DE102007006504A1 - Ablenkvorrichtung für Gerät zur Elektronenstrahllithographie sowie Gerät zur Elektronenstrahllithographie - Google Patents
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Abstract
Description
- Die vorliegende Anmeldung beruht auf der früheren Japanischen Patentanmeldung Nr. 2006-32660, eingereicht am 9. Februar 2006, deren Gesamtinhalt in die vorliegende Anmeldung durch Bezugnahme angeschlossen wird, und beansprucht deren Priorität.
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine Ablenkvorrichtung, die dazu eingesetzt wird, einen Elektronenstrahl zu steuern, der typischerweise zum Schreiben eines Musters bei Halbleitergeräten verwendet wird, und betrifft ein Gerät für die Elektronenstrahllithographie, das eine derartige Ablenkvorrichtung einsetzt.
- Infolge der Verkleinerung von Halbleitergeräten in den vergangenen Jahren ist ein erhöhtes Ausmaß der Genauigkeit zur Maskenbearbeitung erforderlich. Es ist momentan ein Gerät für die Elektronenstrahllithographie verfügbar, das eine sehr genaue Maskenbearbeitung ermöglicht. Derartige Geräte für die Elektronenstrahllithographie sind dazu ausgebildet, einen Elektronenstrahl so zu steuern, dass er exakt einen gewünschten Punkt trifft. Eine elektrostatische Ablenkvorrichtung wird typischerweise zum Steuern eines Elektronenstrahls verwendet.
- Bei der elektrostatischen Ablenkvorrichtung sind mehrere, einzeln isolierte, trapezförmige Elektrodenkörper symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse des abgestrahlten Elektronenstrahls angeordnet, und wird der Elektronenstrahl in Bezug auf seine Position und andere Faktoren dadurch gesteuert, dass bei jeder der Elektroden vorbestimmte Potentialänderungen durchgeführt werden.
- Wenn ein Ablenkpotential an eine vorbestimmte Elektrode angelegt wird, wird ein Mikropotential in den benachbarten Elektroden erzeugt, an welche kein Ablenkpotential angelegt ist, was zu dem Problem von Übersprechen führt. Die Japanische Patentanmeldungsoffenlegungsschrift Nr. 2002-198294 und andere Patentdokumente schlagen Vorgehensweisen vor, bei denen eine Erdungselektrode (Masseelektrode) zwischen benachbarten Elektroden angeordnet ist. Allerdings tritt das Übersprechen nicht nur zwischen Elektroden auf, sondern auch in anderen Bereichen, und ist es nicht ausreichend, das Potential zwischen benachbarten Elektroden zu steuern.
- Andererseits sind eine Signalleitung zum Zuführen eines Ablenkpotentials und eine Erdungsleitung (Masseleitung) an jede Elektrode angeschlossen. Normalerweise ist die Erdungsleitung zur Außenumfangsseite der Elektrode herausgeführt, und gibt es für den Verlauf der Erdungsleitung keine spezielle Festlegung. Da sich die Impedanz der Elektrode in Abhängigkeit von dem Wegverlauf der Erdungsleitung ändert, kann jedoch das Ablenkpotential schwanken, was die Exaktheit der Steuerung des Elektronenstrahls beeinträchtigt.
- Ein Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in der Bereitstellung einer Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie, welche die Erzeugung von Übersprechen verringern kann, und die Genauigkeit der Steuerung eines Elektronenstrahls verbessern kann.
- Bei einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie zur Verfügung gestellt, die mehrere Steuerelektroden aufweist, die symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse eines abgestrahlten Elektronenstrahls angeordnet sind, wobei die Elektroden so ausgebildet sind, dass sie durch jeweiliges Anlegen von Spannungen den Elektronenstrahl steuern, sowie mehrere Erdungselektroden (Masseelektroden), die entsprechend jeder Steuerelektrode angeordnet sind, und dadurch gekennzeichnet ist, dass mehrere Formsubstrate symmetrisch relativ zur Zentrumsachse des Elektronenstrahls vorgesehen sind, und so angeordnet sind, dass die Außenumfangsoberflächen der mehreren Steuerelektroden zugewandt sind, wobei die mehreren Erdungselektroden jeweils an den mehreren Formsubstraten angeordnet sind.
- Bei einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Gerät für die Elektronenstrahllithographie zur Verfügung gestellt, das eine zur Abstrahlung eines Elektronenstrahls ausgebildete Elektronenkanone aufweist,
eine Bühne, die zum Anbringen einer Maske ausgebildet ist, und eine Ablenkvorrichtung, die zwischen der Elektronenkanone und der Bühne angeordnet ist, und dazu ausgebildet ist, den von der Elektronenkanone abgestrahlten Elektronenstrahl für die Maskenbearbeitung zu steuern, und mehrere Steuerelektroden aufweist, die symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse des Elektronenstrahls angeordnet sind, wobei die Elektroden dazu ausgebildet sind, den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen von Spannungen zu steuern, und durch mehrere Formsubstrate gekennzeichnet ist, die symmetrisch relativ zur Zentrumsachse des Elektronenstrahls angeordnet sind, und dazu ausgebildet sind, Außenumfangsoberflächen der mehreren Steuerelektroden zugewandt zu sein; und jeweils Erdungselektroden aufweisen, die jeweils im Zentrum eines Formsubstrats angeordnet sind. - Bei einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird eine Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie zur Verfügung gestellt, die mehrere Steuerelektroden aufweist, die symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse eines abgestrahlten Elektronenstrahls angeordnet sind, und so ausgebildet sind, dass sie den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen einer Spannung steuern, und durch eine einstückig oder vereinigt ausgebildete Erdungselektrode gekennzeichnet ist, die im Außenumfangsbereich der mehreren Steuerelektroden und zwischen den benachbarten Steuerelektroden angeordnet ist.
- Bei einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Gerät für die Elektronenstrahllithographie zur Verfügung gestellt, das eine zum Abstrahlen eines Elektronenstrahls ausgebildete Elektronenkanode aufweist, eine Bühne, die zur Anbringung einer Maske ausgebildet ist, und eine zwischen der Elektronenkanone und der Bühne angebrachte Ablenkvorrichtung, die dazu ausgebildet ist, den von der Elektronenkanone abgestrahlten Elektronenstrahl für die Maskenbearbeitung zu steuern, und mehrere Steuerelektroden aufweist, die symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse des Elektronenstrahls angeordnet sind, wobei die Elektroden so ausgebildet sind, dass sie den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen einer Spannung steuern, und durch eine einstückig oder vereinigt ausgebildete Erdungselektrode gekennzeichnet ist, die in dem Außenumfangsbereich der mehreren Steuerelektroden und zwischen den benachbarten Steuerelektroden vorgesehen ist.
- Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch dargestellter Ausführungsbeispiele näher erläutert, aus welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Die beigefügten Zeichnungen, die zur Beschreibung gehören, und einen Teil von dieser bilden, erläutern Ausführungsformen der Erfindung, und dienen zusammen mit der allgemeinen, voranstehenden Beschreibung und der nachstehenden, detaillierten Beschreibung der Ausführungsformen zur Erläuterung der Grundlagen der Erfindung. Es zeigt:
-
1 eine schematische Darstellung eines Geräts für die Elektronenstrahllithographie, bei welchem eine Ausführungsform einer Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie gemäß der vorliegenden Erfindung eingesetzt wird; -
2 eine schematische Aufsicht auf ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; -
3 eine schematische Darstellung des Aufbaus des Formsubstrats gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; -
4 eine schematische Darstellung des Aufbaus des Formsubstrats gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; -
5 eine schematische Aufsicht auf die Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; und -
6 eine schematische Aufsicht auf die Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie gemäß der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. - (Ausführungsform 1)
-
1 ist eine schematische Darstellung eines Geräts zur Elektronenstrahllithographie, bei welcher die vorliegende Ausführungsform einer Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie gemäß der vorliegenden Erfindung eingesetzt wird. In1 ist eine Ablenkvorrichtung5 zum Steuern der Position eines Elektronenstrahls zwischen einer Bühne3 , die eine auf ihr angebrachte Maske2 trägt, und einer Elektronenkanone4 zum Abstrahlen eines Elektronenstrahls zur Maske2 in einer Säule1 angeordnet. Jede Ablenkvorrichtung5 ist einzeln an eine Steuerschaltung6 angeschlossen, um die Ablenkvorrichtung zu steuern. -
2 ist eine schematische Aufsicht auf die Ablenkvorrichtung, die bei einem derartigen Gerät zur Elektronenstrahllithographie verwendet wird. Wie aus2 hervorgeht, sind insgesamt acht Elektrodenkörper11 , die elektrisch gegeneinander isoliert sind, symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse des abzustrahlenden Elektronenstrahls angeordnet. Jeder der Elektrodenkörper11 ist ein trapezförmiges Prisma. Formsubstrate12 , typischerweise flexible Leiterplatten mit gedruckten Schaltungen, sind entlang den Außenumfangsoberflächen der Elektroden jeweils mit einem vorbestimmten Spalt dazwischen angeordnet. Wie in3 gezeigt, ist eine Erdungsleitung (Masseleitung)13 auf der Oberfläche der Formsubstrate12 vorgesehen, welche der Elektrode11 zugewandt ist, während Signalleitungen14 auf der entgegengesetzten Oberfläche vorgesehen sind. - Durch Verwendung der Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie mit einer derartig geschilderten Konstruktion wird ermöglicht, den Elektronenstrahl so zu steuern, dass er auf die Maske auf der Bühne an einer vorbestimmten Position auftrifft, und mit einer vorbestimmten Form, durch Abstrahlen eines Elektronenstrahls zu der Maske auf der Bühne hin von der Elektronenkanone, mit einer vorbestimmten Potentialänderung von den Signalleitungen
14 , die an die Steuerschaltung angeschlossen sind, und zu jeder der Elektroden11 hinführen. Da jede der Erdungsleitungen13 nahe an der entsprechenden Elektrode11 befestigt ist, wird ihre Impedanz auf einem konstanten Wert gehalten, sodass ermöglicht wird, äußerst exakt den Elektronenstrahl zu steuern, und die Erzeugung von Übersprechen zu unterdrücken. - (Ausführungsform 2)
- Die Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie bei der vorliegenden Ausführungsform weist eine ähnliche Konstruktion der Elektroden wie bei der Ausführungsform 1 auf, unterscheidet sich jedoch von der Ausführungsform 1 in Bezug auf die Konstruktion der Formsubstrate, die an der Seite der Außenumfangsoberflächen der Elektroden angeordnet sind.
- Wie in
4 gezeigt, sind zwei Erdungsleitungen (Masseleitungen)23 auf der Oberfläche des Formsubstrats22 an der Seite der Außenumfangsoberfläche der Elektrode21 bzw. auf dessen anderer Oberfläche vorgesehen, während eine Signalleitung24 innerhalb des Formsubstrats22 vorgesehen ist. - Durch Verwendung der Ablenkvorrichtung für das Gerät zur Elektronenstrahllithographie mit einer derartigen Konstruktion wird ermöglicht, den Elektronenstrahl so zu steuern, dass er auf die Maske auf der Bühne an einer vorbestimmten Position und mit einer vorbestimmten Form auftrifft, durch Abstrahlen eines Elektronenstrahls zu der Maske auf der Bühne hin von der Elektronenkanone aus, mit einer vorbestimmten Potentialänderung von den Signalleitungen
24 , die an die Steuerschaltung angeschlossen sind, und an jede der Elektroden21 , wie bei der Ausführungsform 1. Da jede der Erdungsleitungen23 nahe an der zugehörigen Elektrode21 befestigt ist, wird ihre Impedanz auf einem konstanten Wert gehalten, sodass ermöglicht wird, äußerst exakt den Elektronenstrahl zu steuern, und die Erzeugung von Übersprechen zu unterdrücken, wie bei der Ausführungsform 1. - Die Elektroden sind elektrisch gegeneinander mit vorbestimmten Spalten bei den Ausführungsformen 1 und 2 isoliert, und es wird ermöglicht, das Auftreten von Übersprechen wirksamer dadurch zu unterdrücken, dass eine Erdungselektrode zwischen benachbart angeordneten Elektroden eingeführt ist.
- (Ausführungsform 3)
-
5 zeigt eine weitere Ausführungsform einer Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie. Wie aus5 hervorgeht, sind acht Elektrodenkörper31 symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse eines abzustrahlenden Elektronenstrahls angeordnet. Jeder der Elektrodenkörper31 weist die Form eines trapezartigen Prismas auf, wie bei den Ausführungsformen 1 und 2, und ist teilweise von der Außenumfangsseite aus ausgeschnitten, um den Spalt zwischen den benachbarten Elektroden der Außenumfangsseite breiter auszubilden als jenen an der Zentrumsachsenseite. Eine einstückig oder vereinigt ausgebildete Erdungsleitung33 ist entlang den Außenumfängen und in den verbreiterten Teilen an den Außenumfangsseiten der Spalte angeordnet. Signalleitungen34 sind entlang dem Außenumfang der Erdungsleitung33 angeordnet. - Durch Verwendung der Ablenkvorrichtung für das Gerät zur Elektronenstrahllithographie mit einer derartigen Konstruktion wird ermöglicht, den Elektronenstrahl so zu steuern, dass er auf die Maske auf der Bühne an einer vorbestimmten Position und mit einer vorbestimmten Form auftrifft, durch Abstrahlen eines Elektronenstrahls zur Maske auf der Bühne von der Elektronenkanone mit einer vorbestimmten Potentialänderung von den Signalleitungen
34 , die an die Steuerschaltung und an jede der Elektroden31 angeschlossen sind, ebenso wie bei der Ausführungsform 1. Da jede der Erdungsleitungen33 nahe an der zugehörigen Elektrode31 befestigt ist, wird ihre Impedanz auf einem konstanten Wert gehalten, sodass ermöglicht wird, äußerst exakt den Elektronenstrahl zu steuern, und die Erzeugung von Übersprechen zu unterdrücken, wie bei der Ausführungsform 1. - Während eine einstückig oder vereinigt ausgebildete Erdungsleitung entlang den Außenumfängen und in den verbreiterten Teilen an den Außenumfangsseiten der Spalte bei der vorliegenden Ausführungsform vorgesehen ist, kann sie auch mit Isolierabschnitten
35 versehen sein, die aus einem Isoliermaterial wie beispielsweise Keramik bestehen, an ihren jeweiligen Teilen, die sich zur Zentrumsachse hin erstrecken, wie dies in6 gezeigt ist. - Zusätzliche Vorteile und Abänderungen werden Fachleuten auf diesem Gebiet leicht einfallen. Daher ist die Erfindung in ihren weiteren Aspekten nicht auf die spezifischen Einzelheiten und repräsentativen Ausführungsformen beschränkt, die hier dargestellt und beschrieben wurden. Daher können verschiedene Abänderungen vorgenommen werden, ohne vom Wesen oder Umfang des allgemeinen, erfindungsgemäßen Konzepts abzuweichen, die sich aus der Gesamtheit der vorliegenden Anmeldeunterlagen ergeben, und von den beigefügten Patentansprüchen umfasst sein sollen.
Claims (18)
- Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie, wobei die Ablenkvorrichtung (
5 ) mehrere Steuerelektroden (11 ) aufweist, die symmetrisch in Bezug auf eine Zentrumsachse eines abgestrahlten Elektronenstrahls angeordnet sind, die Elektroden (11 ) so ausgebildet sind, dass sie den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen einer Spannung steuern, und mehrere Erdungselektroden (13 ) entsprechend den Steuerelektroden vorgesehen sind, gekennzeichnet durch mehrere Formsubstrate (12 ), die symmetrisch in Bezug zur Zentrumsachse des Elektronenstrahls angeordnet sind, und so ausgebildet sind, dass sie Außenumfangsoberflächen der mehreren Steuerelektroden (11 ) und der mehreren Erdungselektroden (13 ) zugewandt sind, die jeweils an einem der mehreren Formsubstrate (12 ) vorgesehen sind. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Erdungselektroden (
13 ) auf der Oberfläche jeweils eines der Formsubstrate (12 ) vorgesehen ist, welche jeweils einer der Steuerelektroden (11 ) zugewandt ist. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Signalleitung (
14 ), die auf jedem der Formsubstrate (12 ) angeordnet ist, und dazu ausgebildet ist, ein Steuersignal jeder der Steuerelektroden (11 ) zuzuführen. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalleitung (
14 ) an der entgegengesetzten Seite jeder Oberfläche der Formsubstrate (12 ) vorgesehen ist, wobei die Oberfläche jeweils einer der Steuerelektroden (11 ) zugewandt ist. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalleitung (
14 ) im Inneren jedes der Formsubstrate (12 ) vorgesehen ist. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jedes der Formsubstrate (
12 ) eine flexible Leiterplatte ist. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Steuerelektroden (
11 ) die Form eines trapezartigen Prismas aufweist. - Ablenkvorrichtung für ein Gerät zur Elektronenstrahllithographie, wobei die Ablenkvorrichtung (
5 ) mehrere Steuerelektroden (31 ) aufweist, die symmetrisch in Bezug auf eine Zentrumsachse eines abgestrahlten Elektronenstrahls angeordnet sind, und so ausgebildet sind, dass sie den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen einer Spannung steuern, gekennzeichnet durch eine einstückig ausgebildete Erdungselektrode (33 ), die im Außenumfangsbereich der mehreren Steuerelektroden (31 ) und zwischen den benachbarten Steuerelektroden (31 ) vorgesehen ist. - Ablenkvorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Steuerelektroden (
31 ) die Form eines trapezartigen Prismas aufweist, teilweise ausgeschnitten von der Außenumfangsseite. - Gerät zur Elektronenstrahllithographie, das eine Elektronenkanone (
4 ) aufweist, die zum Abstrahlen eines Elektronenstrahls ausgebildet ist, eine Bühne (3 ), die zum Anbringen einer Maske (2 ) ausgebildet ist, und eine Ablenkvorrichtung (5 ), die zwischen der Elektronenkanone (4 ) und der Bühne (3 ) vorgesehen ist, und dazu ausgebildet ist, den von der Elektronenkanone (4 ) abgestrahlten Elektronenstrahl für die Maskenbearbeitung zu steuern, wobei mehrere Steuerelektroden (11 ) symmetrisch in Bezug auf eine Zentrumsachse des Elektronenstrahls vorgesehen sind, und die Elektroden (11 ) dazu ausgebildet sind, den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen einer Spannung zu steuern, gekennzeichnet durch mehrere Formsubstrate (12 ), die symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse des Elektronenstrahls angeordnet sind, und so ausgebildet sind, dass die Außenumfangsoberflächen der mehreren Steuerelektroden (11 ) zugewandt sind; und Erdungselektroden (13 ) aufweisen, die jeweils an den mehreren Formsubstraten angeordnet sind. - Gerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Erdungselektroden (
13 ) auf der Oberfläche jedes der Formsubstrate (12 ) vorgesehen ist, welche jeder der Steuerelektroden (11 ) zugewandt ist. - Gerät nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch eine Signalleitung (
14 ), die auf jeder der Formsubstrate (12 ) angeordnet ist, und dazu ausgebildet ist, ein Steuersignal jeder der Steuerelektroden (11 ) zuzuführen. - Gerät nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalleitung (
14 ) auf der entgegengesetzten Seite der Oberfläche jedes der Formsubstrate (12 ) angeordnet ist, wobei die Oberfläche jeder der Steuerelektroden (11 ) zugewandt ist. - Gerät nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalleitung (
14 ) im Inneren jedes der Formsubstrate (12 ) angeordnet ist. - Gerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass jedes der Formsubstrate (
12 ) eine flexible Leiterplatte ist. - Gerät nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Steuerelektroden (
11 ) die Form eines trapezartigen Prismas aufweist. - Gerät zur Elektronenstrahllithographie, das eine zum Abstrahlen eines Elektronenstrahls ausgebildete Elektronenkanone (
4 ) aufweist, eine zum Anbringen einer Maske (2 ) ausgebildete Bühne (3 ), und eine Ablenkvorrichtung (5 ), die zwischen der Elektronenkanone (4 ) und der Bühne (3 ) angeordnet ist, und zum Steuern des von der Elektronenkanone (4 ) abgestrahlten Elektronenstrahls zur Maskenbearbeitung ausgebildet ist, und mehrere Steuerelektroden (11 ) aufweist, die symmetrisch in Bezug auf die Zentrumsachse des Elektronenstrahls angeordnet sind, wobei die Elektroden (11 ) so ausgebildet sind, dass sie den Elektronenstrahl durch jeweiliges Anlegen einer Spannung steuern, gekennzeichnet durch eine einstückig ausgebildete Erdungselektrode (13 ), die in dem Außenumfangsbereich der mehreren Steuerelektroden (11 ) und zwischen den benachbarten Steuerelektroden (11 ) angeordnet ist. - Gerät nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Steuerelektroden (
11 ) die Form eines trapezartigen Prismas aufweist, die teilweise aus der Außenumfangsseite ausgeschnitten ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006-032660 | 2006-02-09 | ||
JP2006032660A JP4805686B2 (ja) | 2006-02-09 | 2006-02-09 | 電子線描画装置用偏向器及び電子線描画装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007006504A1 true DE102007006504A1 (de) | 2007-08-30 |
DE102007006504B4 DE102007006504B4 (de) | 2010-08-19 |
Family
ID=38320052
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102007006504A Active DE102007006504B4 (de) | 2006-02-09 | 2007-02-09 | Ablenkvorrichtung für Gerät zur Elektronenstrahllithographie sowie Gerät zur Elektronenstrahllithographie |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7521689B2 (de) |
JP (1) | JP4805686B2 (de) |
DE (1) | DE102007006504B4 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101667771B1 (ko) * | 2015-01-19 | 2016-10-20 | 선문대학교 산학협력단 | 초소형 컬럼용 정전 4중극 디플렉터 |
US9666407B2 (en) * | 2015-02-25 | 2017-05-30 | Industry-University Cooperation Foundation Sunmoon University | Electrostatic quadrupole deflector for microcolumn |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0265044A (ja) * | 1988-08-31 | 1990-03-05 | Toshiba Corp | 荷電ビーム描画装置 |
JP2555775B2 (ja) * | 1990-11-28 | 1996-11-20 | 富士通株式会社 | 荷電粒子ビーム偏向装置およびその製造方法 |
JPH04328236A (ja) | 1991-04-26 | 1992-11-17 | Fujitsu Ltd | 電子ビーム露光装置 |
JP2000164495A (ja) * | 1998-11-26 | 2000-06-16 | Advantest Corp | 荷電粒子ビーム露光装置及びそこで使用するブランキング・アパーチャ・アレイ |
JP3485888B2 (ja) * | 2000-12-27 | 2004-01-13 | 株式会社日立製作所 | 電子ビーム描画装置及びそれを用いて作製された半導体デバイス |
JP2002217089A (ja) * | 2001-01-18 | 2002-08-02 | Advantest Corp | 電子ビーム偏向装置、電子ビーム偏向装置の製造方法、及び電子ビーム露光装置 |
US6953938B2 (en) * | 2002-10-03 | 2005-10-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Deflector, method of manufacturing deflector, and charged particle beam exposure apparatus |
JP2004282038A (ja) * | 2003-02-28 | 2004-10-07 | Canon Inc | 偏向器、偏向器を製造する方法、偏向器を適用した荷電粒子線露光装置 |
-
2006
- 2006-02-09 JP JP2006032660A patent/JP4805686B2/ja active Active
-
2007
- 2007-02-05 US US11/671,152 patent/US7521689B2/en active Active
- 2007-02-09 DE DE102007006504A patent/DE102007006504B4/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20070181819A1 (en) | 2007-08-09 |
JP2007214359A (ja) | 2007-08-23 |
JP4805686B2 (ja) | 2011-11-02 |
US7521689B2 (en) | 2009-04-21 |
DE102007006504B4 (de) | 2010-08-19 |
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
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R082 | Change of representative |
Representative=s name: HOFFMANN - EITLE PATENT- UND RECHTSANWAELTE PA, DE Effective date: 20140102 Representative=s name: HOFFMANN - EITLE, DE Effective date: 20140102 |