DE10116536A1 - Flugzeit-Massenspektrometer mit gepulsten Ionen-Spiegeln - Google Patents
Flugzeit-Massenspektrometer mit gepulsten Ionen-SpiegelnInfo
- Publication number
- DE10116536A1 DE10116536A1 DE2001116536 DE10116536A DE10116536A1 DE 10116536 A1 DE10116536 A1 DE 10116536A1 DE 2001116536 DE2001116536 DE 2001116536 DE 10116536 A DE10116536 A DE 10116536A DE 10116536 A1 DE10116536 A1 DE 10116536A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- ion
- time
- ions
- mass spectrometer
- flight
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/406—Time-of-flight spectrometers with multiple reflections
Abstract
Da die Geschwindigkeit monoenergetischer Ionen von deren Masse abhängt, kann man das Massenspektrum solcher Ionen dadurch bestimmen, dass man die Zeiten misst, die diese Ionen benötigen, um eine gebene Strecke zu durchfliegen. Sind die Energien dieser Ionen leicht verschieden, so erhält man aber nur dann sauber aufgelöste Massespektren, wenn entweder die Energiebreite dieser Ionen sehr klein ist, oder wenn das Flugzeit-Massensprektrometer "Energie-isochrone" Eigenschaften hat, d. h. dass schnellere Ionen höherer Energie den Endauffänger nur auf Umwegen erreichen, die mit der Ionenenergie geeignet wachsen. Mit solchen Energie-isochronen Flugzeit-Massenspektrometern kann man hohe Massenauflösungen erreichen, wenn man - bei gegebener Ionen-Pulsbreite - den Ionenflugweg verlängert. Hier wird nun vorgeschlagen, solch eine Flugweg-Verlängerung dadurch zu erreichen, dass man die Ionen mehrfach zwischen rotationssymmetrischen Gitter-freien Ionenspiegeln hin- und herreflektiert und so die geometrisch gegebene Flugstrecke mehrfach nutzt. Hierbei soll die Spiegelwirkungen dieser Ionen-Spiegel zum Einschleusen und zum Ausschleusen der Ionen in diese Vielfach-Flugstrecke für kurze Zeiten abgeschaltet werden, sodass diese Elektroden-Anordnungen als Transmissions-Linsen wirken. Obwohl die Ionen-Spiegel während der Multireflexions-Phase auch Linsenwirken besitzen, sollen hier zusätzliche rotations-symmetrische elektrostatische Linsen genutzt werden, deren Elektroden so mit Spannungen ...
Description
In Flugzeit-Massenspektrometern bestimmt man die Masse von Ionen dadurch, dass man die Zeiten
misst, in der die Ionen die Strecke zwischen einer gepulsten Ionenquelle und einem Ionenauffänger
durchqueren. Diese Flugzeit wird bestimmt durch die Geschwindigkeit v = √(2K/m) der Ionen der Masse
(m) mit der kinetischen Energie (K) sowie durch die Länge des Flugweges. Diese Länge ist zum einen
gegeben durch die geometrische Anordnung von Ionenquelle und Ionendetektor zum anderen aber durch
die auf diesem Flugweg existierenden elektrischen und magnetischen Felder. Da die Flugbahnen in
solchen Feldern von dem Masse/Ladungs Verhältnis (m/q) und dem Energie/Ladungs Verhältnis (K/q)
abhängen ist die Zeit (T), die ein Ion braucht, um durch ein Flugzeit-Massenspektrometer hindurch zu
fliegen, letztlich eine Funktion von (m/q) und (K/q).
Verwendet man Ionen einer bestimmten Ladung (q0) und einer und derselben Energie (K0), so erhält man
aus der Flugzeitmessung ein (m/q0) Massenspektrum. Haben dagegen die Ionen Energien (K = K0 ± ΔK) so
wird jede (m/q0)-Linie durch die Energiebreite 2ΔK verbreitert, was die Massen-Auflösung reduziert.
Dies kann man weitgehend verhindern, indem man die Ionen auf Ihrem Wege zwischen Ionenquelle und
Ionenauffänger in wenigstens ein Gegenfeld laufen lässt, in das Ionen mit einem grösseren
Energie/Ladung Verhältnis tiefer eindringen. Nachdem Sie dann aus diesem Gegenfeld wieder
herausgekommen sind, haben damit die schnelleren Ionen grösserer Energie einen längeren Weg
zurückgelegt als die langsameren Ionen kleinerer Energie. Bei geeigneter Dimensionierung solcher
Gegenfelder kann man so erreichen, dass Ionen der gleichen Masse (m0) und Ladung (q0) aber
verschiedener Energie (K = K0 ± ΔK) alle die gleiche Flugzeit durch das Flugzeit-Massenspektrometer
haben unabhängig von Ihrer Energiebreite (±ΔK). Solche Flugzeit-Massenspektrometer nennt man
"Energie-isochron", da Ionen einer Masse und Ladung aber verschiedener Energie die gleiche Flugzeit
besitzen. Realisieren kann man solche Gegenfelder in dem man mehrere Gitter und Gitter-freie Blenden
[1, 2] mit verschiedenen Potentialen beaufschlagt.
Die Massen-Auflösung solch eines Energie-isochronen Flugzeit-Massenspektrometers kann man dadurch
steigern, dass man
- 1. die Länge des letztlich gemessenen Ionenpulses kürzer und kürzer und/oder
- 2. die Länge des Flugweges länger und länger
macht. Da einer Verkürzung eines Ionenpulses letztlich physikalische Grenzen gesetzt sind, bleibt zum
Erreichen grosser Massen-Auflösungen letztlich nur der zweite Weg. Eine Möglichkeit solche
Wegverlängerungen zu erreichen, ist es eine gegebene Flugstrecke mehrfach zu nutzen. Dies kann man
etwa dadurch erreichen, dass man die Ionen in einem Ring von Ablenkfeldern führt [1, 2] oder sie aber
zwischen zwei oder mehr Ionen-Spiegeln mehrfach hin und her reflektiert.
Hier wird jetzt vorgeschlagen den zweiten Weg einzuschlagen und Ionen zwischen wenigstens zwei
Gitter-freien Ionen-Spiegeln mehrfach hin und her zu reflektieren, wobei die Achse des Ionenbündels
jeweils mit den Spiegel-Achsen zusammen fallen soll. Diese Ionenspiegel kann man als rotations
symmetrische Felder aufbauen und diese entweder aus rotations-symmetrischen Elektroden aufbauen
(siehe Abb. 1) oder aber aus planaren Elektrodenstrukturen, z. B. in zwei Ebenen, die oberhalb und
unterhalb der Ebene Angeordnet sind, die die optische Achse des Ionenbündels enthält, wobei diese
Elektrodenstrukturen trotzdem rotations-symmetrische Felder erzeugen können. Natürlich ist es auch
möglich nicht-rotations-symmetrische Felder in Spiegeln oder Zusatzlinsen in einem hier
vorgeschlagenen Multi-Reflexions-Flugzeit-Massenspektrometer einzusetzen. Die dafür notwendigen
ionenoptischen Überlegungen und Rechnungen werden nur alle sehr viel komplizierter.
Diese Ionen-Spiegel sollen so aufgebaut sein, dass man ihre Spiegelwirkungen kurzfristig abschalten
kann, um Ionen in die Multi-Reflexions-Strecke einzuschleusen oder aber um Ionen aus dieser Multi-
Reflexions-Strecke herauszu-schleusen. In beiden Fällen sollen hierbei die urspünglich "fokussierenden
Ionen-Spiegel" in focussierende Transmissions-Linsen umgewandelt sein, wobei die Fokussierungs
wirkungen der Transmissionslinsen so gewählt werden sollen, dass der eingeschleuste Ionenstrahl ein
Phasenraum-Volumen füllt, das an die ionenoptischen Eigenschaften der Multi-Reflexions-Strecke
angepasst ist. Diese Multi-Reflexions-Strecke zwischen den beiden schaltbaren Ionen-Spiegeln kann
entweder eine gerade feldfreie Flugstrecke sein (siehe Abb. 1b und Abb. 2) oder aber eine mehrfach
abgeknickte (in Abb. 1a ist eine Anordnung mit einem "Knickung" dargestellt), wobei diese
"Knickungen" bewirkt werden durch elektrische Sektorfelder oder weitere Ionenspiegel, in denen die
Achse des Ionenbündels nicht mit der Spiegel-Achse zusammenfällt. Hierbei kann entweder die Achse
des Ionenbündels gegenüber der Elektroden-Achse geneigt sein (siehe Abb. 1a) oder aber in etwa parallel
(siehe Abb. 4).
In jedem Falle sollten ionenoptische Massnahmen ergriffen werden, damit Ionen verschiedener Anfangs-
Orte oder Anfangs-Winkel letztlich sehr exakt gleiche Wegstrecken zurücklegen. Dies kann man dadurch
erreichen, dass auf der Flugstrecke zwischen den beiden schaltbaren Ionen-Spiegeln wenigstens eine
zumeist jedoch mehrere elektrostatische, rotationssymmetrische, beschleunigende Linsen vorgesehen
sind. Solche beschleunigende Linsen bestehen jeweils aus mehreren rotationssymmetrischen Elektroden
oder den oben beschriebenen planaren Elektrodenstrukturen oberhalb und unterhalb der Ebene, die
ionenoptische Achse enthalten. Diese so erzeugten rotations-symmetrischen Linsen-Felder sollen so
dimensioniert sein, dass die Ionen im mittleren Bereiche der Linsen deutlich höhere Energien besitzen als
vor Eintritt oder nach Austritt aus diesen Linsen, also im Falle von Linsen, wie in Abb. 2 angedeutet im
Bereiche der Elektroden (4) und (7). Solche Linsen erlauben bei geeigneter Dimensionierung der
Elektrodengeometrie und der Elektrodenpotentiale, dass die Energie-Isochronizität nicht nur für
achsennahe sondern auch für achsenferne Ionenflugbahnen erfüllt werden kann.
Durch solche elektrostatischen, rotations-symmetrischen, beschleunigenden Linsen soll die Strahlführung
so verändert werden, dass
- 1. die Ionen-Flugbahnen pro Periode "Energie-isochron" sind und dass zusätzlich
- 2. das Ionenbündel pro Periode wenigstens zwei laterale "beam-waists" bildet, was identisch ist mit
der Forderung, dass
- 1. alle Ionen, die von einem Punkte auf der System-Achse ausgehen nach einer Periode wieder in diesen Punkt fokussiert werden und
- 2. alle Ionen, die ein Parallel-Bündel bilden nach einer Periode wieder ein Parallel-Bündel bilden
Hierbei ist eine Periode definiert als der Weg, den ein Ion zurücklegt, wenn es von einem bestimmten
Punkt z0 zwischen den Ionen-Spiegeln in (+z)-Richtung ausgeht und diesen Punkt einmal in (-z)-Richtung
und dann noch einmal in (+z)-Richtung erreicht.
Obwohl diese Forderungen alle nur Massnahmen in linearer Ionenbahn-Näherung sind, erreicht man
damit auch eine effektive Kompensation sowohl von lateralen Bildfehlern als auch von longitudinalen
Bildfehlern höherer Ordnung, d. h. Flugzeit-Fehlern. Dies hängt damit zusammen, dass der
symplektischen Beziehungen wegen die lateralen mit den longitudinalen Bildfehlern eng verknüpft sind.
Die beschriebene "waist-to-waist" Beziehung für eine Periode fordert auch, dass nach einer Halbperiode
eine Zwischen-"beam waist" entsteht, die dadurch charakterisiert ist, dass Ionen, die von einem Punkte
ausgehen nach dieser Halbperiode ein Parallel-Bündel bilden und dass Ionen, die anfänglich ein Parallel-
Bündel bilden nach dieser Halbperiode auf einen Punkt fokussiert werden, wie das in Abb. 3 angedeutet
ist. Treten in dieser Mehrfach-Reflexions-Strecke mehrere "beam-waists" auf, so ist es vorteilhaft, wenn
einige dieser "beam-waists" mit Positionen von Ionen-Spiegel zusammenfallen, da dies eine grössere
Energiebreite der Ionen bei einer bestimmten Massenauflösung erlaubt. Allerdings erfordert dies auch
eine hohe Brechkraft der zusätzlichen rotationssymmetrischen Linsen.
Im theoretisch einfachsten Falle kann man eine feldfreie Flugstrecke zwischen zwei geschalteten Ionen-
Spiegeln vorsehen (siehe Abb. 1b und Abb. 2) und zusätzlich postulieren, dass in der Mitte zwischen Ihnen
das Ionenbündel bei jedem Durchgang beam-waists bildet. Es kann aber auch von Vorteil sein, die beam-
waists nicht exakt in der Mitte zwischen den schaltbaren Ionen-Spiegeln zu fordern solange nur die
Bedingung der Energie-Isochronizität erhalten bleibt. In besonderen Fällen kann es auch von Vorteil sein,
dass die Lage der "beam-waists" sich von Halb-Periode zu Halb-Periode um eine Länge Δz verschiebt,
wobei Δz < 0 oder Δz < 0 sein kann. In diesem Falle ist die Länge einer Periode 2L0 + Δz, wobei L0 der
Abstand zwischen den beiden Ionen-Spiegeln ist.
Solch ein gerades Multi-Reflexions-Flugzeit-Massenspektrometer ist in Abb. 2 in einer anschaulichen
dreidimensionalen Darstellung zu sehen. Hier gehen Ionenpakete aus von einer gepulsten Ionenquelle (1),
treten durch eine Ionen-Spiegel (2) hindurch, wenn dieser abgeschaltet ist, und dann durch zwei
beschleunigende elektrische Rundlinsen (3, 4, 5) sowie (6, 7, 8) um schliesslich mehrfach zwischen den
Ionen-Spiegeln (9) und (2) hin und her reflektiert zu werden bevor es durch den zu diesem Zeitpunkt
abgeschalteten Ionenspiegel (9) hindurch treten kann um letztlich den Ionenauffänger (10) zu erreichen.
Lässt man die Ionen N Perioden durchlaufen, so ist die Gesamt-Fluglänge Lgesamt = 2N.L0. Um diese
Gesamt-Fluglänge zu erreichen, muss man bei gegebener geometrischer Länge des Systems die Zahl der
Reflexionen, i. e. 4N, gross genug wählen. Man kann aber auch eine doppelt so grosses System bauen, so
dass L0 doppelt so gross wird, und dafür nur halb so viele Perioden für die Gesamt-Flugzeit nutzen. Was
die erreichbare Massen-Auflösung angeht sind beide Lösungen gleichwertig, da Lgesamt gleich gross ist.
Unterschiedlich ist der gleichzeitig direkt erfasste Massenbereich. Schleust man nämlich nach einer Zeit
T0 alle Ionen aus der Multi-Reflexions-Strecke aus, so registriert man in dem Massenspektrum
- 1. Ionen einer entsprechenden Masse m0 die nach der Flugzeit T0 genau N Perioden absolviert haben. Diese Ionen sollen hier Referenzionen genannt werden.
- 2. Ionen der Massen m mit m0 < m < m0(1 + 2/N), die nach der Flugzeit T mit T0 < T < T0(1 + 1/N) auch N Perioden absolviert haben. Diese Ionen sollen hier Normionen genannt werden.
- 3. nach derselben Flugzeit T mit T0 < T < T0(1 + 1/N) leichtere Ionen mit Massen m < m0, die schon mehr als N Perioden sowie schwere Ionen mit Massen m < m0(1 + 2/N), die weniger als N Perioden abolviert haben.
Hierbei ist zu bemerken, dass der Massenbereich der Norm-Ionen, umso grosser ist je kleiner die Zahl N
ist, d. h. je grösser 2N.L0 die Fluglänge pro Periode ist.
Die Ionen zu leichter und zu schwerer Massen kann man durch ein vorgeschaltetes zusätzliches Flugzeit-
Massenspektrometer elimieren. Da dieses Massenspektrometer nicht sehr genau sein muss, kann man
dafür etwa die Flugstrecke zwischen der Ionenquelle und dem ersten Ionen-Spiegel nutzen, auch wenn
diese nur wenige cm lang ist. Diese Elimination kann man allerdings verbessern, wenn man auch den
ersten Durchgang der Ionen durch das Flugzeit-Massenspektrometer mit einschliesst und nicht nur den
ersten sondern auch den zweiten Ionenspiegel für die Elimination nutzt, d. h. nicht nur zu leichte und zu
schwere Ionen in von dem ersten Spiegel in die Ionenquelle zurückreflektiert, sondern auch die etwas zu
schweren Ionen, die in die Flugstrecke zwischen den schaltbaren Spiegeln gelangt sind, durch ein kurz
fristiges Ausschalten des zweiten Ionenspiegels vorzeitig aus der Flugstrecke in Richtung auf den
Detektor entlässt. Man kann aber - zumindest mit verminderter Massenauflösung - die Massen dieser
Ionen auch noch bestimmen, wenn man zusätzlich deren Geschwindigkeit bestimmt und daraus die
Anzahl der genutzten Perioden. Da diese Geschwindigkeitsbestimmung nicht sehr genau sein muss, kann
man die Ionen einmal nach der Zeit T0 und einmal nach einer etwas anderen Zeit (T0 + ΔT) ausschleussen
und aus der Änderung des relativen Flugzeit-Unterschiede zwischen den einzelnen Ionen auf deren
relative Geschwindigkeiten schliessen. Bedenken muss man hier aber, dass für die Ionen, die zu viele
oder zu wenige Perioden genutzt haben, die Bedingung der Energie-Isochronizität schlechter erfüllt ist als
für Norm-Ionen.
[1] H. Wollnik and M. Przewloka, Time-of-Flight Mass Spectrometers with Multiply Reflected Ion
Trajectories, Int. Journal of Mass Spectrometry and Ion Proc. 96 (1990) 267-274
[2] H. Wollnik, Energy Isochronous Time-of-Flight Mass Analyzers, Int. Journal of Mass Spectrometry and Ion Proc. 131 (1994) 387-407
[2] H. Wollnik, Energy Isochronous Time-of-Flight Mass Analyzers, Int. Journal of Mass Spectrometry and Ion Proc. 131 (1994) 387-407
Claims (25)
1. Flugzeit-Massenspektrometer, bei dem ein Ionenpaket auf einer geraden oder wenigstens ein Mal
abgeknickten Flugstrecke zwischen zwei elektrischen aus rotations-symmetrischen Feldern
bestehenden Ionen-Spiegeln weitgehend Energie-isochron hin und her reflektiert wird, wobei die
beiden Ionen-Spiegel aus Gitter-freien Elektroden bestehen, deren Potentiale vor Beginn und nach
Ende der Multi-Reflexions-Zeit so geändert werden, dass Ionen von hinten durch sie in die
Flugstrecke zwischen den Ionen-Spiegeln eintreten bzw. aus ihr austreten können (siehe Abb. 1),
dadurch gekennzeichnet, dass sich in der Flugstrecke zwischen den beiden Ionen-
Spiegeln wenigstens eine elektrostatische, weitgehend rotations-symmetrische, beschleunigende
Linse befindet, wobei die Potentiale der mittleren Linsen-Elektroden, was in dem System von Fig. 2
die Elektroden (4) und/oder (7) wären, so gewählt sind, dass die Ionen-Energie auf der Linsen-Achse
im Bereiche dieser mittleren Linsen-Elektroden merklich grösser ist als irgendwo auf dem Rest der
Flugstrecke, wobei weiterhin die Potentiale an allen Linsen-Elektroden so gewählt sein sollen, dass
sie in Zusammenwirkung mit den Linsenwirkungen der Ionen-Spiegel während der Multi-Reflexions-
Zeit für jede Periode, d. h. nach einer gewissen Anzahl von Durchläufen durch die Multi-Reflexions-
Strecke, bewirken, dass
- a) die Flugzeiten für alle Ionen einer Masse und Ladung in etwa gleich lang sind zwischen einer Position z1 und einer Position z2 = z1 + Δz und dann z3 = z2 + Δz etc. . . . auf der optischen z-Achse des Flugzeit-Massenspektrometers, d. h. dass die Energie-Isochronizität für den Flug durch einen Periode weitgehend gewahrt ist, und dass
- b) die Ionen, die von einem Punkte P(z1) ausgehen, nach einer Periode in einen Punkt P(z2 = z1 + Δz) und dann P(z3 = z2 + Δz) etc. . . . auf der optischen z-Achse des Flugzeit-Massenspektrometers fokussiert werden, wobei gleichzeitig ein an der Position z1 paralleles Ionen-Bündel in ein paralles Ionen-Bündel an der Position z2 = z1 + Δz und dann z2 = z1 + Δz und dann z3 = z2 ± Δz etc. . . . überführt wird, so dass zwischen den Positionen z1, z2, z3 etc. . . . laterale "waist-to-waist" Beziehungen gegeben sind, was in Abb. 3 für eine Halbperiode des Systems von Abb. 2 dargestellt ist, d. h. Ionen, die von einer Punktquelle ausgehen, werden in ein paralles Ionenbündel überführt und umgekehrt.
2. Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die Flugstrecke zwischen den beiden geschalteten Ionen-Spiegeln wenigstens einmal abgeknickt ist,
wobei der oder die "Knicke" durch Reflexionen in mindestens einem weiteren statischen oder
geschalteten Ionenspiegel erfolgen, wobei die Achse des Ionenbündels entweder schräg zu der oder
den Spiegel-Achsen sind, wie in Abb. 1a illustriert oder aber achsenparallel wie in Abb. 4 illustriert.
3. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass
die Flugstrecke zwischen den beiden geschalteten Ionen-Spiegeln wenigstens einmal abgeknickt ist,
wobei alle oder ein Teil der "Knicke" durch statische oder geschaltete elektrostatische und/oder
magnetische Sektorfelder erfolgen.
4. Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die Flugstrecke zwischen zwei geschalteten Ionen-Spiegeln eine Gerade ist wie in Abb. 1b und 2
dargestellt.
5. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass
Δz in Anspruch 1 Null gewählt wird, d. h. dass der Punkt P(z2) in Abb. 1 und 2 nach jeder Periode mit
dem Punkt P(z1) zusammenfällt.
6. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass
die Ionen durch einen geschalteten Ionen-Spiegel in die Multi-Reflexions-Flugstrecke eintreten und
nach Beendigung der Multi-Reflexions-Zeit durch einen anderen geschalteten Ionen-Spiegel aus
dieser Flugstrecke austreten, wenn diese jeweils diese Ionen-Spiegel auf Durchlass geschaltet sind.
7. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass
die Ionen durch denselben geschalteten Ionen-Spiegel, durch den sie in die Multi-Reflexions-
Flugstrecke eingetreten waren, auch nach Beendigung der Multi-Reflexions-Zeit aus dieser
Flugstrecke wieder austreten, wenn dieser eine geschaltete Ionen-Spiegel wieder auf Durchlass
geschaltet ist.
8. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, dass
die Länge von Δz in Anspruch 1 so gewählt wird, dass die Positionen z1 und z2 in Abb. 1 und 2,
zwischen denen "waist-to-waist" Beziehung bestehen sollen, sich von Periode zu Periode so
verschieben, dass z1 zu Begin in etwa mit der Ionenquelle zusammenfällt, d. h. im Falle der Abb. 2,
die Position (1), und z2 am Ende in etwa mit dem Ionenauffänger zusammenfällt, d. h. im Falle der
Abb. 2, die Position (9).
9. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass
der erste geschaltete Ionenspiegel nicht gleich nach der Extraktion der Ionen aus der Ionenquelle auf
Durchlass geschaltet wird sondern erst nach einiger Zeit "T1" und auch dann nur während eines
bestimmten Zeitfensters "ΔT1", sodass zu leichte schnellere Ionen, die zu Zeiten T < T1 diesen Spiegel
von hinten erreichen, ebenso in die Ionenquelle zurückreflektiert werden wie zu schwere langsamere
Ionen die diesen Spiegel zu Zeiten T < T1 + ΔT1 von hinten erreichen.
10. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass
ein zweiter geschalteter Ionenspiegel nicht erst nach Ablauf der Multi-Reflexionsphase auf Durchlass
geschaltet wird, sondern für eine Zeit ΔT2 auch schon nach der Zeit T2 zu der diejenigen Ionen ihn
erreicht haben, die den Ionenspiegel 1 zur Zeit T < T1 + ΔT1 von hinten erreicht hatten und zumindest
teilweise noch passieren konnten.
11. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass
die Elektroden des i-ten der in Anspruch 2 erwähnten Zusatz-Ionen-Spiegel, die eine "Knickung"
der ionenoptischen Achse bewirken, nur während der Zeit Ti < T < Ti + ΔTi mit Spannungen
beaufschlagt werden, so dass diesen Ionen-Spiegel nur Ionen mit Massen mi ≦ m ≦ mi + Δmi, zu Zeiten
T mit Ti < T < Ti + ΔTi erreicht haben, auf den Rest der Flugstrecke zu den Ionen-Spiegeln j < i und dann
letztlich zu dem End-Ionenauffänger schicken kann, während Ionen mit m < mi und m < mi + Δmi
durch diesen kurzzeitig auf Transmission geschalteten i-ten Ionen-Spiegel
hindurchdringen können, um dann entweder in einem Zusatz-Ionenauffänger registriert zu werden
oder aber lediglich vernichtet zu werden.
12. Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass
durch geeignete Einstellungen der beschleunigenden Linsen vor und nach dem i-ten Ionen-Spiegel
die in etwa Energie-Isochronizität und die Ausbildung einer Ionen-Strahl-waist sowohl für den End-
Ionen-Auffänger als auch - wenn auch nicht notwendigerweise mit derselben Genauigkeit - für den
Zusatz-Ionen-Auffänger erreicht ist, sodass in dem Zusatz-Ionen-Auffänger ein Übersichts-
Massenspektrum mit mittlerer oder kleiner Massenauflösung registrieren kann für Ionen mit den
Massen m ≦ mi und m ≧ mi + Δmi und in dem End-Ionen-Auffänger die Ionen mit Massen m < mi und
m < mi + Δmi mit hoher Massenauflösung, die in dem Übersichts-Massenspektrum fehlen.
13. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass
wenigstens einer der geschalteten Ionen-Spiegel auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den
verschiedenen Ionen-Spiegeln abgewandt ist, mit einem Gitter abgeschlossen ist, so dass er zwar
während der Multi-Reflexions-Phase für die Ionen als Gitter-freier Spiegel wirkt aber während der
Ionen-Einschleus- oder Ionen-Ausschleus-Phase als Gitter-behaftete Transmissions-Linse.
14. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass
wenigstens einer der geschalteten Ionen-Spiegel auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den
verschiedenen Ionen-Spiegeln abgewandt ist, mit mehreren Gitter abgeschlossen ist, die sich alle auf
demselben Potential befinden, wodurch dieser Ionen-Spiegel zwar während der Multi-Reflexions-Zeit
für die Ionen als Gitter-freier Spiegel wirkt aber während der Ionen-Einschleus- bzw. Ionen-
Ausschleus-Phase als Gitter-behaftete Transmissions-Linse.
15. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass
wenigstens einer der geschalteten Ionen-Spiegel auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den
verschiedenen Ionen-Spiegeln abgewandt ist, mit mehreren Gittern abgeschlossen ist, die sich auf
verschiedenen Potentialen befinden, wodurch dieser Ionen-Spiegel zwar während der Multi-
Reflexions-Zeit für die Ionen als Gitter-freier Spiegel wirkt aber während der Ionen-Einschleus- bzw.
Ionen-Ausschleus-Phase als Gitter-behaftete Transmissions-Linse.
16. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass
während der Ionen-Einschleus-Phase bzw. Ionen-Ausschleus-Phase die Potentiale Vm (mit 1 ≦ m ≦ M)
aller M Gitter sowie Vn (mit 1 ≦ n ≦ N) aller N Gitter-freien Elektroden eines geschalteten Ionen-
Spiegels, durch den Ionen hindurchtreten sollen, auf Werte Vmam bzw. Vnan reduziert werden, wobei
-1 ≦ am ≦ 1 und -1 ≦ an ≦ 1.
17. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass
während der Ionen-Einschleus-Phase bzw. Ionen-Ausschleus-Phase nur das Potential Vm des mten
Gitters oder Vn der nten Gitter-freien Elektrode eines geschalteten Ionen-Spiegels, durch den die Ionen
hindurchtreten sollen, auf Vmam bzw. Vnan reduziert wird, wobei -1 ≦ am ≦ 1 und -1 ≦ an ≦ 1.
18. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 16 und 17, dadurch gekennzeichnet dass
für am bzw. an Werte gewählt werden, die nur so wenig unter 1 liegen, dass Vm(1 - am) bzw. Vn(1 - an)
kleiner bleiben als wenige 100 V.
19. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass
der Ionen-Spiegel, durch den die Ionen während der Ionen-Einschleus-Phase hindurchtreten müssen,
auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den Ionen-Spiegeln abgewandt ist, Zusatz-Elektroden
enthält, die zu den Feldern der Ionen-Spiegel zusätzliche koaxiale Rundlinsen-Felder bewirken, die -
wenn diese durch geeignete Potentiale an den Linsenelektroden richtig eingestellt sind - während der
Einschleus-Phase eine "beam-waist" an der Position z1 (siehe Abb. 1 und 2) erzeugen.
20. Flugzeit-Massenspektrometer nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass
die Zusatzelektroden zusätzlich zu koaxialen Rundlinsen-Felder auch Quadrupollinsen-Felder
erzeugen, die - wenn diese durch geeignete Potentiale an den Linsenelektroden richtig eingestellt sind
- während der Einschuss-Phase eine "beam-waist" an der Position 21 (siehe Abb. 1 und 2) erzeugen.
21. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass
der Ionen-Spiegel, durch den die Ionen während der Ionen-Einschleus-Phase hindurchtreten müssen,
auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den Ionen-Spiegeln abgewandt ist, wenigstens einen
elektrischen Ionen-Ablenker enthält, die in zwei zueinander geneigten aber zu der z-Achse im
wesentlichen senkrechten Richtungen wirken.
22. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass
der Ionen-Spiegel, durch den die Ionen während der Ionen-Einschleuss-Phase oder der Ionen-
Ausschleus-Phase hindurchtreten müssen, auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den Ionen-
Spiegeln zugewandt ist und/oder auf der Seite, die der Flugstrecke zwischen den beiden Ionen-
Spiegeln abgewandt ist, elektrische Ionen-Ablenker enthält, die jeweils in zwei zueinander geneigten
aber zu der z-Achse im wesentlichen senkrechten Richtungen wirken, wobei diese Wirkungen nur
kurzfristig aktiviert werden.
23. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 22, dadurch gekennzeichnet, dass
das Potential der Achse zwischen den beiden Ionen-Spiegeln sich über einen merklichen Teil der
Flugstrecke auf einem Potential befindet, auf dem die Energie der Ionen reduziert ist gegenüber der
mittleren Energie, die sie in der Multi-Reflexions-Strecke haben.
24. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass
die Elektroden der Spiegel und Linsen zum Teil nicht aus rotations-symmeterischen Elektroden
aufgebaut sind sondern aus Elektroden-Anordnungen auf zwei zueinander parallelen, ebenen
Strukturen, wie etwa gedruckten Schaltungen, die in verschiedenen Ausbildungen rotations
symmetrische und/oder quadrupolare Feldverteilungen erzeugen können.
25. Flugzeit-Massenspektrometer nach Ansprüchen 1 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass
die Elektroden der Ablenker nicht nur aus Plattenkondensatoren bestehen, deren Ablenkfeldstärke
senkrecht zu diesen Platten ist, sondern aus Elektroden-Anordnungen auf zwei zueinander
parallelen, ebenen Strukturen, wie etwa gedruckten Schaltungen, die in verschiedenen Ausbildungen
sowohl Ablenkfeldstärken senkrecht zu diesen ebenen Strukturen erzeugen als auch parallel zu
ihnen.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2001116536 DE10116536A1 (de) | 2001-04-03 | 2001-04-03 | Flugzeit-Massenspektrometer mit gepulsten Ionen-Spiegeln |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2001116536 DE10116536A1 (de) | 2001-04-03 | 2001-04-03 | Flugzeit-Massenspektrometer mit gepulsten Ionen-Spiegeln |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10116536A1 true DE10116536A1 (de) | 2002-10-17 |
Family
ID=7680182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2001116536 Ceased DE10116536A1 (de) | 2001-04-03 | 2001-04-03 | Flugzeit-Massenspektrometer mit gepulsten Ionen-Spiegeln |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10116536A1 (de) |
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2048690A3 (de) * | 2007-10-12 | 2010-12-15 | Kabushiki Kaisha TOPCON | Reflektorvorrichtung für Strahlen geladener Teilchen und Elektronenmikroskop |
WO2013063587A2 (en) | 2011-10-28 | 2013-05-02 | Leco Corporation | Electrostatic ion mirrors |
DE102015121830A1 (de) * | 2015-12-15 | 2017-06-22 | Ernst-Moritz-Arndt-Universität Greifswald | Breitband-MR-ToF-Massenspektrometer |
US10593533B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-03-17 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10629425B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-04-21 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10636646B2 (en) | 2015-11-23 | 2020-04-28 | Micromass Uk Limited | Ion mirror and ion-optical lens for imaging |
US10741376B2 (en) | 2015-04-30 | 2020-08-11 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11367608B2 (en) | 2018-04-20 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US11587779B2 (en) | 2018-06-28 | 2023-02-21 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
US11848185B2 (en) | 2019-02-01 | 2023-12-19 | Micromass Uk Limited | Electrode assembly for mass spectrometer |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3025764C2 (de) * | 1980-07-08 | 1984-04-19 | Hermann Prof. Dr. 6301 Fernwald Wollnik | Laufzeit-Massenspektrometer |
WO1999001889A1 (en) * | 1997-07-02 | 1999-01-14 | Merck & Co., Inc. | Novel mass spectrometer |
US6013913A (en) * | 1998-02-06 | 2000-01-11 | The University Of Northern Iowa | Multi-pass reflectron time-of-flight mass spectrometer |
US6107625A (en) * | 1997-05-30 | 2000-08-22 | Bruker Daltonics, Inc. | Coaxial multiple reflection time-of-flight mass spectrometer |
DE10005698A1 (de) * | 2000-02-09 | 2001-08-23 | Bruker Daltonik Gmbh | Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss |
-
2001
- 2001-04-03 DE DE2001116536 patent/DE10116536A1/de not_active Ceased
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3025764C2 (de) * | 1980-07-08 | 1984-04-19 | Hermann Prof. Dr. 6301 Fernwald Wollnik | Laufzeit-Massenspektrometer |
US6107625A (en) * | 1997-05-30 | 2000-08-22 | Bruker Daltonics, Inc. | Coaxial multiple reflection time-of-flight mass spectrometer |
WO1999001889A1 (en) * | 1997-07-02 | 1999-01-14 | Merck & Co., Inc. | Novel mass spectrometer |
US6013913A (en) * | 1998-02-06 | 2000-01-11 | The University Of Northern Iowa | Multi-pass reflectron time-of-flight mass spectrometer |
DE10005698A1 (de) * | 2000-02-09 | 2001-08-23 | Bruker Daltonik Gmbh | Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
HOHL,M. u.a.: Mass selective blanking in a compactmultiple reflection time-of-flight mass spectrome-ter. In: International Journal of Mass Spectrome- try, Vol.188, 1999, S.189-197 * |
WOLLNIK,H., PRZEWLOKA,M: Time-of-flight mass spec-trometers with multiply reflected ion trajecto- ries. In: International Journal of Mass Spectrome-try, Vol.96, 1990, S.267-274 * |
WOLLNIK,H.: Energy-isochronous time-of-flight massanalyzers. In: International Journal of Mass Spec-trometry, Vol.131, 1994, S.387-407 * |
Cited By (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2048690A3 (de) * | 2007-10-12 | 2010-12-15 | Kabushiki Kaisha TOPCON | Reflektorvorrichtung für Strahlen geladener Teilchen und Elektronenmikroskop |
WO2013063587A2 (en) | 2011-10-28 | 2013-05-02 | Leco Corporation | Electrostatic ion mirrors |
DE112012004503B4 (de) | 2011-10-28 | 2018-09-20 | Leco Corporation | Elektrostatische Ionenspiegel |
US10741376B2 (en) | 2015-04-30 | 2020-08-11 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting TOF mass spectrometer |
US10593533B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-03-17 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10629425B2 (en) | 2015-11-16 | 2020-04-21 | Micromass Uk Limited | Imaging mass spectrometer |
US10636646B2 (en) | 2015-11-23 | 2020-04-28 | Micromass Uk Limited | Ion mirror and ion-optical lens for imaging |
DE102015121830A1 (de) * | 2015-12-15 | 2017-06-22 | Ernst-Moritz-Arndt-Universität Greifswald | Breitband-MR-ToF-Massenspektrometer |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11756782B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-09-12 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11367608B2 (en) | 2018-04-20 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
US11587779B2 (en) | 2018-06-28 | 2023-02-21 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
US11848185B2 (en) | 2019-02-01 | 2023-12-19 | Micromass Uk Limited | Electrode assembly for mass spectrometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10116536A1 (de) | Flugzeit-Massenspektrometer mit gepulsten Ionen-Spiegeln | |
DE3025764C2 (de) | Laufzeit-Massenspektrometer | |
DE10248814B4 (de) | Höchstauflösendes Flugzeitmassenspektrometer kleiner Bauart | |
DE10005698B4 (de) | Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss | |
DE60128419T2 (de) | Flugzeitmassenspektrometer mit auswählbarer Driftlänge | |
DE112007000922B4 (de) | Massenspektrometrieverfahren und Massenspektrometer zum Durchführen des Verfahrens | |
EP0208894B1 (de) | Flugzeit-Massenspektrometer mit einem Ionenreflektor | |
DE10158924B4 (de) | Pulser für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss | |
DE112013000726T5 (de) | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer | |
DE112013000722T5 (de) | Mehrfachreflexions-Massenspektrometer | |
DE1539660A1 (de) | Linsenkonstruktion fuer Einzelstrahlung und Mikroanalysevorrichtung,bestehend aus Mitteln zur Richtung eines Ionenstrahls auf einen gewaehlten Oberflaechenabschnitt einer Materialprobe | |
DE10162267B4 (de) | Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss | |
DE1937482B2 (de) | Mikrostrahlsonde | |
DE2540505A1 (de) | Flugzeit-massenspektrometer fuer ionen mit unterschiedlichen energien | |
DE102015101567B4 (de) | Fragmentionenmassenspektren mit Tandem-Flugzeitmassenspektrometern | |
DE2458025A1 (de) | Vorrichtung fuer massenanalyse und strukturanalyse einer oberflaechenschicht durch ionenstreuung | |
DE4041297A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum waehlen der aufloesung eines ladungsteilchenstrahl-analysators | |
EP2355129B1 (de) | Reflektor für ein Flugzeitmassenspektrometer | |
EP0221339A1 (de) | Ionen-Zyklotron-Resonanz-Spektrometer | |
EP0633602A2 (de) | Flugzeit-Massenspektrometer mit Gasphasen-Ionenquelle, mit hoher Empfindlichkeit und grossem dynamischem Bereich | |
EP0633601A2 (de) | Detektor für Flugzeit-Massenspektrometer mit geringen Flugzeitfehlern bei gleichzeitig gosser Öffnung | |
DE102004011691B4 (de) | Verfahren zur Massenspektrometrie | |
EP0632482A2 (de) | Gasphasen-Ionenquelle für Flugzeit-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung und grossem Massenbereich | |
EP0185789B1 (de) | Analysator für geladene Teilchen | |
DE1598657C3 (de) | Impulsmassenspektrometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8131 | Rejection |