DE102005010498B4 - Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen - Google Patents

Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen Download PDF

Info

Publication number
DE102005010498B4
DE102005010498B4 DE102005010498A DE102005010498A DE102005010498B4 DE 102005010498 B4 DE102005010498 B4 DE 102005010498B4 DE 102005010498 A DE102005010498 A DE 102005010498A DE 102005010498 A DE102005010498 A DE 102005010498A DE 102005010498 B4 DE102005010498 B4 DE 102005010498B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
oscillations
capacitance
curve
resonance
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE102005010498A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102005010498A1 (de
Inventor
Robert Jaeger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jager Robert Dr Ing
Original Assignee
Jager Robert Dr Ing
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jager Robert Dr Ing filed Critical Jager Robert Dr Ing
Priority to DE102005010498A priority Critical patent/DE102005010498B4/de
Publication of DE102005010498A1 publication Critical patent/DE102005010498A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102005010498B4 publication Critical patent/DE102005010498B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/243Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the phase or frequency of ac
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/06Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into an amplitude of current or voltage
    • G01R23/07Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into an amplitude of current or voltage using response of circuits tuned on resonance, e.g. grid-drip meter

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)

Abstract

Verfahren zur Erzeugung von Oszillationen mittels eines nichtlinearen elektrischen Systems dadurch gekennzeichnet, dass das nichtlineare elektrische System eine Resonanzkurve aufweist, die einen instabilen Bereich mit einer Lücke zwischen zwei im Frequenzbereich überlappenden Kurvenabschnitten (K1, K2) aufweist, wobei der Arbeitspunkt (A1, A2) des Systems in den instabilen Bereich gelegt wird.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung von Oszillationen mittels eines nichtlinearen elektrischen Systems sowie einen Oszillator bestehend aus einem konstanten Widerstand, einer linearen Kapazität, einer konstanten Induktivität und einer nichtlinearen Kapazität einer Kapazitätsdiode, der ein Widerstand parallel geschaltet ist, wobei diese Elemente ein nichtlineares System mit einer Resonanzkurve bilden.
  • Ein Verfahren zur Erzeugung von Oszillationen kann beispielsweise dem Aufsatz „Hochempfindlicher Magnetfeldsensor" von Ulrich Barjenbuch in tm – Technisches Messen 61 (1994), 6, S. 248–252 entnommen werden.
  • Ein dem genannten Oszillator entsprechendes, erweitertes nichtlineares System geht zudem aus der DE 37 31 092 A1 hervor.
  • Grundlegendes
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung von Oszillationen in nichtlinearen Systemen, deren Frequenzvariation mehrere Faktoren bei geringe Änderungen der Systemparameter beträgt.
  • Die Lösung des Problems liegt in der Realisierung einer Lücke in den Resonanzkurven nichtlinearer Systeme nach den Oberbegriffen der Ansprüche 1 bis 4. sowie eine Einrichtungen zum Nachweis und Durchführen des Verfahrens.
  • Aufgabenstellung
  • Problembeschreibung
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen kostengünstigen Oszillator mit einer hohen Frequenzvariation bei einer geringen Änderung einer Kapazität oder einer Induktivität zu realisieren.
  • Stand der Technik
  • Hohe Frequenzänderungen bei geringen Änderungen einer Kapazität oder Induktivität sind durch Frequenzmischungen möglich. Die Kosten sind jedoch beträchtlich, da mehrere Oszillatoren, Filter und nichtlineare Kennlinien zur Mischung notwendig sind
  • Ausführungsbeispiel
  • Funktionsbeschreibung Lücken in Resonanzkurven nichtlinearer Systeme
  • Wie in linearen Systemen existieren auch in nichtlinearen Systemen Resonanzkurven.
  • Resonanzkurven werden in der Regel aufgenommen, in dem ein Maß für die Amplitude des Systems als Funktion der anregenden (Kreis-)Frequenz gemessen wird. Resonanz wird beobachtet, wenn die anregende (Kreis-)Frequenz mit der Eigenfrequenz des Systems ungefähr übereinstimmt.
  • Je schwächer die Dämpfung desto schärfer die Resonanz.
  • Dabei werden jenseits des Chaos im Gegensatz zu linearen Systemen schräge bis überhängende Resonanzkurven beobachtet. Solche Systeme werden i. a. durch sog. Duffing'sche Differentialgleichungen beschrieben, deren Lösungen in Abhängigkeit von den Systemparametern und in Abhängigkeit von der Erregung auf schräge Resonanzkurven nach 1a bzw. bzw. 1b führen.
  • Wenn in nichtlinearen elektrischen Systemen eine Gleichspannung als Maß für die Amplitude benutzt und diese von dem System selbst erzeugt wird, können
    • – bei überhängenden Resonanzkurven Amplitudensprünge nach 1b,
    • – bei schrägen bis überhängenden Resonanzkurven starke Spannungsänderungen des Systems bei Änderungen der Systemparameter nach 1a und
    • – Lücken (Gaps) in den Resonanzkurven beobachtet werden (1a und 1b). Gap-Bereiche der Resonanzkurve sind instabil.
  • Es werden Oszillationen in den Gap-Bereichen (Lücken in der Resonanzkurve) beobachtet, deren Amplitude und Frequenz empfindlich von den Systemparametern abhängen.
  • Beispiel für den praktischen Einsatz
  • Werden z. B. Materialien wie Ferromagnetika in das Magnetfeld der Induktivität gebracht, hängt die Induktivität von den ferromagnetischen Eigenschaften des Materials ab. Die Materialeigenschaften lassen sich deshalb mit Hilfe von Frequenzmessungen z. B. anhand eines PLL-Kreises studieren.
  • Beschreibung des Systems
  • Die Lücke in der Resonanzkurve ist aus 1 zu entnehmen und die Anordnung der Elemente des nichtlinearen Systems aus 2. Das nichtlineare System besteht aus einem konstanten Widerstand Rs, einer linearen Kapazität C, einer konstanten Induktivität L und der nichtlinearen Kapazität einer Kapazitätsdiode, der ein Widerstand Rp parallel geschaltet ist. Eingangsgröße sei eine Spannung x = u(t).
  • Es interessiert als Ausgangsgröße die Spannung an der nichtlinearen Kapazität.
  • Die Kennlinie der nichtlinearen Kapazität (Varaktorkennlinie) sei durch
    Figure 00050001
    gegeben. Sie ist in 3 dargestellt.
  • Bei Serienresonanz liegt Ladungssteuerung vor.
  • Für m ≠ 1 erhält man für den Zusammenhang zwischen Ladung und Spannung an der nichtlinearen Kapazität:
    Figure 00050002
  • Die Aussteuerungsverhältnisse findet man in 4.
  • Stellt man die Beziehungen nach u = uc um folgt für die Spannung an der Kapazität mit C0U0 = q0:
    Figure 00050003
  • Bei harmonischer Ladungssteuerung entsteht eine Gleichspannung ug, die von der Amplitude qd der Ladung abhängt und die in der linearen Kapazität C gespeichert wird. Den Gleichanteil erhält man aus einer Mittelwertbildung (Integration über eine Periode), wenn man q = q ^·sin(α) setzt zu (q0 = C0·U0):
    Figure 00050004
    Figure 00060001
  • Bei höheren Aussteuerungen erfolgt durch die Diode eine Spitzenwertgleichrichtung, so dass dann der Gleichanteil nicht mehr Quadratisch sondern linear mit der Ladungsamplitude ansteigt.
  • Figure 00060002
  • Dieser Gleichanteil wird von der nichtlinearen Kapazität generiert und lädt die lineare Kapazität über den Widerstand Rs in 2 auf (die Induktivität darf bei der Betrachtung des Gleichanteils vernachlässigt werden).
  • Die Gleichspannung legt dann den Arbeitspunkt des nichtlinearen Systems bei der Grundwelle fest. Die Spannung an der Kapazität verschiebt zunächst den Arbeitspunkt (AP) in Richtung einer negativen Vorspannung, da ug kleiner Null ist. Die nichtlineare Kapazität im AP nimmt ab und verschiebt die Resonanzkurve in Abhängigkeit von der Aussteuerung nach rechts. Deshalb entsteht die nach rechts verschobene Resonanzkurve in 1.
  • Bei der Spitzenwertgleichrichtung nehmen die Verluste mit wachsender Aussteuerung zu; umgekehrt werden die Verluste geringer, wenn die Ladungsamplitude und damit die Gleichspannung am Ausgang des Systems abnimmt. Hält man die Frequenz des Eingangssignals konstant (ω = konstant), lässt sich die Lücke in der Resonanzkurve folgendermaßen erklären:
    • – Links der Resonanz in 1 nimmt zunächst die Amplitude ab. Damit nimmt die mittlere Ka pazität geringfügig ab, viel stärker jedoch die Dämpfung. Im Bereich der Lücke gilt für die HF-Amplitude A1 die Kurve K1.
    • – Auf der Kurve K1 ist die HF-Amplitude A1 kleiner, als der Gleichspannung am Varaktor entspricht. Da durch die negative Vorspannung stellt die Diode für die Gleichspannung einen sehr hohen Widerstand dar. Daher kann die lineare Kapazität nur über Rp mit der Zeitkonstanten τ = C·Rp entladen werden. Dies geschieht so lange, bis die Gleichspannung Ug1 auf der Kurve K1 erreicht ist, was der HF Amplitude A1 entspricht.
    • – Hat die Gleichspannung die Kurve K1 mit der geringen Dämpfung erreicht, ist die Kapazität und damit die Resonanzfrequenz des Systems so weit abgesunken, dass für die HF Amplitude und damit die Gleichspannung ein höherer Wert gilt.
    • – Durch die erhöhte HF-Amplitude A2 > A1 steigt die Dämpfung aber auch die Resonanzfrequenz. Die lineare Kapazität wird durch die erhöhte HF-Amplitude entsprechend der Zeitkonstanten τ = C·Rs aufgeladen bis die Gleichspannung Ug2 auf der Kurve K2 erreicht ist.
    • – Durch den Parallelwiderstand Rp kann Spannung Ug2 an der linearen Kapazität etwas sinken. Damit nimmt die Kapazität im Arbeitspunkt geringfügig ab, vie stärker jedoch die Dämpfung. Damit gilt wieder im Bereich der Lücke die HF-Amplitude A1 auf der Kurve K1.
    • – usw.
  • Im Bereich der Lücke ist die Kreisverstärkung kleiner –1, so dass dort Oszillationen – genauer: RC-Schwingungen – entstehen, wobei die Gleichspannung zwischen Ug1 und Ug2 hin und her oszilliert. Sie baut sich entsprechend der Zeitkonstanten τ1 = C·Rs auf und entsprechend der Zeitkonstanten τ2 = C·Rp ab. Im allgemeinen ist Rs << Rp.
  • Während der Entladung gilt für die Spannung
    Figure 00080001
    damit gilt für die Zeit T, bis Ug1 erreicht wird:
    Figure 00080002
  • Also wird die Dauer der Entladung bzw. die Frequenz der Oszillationen neben der Zeitkonstanten τ2 auch von den Spannungen Ug1 und Ug2 auf den beiden Ästen der Resonanzkurven, welche die Lücken begrenzen, bestimmt.
  • Kurz: Die Frequenz der Oszillationen ist eine Funktion der Systemparameter.
  • Messtechnisch sind die Oszillationen sowohl am Varktor aber auch an der linearen Kapazität greifbar. Zweckmäßigerweise greift man sie an der linearen Kapazität ab, um die Varaktoreigenschaften durch die Messung nicht zu beeinflussen.
  • Aus der oberen Kurve in 5 sind die Oszillationen durch die Lücke in der Resonanzkurve erkennbar. Diese Oszillationen können Amplituden von mehreren Volt erreichen und deren Frequenz hängt empfindlich von den Systemparametern ab.
  • Aus der unteren Kurve in 5, die über einen Messwiderstand von einem Ohm aufgenommen wurde, sind deutlich die Stromsprünge in der HF-Amplitude am Varaktor erkennbar.
  • Anwendungsbeispiele:
  • Da die Frequenz der RC-Oszillationen neben den frequenzbestimmenden RC-Bauteilen auch von den Systemparametern bestimmt wird, können alle Änderungen der Systemparameter durch eine Frequenzmessung detektiert werden.
  • 1. Kapazitätsänderungen.
  • Kapazitätsänderungen führen über eine Änderung der Resonanzfrequenz des Systems sowohl zu einer Spannungsänderung bei einem Arbeitspunkt in die Mitte der rechten Flanke der Resonanzkurve, als auch zu Frequenzänderungen, wenn der Arbeitspunkt in die Lücke der Resonanzkurve gelegt wird. Da selbst geringe Kapazitätsänderungen (pF) zu einem starken Frequenzänderung (Faktor > 100) führen können, sind sensible Kapazitätssensoren realisierbar.
  • 2. Induktivitätsänderungen
  • Induktivitätsänderungen führen über eine Änderung der Resonanzfrequenz des Systems ebenfalls zu einer Spannungsänderung bzw. einer Frequenzänderung.
  • Induktivitätsänderungen können auf verschiedene Weisen realisiert werden. Im allgemeinen wird der magnetische Widerstand und damit die Induktivität einer Anordnung auf mechanischem Weg verändert.
  • Werden solche Änderungen durch ein externes Magnetfeld verursacht, können magnetische Widerstände robust und schnell (weil keine Massen bewegt werden müssen) verändert werden.
  • 3. Hystereseschleife eines Kreisringes aus ferromagnetischem Material
  • Gegeben sie ein Kreisring aus einem ferromagnetischen Material entsprechend 6. Der magnetische Widerstand des Kreisringes ist durch
    Figure 00100001
    gegeben. Außer von den konstanten geometrischen Größen des Kreisringes (Dicke des flachen Kreisringes d, Außenradius ra und Innenradius ri) hängt der magnetische Widerstand nur noch von den Materialeigenschaften des Kreisringes, d. h. der Permeabilität μ = μ0·μr des Materials, ab.
  • Mit Hilfe der beiden Wicklungen mit den Windungszahlen N1 bzw. N2 lässt sich die Hystereseschleife des ferro magnetischen Kreisringes aufnehmen. Das Experiment zeigt, dass die Hystereseschleife von einem externen Magnetfeld Ba abhängt. Bei Überschreiten einer bestimmten Stärke vom Ba bricht der Ferromagnetismus im Kreis gänzlich zusammen, so dass der magnetische Widerstand nur noch durch μ = μ0 bestimmt wird (7).
  • 4. Magnetischer Widerstand einer Zylinderspule mit ferromagnetischem Material
  • Befindet sich in einer langen Zylinderspule der Läge 1 ein ferromagnetisches Material, ist der magnetische Widerstand der Spule durch
    Figure 00110001
    gegeben. A ist die Querschnittsfläche der Zylinderspule und μr die relative Permeabilität des ferromagnetischen Materials. Der magnetische Widerstand hängt also über die Magnetfeldabhängigkeit der relativen Permeabilität von einem äußeren Magnetfeld ab.
  • 5. Induktivität einer Zylinderspule mit ferromagnetischem Material im Kern
  • Die Selbstinduktivität oder kurz die Induktivität einer (Zylinder-)Spule ist durch
    Figure 00110002
    gegeben. N bezeichnet die Anzahl der Windungen der Spule.
  • Setzt man eine solche Spule als frequenzbestimmende Induktivität in das nichtlineare System ein, und legt man den Arbeitspunkt in die Lücke der Resonanzkurve, erhält man einen Oszillator, dessen Frequenz von der Permeabilität des ferroelektrischen Materials und damit von einem äußeren Magnetfeld bestimmt wird.
  • Die Abhängigkeit der Permeabilität von einem äußeren Magnetfeld kann daher über eine Frequenzmessung studiert werden.
  • In der vorliegenden Patentanmeldung wird ein periodisch erregtes nichtlineares System mit einer Lücke in der Resonanzkurve beschrieben, die durch einfach messbare Oszillationen charakterisiert sind.
  • Je nach Arbeitspunkt auf der Resonanzkennlinie erhält man damit einen empfindlichen Oszillator, dessen Frequenz oder dessen Ausgangsspannung von den Systemparametern abhängt.
  • Beispiel für eine praktische Verwendung:
  • Durch ein externes magnetisches Feld wird der magnetische Widerstand und damit die frequenzbestimmende Induktivität des nichtlinearen Systems beeinflusst. Je nach Arbeitspunkt erhält man damit einen Magnetfeld-Spannungs-Konverter oder einen Magnetfeld-Frequenz-Konverter.

Claims (9)

  1. Verfahren zur Erzeugung von Oszillationen mittels eines nichtlinearen elektrischen Systems dadurch gekennzeichnet, dass das nichtlineare elektrische System eine Resonanzkurve aufweist, die einen instabilen Bereich mit einer Lücke zwischen zwei im Frequenzbereich überlappenden Kurvenabschnitten (K1, K2) aufweist, wobei der Arbeitspunkt (A1, A2) des Systems in den instabilen Bereich gelegt wird.
  2. Verfahren gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Resonanzkurve eine senkrechte oder überhängende rechte Flanke aufweist, wobei der Arbeitspunkt (A1, A2) entweder in den instabilen Bereich oder auf die rechte Flanke gelegt wird.
  3. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Oszillationen durch Anlegen eines externen Magnetfelds oder durch Verändern der Kapazität verändert werden.
  4. Verfahren gemäß Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass aufgrund der Veränderungen der Oszillationen die Veränderung der Kapazität bzw. Werte des angelegten Magnetfelds berechnet werden.
  5. Oszillator bestehend aus einem konstanten Widerstand (Rs), einer linearen Kapazität (C), einer konstanten Induktivität (L) und einer nichtlinearen Kapazität einer Kapazitätsdiode (CV), der ein Widerstand (Rp) parallel geschaltet ist, wobei diese Elemente ein nichtlineares System mit einer Resonanzkurve bilden, dadurch gekennzeichnet, dass die Resonanzkurve einen instabilen Bereich mit einer Lücke zwischen zwei im Frequenzbereich überlappenden Kurvenabschnitten (K1, K2) aufweist und der Arbeitspunkt (A1, A2) des Systems in dem instabilen Bereich liegt.
  6. Oszillator gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Resonanzkurve eine senkrechte oder überhängende rechte Flanke aufweist, wobei der Arbeitspunkt (A1, A2) entweder in dem instabilen Bereich oder auf der rechten Flanke liegt.
  7. Oszillator gemäß einem der Ansprüche 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Oszillationen an der linearen Kapazität (C) abgreifbar sind.
  8. Oszillator gemäß einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die lineare Kapazität (C) veränderlich ist.
  9. Oszillator gemäß einem der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Induktivität (L) mechanisch oder durch Anlegen eines externen Magnetfeldes veränderlich ist.
DE102005010498A 2005-03-08 2005-03-08 Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen Expired - Fee Related DE102005010498B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005010498A DE102005010498B4 (de) 2005-03-08 2005-03-08 Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005010498A DE102005010498B4 (de) 2005-03-08 2005-03-08 Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102005010498A1 DE102005010498A1 (de) 2006-09-14
DE102005010498B4 true DE102005010498B4 (de) 2009-05-28

Family

ID=36914598

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102005010498A Expired - Fee Related DE102005010498B4 (de) 2005-03-08 2005-03-08 Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102005010498B4 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE532457T1 (de) * 2007-04-18 2011-11-15 Robert Jaeger Vorrichtung zur erfassung und analyse von vitalparametern des körpers, wie insbesondere puls und atmung
FR3014265B1 (fr) 2013-12-03 2017-05-19 Commissariat Energie Atomique Dispositif de detection d'une perturbation par cycle hysteretique utilisant un resonateur electromecanique non lineaire

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1943959A1 (de) * 1968-08-29 1970-03-05 Ncr Co Verfahren zum Feststellen der relativen Lage eines mechanischen Gliedes
US4160971A (en) * 1975-05-02 1979-07-10 National Research Development Corporation Transponders
DE3731092A1 (de) * 1987-09-16 1989-03-30 Robert Dr Ing Jaeger Verfahren zur messgroessen/frequenz-konversion auf der basis des parametrischen effektes (parametrischer messgroessen/frequenz-konverter) und einrichtung zur beruehrungslosen estimation und detektion der entfernungen eines gegenstandes (parametrischer entfernungs/frequenz-konverter) zum durchfuehren und nachweis des verfahrens

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1943959A1 (de) * 1968-08-29 1970-03-05 Ncr Co Verfahren zum Feststellen der relativen Lage eines mechanischen Gliedes
US4160971A (en) * 1975-05-02 1979-07-10 National Research Development Corporation Transponders
DE3731092A1 (de) * 1987-09-16 1989-03-30 Robert Dr Ing Jaeger Verfahren zur messgroessen/frequenz-konversion auf der basis des parametrischen effektes (parametrischer messgroessen/frequenz-konverter) und einrichtung zur beruehrungslosen estimation und detektion der entfernungen eines gegenstandes (parametrischer entfernungs/frequenz-konverter) zum durchfuehren und nachweis des verfahrens

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Sensors and Actuators A 65 (1998) 136-140 tm-Technisches Messen 61 (1994) S. 248-252
Sensors and Actuators A 65 (1998) 136-140; tm-Technisches Messen … 61 (1994) S. 248-252 *

Also Published As

Publication number Publication date
DE102005010498A1 (de) 2006-09-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006033819A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße eines Mediums
DE102011090014A1 (de) Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung mindestens einer Prozessgröße
WO2017016760A1 (de) Phasenregeleinheit für vibronischen sensor
DE2158320B2 (de) Vorrichtung zur berührungsfreien relativen Abstandsmessung
DE102005010498B4 (de) Verfahren und Oszillator zur Erzeugung von Oszillationen
EP0697685A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Geschwindigkeit von Fahrzeugen
DE2249206A1 (de) Stroemungsmittelmessystem
DE102017128472A1 (de) Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters
DE112004000934B4 (de) Sensor für eine mechanische Grösse
DE3822076C1 (de)
EP2911299B1 (de) Verfahren und Schaltung zum Auswerten einer von einem Sensor erfassten physikalischen Messgröße
DE19528454C1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung einer Kapazität
DE2521687C3 (de) Meßwertwandler zur kapazitiven Füllstandsmessung
DE10018650C2 (de) Auswerteschaltung für einen Sensor
DE3620399A1 (de) Schaltungsanordnung zur kompensation von temperatur- und nichttemperaturbedingtem driften eines kapazitiven sensors
DE1616084C3 (de) Schaltungsanordnung zur Gütefaktormessung
DE102010043506B3 (de) Induktiver Näherungsschalter
DE2602540A1 (de) Vorrichtung zum messen kleiner frequenzdifferenzen
DE3428699A1 (de) Kapazitiver messwertaufnehmer
DE102017128471A1 (de) Induktiver Näherungsschalter und Verfahren zum Betreiben eines induktiven Näherungsschalters
WO2012079634A1 (de) Messvorrichtung und verfahren zum bestimmen einer wegdifferenz sowie waage
EP0343403A1 (de) Schaltungsanordnung zur Selbsterregung eines mechanischen Schwingsystems zu Eigenresonanzschwingungen
DE102021134179A1 (de) Messanordnung mit einem mikromechanischen Oszillator
DE811163C (de) Einrichtung zum elektrischen Messen der Dicke von Folien, insbesondere im fortlaufenden Arbeitsgang
DE2550936C3 (de) Zur kapazitiven Füllstandsmessung eines Behälters verwendete Schaltungsanordnung

Legal Events

Date Code Title Description
8122 Nonbinding interest in granting licenses declared
8181 Inventor (new situation)

Inventor name: INVENTOR IS APPLICANT

8110 Request for examination paragraph 44
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20121002