DE102006033353A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten Download PDF

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Abstract

Es werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten (2) beschrieben, bei dem bzw. der die Substrate (2) im horizontalen Durchlauf durch eine Badflüssigkeit (14) geführt werden. Dabei werden Kontaktflächen an den Substraten (2) in Berührung mit einer Kontakteinrichtung (7) und so auf ein elektrisches Potential gebracht, daß sich vom Potential einer in der Badflüssigkeit (14) angeordneten Gegenelektrode (5) unterscheidet. Um unerwünschte Abscheidungen von Metall an der Kontakteinrichtung (7) zu vermeiden, ist dieser mindestens eine Blas- oder Saugeinrichtung (11) zugeordnet. Diese bläst oder saugt den Kontaktbereich zwischen der Kontakteinrichtung (7) und dem Substrat (2) von Behandlungsflüssigkeit (14) frei.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten, insbesondere für die Halbleiter- und Solarindustrie, bei dem die Substrate im horizontalen Durchlauf durch eine Badflüssigkeit geführt werden, wobei mindestens eine Kontaktfläche des Substrats dort in Berührung mit einer Kontakteinrichtung und so auf ein elektrisches Potential gebracht wird, das sich vom Potential einer in der Badflüssigkeit angeordneten Gegenelektrode unterscheidet,
    sowie
    eine Vorrichtung zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten, insbesondere für die Halbleiter- und Solarindustrie, mit
    • a) einem mit Badflüssigkeit bis zu einem bestimmten Spiegel gefüllten Badbehälter;
    • b) einer Transporteinrichtung, mit welcher die Substrate im horizontalen Durchlauf durch die Badflüssigkeit geführt werden können;
    • c) einer Behandlungsstromquelle;
    • d) mindestens einer Kontakteinrichtung, die in Berührung mit mindestens einer an dem Substrat angebrachten Kontaktfläche gebracht werden kann und dann die Kontaktfläche mit einem Pol der Behandlungsstromquelle ver bindet;
    • e) mindestens einer Gegenelektrode, die in der Behandlungsflüssigkeit angeordnet und mit dem anderen Pol der Behandlungsstromquelle verbunden ist.
  • In der Halbleiter- und Solarindustrie werden vielfach sehr flache und dünne Substrate wie Siliziumscheiben (Wafer), Siliziumplatten und Glasplatten unterschiedlichsten Arten von Naßprozessen unterzogen. Im vorliegenden Zusammenhang besonders interessant sind elektrochemische Behandlungen derartiger Substrate. Bei diesen werden die Substrate elektrisch kontaktiert und elektrolytisch behandelt, z.B. gereinigt, galvanisiert oder geätzt. Bei der elektrochemischen Behandlung kann die Substratoberfläche entweder kathodisch oder anodisch geschaltet werden. Zur Galvanisierung wird die Substratoberfläche immer kathodisch, zum Ätzen und Reinigen anodisch polarisiert.
  • Im allgemeinen ist dabei nur eine Seite des flachen Substrates elektrochemisch zu behandeln, die beim Durchgang durch die Badflüssigkeit nach unten weist, wo auch die Gegenelektrode angeordnet ist, während die Kontaktierung über die Kontaktflächen auf der nach oben zeigenden Seite des Substrats stattfindet. Die Kontaktflächen müssen dabei von einer Kontakteinrichtung berührt werden, die mit einem Pol der Behandlungsstromquelle in Verbindung steht. Dabei stellt sich das Problem, daß die Kontakteinrichtung selbst einer unerwünschten elektrochemischen Behandlung unterzogen, also beispielsweise und insbesondere galvanisiert wird.
  • Rollenkontaktierungen sind aus der DE 196 28 784 A und der DE 196 33 797 A bekannt. Die dort beschriebenen Kontakteinrichtungen müssen von Zeit zu Zeit aufwendig entmetallisiert werden. Schwierig oder gar unmöglich wird die Entmetallisierung der Kontakteinrichtung z.B. beim Vergolden. Eine elektrolylische Entmetallisierung der Kontakteinrichtungen, wie dies in der EP 0 578 699 B1 beschrieben ist, ist daher nicht möglich. Vielmehr müssen die Kontakteinrichtungen in diesem Falle periodisch ausgetauscht werden. Bei bekannten Anlagen muß dies etwa alle 12 bis 24 Stunden geschehen. Das ist sehr zeitaufwendig und verursacht in einer Produktionsanlage sehr lange Stillstandszeiten.
  • Aus der WO 2005/093 788 A1 ist ferner ein Verfahren zur einseitigen Behandlung von Substratoberflächen im horizontalen Durchlauf bekannt. Dabei wird nur die Unterseite der durchlaufenden Substrate benetzt sowie gegebenenfalls noch der äußere, obere Rand. Dies ist jedoch in der Praxis bei exakt planen Substraten sehr schwer durchführbar bzw. überhaupt nicht möglich, wenn die Substrate leicht gewölbt sind.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Vorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, bei dem bzw. der der die unerwünschte elektrochemische Behandlung der Kontakteinrichtung, insbesondere eine Metallisierung der Kontakteinrichtung, weitestgehend reduziert ist.
  • Diese Aufgabe wird, was das Verfahren angeht, dadurch gelöst, daß der Kontaktbereich zwischen der Kontakteinrichtung und dem Substrat von Badflüssigkeit freigeblasen oder -gesaugt wird.
  • Erfindungsgemäß wird also das Substrat im Gegensatz zum Stande der Technik vollständig in die Badflüssigkeit eingetaucht, jedoch nur in einer verhältnismäßig kurzen Entfernung unterhalb von deren Spiegel. Dann ist es möglich, mit Hilfe einer Blas- oder Saugeinrichtung die Kontakteinrichtung in einem dynamischen Prozeß von Badflüssigkeit weitgehend freizuhalten. Da es dann keine oder nur sehr wenig Berührung zwischen Kontakteinrichtung und Badflüssigkeit gibt, kann auch die unerwünschte Reaktion zwischen Kontakteinrichtung und Badflüssigkeit nur sehr eingeschränkt stattfinden.
  • Als Gas zum Freiblasen kann im einfachsten Fall Luft verwendet werden, wenn die Anwesenheit von Luftsauerstoff kein Problem darstellt.
  • In vielen Fällen jedoch ist die Badflüssigkeit gegen Luftsauerstoff empfindlich, so daß als Gas ein Inertgas, vorzugsweise Stickstoff, eingesetzt wird.
  • Durch die oben geschilderten, erfindungsgemäßen Maßnahmen läßt sich die unerwünschte elektrochemische Veränderung, insbesondere Metallisieren, der Kontakteinrichtung weitestgehend vermeiden, jedenfalls erheblich reduzieren. Sollte dann noch eine restliche störende Veränderung, insbesondere Metallisierung, der Kontakteinrichtung verbleiben, kann eine Verfahrensvariante gewählt werden, bei welcher der Bewegungsweg des Substrates verfolgt und das zur Behandlung des Substrates erforderliche Potential nur während derjenigen Zeit an die mindestens eine Kontakteinrichtung gelegt wird, in welcher die Kontakteinrichtung in Berührung mit einer Kontaktfläche des Substrats steht. Auf diese Weise wird die Zeit, in welcher die unerwünschte elektrochemische Einwirkung auf die Kontakteinrichtung stattfinden kann, erheblich verkürzt.
  • Bei vielen elektrochemischen Behandlungen ist die Reaktion durch Umkehrung der Polarität umkehrbar. In diesen Fällen kann das Verfahren so geführt werden, daß während der Zeit, in welcher die Kontakteinrichtung nicht in Berührung mit einer Kontaktfläche des Substrates steht, an die mindestens eine Kontakteinrichtung ein zweites Potential gelegt wird, das geeignet ist, die bei der Behandlung durch das erste Potential ablaufende Reaktion umzukehren. Im Falle der Metallisierung bedeutet dies, daß in denjenigen Zeiten, in denen die Kontakteinrichtung nicht an einer Kontaktfläche eines Substrates anliegt, die metallische Abscheidung an der Kontakteinrichtung durch entsprechende Wahl des Potentials in Lösung gebracht wird. Auf diese Weise lassen sich die Standzeiten der Kontakteinrichtung noch weiter verlängern.
  • Die obige Aufgabe wird, was die Vorrichtung angeht, dadurch gelöst, daß
    • f) der mindestens einen Kontakteinrichtung mindestens eine Blas- oder Saugeinrichtung zugeordnet ist, die so eingerichtet ist, daß sie den Kontaktbereich zwischen Kontakteinrichtung und Kontaktfläche des Substrats freiblasen oder -saugen kann.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung sind in den Ansprüchen 9 bis 10 angegeben. Die Vorteile der erfindungsgemäßen Vorrichtung und ihrer Weiterbildungen entsprechen den oben bereits geschilderten Vorteilen des erfindungsgemäßen Verfahrens und dessen verschiedenen Varianten.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnung näher erläutert; es zeigen
  • 1: in einer schematischen Seitenansicht eine Vorrich tung zur galvanischen Verstärkung von auf einem Siliziumsubstrat aufgebrachten metallischen Leiterzügen;
  • 2: eine Detailvergrößerung aus 1.
  • Zur Herstellung von Solarzellen werden etwa 0,2 mm dicke Siliziumplatten eingesetzt, die auf derjenigen Seite, die später die sonnenaktive Seite wird, aufgedampfte dünne metallische elektrische Leiterzüge aufweist. Diese müssen galvanisch auf eine Schichtdicke von 1 bis 20 μm verstärkt werden. Bei dem Verstärkungsmaterial kann es sich um Kupfer, Zinn, Silber oder Gold handeln. Auf der gegenüberliegenden Seite des Substrates befinden sich die hierfür erforderlichen Kontaktflächen, beispielsweise in Form von Kontaktstreifen und/oder Kontaktfenstern, die elektrisch mit den aufgedampften elektrischen Leiterzügen auf der "sonnenaktiven" Seite in Verbindung stehen.
  • Die 1 zeigt eine insgesamt mit dem Bezugszeichen 1 gekennzeichnete Vorrichtung, mit welcher die aufgedampften Leiterbahnen derartiger Siliziumsubstrate verstärkt werden können. In 1 sind drei derartige Siliziumsubstrate dargestellt und mit dem Bezugszeichen 2a, 2b und 2c gekennzeichnet. Diese Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c werden mit Hilfe eines eine Mehrzahl von angetriebenen Rollen 3a, 3b, 3c, 3d aufweisenden Rollentransportsystemes durch eine galvanische Badflüssigkeit 14 hindurchgeführt. Die Förderrichtung ist durch den Pfeil 4 angedeutet.
  • Der Spiegel 15 der Badflüssigkeit 14 liegt nur knapp, beispielsweise 0,1 bis 10 Millimeter, oberhalb der oberen Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c. Die Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c tauchen also beim Durchgang durch das galvanische Bad vollständig in die Badflüssigkeit 14 ein.
  • Die "sonnenaktive", mit den Leiterzügen versehene Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c weist dabei nach unten, während die die Kontaktflächen aufweisende Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c nach oben zeigt.
  • Entlang und unterhalb des Bewegungsweges der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c erstreckt sich eine plattenförmige Anode 5, die mit dem Pluspol einer Galvanisierungsstromquelle 6 verbunden ist. Handelt es sich bei dem Verstärkungsmetall um Kupfer, Zinn oder Silber, so können lösliche, sich verbrauchende Anoden 5 eingesetzt werden. Handelt es sich jedoch um ein Goldbad, so wird mit unlöslichen Anoden 5 gearbeitet.
  • Die zu verstärkenden Leiterbahnen auf den Siliziumsubstraten 2a, 2b, 2c müssen auf Kathodenpotential gebracht werden. Dies geschieht mit Hilfe von Kontaktrollen 7a, 7b, 7c, 7d, die auf der den Transportrollen 3a, 3b, 3c, 3d gegenüberliegenden Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c angeordnet sind und mit sehr leichtem Druck, vorzugsweise elastisch federnd, gegen die nach oben zeigende, die Kontaktfläche aufweisende Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c angedrückt werden. Jede dieser Kontaktrollen 7a, 7b, 7c, 7d ist über einen elektronischen, steuerbaren Schalter 8a, 8b, 8c und 8d mit dem Minuspol der Galvanisierungsstromquelle 6 verbunden. Die elektronischen Schalter 8a, 8b, 8c, 8d erhalten von einer Maschinensteuerung 9 ihre Steuersignale, mit denen sie geöffnet, bzw. wieder geschlossen werden können.
  • In Transportrichtung 4 gesehen vor der ersten Kontaktrolle 7a ist ein Sensor 10 angeordnet, der in der Lage ist, das Vorbeilaufen der vorderen und hinteren Kanten der verschiedenen vorbeiwandernden Siliziumsubstrate 2a, 2b und 2c zu erfassen. Der Sensor 10 meldet diese Zeitpunkte der Maschinensteuerung 9. Diese ist auf Grund ihrer Kenntnis der Bewegungsgeschwindigkeit der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c und der geometrischen Daten der Anlage in der Lage, jederzeit die genaue Position aller Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c im galvanischen Bad zu errechnen. Insbesondere kann die Maschinensteuerung 9 daher ermitteln, welche der Kontaktrollen 7a, 7b, 7c, 7d gerade in elektrischem Kontakt mit einer Kontaktfläche eines Siliziumsubstrates 2a, 2b, 2c steht und welche nicht. Die Maschinensteuerung 9 sorgt aus Gründen, die später noch deutlicher werden, dafür, dass nur diejenigen elektronischen Schalter 8a, 8b, 8d geschlossen sind, deren zugehörige Kontaktrolle 7a, 7b, 7d gerade in Kontakt mit einer derartigen Kontaktfläche steht. Diejenigen elektronischen Schalter 8c dagegen, bei denen die zugehörige Kontaktrolle 7c mit keiner Kontaktfläche eines Siliziumsubstrates 2a, 2b, 2c in Berührung steht, sind geöffnet.
  • In Transportrichtung 4 gesehen vor jeder Kontaktrolle 7a, 7b, 7c, 7d ist eine Blaseinrichtung 11a, 11b, 11c, 11d angeordnet. Wie am besten der 2 zu entnehmen ist, hat die Blaseinrichtung 11 die Form einer rohrartigen Blasdüse, der im Sinne des Pfeiles 12 ein Gas unter Druck zugeführt werden kann und im Sinne der Pfeile 13 denjenigen Bereich der oberen Seite des Siliziumsubstrates 2 mit Gas beaufschlagt, der sich in der Nähe der entsprechenden Kontaktrolle 7 befindet.
  • Vor Eintritt in die Anlage 1 werden die Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c so vorbereitet, wie dies oben bereits geschildert wurde: Sie werden durch Aufdampfen auf der "sonnenaktiven" Seite mit sehr dünnen metallischen Leiterbahnen versehen. Auf der gegenüberliegenden Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c werden die Kontaktflächen aufgebracht und mit den metallischen Leiterbahnen verbunden. Die Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c werden sodann auf das Transportrollensystem aufgelegt, das beidseits durch schmale Schlitze in den Wänden eines nicht dargestellten Gehäuses der Vorrichtung 1 hindurchgeführt ist.
  • Nachfolgend soll der Weg eines einzelnen Substrates 2 durch die Anlage 1 verfolgt werden.
  • Das Substrat 2 tritt durch den schon erwähnten Gehäuseschlitz unterhalb des Badspiegels 15 in das galvanische Bad ein. Passiert seine Vorderkante den Sensor 10, so meldet dieser den fraglichen Zeitpunkt der Maschinensteuerung 9. Zu diesem Zeitpunkt sind die elektronischen Schalter 8a, 8b, 8c und 8d aller Kontaktrollen 7a, 7b, 7c, 7d noch offen, so dass die Kontaktrollen 7a, 7b, 7c und 7d spannungsfrei sind und sich an ihnen kein metallischer Niederschlag bildet.
  • Die Maschinensteuerung 9 rechnet nunmehr auf Grund der ihr bekannten Bewegungsgeschwindigkeit des Siliziumsubstrates 2 und der Entfernung zwischen dem Sensor 10 und der in Transportrichtung 4 ersten Kontaktrolle 7a aus, wann die Kontaktrolle 7a in Berührung mit einer Kontaktfläche des Siliziumsubstrates 2 gelangt. Zu diesem Zeitpunkt schließt die Maschinensteuerung 9 den elektronischen Schalter 11b, so dass die Kontaktrolle 7a auf Potential gebracht wird und der galvanische Verstärkungsvorgang beginnen kann.
  • Die Glaseinrichtung 11a, die der ersten Kontaktrolle 7a zugeordnet ist, bläst auf der nach oben liegenden Seite des Siliziumsubstrates 2, wie in 2 dargestellt, einen Bereich in der Nähe der Kontaktrolle 7a von Badflüssigkeit 14 frei, so dass auch zu diesem Zeitpunkt trotz anliegender Spannung die Kontaktrolle 7a nur unwesent lich metallisiert wird. Die nach unten zeigende, die zu verstärkenden Leiterbahnen aufweisende Seite des Siliziumsubstrates 2a dagegen befindet sich vollständig in der Badflüssigkeit 14, so dass dort der gewünschte galvanische Verstärkungsvorgang stattfinden kann.
  • Zwischenzeitlich hat der Sensor 10 das Vorbeilaufen der in Bewegungsrichtung hinteren Kante des Siliziumsubstrates 2a erfasst und dies der Maschinensteuerung 9 gemeldet. Diese rechnet erneut auf Grund der ihr bekannten Daten aus, wann die Kontaktfläche auf dem Siliziumsubstrat 2a an der Kontaktrolle 7a vorbeigewandert ist, und stellt dann die Stromzufuhr zur Kontaktrolle 7a durch öffnen des Schalters 8a ab.
  • Derselbe Vorgang wiederholt sich im Bereich der Kontaktrollen 7b, 7c und 7d.
  • In der Praxis durchläuft selbstverständlich nicht nur ein einzelnes Siliziumsubstrat 2a die Vorrichtung 1. Vielmehr werden, wie in 1 dargestellt, eine Vielzahl von Siliziumsubstraten 2a, 2b, 2c in verhältnismäßig kleinem Abstand voneinander durch die Vorrichtung 1 befördert. Das Schließen und öffnen der elektronischen Schalter 8a, 8b, 8c, 8d erfolgt in diesem Falle analog. In 1 ist ein Zustand gezeigt, in welchem die Kontaktrolle 7a des ersten Siliziumsubstrates 2a etwa in der Mitte der Kontaktfläche Berührung hat, weshalb der zugehörige Schalter 8a geschlossen ist. Beim zweiten Siliziumsubstrat 2b befindet sich die entsprechende Kontaktrolle 7b bereits im in Bewegungsrichtung hinteren Bereich der Kontaktfläche; noch immer ist der zugehörige Schalter 8b geschlossen. Die dritte Kontaktrolle 7c befindet sich jedoch nicht in Kontakt mit einer Kontaktfläche eines Siliziumsubstrats 2a, 2b, 2c, so dass der zugehörige Schalter 8c geöffnet ist.
  • Obwohl sich in der Nähe der dritten Kontaktrolle 7c kein Siliziumubstrat befindet, arbeitet die zugehörige Glaseinrichtung 11c. Diese bläst eine "Delle" in die Badflüssigkeit 14, in welcher sich der untere Bereich der Kontaktrolle 7c befindet, ohne mit der Badflüssigkeit 14 in Berührung zu kommen. Das öffnen des Schalters 11d wäre also nicht unbedingt notwendig; dieses öffnen stellt jedoch eine zusätzliche Sicherheitsmaßnahme dar, da die Kontaktrolle 7c möglicherweise doch von Spritzern der Badflüssigkeit 14 erreicht wird.
  • Die in Bewegungsrichtung vierte Kontaktrolle 7d befindet sich in 1 im Anfangsbereich der Kontaktfläche des dort befindlichen Siliziumsubstrats 2c. Der zugehörige elektronische Schalter 8d ist daher geschlossen.
  • Sofern dies die Chemie des jeweiligen Prozesses zulässt, kann als Gas, welches den Blaseinrichtungen 11a, 11b, 11c, 11d zugeführt wird, einfach Luft eingesetzt werden. Sofern jedoch das galvanische Bad empfindlich auf Luftsauerstoff reagiert, wird als Gas Stickstoff gewählt. In diesem Falle werden die Blaseinrichtungen 11a, 11b, 11c, 11d von einem Gebläse versorgt, das innerhalb des Gehäuses der Vorrichtung 1 ansaugt und so für ein Zirkulationsbetrieb sorgt. Die gesamte Behandlungskammer wird unter einen leichten Stickstoffüberdruck gesetzt, so dass das Eindringen von Sauerstoff aus der Umgebungsluft unterbunden ist.
  • Statt der einfachen rohrförmigen Glaseinrichtung 11a, 11b, 11c und 11d können auch Venturidüsen verwendet werden. Bei diesen kann das vom Gebläse bewegte Gas mit Umgebungsgas angereichert werden, wodurch die Gesamtmenge des Gases steigt und der Wirkungsgrad wächst.
  • Die Austrittsöffnung der Blaseinrichtungen 11a, 11b, 11c, 11d braucht nicht kreisförmig zu sein. Sie kann vielmehr auch als Ring gestaltet werden, welcher die zugehörige Kontaktrolle 7a, 7b, 7c, 7d umgibt.
  • Schließlich ist es auch möglich, statt durch Blasen die Umgebung auf der nach oben zeigenden Seite der Siliziumsubstrate 2a, 2b, 2c um die Kontaktrollen 7a, 7b, 7c, 7d durch Saugdüsen von Badflüssigkeit 14 freizuhalten.
  • Bei einem zweiten, zeichnerisch nicht dargestellten Ausführungsbeispiel dienen die elektronischen Schalter 8 dazu, die zugehörige Kontaktrolle 7 wahlweise mit beiden Polen der Galvanisierungsstromquelle 6 zu verbinden. Solange die entsprechende Kontaktrolle 8 mit einer Kontaktfläche eines Siliziumsubstrates 2 in Berührung steht, erfolgt die Verbindung in konventioneller Weise mit dem Pluspol der Galvanisierungsstromquelle 6; es findet dann die gewünschte galvanische Verstärkung statt. Zwischen den Kontaktflächen aufeinanderfolgender Siliziumsubstrate 2 werden die Kontaktrollen 7 dagegen mit dem Minuspol der Galvanisierungsstromquelle 6 verbunden. Auf diese Weise können die metallischen Abscheidungen, die sich auf der Kontaktrolle 7 befinden, wieder in Lösung gehen, was die Standzeiten der Kontaktrollen 7 weiter verlängert. Selbstverständlich ist diese Maßnahme jedoch nur bei solchen Verstärkungsmetallen möglich, die elektrolytisch in Lösung gebracht werden, und scheidet bei der Verwendung von Gold aus.

Claims (10)

  1. Verfahren zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten, insbesondere für die Halbleiter- und Solarindustrie, bei dem die Substrate im horizontalen Durchlauf durch eine Badflüssigkeit geführt werden, wobei mindestens eine Kontaktfläche des Substrats dort in Berührung mit einer Kontakteinrichtung und so auf ein elektrisches Potential gebracht wird, das sich vom Potential einer in der Badflüssigkeit angeordneten Gegenelektrode unterscheidet, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktbereich zwischen der Kontakteinrichtung (7) und der Kontaktfläche des Substrats (2) von Behandlungsflüssigkeit (14) freigeblasen oder -gesaugt wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Gas zum Freiblasen Luft verwendet wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Gas zum Freiblasen Stickstoff verwendet wird.
  4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Bewegungsweg des Substrats (2) verfolgt und das zur Behandlung des Substrats (2) erforderliche Potential nur während derjenigen Zeit an die mindestens eine Kontakteinrichtung (7) gelegt wird, in welcher die Kontakteinrichtung (7) in Berührung mit einer Kontaktfläche des Substrats (2) steht.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß während der Zeit, in welcher die Kontakteinrichtung (7) nicht in Berührung mit einer Kontaktfläche des Substrats (2) steht, an die mindestens eine Kontakteinrichtung (7) ein zweites Potential gelegt wird, das geeignet ist, die bei der Behandlung durch das erste Potential ablaufende Reaktion umzukehren.
  6. Vorrichtung zum Behandeln von flachen, zerbrechlichen Substraten, insbesondere für die Halbleiter- und Solarindustrie, mit a) einem mit Behandlungsflüssigkeit bis zu einem bestimmten Spiegel gefüllten Badbehälter; b) einer Transporteinrichtung, mit welcher die Substrate im horizontalen Durchlauf durch die Badflüssigkeit geführt werden können; c) einer Behandlungsstromquelle; d) mindestens einer Kontakteinrichtung, die in Berührung mit mindestens einer an dem Substrat angebrachten Kontaktfläche gebracht werden kann und dann die Kontaktfläche mit einem Pol der Behandlungsstromquelle verbindet; e) mindestens einer Gegenelektrode, die in der Behandlungsflüssigkeit angeordnet und mit dem anderen Pol der Behandlungsstromquelle verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß f) der mindestens einer Kontakteinrichtung (7) mindestens eine Blas- oder Saugeinrichtung (11) zugeordnet ist, die so eingerichtet ist, daß sie den Kontaktbereich zwischen Kontakteinrichtung (7) und Kontaktfläche des Substrats (2) freiblasen oder -saugen kann.
  7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Gas zum Freiblasen verwendete Luft ist.
  8. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Gas zum Freiblasen verwendete Stickstoff ist.
  9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß a) eine Positionsbestimmungseinrichtung (10) vorgesehen ist, mit welcher die jeweilige Position jedes Substrats (2) ermittelbar ist; b) eine Steuerung (9) vorgesehen ist, welche nach Ausgangssignalen der Positionsbestimmungseinrichtung (10) das zur Behandlung des Substrats (2) erforderliche Potential nur während derjenigen Zeit an die mindestens eine Kontakteinrichtung (7) legt, in welcher die Kontakteinrichtung (7) in Berührung mit einer Kontaktfläche des Substrats (2) steht.
  10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerung in der Zeit, in welcher die Kontakteinrichtung (7) nicht in Berührung mit einer Kontaktfläche des Substrats (2) steht, an die mindestens eine Kontakteinrichtung (7) ein zweites Potential legt, das geeignet ist, die bei der Behandlung durch das erste Potential ablaufende Reaktion umzukehren.
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