des Halbleiterlasers beispielsweise jede vorgegebene Zeit und er
ermittelt die Umgebungstemperatur des Flüssigkristall elements 19 durch
Verwenden der im Speicher 29 gespeicherten zweiten Information
nach Maßgabe des
ermittelten Ansteuerstroms und ermittelt weiterhin die an das Flüssigkristallelement 19 anzulegende Ansteuerspannung
aus der Temperatur und der ersten Information auf dieselbe Weise
wie in der ersten Ausführungsform.
Die durch den Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 ermittelte
Ansteuerspannungsinformation wird an den Flüssigkristallelement-Steuerkreis 31 gesendet,
so dass die Ansteuerspannung geändert
wird.
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An
diesem Punkt ist es bevorzugt, die Beziehung zwischen der Temperatur
und dem Ansteuerstrom für
jede Lichtquelle zu ermitteln und die Information als die zweite
Information zu speichern, da verschiedene Lichtquellen für verschiedne
Typen der optischen Aufzeichnungsmedien 12 verwendet werden
und die Lichtquellen verschiedene Charakteristiken aufweisen. Außerdem wird
die zweite Information in der vorliegenden Ausführungsform als Tabelle gespeichert.
Wenn es jedoch möglich
ist, die Beziehung zwischen der Temperatur und dem Ansteuerstrom
des Halbleiterlasers durch einen bestimmten Beziehungsausdruck auszudrücken, kann
der Beziehungsausdruck als die zweite Information im Speicher 29 gespeichert
werden.
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In
der Bildplattenvorrichtung 1 oder 51 der oben
beschriebenen ersten und zweiten Ausführungsform kann die durch den
Ansteuerspannungs-Ermittelungsabschnitt 30 ermittelte Ansteuerspannung
eine Ansteuerspannungsinformation oder dergleichen in Bezug auf
alle optischen Aufzeichnungsmedien 12 sein, die durch die
Bildplattenvorrichtung 1 oder 51 gelesen oder
beschrieben werden können.
Außerdem
sind Typen und Anzahlen der optischen Aufzeichnungsmedien 12,
die durch die Bildplattenvorrichtung 1 oder 51 gelesen
oder beschrieben werden können,
nicht auf drei Typen ein schließlich
einer CD, einer DVD und einer BD beschränkt, sondern können im
Gedanken und Umfang der vorliegenden Erfindung geändert werden,
ohne davon abzuweichen. Beispielsweise kann die vorliegende Erfindung
auf eine Bildplattenvorrichtung angewendet werden, die ein optisches
Aufzeichnungsmedium 12 mit mehreren Schichten der Aufzeichnungsoberfläche unterstützt, und
es ist notwendig, die erste Information für jede der Schichten in dem
Fall zu erzeugen, dass das optische Aufzeichnungsmedium mehrere
Schichten der Aufzeichnungsoberfläche hat.
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Außerdem kann,
obwohl das Flüssigkristallelement 19,
das in der Bildplattenvorrichtung 1 oder 51 vorgesehen
ist, ein Typ zum Korrigieren eines sphärischen Abbildungsfehlers in
der ersten und zweiten Ausführungsform
ist, die vorliegende Erfindung auf ein Flüssigkristallelement eines anderen
Typs als dem Typ zum Korrigieren eines sphärischen Abbildungsfehlers angewendet
werden. Beispielsweise kann sie auf einen Typ angewendet werden,
in dem das Flüssigkristallelement
einen Wellen-Abbildungsfehler wie etwa einen Koma-Abbildungsfehler
korrigiert. Außerdem
sollte, obwohl die Bildplattenvorrichtung 1 oder 51 imstande
ist, Information in der ersten und der zweiten Ausführungsform
aufzuzeichnen und zu speichern, die vorliegende Erfindung nicht
auf diesen Aufbau beschränkt
werden. Beispielsweise kann die vorliegende Erfindung auf eine Bildplattenvorrichtung
oder dergleichen angewendet werden, die lediglich zur Informationswiedergabe
imstande ist.
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Die
Bildplattenvorrichtung der vorliegenden Erfindung kann die Schwankung
der Charakteristiken angemessen korrigieren, die aufgrund einer
Temperaturschwankung des Flüssigkristallelements
entsteht, das zum Korrigieren eines Wellen-Abbildungsfehlers vorgesehen
ist, so dass die Qualität
beim Aufzeichnen und Wiedergeben von Information auf einem optischen
Aufzeichnungsmedium stabili siert werden kann. Des Weiteren ist es
nicht notwendig, einen Temperatursensor separat in der Vorrichtung zum
Korrigieren der Schwankung von Charakteristiken in Bezug auf eine
Temperaturschwankung des Flüssigkristallelements
bereitzustellen, so dass die Vorrichtung zu niedrigen Kosten hergestellt
werden kann und der Aufbau der Vorrichtung nicht kompliziert ist.