DE102004041647A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten von einem Stapel - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten von einem Stapel Download PDF

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Abstract

Um das sichere Abheben eines einzelnen Substrats von einem Stapel durch einen Substratgreifer zu ermöglichen, ist erfindungsgemäß ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten, insbesondere Substrate für optische Datenträger, von einem Stapel durch einen Substratgreifer vorgesehen, bei dem bzw. bei der vor und/oder während des Abhebens des obersten Substrats durch den Substratgreifer vom Innenloch der Substrate her ein Gasstrom zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels geleitet wird.

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten, insbesondere Substraten für optische Datenträger, von einem Stapel durch einen Substratgreifer.
  • Es ist beispielsweise bei der Herstellung von optischen Datenträgern, wie CDs und DVDs bekannt, scheibenförmige Substrate, beispielsweise aus Polykarbonat (PC) herzustellen und diese scheibenförmigen Substrate zunächst zur Zwischenspeicherung auf einer Spindel als Stapel aufzunehmen. Die scheibenförmigen Substrate werden dann anschließend einzeln von der Spindel entnommen, um einer weiteren Bearbeitung, wie beispielsweise einer Metallisierung zugeführt zu werden. Dabei ist es wichtig, dass die Substrate einzeln abgenommen und den nachfolgenden Prozessen zugeführt werden. Aufgrund unterschiedlicher Effekte können die Substrate jedoch bis zu einem gewissen Grade aneinander anhaften, so dass die Gefahr besteht, wenn das oberste Substrat in dem Stapel abgehoben wird, dass das darunterliegende Substrat ebenfalls mit abgehoben wird.
  • Um dieses Problem zu vermeiden, wurde in der Vergangenheit versucht, von außen ein Luftpolster zwischen die beiden oberen Substrate einzublasen. Bei immer dünner, leichter und flexibler werdenden Substraten führt dies jedoch nicht immer zu dem gewünschten Ergebnis, insbesondere wenn der Substratgreifer im Wesentlichen im Bereich des Innenlochs an das Substrat angreift.
  • Ausgehend von dem oben genannten Stand der Technik liegt der vorliegenden Erfindung daher die Aufgabe zugrunde, auf einfache und kostengünstige Art und Weise ein sicheres Abheben eines einzelnen Substrats von einem Stapel durch einen Substratgreifer zu ermöglichen.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Verfahren zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten, insbesondere Substraten für optische Datenträger, von einem Stapel durch einen Substratgreifer vorgesehen, bei dem vor und/oder während des Abhebens des obersten Substrats durch den Substratgreifer vom Innenloch der Substrate her ein Gasstrom zwischen die beiden obersten Substraten des Stapels geleitet wird. Durch das Einleiten eines Gasstroms zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels vom Innenloch her, ist die Wirkung des Gases viel konzentrierter als am Außenumfang und kann weniger leicht in nicht effektiver Weise, z.B. tangential zum Außenumfang, abgelenkt werden. Darüber hinaus baut sich zwischen den beiden oberen Substraten ein sich radial nach außen erweiterndes Luftkissen auf, was ein sicheres Lösen der beiden Substrate fördert.
  • Vorzugsweise wird der Gasstrom von oben über das Innenloch des ersten Substrats zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels geleitet, da der oberhalb der Substrate liegende Bereich im Wesentlichen frei zugänglich ist, und somit ein leichtes Einleiten des Gasstroms zwischen die beiden Substrate gewährleistet. Dabei wird der Gasstrom vorzugsweise in einen Spalt zwischen einer in den Innenlöchern der Substrate aufgenommenen Spindel und dem Innenloch des ersten Substrats geleitet. Zwischen der Spindel und dem Innenloch der obersten Substrate wird ein eng begrenzter Ringraum gebildet, der einen sehr konzentrierten Einsatz des Gasstroms ermöglicht.
  • Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird der Gasstrom vom Substratgreifer aus zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels geleitet, wodurch sich eine gute Ausrichtung des Gasstroms hinsichtlich der beiden obersten Substrate des Stapels durch eine Bewegung des Substratgreifers erreichen lässt. Vorzugsweise saugt der Substratgreifer das oberste Substrat zum Abheben vom Stapel im Bereich des Innenlochs mittels Unterdruck an und hält es fest. Hierdurch lässt sich insbesondere bei optischen Datenträgern das Ergreifen des Substrats in einem Bereich ermöglichen, in dem in der Regel keine optischen Daten vorgesehen werden. Darüber hinaus unterstützt das Ansaugen und Festhalten im Bereich des Innenlochs beim Anheben des obersten Substrats die Ausbildung eines sich radial erweiternden Luftkissens zwischen den beiden obersten Substraten im Stapel.
  • Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wird der Gasstrom über eine in den Innenlöchern der Substrate aufgenommene Spindel zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels geleitet, wodurch sich auf besonders einfache Art und Weise eine gezielte Gasströmung in den Bereich zwischen den beiden obersten Substraten erreichen lässt, insbesondere wenn die Substrate jeweils nach Abheben des obersten Substrats derart getaktet bzw. bezüglich der Spindel bewegt werden, dass das oberste Substrat vor dem Abheben im Wesentlichen immer in derselben Position ist.
  • Um die Ausbildung eines Gaskissens zwischen den beiden obersten Substraten im Stapel noch weiter zu fördern, wird bei einer Ausführungsform der Erfindung zusätzlich vom Außenumfang der Substrate her ein weiterer Gasstrom zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels geleitet. Für eine besonders einfache Ausführungsform der Erfindung ist das Gas vorzugsweise Umgebungsluft, die ggf. vor dem Leiten zwischen die Substrate gefiltert und/oder ionisiert wird.
  • Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe wird bei einer Vorrichtung zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten von einem Stapel mit einem Substratgreifer, wenigstens einer Gasquelle und wenigstens einer mit der Gasquelle in Verbindung stehenden Gasdüse dadurch gelöst, dass Mittel zum Bewegen der wenigstens einen Gasdüse und/oder des Substratstapels derart vorgesehen sind, dass ein von der wenigstens einen Gasdüse ausgehender Gasstrom vom Innenloch der Substrate her im Wesentlichen auf den Innenlochbereich der beiden obersten Substrate des Stapels geleitet wird. Durch eine derartige Vorrichtung lässt sich wiederum ein konzentrierter Gaseinsatz am Innenloch der Substrate erreichen.
  • Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung ist wenigstens eine Gasdüse fest am Substratgreifer befestigt, und die Mittel zum Ausrichten der wenigs tens einen Gasdüse werden durch die Bewegungseinheit des Substratgreifers gebildet. Hierdurch lässt sich durch die Bewegung des Substratgreifers eine automatische Ausrichtung der wenigstens einen Gasdüse bezüglich der obersten Substrate erreichen. Vorzugsweise weist der Substratgreifer wenigstens einen Unterdruckfinger auf, der das Substrat beim Abheben im Bereich des Innenlochs kontaktiert. Durch die Kontaktierung im Bereich des Innenlochs lässt sich wiederum die Ausbildung eines sich radial erweiternden Gaskissens zwischen den beiden obersten Substraten fördern.
  • Für eine einfache und effektive Ausgestaltung der Erfindung ist bei einer Ausführungsform wenigstens eine Gasdüse fest an bzw. in einer Spindel vorgesehen, die sich durch das Innenloch der Substrate des Stapels erstreckt. Das Vorsehen der Gasdüse in bzw. an der Spindel ermöglicht einen besonders einfachen, stationären Aufbau der Gaszuleitung. Um eine gleichmäßige Entnahme des obersten Substrats vom Stapel zu ermöglichen, ist vorzugsweise eine Hubeinrichtung zum Anheben des Stapels der Substrate derart vorgesehen, dass das oberste Substrat des Stapels vor dem Abheben jeweils in im Wesentlichen derselben Position ist. Hierdurch lässt sich beispielsweise einerseits eine Ausrichtung hinsichtlich einer an der Spindel vorgesehenen Gasdüse erreichen, und andererseits die Bewegungseinheit eines Substratgreifers erleichtern, da dieser immer auf dieselbe Position zugreift.
  • Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist ein von der wenigstens einen Gasdüse ausgehender Gasstrom bezüglich der Horizontalen schräg nach unten geneigt, um ein gutes Einführen eines Gasstroms von oben zwischen die beiden obersten Substrate eines Stapels zu ermöglichen.
  • Für ein gutes Lösen der beiden obersten Substrate im Stapel kann bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wenigstens eine weitere Düse vorgesehen sein, die auf den Außenumfang der Substrate gerichtet ist. Dabei sind ferner Mittel zum Bewegen der wenigstens einen weiteren Gasdüse und/oder des Substratsstapels derart vorgesehen, dass ein von der wenigstens einen weiteren Düse ausgehender Gasstrom auf den Außenumfang der beiden obersten Substrate des Stapels gerichtet ist. Dies ermöglichst zusätzlich das Einleiten eines Gasstroms vom Außenumfang her zwischen die beiden obersten Substrate des Stapels. Dies kann insbesondere bei sehr flexiblen Substraten zweckmäßig sein kann, um ein im Wesentlichen gleichzeitiges Lösen der beiden obersten Substrate sowohl vom Innenumfang als auch vom Außenumfang her zu gewährleisten.
  • Bei einer besonders einfachen Ausführungsform der Erfindung weist die Gasquelle Mittel zum Ansaugen von Umgebungsluft auf. Dabei ist vorzugsweise ein Filter zum Filtern der angesaugten Umgebungsluft vorgesehen, um zu verhindern, dass Verunreinigungen auf die Substrate aufgebracht werden.
  • Bei einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung besitzt eine in das Innenloch der Substrate eingeführte Spindel vorzugsweise eine Kontur, welche eine auf die Spindel gerichtete Gasströmung gezielt in Richtung des Innenumfangs der obersten Substrate im Substratstapel umlenkt.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert.
  • In den Zeichnungen zeigt:
  • 1 eine schematische Seitenansicht einer Vorrichtung zum Abheben von Substraten von einem Substratstapel gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • 2 eine Ansicht ähnlich zur 1, wobei ein Substratgreifer in einer Greifposition dargestellt ist;
  • 3 eine vergrößerte Schnittdarstellung einer Spindel gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • 4 eine vergrößerte Schnittdarstellung einer Spindel gemäß einem alternativen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
  • 1 zeigt eine Vorrichtung 1 zum Abheben von Substraten 2 von einem Substratstapel 4.
  • Die Substrate 2 des Substratstapels 4 sind auf einer Spindel 6 einer Substratnahme 5 aufgenommen. Die Substrataufnahme 5 besitzt ferner eine in Vertikalrichtung bewegbare Auflage 8, auf der das unterste Substrat 2 des Stapels 4 ruht. Die Auflage 8 ist derart steuerbar, dass sie nach der Entnahme eines obersten Substrats 2 von dem Stapel 4 den gesamten Stapel um die Höhe eines Substrats 2 anhebt. Hierdurch wird erreicht, dass das oberste Substrat 2 des Stapels 4 jeweils in einer vorbestimmten Position ist.
  • Oberhalb der Aufnahme 5 ist ein Substratgreifer 10 vorgesehen, der über einen nicht dargestellten Antrieb in X, Y und Z-Richtung bewegbar ist. Der Substratgreifer 10 weist eine Vielzahl von Vakuumfingern 12 auf, von denen in 1 drei dargestellt sind. Die Vakuumfinger 12 sind gleichmäßig beabstandet auf einer Kreislinie angeordnet. Die Vakuumfinger 12 sind derart angeordnet, dass sie das oberste Substrat 2 des Stapels 4 im Bereich von dessen Innenloch ansaugen und halten können. Die Vakuumfinger 12 sind in bekannter Art und Weise mit einer Unterdruckquelle verbunden und ebenfalls in geeigneter Weise ansteuerbar.
  • An dem Substratgreifer 10 sind ferner Gasdüsen 15 vorgesehen, die sich zwischen den Vakuumfingern 12 erstrecken. In der Zeichnung sind zwei Gasdüsen 15 dargestellt. Die Gasdüsen stehen mit einer Gasquelle in Verbindung, und können mit Gas beaufschlagt werden. Die Gasdüsen sind bezüglich einer Vertikalen geneigt, um eine in Richtung einer Mittelachse des Substratgreifers 10 gerichtete Gasströmung zu erzeugen.
  • 1 zeigt den Substratgreifer, wie er oberhalb und beabstandet zu dem Stapel 4 aus Substraten 2 angeordnet ist.
  • In 2 ist der Substratgreifer 10 in einer Position dargestellt, in der die Vakuumfinger 12 mit dem obersten Substrat 2 des Stapels 4 in Kontakt stehen.
  • Die Gasdüsen 15 sind auf einen Bereich zwischen der Spindel 6, der Aufnahme 5 und das oberste Substrat gerichtet, wenn sich der Substratgreifer 10 in der in 2 dargestellten Position befindet.
  • In 1 sind ferner weitere Gasdüsen 17 vorgesehen, die auf den Außenumfang der obersten beiden Substrate 2 des Substratstapels 4 gerichtet sind. In 1 sind zwei derartige Düsen 17 dargestellt, es kann jedoch eine beliebige Anzahl von Düsen 17 um den Außenumfang des Stapels 4 herum vorgesehen sein, um einen Gasstrom auf den Außenumfang der beiden obersten Substrate 2 des Substratstapels 4 zu richten. Hierdurch wird der Aufbau eines radial nach innen gerichteten Gaskissens zwischen den beiden obersten Substraten 2 des Stapels 4 erreicht. Statt einer Vielzahl von einzelnen Düsen 17, kann beispielsweise auch eine umlaufende Schlitzdüse vorgesehen sein. Die Düsen 17 sind mit einer entsprechenden Gasquelle verbunden, welche dieselbe sein kann, wie die Gasquelle für die Düsen 15.
  • Nachfolgend wird nunmehr der Betrieb der Vorrichtung 1 anhand der 1 und 2 näher erläutert.
  • Zunächst wird der Stapel 4 aus Substraten 2 über die Auflage 8 in eine Entnahmeposition gebracht, in der das oberste Substrat des Stapels 4 in einer vorbestimmten Position ist. Anschließend wird der Substratgreifer 10 über den Stapel bewegt, wie in 1 dargestellt ist und anschließend auf das oberste Substrat 2 des Stapels 4 abgesenkt, wie in 2 dargestellt ist. In der in 2 dargestellten Position wird nunmehr über die Gasdüsen 15 eine Gasströmung zwischen die Spindel 6 der Aufnahme 5 und das oberste Substrat 2 eingeleitet. Die Gasströmung ist dabei derart gerichtet, dass sie primär zwischen die beiden obersten Substraten 2 des Stapels 4 geleitet wird, um dazwischen ein sich in Radialrichtung ausbreitendes Gaskissen zu bilden. Gleichzeitig oder nachfolgend werden die Vakuumsauger 12 mit Unterdruck beaufschlagt, um das oberste Substrat 2 des Stapels 4 anzusaugen, und daran festzuhalten. Dadurch dass das oberste Substrat nunmehr fest durch die Vakuumsauger 12 gehalten wird, und zwischen den beiden obersten Substra ten 2 des Stapels 4 ein sich radial ausbreitendes Gaskissen gebildet wird, lässt sich das oberste Substrat des Stapels 2 entnehmen, ohne dass das darunter liegende Substrat 2 daran anhaftet.
  • Das oberste Substrat 2 des Stapels wird angehoben und einer weiteren Verarbeitung zugeführt.
  • Anschließend wird die Auflage 8 der Aufnahme 5 angehoben, um das nunmehr oberste Substrat 2 wiederum in eine Entnahmeposition zu bewegen und der Abhebvorgang kann wiederholt werden.
  • 3 zeigt eine vergrößerte Schnittdarstellung eines Ausführungsbeispiels einer Spindel 6 der Aufnahme 5, wobei in 3 dieselben Bezugszeichen wie in den vorhergehenden Figuren verwendet werden, sofern dieselben oder äquivalente Bauteile bezeichnet werden. Wie in 3 zu erkennen ist, weist die Spindel 6 an ihrem oberen Ende eine Rundung 14 auf, an die sich eine Zentrierschräge 16 anschließt. Am Ende der Zentrierschräge 16 ist am Übergang zu einem zylindrischen Führungsteil 18 der Spindel 6 eine Ausnehmung 20 vorgesehen. Die Ausnehmung 20 ist umlaufend ausgebildet und derart ausgeformt, dass sie eine auf die Spindel gerichtete Gasströmung im Bereich der Ausnehmung 20 in eine im Wesentlichen radial nach außen gerichtete Gasströmung umlenkt, wie durch den Pfeil A in 3 dargestellt ist. Die Ausnehmung 20 befindet sich in einer Position, in der die von ihr umgelenkte Gasströmung im Wesentlichen zwischen die beiden obersten Substrate 2 eines Substratstapels umgelenkt wird, wenn sich der Substratstapel in seiner Entnahmeposition befindet.
  • Die speziell ausgebildete Ausnehmung 20 ermöglicht eine gute und effiziente Umlenkung der von den Gasdüsen 15 stammenden Gasströmung, um diese konzentriert auf den Innenumfang der beiden obersten Substrate und insbesondere zwischen die beiden obersten Substrate zu lenken.
  • 4 zeigt eine alternative Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wobei in 4 dieselben Bezugszeichen wie in den vorhergehenden Figuren verwendet werden, um dieselbe oder äquivalente Bauteile zu bezeichnen.
  • Gemäß 6 weist die Spindel 6 eine interne Gaszuleitung 25 auf, die mit einer nicht dargestellten Gasquelle in Verbindung steht. Die Gaszuleitung 25 ist zentriert in der Spindel 6 ausgebildet. Von der Gaszuleitung 25 erstrecken sich eine Vielzahl von Stichleitungen 27 radial nach außen zum Außenumfang der Spindel 6, wo sie in einen Düsenausgang 29 münden. Der Düsenausgang 29 ist auf den Innenumfang der beiden obersten Substrate 2 eines Substratstapels 4 gerichtet, der sich in einer Entnahmeposition befindet. Insbesondere ist der Düsenausgang 29 auf einen Bereich zwischen den beiden obersten Substraten 2 des Stapels gerichtet, wie in 4 zu erkennen ist. Bei der Entnahme eines Substrats 2 von dem Substratstapel kann vor und/oder während der Entnahme über die Zuleitung 25, die Stichleitung 27 und den Düsenausgang 29 eine Gasströmung zwischen die beiden obersten Substrate 2 eines Substratstapels geleitet werden, um eine einzelne Entnahme des obersten Substrats zu gewährleisten.
  • Die Gaszuleitung über die Spindel 6 gemäß 4 kann alternativ zu einer Gaszuleitung über den Substratgreifer oder auch zusätzlich hierzu eingesetzt werden.
  • 5 zeigt eine weitere alternative Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, bei der zusätzliche Gasdüsen vorgesehen sind, die auf den Außenumfang der beiden obersten Substrate 2 eines Substratstapels 4 gerichtet sind, um zusätzlich Gas auch vom Außenumfang her zwischen die beiden obersten Substrate eines Stapels zu leiten.
  • Die Erfindung wurde zuvor anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels der Erfindung beschrieben, ohne jedoch auf die speziell dargestellte Ausführungsform beschränkt zu sein. Insbesondere kann statt einer Gasquelle, die Umgebungsluft ansaugt, auch jede beliebige andere Gasquelle, wie bei spielsweise eine Inertgasquelle, die ein unter Druck stehendes Inertgas verwendet, eingesetzt werden. Ferner können die zuvor genannten unterschiedlichen Ausführungsformen in beliebiger Weise miteinander kombiniert werden, sofern sie kompatibel sind.

Claims (18)

  1. Verfahren zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten, insbesondere Substraten für optische Datenträger, von einem Stapel (4) durch einen Substratgreifer (10), dadurch gekennzeichnet, dass vor und/oder während des Abhebens des obersten Substrats durch den Substratgreifer (10) vom Innenloch der Substrate her ein Gasstrom zwischen die beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Gasstrom von oben über das Innenloch des obersten Substrats (2) zwischen die beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Gasstrom in einen Spalt zwischen einer in den Innenlöchern der Substrate aufgenommenen Spindel (6) und dem Innenloch des obersten Substrats (2) geleitet wird.
  4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Gasstrom vom Substratgreifer (10) aus zwischen die beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
  5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratgreifer (10) das oberste Substrat (2) zum Abheben vom Stapel (4) im Bereich des Innenlochs mittels eines Unterdrucks ansaugt und festhält.
  6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Gasstrom über eine in den Innenlöchern der Substrate (2) aufgenommene Spindel (6) zwischen die beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
  7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass vom Außenumfang der Substrate (2) her ein weiterer Gasstrom zwischen die beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
  8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Gas Umgebungsluft ist, die ggf. vor dem Leiten zwischen die Substrate (2) gefiltert und/oder ionisiert wird.
  9. Vorrichtung zum Abheben von scheibenförmigen, ein Innenloch aufweisenden Substraten, insbesondere Substraten für optische Datenträger, von einem Stapel (4) mit einem Substratgreifer (10), wenigstens einer Gasquelle und wenigstens einer mit der Gasquelle in Verbindung stehende Gasdüse (15; 29), gekennzeichnet durch Mittel zum Bewegen der wenigstens einen Gasdüse (15; 29) und/oder des Substratstapels (4) derart, dass ein von der wenigstens einen Gasdüse ausgehender Gasstrom vom Innenloch der Substrate (2) her im Wesentlichen auf den Innenlochbereich der beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
  10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eine Gasdüse (15) fest am Substratgreifer (10) befestigt ist, und die Mittel zum Ausrichten der wenigstens eine Gasdüse (15) eine Bewegungseinheit des Substratgreifers (10) ist.
  11. Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Substratgreifer (10) wenigstens einen Unterdruckfinger (12) aufweist, der das Substrat (2) beim Abheben im Bereich des Innenlochs kontaktiert.
  12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass, wenigstens eine Gasdüse (29) fest an bzw. in einer Spindel vorgesehen ist, die sich durch das Innenloch der Substrate (2) des Stapels (4) erstreckt.
  13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 12, gekennzeichnet durch eine Hubeinrichtung (8) zum Anheben des Stapels (4) der Substrate (2) derart, dass das oberste Substrat des Stapels vor dem Abheben jeweils in im Wesentlichen derselben Position ist.
  14. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass, ein von der wenigstens einen Gasdüse (15; 29) ausgehender Gasstrom bezüglich der Horizontalen schräg nach unten geneigt ist.
  15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 14, gekennzeichnet durch wenigstens eine weitere Düse, die auf den Außenumfang der Substrate gerichtet ist, und Mittel zum Bewegen der wenigstens einen weiteren Gasdüse und/oder des Substratstapels derart, dass ein hiervon ausgehender Gasstrom auf den Außenumfang der beiden obersten Substrate des Stapels gerichtet ist.
  16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass, die Gasquelle Mittel zum Ansaugen von Umgebungsluft aufweist.
  17. Vorrichtung nach Anspruch 16, gekennzeichnet durch einen Filter zum Filtern der angesaugten Umgebungsluft.
  18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass eine Spindel (6), die sich durch das Mittelloch der Substrate (2) des Stapels (4) erstreckt, eine Kontur zum Umlenken eines darauf gerichteten Gasstroms derart aufweist, dass der umgelenkte Gasstrom im Wesentlichen auf den Innenlochbereich der beiden obersten Substrate (2) des Stapels (4) geleitet wird.
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