DE10122721A1 - Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein - Google Patents

Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein

Info

Publication number
DE10122721A1
DE10122721A1 DE10122721A DE10122721A DE10122721A1 DE 10122721 A1 DE10122721 A1 DE 10122721A1 DE 10122721 A DE10122721 A DE 10122721A DE 10122721 A DE10122721 A DE 10122721A DE 10122721 A1 DE10122721 A1 DE 10122721A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
substrate
image sensor
arrangement according
stack arrangement
sensor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10122721A
Other languages
English (en)
Inventor
Hsiu Wen Tu
Wen Chuan Chen
Mon Nan Ho
Li Huan Chen
Nai Hua Yeh
Yen Cheng Huang
Yung Sheng Chiu
Jichen Wu
Joe Liu
Wu Hsiang Lee
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kingpak Technology Inc
Original Assignee
Kingpak Technology Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to GB0109829A priority Critical patent/GB2374727B/en
Priority claimed from GB0109829A external-priority patent/GB2374727B/en
Application filed by Kingpak Technology Inc filed Critical Kingpak Technology Inc
Priority to DE20109194U priority patent/DE20109194U1/de
Priority to DE10122721A priority patent/DE10122721A1/de
Publication of DE10122721A1 publication Critical patent/DE10122721A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L25/0657Stacked arrangements of devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14618Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/0651Wire or wire-like electrical connections from device to substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/053Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
    • H01L23/055Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads having a passage through the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3121Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed a substrate forming part of the encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein zum elektrischen Anschluß an eine Leiterplatte (20), bestehend aus einem ersten Substrat (10), einem zweiten Substrat (20), einer integrieten Schaltung (30), einem Bildsensorchip (34) und einer transparenten Schicht (40). Das zweite Substrat ist auf dem ersten Substrat so angeordnet, daß zwischen dem ersten Substrat und dem zweiten Substrat ein Hohlraum (28) gebildet wird. Die integrierte Schaltung ist innerhalb des Hohlraums montiert und elektrisch mit dem ersten Substrat verbunden. Ein Bildsensorchip ist auf dem zweiten Substrat angeordnet. Eine transparente Schicht bedeckt den Bildsensorchip, wobei der Bildsensorchip Bildsignale durch die transparente Schicht empfängt und diese in elektrische Signale umwandelt, die an das erste Substrat weitergeleitet werden. DOLLAR A So können der Bildsensorchip (34) und die integrierte Schaltung (30) gemeinsam zu einem Bildsensorbaustein gekapselt werden.

Description

Technisches Gebiet
Die Erfindung betrifft eine Stapelanordnung für einen Bildsensor, insbesondere einen Aufbau, bei dem integrierte Schaltungen und Bildsensorchips, die jeweils verschiedene Funktionen haben, zusammen in einem Gehäusebaustein untergebracht werden, um die Anzahl der Bausteinsubstrate zu reduzieren und die integrierten Schaltungen und Bildsensorchips, die jeweils verschiedene Funktionen aufweisen, gemeinsam zu kapseln.
Stand der Technik
Ein gebräuchlicher Sensor wird verwendet für das Ermitteln von Signalen, dies können z. B. optische oder Audiosignale sein. Der bei dieser Erfindung beschriebene Sensor wird zum Empfangen von Bildsignalen und für das Umwandeln dieser Bildsignale in elektrische Signale, die an eine Leiterplatte weitergegeben werden, verwendet.
Ein gebräuchlicher Bildsensor wird verwendet für das Empfangen von Bildsignalen und für die Umwandlung dieser Bildsignale in elektrische Signale, die an eine Leiterplatte weitergegeben werden. Der Bildsensor ist dabei elektrisch an andere integrierte Schaltungen angeschlossen, um eine Vielzahl verschiedener Funktionen zu erfüllen. Zum Beispiel kann der Bildsensor elektrisch an einen digitalen Signalprozessor angeschlossen sein, der die Signale, die vom Bildsensor erzeugt werden, verarbeitet. Weiterhin kann der Bildsensor auch elektrisch angeschlossen sein an einen Mikroprozessor, an einen Zentralprozessor oder ähnliches, um eine Vielzahl verschiedener Funktionen zu erfüllen.
Weil allerdings konventionelle Bildsensoren gekapselt sind, müssen die mit den Bildsensoren zusammenwirkenden integrierten Schaltungen getrennt von den Bildsensoren gekapselt werden. Dabei werden der Bildsensor bzw. die Signalverarbeitungsbausteine elektrisch durch eine Vielzahl von Drahtverbindungen kontaktiert. Dann werden der gekapselte Bildsensor und die verschiedenen Signalverarbeitungsbausteine elektrisch auf der Leiterplatte miteinander verbunden.
Deshalb müssen bei der getrennten Kapselung der einzelnen Signalverarbeitungsbausteine und des Bildsensors eine Vielzahl von Substraten und Gehäusen verwendet werden, wodurch die Herstellkosten steigen. Weiterhin ist die auf der Leiterplatte benötigte Fläche größer, wenn die verschiedenen Signalverarbeitungsbausteine getrennt auf die Leiterplatte montiert werden, deshalb können die Endprodukte nicht klein, flach und leicht gemacht werden.
Um die oben erwähnten Probleme zu lösen, stellt die Erfindung eine Stapelanordnung für einen Bildsensor zur Verfügung, der die Nachteile des konventionellen Bildsensors vermeidet.
Zusammenfassung der Erfindung
Es ist deshalb eine Aufgabe der Erfindung, eine Stapelanordnung für einen Bildsensor zur Verfügung zu stellen, mit dem die Anzahl der gekapselten Bauelemente reduziert wird und bei der die Kosten für die Kapselung verringert werden.
Es ist deshalb eine weitere Aufgabe der Erfindung, eine Stapelanordnung für einen Bildsensor zur Verfügung zu stellen, bei der das Herstellverfahren vereinfacht und erleichtert wird.
Es ist deshalb eine zusätzliche Aufgabe der Erfindung, eine Stapelanordnung für einen Bildsensor zur Verfügung zu stellen, bei der die insgesamt für die Bildsensor-Funktionen benötigte Fläche reduziert wird.
Es ist deshalb darüber hinaus eine weitere Aufgabe der Erfindung, eine Stapelanordnung für einen Bildsensor zur Verfügung zu stellen, bei der die Kosten für die Kapselung und die Testkosten für die Bildsensorfunktionen reduziert sind.
Entsprechend einer Ausführung der Erfindung besteht eine Stapelanordnung für einen Bildsensor für den elektrischen Anschluß an eine Leiterplatte aus einem ersten Substrat, einem zweiten Substrat, einer integrierten Schaltung, einem Bildsensorchip und einer transparenten Schicht. Das erste Substrat weist eine erste Oberfläche und eine zweite Oberfläche, gegenüber der ersten Oberfläche, auf. Die erste Oberfläche des ersten Substrats trägt die Signaleingangsanschlüsse. Die zweite Oberfläche des ersten Substrats trägt die Signalausgangsanschlüsse zur elektrischen Verbindung des Substrats mit der Leiterplatte. Das zweite Substrat hat eine obere Oberfläche und eine untere Oberfläche gegenüber der oberen Oberfläche. Die untere Oberfläche des zweiten Substrats ist so an die erste Oberfläche des ersten Substrats herangeführt, daß zwischen dem ersten Substrat und dem zweiten Substrat ein Hohlraum gebildet wird. Die integrierte Schaltung ist auf der ersten Oberfläche des ersten Substrats montiert und in dem Hohlraum angeordnet und elektrisch mit den Signaleingangsanschlüssen auf der ersten Oberfläche des Substrats verbunden. Der Bildsensorchip ist auf der oberen Oberfläche des zweiten Substrats angeordnet. Die transparente Schicht bedeckt den Bildsensorchip. Der Bildsensorchip empfängt Bildsignale durch die transparente Schicht und wandelt diese Bildsignale in elektrische Signale um, die an das erste Substrat weitergeleitet werden.
Auf diese Weise können der Bildsensorchip des Bildsensorbausteins und die integrierte Schaltung gemeinsam gekapselt werden.
Kurzbeschreibung der Zeichnungen
Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung einer Stapelanordnung für einen Bildsensor entsprechend einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Fig. 2 zeigt eine schematische Darstellung einer Stapelanordnung für einen Bildsensor entsprechend einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Fig. 3 zeigt eine schematische Darstellung einer Stapelanordnung für einen Bildsensor entsprechend einem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung einer Stapelanordnung für einen Bildsensor entsprechend einem vierten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Beschreibung der Ausführungsbeispiele
Die vorliegende Erfindung wird im folgenden mit Bezug auf die Zeichnungen näher erläutert.
Wie in Fig. 1 gezeigt, weist die Stapelanordnung für den Bildsensor ein erstes Substrat 10, ein zweites Substrat 22, eine integrierte Schaltung 30, einen Bildsensorchip 34, ein Abstandselement 38 und eine transparente Schicht 40 auf.
Das erste Substrat 10 weist eine erste Oberfläche 12 und eine zweite Oberfläche 14 gegenüber der ersten Oberfläche 12 auf. Die erste Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 ist mit Signaleingangsanschlüssen 16 versehen. Die zweite Oberfläche 14 des ersten Substrats 10 ist mit Signalausgang­ anschlüssen 18 ausgestattet, dies können metallische Kugeln sein, die in einem Kugelrasterfeld angeordnet sind, um den elektrischen Anschluß an die Leiterplatte 20 zur Übertragung der Signale vom Substrat 10 an die Leiterplatte 20 herzustellen.
Das zweite Substrat 22 hat eine obere Oberfläche 24 und eine untere Oberfläche 26 gegenüber der oberen Oberfläche 24. Die untere Oberfläche 24 des zweiten Substrat 22 ist so an die erste Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 angefügt, daß zwischen dem ersten Substrat 10 und dem zweiten Substrat 22 ein Hohlraum 28 gebildet wird. Die beiden Oberflächen können dabei z. B. miteinander verklebt oder aneinander anhaftend ausgebildet sein.
Die integrierte Schaltung 30 kann ein Signalprozessorbaustein, wie z. B. ein digitaler Signalprozessor, ein Mikroprozessor, ein Zentralprozessor (CPU) oder ähnliches sein. Diese ist auf der ersten Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 und innerhalb des Hohlraums angeordnet. Die integrierte Schaltung 30 ist elektrisch mit einer Vielzahl von Drähten 32 mit den Signaleingangsanschlüssen 16 auf der ersten Oberfläche 12 des Substrats 10 mittels Drahtbonden verbunden. Damit ist die integrierte Schaltung 30 elektrisch mit dem ersten Substrat 10 verbunden. Wenn die integrierte Schaltung 30 ein digitaler Signalprozessor ist, können die Signale vom Bildsensorchip 34 zunächst verarbeitet und dann an die Leiterplatte 20 übertragen werden.
Der Bildsensorchip 34 ist auf der oberen Oberfläche 24 des zweiten Substrats 22 angeordnet und elektrisch an die Signaleingangsanschlüsse 16 auf der ersten Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 angeschlossen. Damit können die Signale vom Bildsensorchip 34 an das erste Substrat 10 übertragen werden.
Das Abstandselement 38 ist eine Rahmenstruktur, die auf der ersten Oberfläche 12 des Substrats 10 angeordnet ist und die integrierte Schaltung 30 und den Bildsensorchip 34 umgibt.
Die transparente Schicht 40 kann ein Klarglaselement sein, das das Abstandselement 38 bedeckt, um den Bildsensorchip 34 und die integrierte Schaltung 30 zu versiegeln. Der Bildsensorchip 34 kann die Bildsignale durch die transparente Schicht 40 empfangen und die Bildsignale in elektrische Signale umwandeln, die an das Substrat 10 weitergeleitet werden.
Fig. 2 ist eine schematische Darstellung, die eine Stapelanordnung für einen Bildsensor entsprechend einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt. Die obere Oberfläche 24 des zweiten Substrats 22 ist mit Signaleingangsanschlüssen 42 versehen. Die untere Oberfläche 26 des zweiten Substrats 22 ist an der ersten Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 befestigt. Dabei wird ein Hohlraum 28 zwischen dem ersten Substrat 10 und dem zweiten Substrat 22 gebildet. Die integrierte Schaltung 30 ist auf der ersten Oberfläche 12 und innerhalb des Hohlraums 28 angeordnet. Die integrierte Schaltung 30 wird elektrisch an die Signaleingangsanschlüsse 42, die auf der ersten Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 angebracht sind, über Drähte 32 mittels Drahtbonden angeschlossen.
Der Bildsensorchip 34 ist auf der oberen Oberfläche 24 des Substrats 22 angeordnet und elektrisch angeschlossen an die Signaleingangsanschlüsse 42, die auf der oberen Oberfläche 24 des zweiten Substrats 22 angebracht sind.
Das Abstandselement 38 ist auf der ersten Oberfläche 12 des ersten Substrats 10 montiert, um die integrierte Schaltung 30 und den Bildsensorchip 34 zu umgeben.
Die transparente Schicht 40 kann ein Klarglaselement sein, das auf dem Abstandselement 38 angebracht ist, um die integrierte Schaltung 30 und den Bildsensorchip 34 zu versiegeln. Der Bildsensorchip 34 kann Bildsignale durch die transparente Schicht 40 empfangen und diese Bildsignale in elektrische Signale umwandeln, die an das erste Substrat 10 weitergegeben werden.
Wie in Fig. 3 gezeigt, kann die transparente Schicht 40 ein transparentes Harz- oder Kunstharzelement sein, das die obere Oberfläche 24 des zweiten Substrats 22 bedeckt, damit werden die integrierte Schaltung 30 und der Bildsensorchip 34 durch die transparente Schicht 40 versiegelt. Damit kann der Bildsensorchip 34 Bildsignale durch die transparente Schicht 40 empfangen und diese Bildsignale in elektrische Signale umwandeln, die an das erste Substrat 22 weitergegeben werden.
Entsprechend Fig. 4 ist die transparente Schicht 40 ein "-förmiges" transparentes Harz- oder Kunstharzelement mit einem Tragrahmen 46 zur Montage auf der oberen Oberfläche 24 des zweiten Substrats 22. Das "- förmige" transparente Harz- oder Kunstharzelement 40 kann durch Spritzgießen oder Formpressen gebildet werden. Somit sind der Bildsensorchips 34 und die integrierte Schaltung 30 mittels der transparenten Schicht 40 bedeckt, ein Bildsignal kann vom Bildsensorchip 34 durch die transparente Schicht 40 empfangen werden.
Das -förmige transparente Element wird möglichst dünnwandig ausgeführt, um die optischen Eigenschaften, insbesondere die Transparenz, zu optimieren.
Durch den oben erwähnten Aufbau vermittelt die Erfindung folgende Vorteile:
  • 1. Weil der Bildsensorchip 34 und die integrierte Schaltung 30 gemeinsam gekapselt werden können, kann die Materialmenge, die das Substrat 10 bildet, reduziert werden und damit die Herstellkosten des gesamten Bildsensorbausteins gesenkt werden.
  • 2. Weil der Bildsensorchip 34 und die integrierte Schaltung 30 gemeinsam gekapselt werden können, kann die Größe des Bildsensorbausteins reduziert werden.
  • 3. Weil der Bildsensorchip 34 und die integrierte Schaltung 30 gemeinsam gekapselt werden können, gibt es nur ein Bausteingehäuse. Deshalb ist nur eine Prüfeinrichtung erforderlich und die Prüfkosten können verringert werden.
  • 4. Weil der Bildsensorchip 34 und die integrierte Schaltung 30 gemeinsam gekapselt werden können, können zwei Chips in einem einzigen Kapselungsvorgang gekapselt werden. Deshalb können die Kapselungskosten wirksam reduziert werden.
Obwohl die Erfindung anhand eines Beispiels beschrieben und mit Hilfe eines bevorzugten Ausführungsbeispiels erläutert wurde, ist selbstverständlich, daß die Erfindung nicht auf das beschriebene Ausführungsbeispiel beschränkt ist. Es ist im Gegenteil beabsichtigt, auch verschiedene Abwandlungen zu umfassen. Deshalb ist der Schutzbereich der folgenden Ansprüche so zu verstehen, daß auch diese Abwandlungen mit eingeschlossen sind.

Claims (12)

1. Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein zum elektrischen Anschluß an eine Leiterplatte, bestehend aus:
einem ersten Substrat (10), das eine erste Oberfläche (12) und eine zweite Oberfläche gegenüber der ersten Oberfläche (12) aufweist, wobei die erste Oberfläche (12) mit Signaleingangsanschlüssen (16) versehen ist und die zweite Oberfläche mit Signalausganganschlüssen (18) zur elektrischen Verbindung des Substrats (10) mit der Leiterplatte (20) versehen ist;
einem zweiten Substrat (22) mit einer oberen Oberfläche (24) und einer unteren Oberfläche (26) gegenüber der oberen Oberfläche (26), wobei die untere Oberfläche (26) des zweiten Substrats (34) an die erste Oberfläche (12) des ersten Substrats (10) angefügt ist und ein Hohlraum (28) zwischen dem ersten Substrat und dem zweiten Substrats gebildet wird;
einer integrierten Schaltung (30), die auf der ersten Oberfläche (12) des ersten Substrats (10) und innerhalb des Hohlraums (28) montiert und elektrisch mit den Signaleingangsanschlüssen (16) auf der ersten Oberfläche (12) des ersten Substrats (10) verbunden ist;
einem Bildsensorchip (34) angeordnet auf der oberen Oberfläche (24) des zweiten Substrats (22) und elektrisch verbunden mit dem ersten Substrat und
einer transparenten Schicht (40), die den Bildsensorchip (34) bedeckt, wobei der Bildsensorchip (34) Bildsignale durch die transparente Schicht (40) empfängt und in elektrische Signale umwandelt, die an das erste Substrat (10) weitergeleitet werden.
2. Stapelanordnung nach Anspruch 1, wobei die Signalausgangsanschlüsse (18) auf der zweiten Oberfläche (14) des ersten Substrats (10) metallische Kugeln sind, die in einem Kugelrasterfeld angeordnet sind und zur elektrischen Verbindung mit der Leiterplatte (20) dienen.
3. Stapelanordnung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die obere Oberfläche des zweiten Substrats (22) mit Signaleingangsanschlüssen (42) versehen ist und der Bildsensorchip (34) zunächst elektrisch mit den Signal­ eingangsanschlüssen (42) auf der oberen Oberfläche des zweiten Substrats (22) verbunden ist und dann über das zweite Substrat zum ersten Substrats weiterverbunden ist.
4. Stapelanordnung nach Anspruch 1 oder 2, wobei der Bildsensorchip (34) elektrisch an die Signaleingangsanschlüsse (16) auf der ersten Oberfläche des Substrats (10) angeschlossen ist.
5. Stapelanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei die integrierte Schaltung (30) eine Signalprozessorschaltung ist.
6. Stapelanordnung nach Anspruch 5, wobei die Signalprozessorschaltung (30) eine digitale Signalprozessorschaltung (30) ist und zur Verarbeitung der Signale vom Bildsensorchip dient.
7. Stapelanordnung nach Anspruch 5, wobei die Signalprozessorschaltung (30) ein Mikroprozessor ist.
8. Stapelanordnung nach Anspruch 5, wobei die Signalprozessorschaltung ein Zentralprozessor (CPU) ist.
9. Stapelanordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die transparente Schicht (40) ein Klarglaselement ist.
10. Stapelanordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei ein Abstandselement (38) auf der Peripherie der oberen Oberfläche des zweiten Substrats (22) angeordnet ist und die transparente Schicht (40) auf diesem Abstandselement angeordnet ist.
11. Stapelanordnung nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die transparente Schicht ein Harz- oder Kunstharzelement (46) ist.
12. Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein entsprechend Anspruch 10, wobei das Harz- oder Kunstharzelement (46) -förmig ist und einen Tragrahmen für die Montage auf der oberen Oberfläche des zweiten Substrats aufweist.
DE10122721A 2001-04-20 2001-05-10 Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein Withdrawn DE10122721A1 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0109829A GB2374727B (en) 2001-04-20 2001-04-20 Stacked package structure of image sensor
DE20109194U DE20109194U1 (de) 2001-04-20 2001-05-10 Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein
DE10122721A DE10122721A1 (de) 2001-04-20 2001-05-10 Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0109829A GB2374727B (en) 2001-04-20 2001-04-20 Stacked package structure of image sensor
DE10122721A DE10122721A1 (de) 2001-04-20 2001-05-10 Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10122721A1 true DE10122721A1 (de) 2002-11-14

Family

ID=26009263

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10122721A Withdrawn DE10122721A1 (de) 2001-04-20 2001-05-10 Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10122721A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111520619A (zh) * 2019-02-01 2020-08-11 光宝光电(常州)有限公司 光源装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111520619A (zh) * 2019-02-01 2020-08-11 光宝光电(常州)有限公司 光源装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10122720A1 (de) Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein
EP1022787B2 (de) Verfahren zum Herstellen eines oberflächenmontierbaren Opto-Bauelements und oberflächenmontierbares Opto-Bauelement
DE69636335T2 (de) Integrierte Schaltungspackung und Verfahren zu ihrem Zusammenbau
DE102004039018A1 (de) Kompaktes Abbildungsmodul
DE102006038987B4 (de) Bildwandlermodul, Verfahren zur Herstellung eines solchen und Kameramodul zum Betieb eines solchen
DE69129547T2 (de) Packung für eine optoelektronische vorrichtung und verfahren zu ihrer herstellung
EP0400175B1 (de) Oberflächenmontierbares Opto-Bauelement
DE69414291T2 (de) Eine Halbleiteranordnung und Packung
DE10147955A1 (de) Halbleitervorrichtung
EP1467407A1 (de) Leistungshalbleitermodul
WO2003067657A2 (de) Halbleiterbauteil mit sensor- bzw. aktoroberfläche und verfahren zu seiner herstellung
DE10057647A1 (de) Gehäusestruktur für CCD-Chip
DE20301343U1 (de) Bildsensor
DE60104125T2 (de) Vorrichtung zur Aufnahme von Bildern Kleiner Abmessungen, insbesondere Photoapparat oder Videokamera
EP0637081B1 (de) Mikrosensor mit Steckeranschluss
DE10144467A1 (de) Elektronisches Sensorbauteil und Verfahren zu seiner Herstellung
DE10200268A1 (de) Halbleitervorrichtung
DE60308682T2 (de) Tragbarer silizium chip
DE19651260A1 (de) Bildsensor-Chip und entsprechendes Trägerelement
DE4321592B4 (de) Halbleitervorrichtungen sowie ein Chipauflage-Trägerteil und ein Tape-Carrier-Gehäuse hierfür
DE10122721A1 (de) Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein
DE4244615A1 (en) Integrated circuit chip package with multi-voltage wiring pattern - has concentric rings of body surface metallisation provided for power supply to single or multivoltage chip
DE20109194U1 (de) Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein
DE19834160A1 (de) Halbleiterkomponente und entsprechendes Herstellungsverfahren
DE20109196U1 (de) Stapelanordnung für einen Bildsensorbaustein

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee