DE102005054373A1 - Optische Vermessung metallischer Oberflächen - Google Patents

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Abstract

Verfahren zur optischen Vermessung einer Oberfläche, welche insbesondere eine sphärische Form mit einer hohen Strahlungsreflexion aufweist und mit wenigstens einer Strahlungsquelle sowie mittels mindestens einer Strukturlichtquelle beleuchtet wird, um eine Beleuchtungsstruktur auf der zu vermessenden Oberfläche hervorzurufen und unter Verwendung einer Kamera die Beleuchtungsstruktur aufgenommen wird, wobei vor der Vermessung der Oberfläche auf diese eine Beschichtung aufgebracht wird, um die Strahlungsreflexion zu reduzieren, wobei die Beschichtung der sphärischen Oberfläche mittels des Prinzips des elektrostatischen Beschichtens aufgebracht wird. Damit wird ein Verfahren zur optischen Vermessung einer Oberfläche geschaffen, bei dem die Beschichtung gleichmäßig auf der gesamten Oberfläche des Messobjektes aufgebracht wird und welche eine Dicke von weniger als 0,01 mm aufweist.
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