Claims (31)
Dotiertes Lötmaterial,
umfassend:
mindestens ein Lötmaterial;
mindestens
ein Dotiermittel auf Phosphorbasis; und
mindestens ein Dotiermittel
auf Kupferbasis.Doped soldering material,
full:
at least one solder material;
at least
a phosphorus-based dopant; and
at least one dopant
based on copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei das mindestens eine Lötmaterial Indium, Blei, Silber, Kupfer,
Aluminium, Zinn, Wismut, Gallium und Legierungen davon, silberbeschichtetes
Kupfer, silberbeschichtetes Aluminium oder eine Kombination davon umfasst.Doped soldering material
according to claim 1, wherein the at least one solder material is indium, lead, silver, copper,
Aluminum, tin, bismuth, gallium and alloys thereof, silver-coated
Copper, silver-coated aluminum or a combination thereof.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 2, wobei das mindestens eine Lötmaterial Blei-Zinn-Legierungen,
Indium-Zinn(InSn)-Verbindungen und -Legierungen, Indium-Silber(InAg)-Verbindungen
und -Legierungen, Verbindungen auf Indiumbasis, Zinn-Silber-Kupfer-Verbindungen und
-Legierungen (SnAgCu), Zinn-Wismut-Verbindungen und -Legierungen (SnBi),
Verbindungen und Legierungen auf Aluminiumbasis und Kombinationen
davon umfasst.Doped soldering material
according to claim 2, wherein the at least one solder material comprises lead-tin alloys,
Indium-tin (InSn) compounds and alloys, indium-silver (InAg) compounds
and alloys, indium-based compounds, tin-silver-copper compounds and
Alloys (SnAgCu), Tin-bismuth Compounds and Alloys (SnBi),
Aluminum-based compounds and alloys and combinations
including thereof.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 3, wobei die Blei-Zinn-Legierung eine eutektische
Legierung aus Blei (37%) und Zinn (63%) umfasst.Doped soldering material
according to claim 3, wherein the lead-tin alloy is an eutectic
Alloy of lead (37%) and tin (63%).
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei der mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis in einer
Menge von weniger als etwa 100 ppm Phosphor vorhanden ist.Doped soldering material
according to claim 1, wherein said at least one phosphorus-based dopant is in a
Amount of less than about 100 ppm of phosphorus is present.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 5, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis in
einer Menge von weniger als etwa 70 ppm Phosphor vorhanden ist.Doped soldering material
according to claim 5, wherein said at least one phosphorus-based dopant is in
an amount less than about 70 ppm phosphorus is present.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 6, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis in
einer Menge von weniger als etwa 60 ppm Phosphor vorhanden ist.Doped soldering material
according to claim 6, wherein said at least one phosphorus-based dopant is in
an amount of less than about 60 ppm phosphorus is present.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis
in einer Menge von weniger als etwa 800 ppm Kupfer vorhanden ist.Doped soldering material
according to claim 1, wherein said at least one copper-based dopant
is present in an amount of less than about 800 ppm copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 8, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis
in einer Menge von weniger als etwa 600 ppm Kupfer vorhanden ist.Doped soldering material
according to claim 8, wherein said at least one copper-based dopant
is present in an amount of less than about 600 ppm copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 9, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis
in einer Menge von weniger als etwa 500 ppm Kupfer vorhanden ist.Doped soldering material
according to claim 9, wherein said at least one copper-based dopant
is present in an amount of less than about 500 ppm copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und
das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge
von etwa 10 bis 100 ppm für
Phosphor und etwa 25 bis 800 ppm für Kupfer vorhanden sind.Doped soldering material
according to claim 1, wherein said at least one phosphorus-based dopant and
the at least one copper-based dopant in an amount
from about 10 to 100 ppm for
Phosphorus and about 25 to 800 ppm are present for copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und
das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge
von etwa 10 bis 70 ppm für
Phosphor und etwa 25 bis 500 ppm für Kupfer vorhanden sind.Doped soldering material
according to claim 1, wherein said at least one phosphorus-based dopant and
the at least one copper-based dopant in an amount
from about 10 to 70 ppm for
Phosphorus and about 25 to 500 ppm are present for copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und
das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge
von etwa 20 bis 60 ppm für
Phosphor und etwa 40 bis 600 ppm für Kupfer vorhanden sind.Doped soldering material
according to claim 1, wherein said at least one phosphorus-based dopant and
the at least one copper-based dopant in an amount
from about 20 to 60 ppm for
Phosphorus and about 40 to 600 ppm are present for copper.
Dotiertes Lötmaterial
nach Anspruch 1, wobei das mindestens eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und
das mindestens eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge
von etwa 30 bis 60 ppm für
Phosphor und etwa 300 bis 500 ppm für Kupfer vorhanden sind.Doped soldering material
according to claim 1, wherein said at least one phosphorus-based dopant and
the at least one copper-based dopant in an amount
from about 30 to 60 ppm for
Phosphorus and about 300 to 500 ppm are present for copper.
Verfahren zur Bildung eines dotierten Lötmaterials,
umfassend:
Bereitstellen mindestens eines Lötmaterials;
Bereitstellen
mindestens eines Dotierungsmittels auf Phosphorbasis;
Bereitstellen
mindestens eines Dotierungsmittels auf Kupferbasis, und
Mischen
des mindestens einen Lötmaterials,
des mindestens einen Dotierungsmittels auf Phosphorbasis und des
mindestens einen Dotierungsmittels auf Kupferbasis, um ein dotiertes
Lötmaterial
zu bilden.Method for forming a doped soldering material,
full:
Providing at least one solder material;
Provide
at least one phosphorus-based dopant;
Provide
at least one copper-based dopant, and
Mix
the at least one solder material,
the at least one phosphorus-based dopant and the
at least one copper-based dopant, around a doped one
Solders
to build.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Lötmaterial
Indium, Blei, Silber, Kupfer, Aluminium, Zinn, Wismut, Gallium und
Legierungen davon, silberbeschichtetes Kupfer, silberbeschichtetes
Aluminium oder eine Kombination davon umfasst.The method of claim 15, wherein the at least
a soldering material
Indium, lead, silver, copper, aluminum, tin, bismuth, gallium and
Alloys thereof, silver-coated copper, silver-coated
Aluminum or a combination thereof.
Verfahren nach Anspruch 16, wobei das mindestens
eine Lötmaterial
Blei-Zinn-Legierungen, Indium-Zinn(InSn)-Verbindungen
und -Legierungen, Indium- Silber(InAg)-Verbindungen
und -Legierungen, Verbindungen auf Indiumbasis, Zinn-Silber-Kupfer-Verbindungen
und -Legierungen (SnAgCu), Zinn-Wismut-Verbindungen und -Legierungen (SnBi),
Verbindungen und Legierungen auf Aluminiumbasis und Kombinationen
davon umfasst.The method of claim 16, wherein the at least
a soldering material
Lead-tin alloys, indium-tin (InSn) compounds
and alloys, indium-silver (InAg) compounds
and alloys, indium-based compounds, tin-silver-copper compounds
and alloys (SnAgCu), tin bismuth compounds and alloys (SnBi),
Aluminum-based compounds and alloys and combinations
including thereof.
Verfahren nach Anspruch 17, wobei die Blei-Zinn-Legierung eine eutektische
Legierung aus Blei (37%) und Zinn (63%) umfasst.The method of claim 17, wherein the lead-tin alloy is an eutectic
Alloy of lead (37%) and tin (63%).
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis in einer Menge von weniger als
etwa 100 ppm Phosphor vorhanden ist.The method of claim 15, wherein said at least one phosphorus-based dopant is in a Amount of less than about 100 ppm of phosphorus is present.
Verfahren nach Anspruch 19, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis in einer Menge von weniger als
etwa 70 ppm Phosphor vorhanden ist.The method of claim 19, wherein the at least
a phosphorus-based dopant in an amount of less than
about 70 ppm of phosphorus is present.
Verfahren nach Anspruch 20, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis in einer Menge von weniger als
etwa 60 ppm Phosphor vorhanden ist.The method of claim 20, wherein the at least
a phosphorus-based dopant in an amount of less than
about 60 ppm of phosphorus is present.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge von weniger als
etwa 800 ppm Kupfer vorhanden ist.The method of claim 15, wherein the at least
a copper-based dopant in an amount of less than
about 800 ppm of copper is present.
Verfahren nach Anspruch 22, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge von weniger als
etwa 600 ppm Kupfer vorhanden ist.The method of claim 22, wherein the at least
a copper-based dopant in an amount of less than
about 600 ppm of copper is present.
Verfahren nach Anspruch 23, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Kupferbasis in einer Menge von weniger als
etwa 500 ppm Kupfer vorhanden ist.The method of claim 23, wherein the at least
a copper-based dopant in an amount of less than
about 500 ppm of copper is present.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und das mindestens eine Dotiermittel
auf Kupferbasis in einer Menge von etwa 10 bis 100 ppm für Phosphor
und etwa 25 bis 800 ppm für
Kupfer vorhanden sind.The method of claim 15, wherein the at least
a phosphorus-based dopant and the at least one dopant
based on copper in an amount of about 10 to 100 ppm for phosphorus
and about 25 to 800 ppm for
Copper are present.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und das mindestens eine Dotiermittel
auf Kupferbasis in einer Menge von etwa 10 bis 70 ppm für Phosphor
und etwa 25 bis 500 ppm für
Kupfer vorhanden sind.The method of claim 15, wherein the at least
a phosphorus-based dopant and the at least one dopant
based on copper in an amount of about 10 to 70 ppm for phosphorus
and about 25 to 500 ppm for
Copper are present.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und das mindestens eine Dotiermittel
auf Kupferbasis in einer Menge von etwa 20 bis 60 ppm für Phosphor
und etwa 40 bis 600 ppm für
Kupfer vorhanden sind.The method of claim 15, wherein the at least
a phosphorus-based dopant and the at least one dopant
based on copper in an amount of about 20 to 60 ppm for phosphorus
and about 40 to 600 ppm for
Copper are present.
Verfahren nach Anspruch 15, wobei das mindestens
eine Dotiermittel auf Phosphorbasis und das mindestens eine Dotiermittel
auf Kupferbasis in einer Menge von etwa 30 bis 60 ppm für Phosphor
und etwa 300 bis 500 ppm für
Kupfer vorhanden sind.The method of claim 15, wherein the at least
a phosphorus-based dopant and the at least one dopant
based on copper in an amount of about 30 to 60 ppm for phosphorus
and about 300 to 500 ppm for
Copper are present.
Schichtmaterial, umfassend:
eine Fläche oder
ein Substrat;
eine elektrische Verbindung;
ein Lötmaterial,
das mindestens ein Dotiermittel auf Phosphorbasis und mindestens
ein Dotiermittel auf Kupferbasis umfasst; und
einen Halbleiterchip
oder -paket.Layered material comprising:
an area or
a substrate;
an electrical connection;
a soldering material,
the at least one phosphorus-based dopant and at least
a copper-based dopant; and
a semiconductor chip
or package.
Elektrischer Bestandteil, umfassend das dotierte
Lötmaterial
von Anspruch 1.Electrical component, comprising the doped
Solders
of claim 1.
Halbleiterbestandteil, umfassend das dotierte Lötmaterial
von Anspruch 1.Semiconductor component comprising the doped solder material
of claim 1.