KR910006698A - 산란광 측정방법 및 그 측정장치 - Google Patents
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 광 산란장치의 일례를 나타낸 도면.
제2도는 본 발명에 따른 광 산란장치를 나타낸 블록도.
제3도는 산란량 V와 광수신각의 확장 △를 설명하기 위한 전형적인 형캐를 나타낸도면.
제4도는(a)~(d)는 V와 △의 변화에 기인하는 첨예한 산란변화의 산란된 프로파일을 나타낸 도면.
제5도는 순수벤젠의 산란프로파일 나타낸 도면.
Claims (4)
- 레이저광원으로부터 레이저빔의 광학 경로내에서 레이저빔의 단면을 조정하고, 표본으로부터 산란광이 산란되도록 상기 레이저빔에 상대적으로 고정된 표본에 레이저빔을 조사하며, 산란광의 광학 경로내에서 상기 표본에 대해 상대적으로 그 중심에서 주사시킨으로써 산란광의 각도분배를 측정하기 위해 산란광 관찰용 단면을 조정하고, 투명한 표본의 구조내의 미세한 비균일성에 의해 야기되는 산란각도의 산란강도내에서의 빠르고 미세한 변화를 얻음으로써, 투명한 물질의 광학 특성을 평가할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 고정밀도의 산란광 측정방법.
- 제1항에 있어서, 측정조건은 입사 레이저빔과 산란광의 단면을 조정함으로써 주어지는 산란량과 광수신각의 확장을 제공하도록 규정되는 것을 특징으로 하는 고정밀도의 산란광 측정방법.
- 레이저광원으로부터의 레이저빔의 광학 경로내에서 레이저빔의 담면을 조정하고, 표본으로부터 산란광이 산란되도록 상기 레이저빔에 상대적으로 고정된 표본에 레이저빔을 조사하며, 산란광의 광학 경로내에서 관찰에 관한 해상정밀도를 증대시키기 위해 산란광을 관찰하기 위한 단면을 조정하고, 상기 표본내에서 레이저빔의 중심에 대해 상대적으로 주사시킴으로써 산란광의 각도분배를 측정하는 산란광 측정방법을 갖추고서, 투명한 물질의 광학 특성을 평가하기 위한 고정밀도의 산란광 측정방법에 있어서 측정조건은 입사 레이저빔과 산란광의 단면을 조정함으로써 1㎟이하의 산란량(V;입사방향에 대해 실질적으로 90°의 각도에서 관찰하는 경우) 및 /또는 0.5°이하인 광수신각도의 확장 △를 제공하도록 규정되는 것을 특징으로 하는 산란광 측정방법.
- 표본에 레이저빔을 조사시키기 위한 레이저광원과, 레이저빔에 대해 상대적으로 표본을 고정시키기 위한 표본 지지부재, 표본에 대해 상대적으로 그 중심에서 주사시킴으로써 산란광의 각도분배를 측정하기 위한 산란광 측정부재, 입사 레이저빔의 단면과 산란광을 관찰하기 위한 단면을 조정하는 빔 조정기를 구비하고서, 투명한 물질의 광학 특성을 평가하기 위한 고정밀도의 산란광 측정장치에 있어서, 상기 빔 조정기는 레이저빔의 단면을 조정히기 위해 레이저빔의 광학 경로내에 설치되는 압사 레이저빔 조정기를 구비하여 구성되고, 산란광 조정기는 산란광을 관찰하기 위한 단면을 조정하기 위해 표본과 산란광 측정부재간의 광학 경로내에 설치되며, 빔 조정기는 1㎟이하의 산란량(V;입사방향에 대해 실질적으로 90°의 각도에서 관찰하는 경우) 및 /또는 0.5°이하인 광수신각도의 확장 △를 제공하도록 측정조건을 규정하는 것을 특징으로 하는 고정밀도의 산란광 측정방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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