DE10103529A1 - Ferroelektrischer Kondensator, Verfahren zur Herstellung und Verwendung des Kondensators - Google Patents
Ferroelektrischer Kondensator, Verfahren zur Herstellung und Verwendung des KondensatorsInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft einen Kondensator, aufweisend einen Schichtaufbau mit mindestens zwei Elektrodenschichten (3, 4) und einer zwischen den Elektrodenschichten angeordneten ferroelektrischen Schicht (2) mit ferroelektrischem Material, wobei mindestens eine der Elektrodenschichten (4) mindestens einen Graben (5) aufweist zur elektrischen Isolierung mindestens zweier nebeneinander angeordneter, den Graben begrenzender Teilbereiche (6, 7) der Elektrodenschicht, und der Graben ein vom ferroelektrischen Material verschiedenes elektrisches Isolationsmaterial (11) aufweist. Der Kondensator ist dadurch gekennzeichnet, dass der Graben von der ferroelektrischen Schicht begrenzt ist. Mit Hilfe des Grabens mit dem Isolationsmaterial gelingt eine einfache und sichere elektrische Isolierung der Elektrodenschichten. Gleichzeitig kann der Kondensator vereinfacht hergestellt werden, da zur elektrischen Isolierung der Elektrodenschichten das Isolationsmaterial nicht an einer seitlichen Oberfläche des Kondensators angeordnet werden muss. Der Kondensator wird als Detektorelement (20) eines Detektorarrays (21) zur Detektion von Infrarotstrahlung (22) verwendet.
Description
Die Erfindung betrifft einen Kondensator, aufweisend einen
Schichtaufbau mit mindestens zwei Elektrodenschichten und
einer zwischen den Elektrodenschichten angeordneten
ferroelektrischen Schicht mit ferroelektrischem Material,
wobei mindestens eine der Elektrodenschichten mindestens
einen Graben aufweist zur elektrischen Isolierung mindestens
zweier nebeneinander angeordneter, den Graben begrenzender
Teilbereiche der Elektrodenschicht und der Graben ein vom
ferroelektrischen Material verschiedenes elektrisches
Isolationsmaterial aufweist. Neben dem Kondensator werden ein
Verfahren zum Herstellen und eine Verwendung des Kondensators
angegeben.
Ein Kondensator der genannten Art ist aus Integrated
Ferroelectrics, 1999, Vol. 25, Seiten 1-11 bekannt. Der
Kondensator ist ein Dünnfilmkondensator, der auf einer
Glasschicht (Trägerschicht, Schichtdicke etwa 500 nm) eines
Trägerkörpers (Substrat) aufgebracht ist. Der Trägerkörper
ist ein Silizium-Wafer. Das ferroelektrische Material der
ferroelektrischen Schicht (Schichtdicke etwa 900 nm) ist
beispielsweise das pyroelektrisch sensitive Material
Bleizirkonattitanat (Pb(Zr, Ti)O3, PZT). Eine untere
Elektrodenschicht (Schichtdicke etwa 80 nm) des Kondensators,
die mit der Glasschicht in Kontakt steht, ist aus Platin und
besteht aus zwei nebeneinander angeordneten Teilbereichen.
Zur elektrischen Isolierung der Teilbereiche befindet sich
zwischen den Teilbereichen ein Graben, der mit elektrischem
Isolationsmaterial gefüllt ist. Das elektrische
Isolationsmaterial befindet sich aber nicht nur in dem Graben
zwischen den nebeneinander angeordneten Teilbereichen,
sondern auch an einer seitlichen Oberfläche der
ferroelektrischen Schicht. Ausgehend von einer oberen
Elektrodenschicht des Kondensators, die beispielsweise auch
aus Platin besteht, ist auf dem Isolationsmaterial entlang
der seitlichen Oberfläche der ferroelektrischen Schicht bis
hin zu einem der Teilbereiche der unteren Elektrodenschicht
eine Metallisierung angebracht. Über die Metallisierung kann
ein elektrisches Potential bestimmt werden, das an der oberen
Elektrodenschicht anliegt. Der beschriebene Kondensator wird
als Detektorelement eines Pyrodetektors zur Detektion von
Infrarotstrahlung (Wärmestrahlung) benutzt. Die
Infrarotstrahlung wird dabei durch die Elektrodenschichten
absorbiert. Eine dabei aufgenommene Energiemenge wird an das
pyroelektrisch sensitive Material weitergeleitet. Eine
dadurch hervorgerufene Erwärmung des pyroelektrisch
sensitiven Materials führt zu einer messbaren
Potentialdifferenz zwischen den Elektrodenschichten. Zu einer
ortsaufgelösten Detektion der Infrarotstrahlung ist der
Pyrodetektor als Detektorarray ausgebildet. Dabei sind die
Detektorelemente zeilenförmig auf dem Silizium-Wafer
angeordnet.
Aus US 5 939 722 geht ein ähnlicher Kondensator hervor, der
ebenfalls als Detektorelement eines Pyrodetektors in Form
eines Detektorarrays verwendet wird. Der Kondensator ist über
eine untere Elektrodenschicht aus Platin auf einer elektrisch
isolierenden Trägerschicht aus Bor-Phosphor-Silikat-Glas
(BPSG) angeordnet. Die Trägerschicht befindet sich auf einem
Silizium-Wafer. Die untere Elektrodenschicht ist einteilig.
Eine obere Elektrodenschicht besteht aus einer Chrom-Nickel-
Legierung und ist beispielsweise 20 nm dick. Zwischen den
Elektrodenschichten befindet sich beispielsweise eine
ferroelektrische Schicht aus Bleizirkonattitanat. Die
ferroelektrische Schicht verfügt über eine Grundfläche von
etwa 50 × 50 µm2. Etwa 100 × 100 Detektorelemente bilden
zusammen den Pyrodetektor. Zur elektrischen Isolierung der
Elektrodenschichten befindet sich elektrisches
Isolationsmaterial an einer seitlichen Oberfläche der
ferroelektrischen Schicht. Zur elektrischen Kontaktierung der
oberen Elektrodenschicht ist auf dem elektrischen
Isolationsmaterial eine 450 nm dicke Metallisierung
aufgebracht.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine im Vergleich
zu den bekannten ferroelektrischen Kondensatoren einfachere
und sichere elektrische Isolierung der Elektrodenschichten
eines ferroelektrischen Kondensators bereitzustellen.
Zur Lösung der Aufgabe wird ein Kondensator angegeben,
aufweisend einen Schichtaufbau mit mindestens zwei
Elektrodenschichten und einer zwischen den
Elektrodenschichten angeordneten ferroelektrischen Schicht
mit ferroelektrischem Material, wobei mindestens eine der
Elektrodenschichten mindestens einen Graben aufweist zur
elektrischen Isolierung mindestens zweier nebeneinander
angeordneter, den Graben begrenzender Teilbereiche der
Elektrodenschicht, und der Graben ein vom ferroelektrischen
Material verschiedenes elektrisches Isolationsmaterial
aufweist. Der Kondensator ist dadurch gekennzeichnet, dass
der Graben von der ferroelektrischen Schicht begrenzt ist.
Neben dem Kondensator wird zur Lösung der Aufgabe ein
Verfahren zum Herstellen des Kondensators angegeben. Das
Herstellen erfolgt durch Bereitstellen einer Trägerschicht
mit elektrisch isolierendem Trägermaterial und Erzeugen der
Elektrodenschicht mit dem Graben, dem Isolationsmaterial und
den Teilbereichen auf der Trägerschicht.
Der grundlegende Gedanke der Erfindung besteht darin, das
Isolationsmaterial zur elektrischen Isolierung der beiden
Teilbereiche der unteren Elektrodenschicht und damit die
elektrische Isolierung der beiden Elektrodenschichten nicht
seitlich an der ferroelektrischen Schicht anzubringen,
sondern unter der ferroelektrischen Schicht. Der Graben ist
vorzugsweise 1 bis 2 µm breit. Es resultiert ein im Vergleich
zum Stand der Technik sicherer und einfacherer Aufbau des
Kondensators. Das Isolationsmaterial muss nicht zusätzlich
seitlich am Kondensator angebracht werden. Dadurch
vereinfacht sich das Herstellen des Kondensators wesentlich
gegenüber dem Stand der Technik. Dies gilt insbesondere für
den Fall, dass mehrere Kondensatoren als Detektorelemente
eines Detektorarrays zusammengefasst werden. Gleichzeitig
kann das elektrische Potential der oberen Elektrodenschicht
in herkömmlicher Weise über eine an der seitlichen Oberfläche
der ferroelektrischen Schicht angebrachten Metallisierung
abgegriffen werden.
Das ferroelektrische Material ist ein pyroelektrisch
sensitives Material. Der ferroelektrische Kondensator kann
damit als Pyrodetektor verwendet werden zur Detektion von
Infrarotstrahlung. Das ferroelektrische Material weist
insbesondere ein Bleizirkonattitanat auf. Denkbar ist auch
ein anderer auf Bleioxid (PbO) basierender Perovskit wie
Bleititanat (PbTiO3) oder Bleilanthanzirkonattitanat
((Pb, La) (Zr, Ti)O3, PLZT).
Vorzugsweise weist die Elektrode mit den Teilbereichen
(untere Elektrode) ein Elektrodenmaterial mit Platin auf. Das
Elektrodenmaterial kann beispielsweise nur aus Platin
bestehen. Denkbar ist auch eine beliebige Platinlegierung.
Eine Dicke dieser Elektrodenschicht ist ausgewählt aus dem
Bereich zwischen 50 nm und 300 nm. Die obere
Elektrodenschicht kann ebenfalls Platin aufweisen. Sie
besteht aber vorzugsweise aus einer die Infrarotstrahlung
absorbierenden Chrom-Nickel-Legierung.
In einer besonderen Ausgestaltung ist die Elektrodenschicht
mit den Teilbereichen auf einer Trägerschicht mit elektrisch
isolierendem Trägermaterial angeordnet. Die Trägerschicht ist
ihrerseits beispielsweise auf einem Substrat aus Silizium
aufgebracht.
Insbesondere weisen das Isolationsmaterial und/oder das
elektrisch isolierende Trägermaterial mindestens ein Oxid
auf. Das Oxid weist insbesondere mindestens ein aus der
Gruppe Aluminium und/oder Bor und/oder Phosphor und/oder
Silizium und/oder Tantal und/oder Titan und/oder Zirkonium
ausgewähltes Element auf. Ein derartiges Oxid ist
beispielsweise Aluminiumoxid (Al2O3), Tantaloxid (Ta2O5),
Titanoxid (TiO2), Siliziumoxid (SiO2) oder Zirkoniumoxid
(ZrO2). Denkbar ist auch ein aus Tetraethylorthosilan (TEOS)
hergestelltes Siliziumoxid oder ein Glas wie Bor-Phosphor-
Silikat-Glas.
Zum Erzeugen der Elektrodenschicht mit dem Graben, dem
Isolationsmaterial und den Teilbereichen werden vorzugsweise
folgende Schritte durchgeführt: Auftragen einer Schicht aus
Elektrodenmaterial auf der Trägerschicht, Entfernen von
Elektrodenmaterial der Schicht aus Elektrodenmaterial, so
dass ein Graben in der Schicht aus Elektrodenmaterial
entsteht, der von zwei Teilbereichen der Schicht aus
Elektrodenmaterial und der Trägerschicht begrenzt wird, und
Füllen des Grabens mit Isolationsmaterial. Dies bedeutet,
dass nach einem Erzeugen der durch den Graben getrennten,
elektrisch isolierten Teilbereiche der Elektrodenschicht das
Isolationsmaterial auf der Trägerschicht aufgetragen wird.
Denkbar ist aber auch, dass in einem ersten Schritt
Isolationsmaterial in Form eines Steges auf der Trägerschicht
aufgetragen wird. Im Weiteren wird Elektrodenmaterial derart
aufgetragen, dass der Steg den mit Isolationsmaterial
gefüllten Graben zwischen den Teilbereichen der
Elektrodenschicht bildet.
Insbesondere wird zum Auftragen der Schicht aus
Elektrodenmaterial und/oder zum Füllen des Grabens mit dem
Isolationsmaterial ein Dampfabscheideverfahren (Chemical
Vapour Depositon, CVD) durchgeführt. Es kann aber auch ein
physikalisches Dampfabscheideverfahren (PVD), beispielsweise
ein Sputterverfahren, angewandt werden. Denkbar ist aber auch
ein nass-chemisches Verfahren zum Abscheiden der Schichten,
beispielsweise ein Sol-Gel-Verfahren.
Vorteilhaft ist es, wenn das Isolationsmaterial auf der
Trägerschicht besonders gut haftet. Eine besonders günstige
Kombination ist beispielsweise eine Trägerschicht aus
Siliziumoxid und ein Isolationsmaterial aus Aluminiumoxid
oder Tantaloxid.
In einer besonderen Ausgestaltung wird zum Entfernen des
Elektrodenmaterials ein Ätzverfahren durchgeführt. In die
aufgetragene Schicht aus dem Elektrodenmaterial wird der
Graben geätzt. Das Ätzverfahren kann nass-chemisch mit einer
Ätzlösung oder trocken-chemisch mit Ätzgas (z. B. beim
Plasmaätzen) durchgeführt werden.
Insbesondere wird nach dem Füllen des Grabens mit dem
Isolationsmaterial ein Glätten einer Oberfläche durchgeführt,
die von dem Isolationsmaterial und den Teilbereichen der
Elektrodenschicht gemeinsam gebildet wird und die der
Trägerschicht abgewandt ist. Der Graben wird vollständig mit
dem Isolationsmaterial gefüllt. Das Isolationsmaterial kann
dabei auch auf einen Oberflächenabschnitt der Teilbereiche
der Elektrodenschicht gelangen. Durch das Glätten wird eine
plane Oberfläche erzeugt. Ein Oberflächenabschnitt, der vom
Isolationsmaterial gebildet wird und Oberflächenabschnitte,
die von den Teilbereichen der Elektrodenschicht gebildet
werden, schließen bündig ab. Insbesondere wird zum Glätten
der Oberfläche ein Polieren durchgeführt. Das Polieren kann
mechanisch erfolgen. Insbesondere ist dabei ein chemisch
unterstütztes mechanische Polieren (chemisch mechanisches
Polieren, CMP) einsetzbar.
Im Weiteren wird ebenfalls mit Hilfe eines
Dampfabscheideverfahrens die ferroelektrische Schicht auf die
Elektrode mit dem mit Isolationsmaterial gefüllten Graben und
den Teilbereichen aufgetragen. Hier hat es sich als besonders
günstig herausgestellt, Aluminiumoxid oder Tantaloxid als
Isolationsmaterial des Grabens zu verwenden. Aluminiumoxid
und Tantaloxid haften nicht nur gut auf einer Trägerschicht
aus Siliziumoxid, sondern führen auch zu einer günstigen
Wachstumsmorphologie der ferroelektrischen Schicht beim
Abscheideverfahren. Dies gilt insbesondere für eine
ferroelektrische Schicht aus Bleizirkonattitanat. Es
resultiert eine ferroelektrische Schicht, die im Wesentlichen
eine gleichmäßige Zusammensetzung und eine gleichmäßige
Kristallstruktur aufweist. Obwohl die ferroelektrische
Schicht auf unterschiedlichen Materialien
(Elektrodenmaterial, Isolationsmaterial) aufwächst, entsteht
eine Schicht mit gleichmäßiger Zusammensetzung und
gleichmäßiger Kristallstruktur. Dies bedeutet, dass sich das
ferroelektrische Material über die gesamte ferroelektrische
Schicht chemisch und physikalisch gleich verhält. Dies ist
insbesondere dann vorteilhaft, wenn ein Detektorarray mit
mehreren Detektorelementen hergestellt wird.
Zum Herstellen der Detektorelemente werden die
Elektrodenschichten und die ferroelektrische Schicht
ganzflächig auf der Trägerschicht aufgetragen. Nachfolgend
wird ein strukturiertes Ätzen zur Trennung der einzelnen
Detektorelemente durchgeführt. Beim Ätzen werden die
Elektrodenschichten und die ferroelektrische Schicht bis auf
die Trägerschicht abgetragen. Dadurch, dass sich das
ferroelektrische Material über die gesamte abgeschiedene
ferroelektrische Schicht chemisch gleich verhält, ist eine
Ätzrate in der ferroelektrischen Schicht überall annähernd
gleich. Ein Ätzprozess kann damit besonders leicht gesteuert
werden.
Im Folgenden wird die Erfindung anhand eines
Ausführungsbeispiels und der dazugehörigen Figuren
beschrieben. Die Figuren sind schematisch und stellen keine
maßstabsgetreuen Abbildungen dar.
Fig. 1 zeigt einen ferroelektrischen Kondensator im
Querschnitt von der Seite.
Fig. 2 zeigt ein Detektorarray aus ferroelektrischen
Kondensatoren von der Seite.
Fig. 3 zeigt ein Verfahren zum Herstellen des
ferroelektrischen Kondensators.
Der Kondensator 1 ist ein ferroelektrischer Kondensator in
Dünnschichtbauweise. Er besteht aus zwei Elektrodenschichten
3, 4 und einer zwischen den Elektrodenschichten 3 und 4
angeordneten ferroelektrischen Schicht 2 mit
Bleizirkonattitanat als ferroelektrisches Material 10. Die
ferroelektrische Schicht ist etwa 900 nm dick und verfügt
über eine Grundfläche von etwa 50 × 50 µm2. Die obere
Elektrodenschicht 3 besteht aus einer Chrom-Nickellegierung
und ist 20 nm dick. Die untere Elektrodenschicht 4 weist als
Elektrodenmaterial 12 Platin auf und ist etwa 80 nm dick. Die
untere Elektrodenschicht 4 besteht aus zwei durch den Graben
5 voneinander getrennte, nebeneinander angeordnete
Teilbereiche 6 und 7. Der Graben 5 ist etwa 2 µm breit und
wird von den Teilbereichen 6 und 7 der unteren
Elektrodenschicht 4 begrenzt. Der Teilbereich 7 der unteren
Elektrodenschicht 4 ist über die Metallisierung 15, die an
einer seitlichen Oberfläche 16 der ferroelektrischen Schicht
2 angebracht ist, mit der oberen Elektrodenschicht 3
elektrisch leitend verbunden. Der Graben 5 weist ein
elektrisches Isolationsmaterial 11 aus Aluminiumoxid auf. Der
Kondensator 1 ist über die untere Elektrodenschicht 4 auf
eine Trägerschicht 8 aus Siliziumoxid eines Trägerkörpers 9
aus Silizium aufgebracht. Der Graben 5, der vollständig mit
dem Isolationsmaterial 11 gefüllt ist, wird von den
Teilbereichen 6 und 7 der unteren Elektrodenschicht 4, der
ferroelektrischen Schicht 2 und der Trägerschicht 8 begrenzt.
Das Isolationsmaterial 11 befindet sich zwischen der
ferroelektrischen Schicht 2 und der Trägerschicht 8.
Der Kondensator wird als Detektorelement 20 eines
Detektorarrays 21 zur Detektion von Infrarotstrahlung 22
(Pyrodetektor) verwendet. Mit Hilfe des Detektorarrays 21
kann Infrarotstrahlung 22 ortsaufgelöst detektiert werden
(Fig. 2).
Zum Herstellen des Kondensators 1 wird zunächst eine
Trägerschicht 8 mit dem elektrisch isolierenden
Trägermaterial 13 bereitgestellt (Fig. 3, 100). Das
Trägermaterial 13 ist Siliziumdioxid. Die Trägerschicht 8 ist
etwa 500 nm dick. Im nächsten Arbeitsschritt 101 findet ein
Auftragen einer Schicht aus Elektrodenmaterial 12 statt. Das
Auftragen erfolgt durch Sputtern. Das Elektrodenmaterial 12
ist Platin. Im nächsten Arbeitsschritt 102 wird ein Graben in
der Schicht aus dem Elektrodenmaterial 12 erzeugt. Dabei wird
der Graben 5 in die Schicht aus dem Elektrodenmaterial 12
geätzt. Es entsteht ein Graben 5, der von dem Trägermaterial
13 und dem Elektrodenmaterial 12 begrenzt wird. Im weiteren
(Arbeitsschritt 103) wird der Graben 5 mit dem
Isolationsmaterial 11 gefüllt. Das Füllen erfolgt ebenfalls
mit Hilfe eines Dampfabscheideverfahrens. Dabei wird der
Graben 5 vollständig mit dem Isolationsmaterial Aluminiumoxid
gefüllt. Im nächsten Arbeitsschritt 104 wird die Oberfläche
14, die gemeinsam vom Isolationsmaterial 13 und den
Teilbereichen 6 und 7 der Elektrodenschicht 4 gebildet wird,
geglättet. Das Isolationsmaterial 13 wird bis auf eine Höhe
der Teilbereiche 6 und 7 der Elektrodenschicht 4 abgetragen
(abgeschliffen). Das Abtragen bzw. Glätten erfolgt in einem
chemisch unterstützten Polierschritt (chemisch mechanisches
Polieren). Es resultiert eine plane, gemeinsame Oberfläche 14
des Isolationsmaterials 13 und der Teilbereiche 6 und 7 der
unteren Elektrodenschicht 4.
Im Weiteren wird ebenfalls durch ein Sputterverfahren die
ferroelektrischen Schicht 2 aus Bleizirkonattitanat
aufgetragen (Arbeitsschritt 105). Dadurch, dass Aluminiumoxid
mit einem im Bleizirkonattitanat vorhandenen Bleioxid nicht
oder kaum reagiert, entsteht eine Bleizirkonattitanatschicht,
die im Wesentlichen eine gleiche Zusammensetzung und eine
gleiche Kristallstruktur aufweist. Im Wesentlichen bedeutet,
dass hier geringe Abweichungen, beispielsweise bei der
Zusammensetzung, von bis zu 1% zulässig sind.
Weitere Schritte zum Herstellen des ferroelektrischen
Kondensators, auf die nicht weiter eingegangen wird,
beinhalten das Auftragen der oberen Elektrode 3 aus der
Chrom-Nickel-Legierung und das Auftragen der Metallisierung
zum Herstellen der elektrischen Kontaktierung zwischen dem
Teilbereich 7 der unteren Elektrodenschicht 4 und der oberen
Elektrodenschicht 3.
Claims (14)
1. Kondensator (1), aufweisend einen Schichtaufbau mit
mindestens zwei Elektrodenschichten (3, 4) und
einer zwischen den Elektrodenschichten (3, 4) angeordneten ferroelektrischen Schicht (2) mit ferroelektrischem Material (10),
wobei
mindestens eine der Elektrodenschichten (4) mindestens einen Graben (5) aufweist zur elektrischen Isolierung mindestens zweier nebeneinander angeordneter, den Graben (5) begrenzender Teilbereiche (6, 7) der Elektrodenschicht (4), und
der Graben (5) ein vom ferroelektrischen Material (10) verschiedenes elektrisches Isolationsmaterial (11) aufweist,
dadurch gekennzeichnet, dass
der Graben (5) von der ferroelektrischen Schicht (2) begrenzt ist.
mindestens zwei Elektrodenschichten (3, 4) und
einer zwischen den Elektrodenschichten (3, 4) angeordneten ferroelektrischen Schicht (2) mit ferroelektrischem Material (10),
wobei
mindestens eine der Elektrodenschichten (4) mindestens einen Graben (5) aufweist zur elektrischen Isolierung mindestens zweier nebeneinander angeordneter, den Graben (5) begrenzender Teilbereiche (6, 7) der Elektrodenschicht (4), und
der Graben (5) ein vom ferroelektrischen Material (10) verschiedenes elektrisches Isolationsmaterial (11) aufweist,
dadurch gekennzeichnet, dass
der Graben (5) von der ferroelektrischen Schicht (2) begrenzt ist.
2. Kondensator nach Anspruch 1, wobei das ferroelektrische
Material (10) Bleizirkonattitanat aufweist.
3. Kondensator nach Anspruch 1 oder 2, wobei das
ferroelektrische Material (10) im Wesentlichen eine
gleichmäßige Zusammensetzung und eine gleichmäßige
Kristallstruktur aufweist.
4. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei
zumindest die Elektrodenschicht (4) mit den
Teilbereichen (5, 6) ein Elektrodenmaterial (12) mit
Platin aufweist.
5. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei
zumindest die Elektrodenschicht (4) mit den
Teilbereichen (5, 6) auf einer Trägerschicht (8) mit
elektrisch isolierendem Trägermaterial (13) angeordnet
ist.
6. Kondensator nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei das
Isolationsmaterial (11) und/oder das Trägermaterial (13)
mindestens ein Oxid aufweisen.
7. Kondensator nach Anspruch 6, wobei das Oxid mindestens
ein aus der Gruppe Aluminium und/oder Bor und/oder
Phosphor und/oder Silizium und/oder Tantal und/oder
Titan und/oder Zirkonium ausgewähltes Element aufweist.
8. Verfahren zum Herstellen des Kondensators nach einem der
Ansprüche 1 bis 7, durch
- a) Bereitstellen einer Trägerschicht mit elektrisch isolierendem Trägermaterial und
- b) Erzeugen der Elektrodenschicht mit dem Graben, dem Isolationsmaterial und den Teilbereichen auf der Trägerschicht.
9. Verfahren nach Anspruch 8, wobei zum Erzeugen der
Elektrodenschicht mit dem Graben, dem Isolationsmaterial
und den Teilbereichen folgende Schritte durchgeführt
werden:
- a) Auftragen einer Schicht aus Elektrodenmaterial auf der Trägerschicht,
- b) Entfernen von Elektrodenmaterial der Schicht aus Elektrodenmaterial, so dass ein Graben in der Schicht aus Elektrodenmaterial entsteht, der von zwei Teilbereichen der Schicht aus Elektrodenmaterial und der Trägerschicht begrenzt wird, und
- c) Füllen des Grabens mit dem Isolationsmaterial.
10. Verfahren nach Anspruch 9, wobei zum Auftragen der
Schicht aus Elektrodenmaterial und/oder zum Füllen des
Grabens mit dem Isolationsmaterial ein
Dampfabscheideverfahren durchgeführt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, wobei zum Entfernen
des Elektrodenmaterials ein Ätzverfahren durchgeführt
wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, wobei nach
dem Füllen des Grabens mit dem Isolationsmaterial ein
Glätten einer Oberfläche durchgeführt wird, die von dem
Isolationsmaterial und den Teilbereichen der
Elektrodenschicht gemeinsam gebildet wird und die der
Trägerschicht abgewandt ist.
13. Verfahren nach Anspruch 12, wobei zum Glätten der
Oberfläche ein Polieren durchgeführt wird.
14. Verwendung des Kondensators nach einem der Ansprüche 1
bis 7 als Detektorelement zur Detektion von
Wärmestrahlung
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WO2015014754A3 (de) * | 2013-08-01 | 2015-04-02 | Pyreos Ltd. | Verfahren zum herstellen eines mikrosystems mit pixel |
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