DE10054166C2 - Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben - Google Patents
Vorrichtung zum Polieren von HalbleiterscheibenInfo
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- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
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Description
Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben
durch Einseitenpolitur. Bei der Einseitenpolitur werden Halbleiterscheiben auf Träger
montiert und unter Zuführen eines Poliermittels mit einer Seite gegen ein Poliertuch ei
nes rotierenden Poliertellers gedrückt.
Eine Halbleiterscheibe für die Verwendung in der Halbleiterindustrie muß eine hohe E
benheit aufweisen, insbesondere um den Anforderungen zur Herstellung integrierter
Schaltkreise Rechnung zu tragen.
Die endgültige Ebenheit einer Halbleiterscheibe wird durch einen Polierprozess erzeugt.
Dazu wird häufig ein Einseiten-Polierprozess angewandt, bei dem die Halbleiterscheibe
zusammen mit mehreren anderen Halbleiterscheiben mittels Vakuum, Adhäsion oder
Wachs von einer Trägerplatte auf der Rückseite gehalten und unter Zufluss eines Po
liermittels mit Hilfe eines Poliertuchs auf der Vorderseite poliert wird. Das Poliertuch ist
über einen sich drehenden Polierteller gespannt. Die Trägerplatte steckt in einem Po
lierzylinder, der sie ebenfalls in Drehung versetzt.
Neben Maschinen für die Einseitenpolitur sind auch solche zum gleichzeitigen Polieren
von Vorder- und Rückseite der Halbleiterscheibe nach dem so genannten Doppelseiten-
Polierverfahren bekannt. Sie werden insbesondere zur Fertigung von Halbleiterscheiben
mit Durchmessern von 200 mm und 300 mm eingesetzt. Die Halbleiterscheiben werden
dabei in Läuferscheiben (englisch: carrier) aus Metall oder Kunststoff, die über geeignet
dimensionierte Aussparungen verfügen, auf einer durch die Maschinen- und Prozesspa
rameter vorbestimmten Bahn zwischen zwei rotierenden, mit einem Poliertuch belegten
Poliertellern in Gegenwart eines Poliermittels bewegt und poliert. Das Polierergebnis ist
bezüglich der angestrebten Planparallelität
der Scheibenseiten demjenigen überlegen, das bei Anwendung der Einseitenpolitur er
reicht wird.
In der US-4,918,870 ist eine Einseiten-Poliermaschine beschrieben, bei der die Halbleiter
scheiben auf drehbaren Trägern montiert sind. Die Träger sind auf einer drehbaren Grund
platte angebracht. Die EP 781628 A1 offenbart eine Einseiten-Poliermaschine, die eine
drehbare Grundplatte mit Aussparungen aufweist, auf deren Boden eine Unterlage aus
einem Kunststoff vorgesehen ist. Die Halbleiterscheiben, die sich zwischen dem Poliertuch
und der Unterlage frei drehen können, sind partiell in die Aussparungen eingebettet.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine weitere Vorrichtung bereitzustellen, durch
deren Einsatz es gelingt, die Kinematik der Einseitenpolitur derjenigen der Doppelseiten
politur anzunähern, und die einen einfachen, stabilen Aufbau aufweist.
Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung für die Einseitenpolitur von Halbleiterschei
ben, mit einer drehbaren Grundplatte und Trägern, die freie Oberflächen aufweisen, auf
denen Halbleiterscheiben fixiert werden können, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die
Grundplatte Aussparungen aufweist, in denen die Träger drehbar gelagert eingebettet sind.
Die Erfindung sieht eine Eigenrotation der Halbleiterscheibe bei der Einseitenpolitur vor,
so daß insgesamt drei kinematische Freiheitsgrade zur Verfügung stehen, die im Zusam
menwirken das Polierergebnis positiv beeinflussen. Der Träger, auf dem die Halbleiter
scheibe fixiert ist, ist drehbar gelagert und ermöglicht auf diese Weise die Eigenrotation
der auf dem Träger fixierten Halbleiterscheibe. Eine Halbleiterscheibe, die erfindungsge
mäß poliert wird, weist einen Geometriefehler nicht mehr auf, der bei Halbleiterscheiben
nachgewiesen werden kann, die während einer Politur auf einer üblichen Trägerplatte fi
xiert waren, und der eine Symmetrie in radialer Richtung der Trägerplatte besitzt.
Die drei kinematischen Freiheitsgrade stehen bei der erfin
dungsgemäßen Lösung durch die Drehungen des Poliertellers,
einer Grundplatte und eines Trägers zur Verfügung. Die Halblei
terscheibe wird auf dem Träger mittels Vakuum, Adhäsion, Wachs
oder Kitt fixiert. Die Grundplatte unterscheidet sich von einer
bekannten Trägerplatte insbesondere durch Ausnehmungen, in die
die erfindungsgemäßen Träger so eingepaßt sind, daß sie sich um
ihre eigene Achse drehen können. Die Grundplatte kann bei
spielsweise als Bestandteil eines Antriebszylinders der Polier
maschine ausgeführt sein oder, wie bei der herkömmlichen
Einseitenpolitur die Trägerplatte, ein eigenes Bauteil sein,
das in den Polierzylinder der Poliermaschine eingeführt wird.
Für die in den Ausnehmungen der Grundplatte drehbar gelagerten
Träger kann ein eigener Antrieb vorgesehen sein. Zwingend
notwendig ist dies jedoch nicht.
Die Erfindung wird nachfolgend mit Figuren näher beschrieben.
Fig. 1 zeigt eine bevorzugte Ausführungsform der erfindungsge
mäßen Vorrichtung in Draufsicht. Fig. 2 ist eine
Teilschnittdarstellung durch die Vorrichtung gemäß Fig. 1.
Die Vorrichtung umfaßt eine Grundplatte 1 mit mehreren
Ausnehmungen 2, wobei eine Anzahl von 5 bis 6 bevorzugt ist. In
die Ausnehmungen sind Träger 3 eingeführt, die vorzugsweise aus
keramischem Material gefertigt sind und eine freie Oberfläche
aufweisen, auf die mindestens eine Halbleiterscheibe 4
gekittet, gesaugt, geklebt oder auf eine andere Weise befestigt
werden kann. Bevorzugt ist es, daß die Träger so dimensioniert
sind, daß jeweils nur eine Halbleiterscheibe darauf Platz
findet. Ein Lager 5 gewährleistet, daß sich der Träger 3 frei
oder durch einen in den Figuren nicht dargestellten Antrieb
veranlaßt um eine eigene Achse drehen kann.
Claims (3)
1. Vorrichtung für die Einseitenpolitur von Halbleiterscheiben, mit einer drehbaren
Grundplatte und Trägern, die freie Oberflächen aufweisen, auf denen Halbleiter
scheiben fixiert werden können, dadurch gekennzeichnet, dass die Grundplatte Aus
sparungen aufweist, in denen die Träger drehbar gelagert eingebettet sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß 5 bis 6 Träger vorge
sehen sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die
Oberfläche eines Trägers Platz für eine Halbleiterscheibe bietet.
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DE2000154166 DE10054166C2 (de) | 2000-11-02 | 2000-11-02 | Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben |
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Family Applications (1)
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DE2000154166 Expired - Fee Related DE10054166C2 (de) | 2000-11-02 | 2000-11-02 | Vorrichtung zum Polieren von Halbleiterscheiben |
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- 2000-11-02 DE DE2000154166 patent/DE10054166C2/de not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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Legal Events
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: WACKER SILTRONIC AG, 84489 BURGHAUSEN, DE |
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8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: SILTRONIC AG, 81737 MUENCHEN, DE |
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