DD289369A5 - Hochtemperatur-supraleiter - Google Patents
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- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Abstract
Die Erfindung betrifft einen Hochtemperatur-Supraleiter, der beispielsweise fuer Magnete, elektrische Maschinen, Energieuebertragungskabel und bei mikroelektronischen Schaltkreisen anwendbar ist. Der Leiter besteht aus einem Traegermaterial, einer hochtemperatur-supraleitenden Schicht und einer dielektrischen Zwischenschicht aus ZrO2. Erfindungsgemaesz ist die hochtemperatur-supraleitende Schicht unter Vermeidung einer als Diffusionsbarriere dienenden Schicht unmittelbar auf einer amorphen oder teilkristallinen, mittels Plasmaspritzen auf das Traegermaterial aufgetragenen 5 bis 150 mm dicken ZrO2-Zwischenschicht aufgebracht. Diese Zwischenschicht bewirkt eine gute Haftung der Leiterteile untereinander und bildet eine sichere und inerte Diffusionsbarriere.{Hochtemperatur-Supraleiter; Magnete; Energieuebertragungskabel; Schaltkreis; Traegermaterial; supraleitende Schicht; Zwischenschicht; ZrO2; Diffusionsbarriere; Haftschicht}
Description
Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Elektrotechnik und betrifft einen Hochtemperatur-Supraleiter, der beispielsweise für Magnete, elektrische Maschinen, Energieübertragungskabel und bei mikroelektronischen Schaltkreisen anwendbar ist.
Es sind bereits in unterschiedlicher Weise aufgebaute Hochtemperatur-Supraleiter bekannt. Bei einem dieser bekannten Leiter sind auf einem Trägermaterial aus Saphir oder MgO eine mittels Sol-Gel-Technik aufgebrachte haftvermittelnde dielektrische Zwischenschicht aus ZrO2 und darauf eine Ag-Schicht angeordnet. Auf der Ag-Schioht befindet sich die hochtemperatursupraleitende Schicht. Die Ag-Schicht dient als Diffusionsbarriere zur Vermeidung chemischer Wechselwirkungen zwischen Trägermaterial und supraleitender Schicht und wird mittels Sputtern aufgebracht.
Das Aufbringen der Ag-Schicht stellt einen zusätzlichen, aufwendigen technologischen Schritt dar, der sich - auch wegen des Ag-Preises - ungünstig auf die Kosten der Erzeugnisse auswirkt. Ein Mangel der mittels Sol-Gel-Technik aufgebrachten ZrO2-SChIcIu besteht darin, daß diese auf dem Trägermaterial nur ungenügend haftet. Außerdem tritt in nachteiliger Weise bei der Wärmebehandlung eine Schwindung der Schicht ein.
Ziel der Erfindung
Das Ziel der Erfindung besteht in der Schaffung von Voraussetzungen für eine kostengünstige Herstellung von Hochtemperatur-Supraleitern mit hohem Gebrauchswert.
Darlegung des Wesen:« der Erfindung
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Hochtemperatur-Supraleiter mit einer von einem Trägermaterial getragenen hochtemperatur-supraleitenden Schicht und einer haftvermittelnden dielektrischen Zwischenschicht aus ZrO2 so auszubilden, daß ein haftfester Verbund der supraleitenden Schicht mit beliebigem Trägermaterial gewährleistet ist und dabei Wechselwirkungen zwischen Trägermaterial und supraleitender Schicht weitgehend ausgeschlossen sind. Diese Aufgabe ist nach der Erfindung dadurch gelöst, daß die hochtemperatur-supraleitende Schicht unter Vermeidung einer als Diffusionsbarriere dienenden Schicht unmittelbar auf einer amorphen oder teilkristallinen, mittels Plasmaspritzen auf das Trägermaterial aufgetragenen 5 bis 150pm dicken ZrOrZwischenschicht aufgebracht ist.
Nach einer zweckmäßigen Ausgestaltung der Erfindung enthält die mittels Plasmaspritzen aufgetragene ZrOrZwischenschicht zusätzlich bis 15 Massenanteile in % Y2O3 und/oder bis 30 Massenanteile in % MgO. Vorteilhaft ist es, wenn die Porosität der ZrO^Zwischenschicht <30% ist. Da? Trägermaterial besteht zweckmäßigerweise aus einem Metall, einer Metallegierung oder aus einem oxidkeramischen Werkstoff, vorzugsweise aus AI2O3, SiO2 oder MgO.
Die erfindungsgemäß vorgesehene, mittels Plasmaspritzen aufgebrachte ZrO2-Zwischenschicht zeichnet sich gegenüber einer in bekannter Weise mittels Sol-Gel-Technik aufgebrachten ZrO2-Zwischenschicht dadurch aus, daß während der Wärmebehandlung keine Schwindung der Schicht auftritt, sondern bereits bei der Abscheidung ein haftfester, nahezu dichter Verbund mit dem Trägermaterial entsteht. Vorteilhaft ist auch, daß eine Zr-Diffusion aus der erfindungsgemäß vorgesehenen Zwischenschicht nicht stattfindet, wodurch die vom Stand der Technik her bekannte Ag-Diffusionsbarriere entfallen kann. Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß als Trägermaterial auch solche Werkstoffe verwendbar sind, deren Anwendung bisher problematisch ist, wie beispielsweise Cu. Das ergibt sich aus der Tatsache, daß Wechselwirkungen von Trägermaterial und hochtemperatur-supraleitender Schicht mit der mittels Plasmaspritzen aufgebrachten ZrO2-Zwischenschicht sicher vermieden werden.
-2- 289 369 Ausführungsbeispiel Die Erfindung ist nachstehend anhand von zwei Ausführungsbsispielen näher erläutert.
aufgebracht ist. Auf dieser Schicht ist eine 150 μιη dicke hochtemperatur-supraleitende Schicht aus Y-Ba-CuO angeordnet. Diese
folgende Parameter angewandt: I = 50OA, U = 55V, Plasmagas = Ar + H2,50l/min, Spritzabstand 130mm. Das
beschichtete Trägermaterial wird abschließend einer Wärmebehandlung bei 890cC/1 h/O2 sowie nachfolgend bei 450°C/10 h/O2unterzogen.
Bei diesem Beispiel ist als Trägermaterial Cu mit den Abmessungen 1 χ 40 χ 60mm verwendet. Auf diesem befindet sich eine 30 pm dicke (ZrO2 + MgO) (75/25)-Srhicht, die mittels Plasmaspritzen aufgebracht ist. Eine darauf angeordnete hochtemperatursupraleitende Schicht gleicht der im Baispiel 1 beschriebenen, ist jedoch nur 100 μπι dick.
Die Herstellung dieses Bauelements ist nach der im Beispiel 1 beschriebenen Technologie erfolgt, wobei abweichend davon beim Erzeugen der Zwischenschicht ein Spritzabstand von 150mm angewandt und die Wärmebehandlung bei 920°C/1 h/Luft sowie nachfolgend bei 350°C/20 h/O2 durchgeführt wurde.
Claims (5)
1. Hochtemperatur-Supraleiter mit einer von einem Trägermaterial getragenen hochtemperatursupraleitenden Schicht und einer haftvermittelnden dielektrischen Zwischenschicht aus ZrO2, dadurch gekennzeichnet, daß die hochtemperatur-supraleitende Schicht unter Vermeidung einer als Diffusionsbarriere dienenden Schicht unmittelbar auf einer amorphen oder teilkristallinen, mittels Plasmaspritzen auf das Trägermaterial aufgetragenen 5 bis 150Mm dicken ZrO2-Zwischenschicht aufgebracht ist.
2. Hochtemperatur-Supraleiter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die mittels Plasmaspritzen aufgetragene ZrOrZwischenschicht zusätzlich bis 15 Massenanteile in % Y2O3 und/oder bis 30 Massenanteile in % MgO enthält.
3. Hochtemperatur-Supraleiter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Porosität der ZrOrZwischenschicht <30% ist.
4. Hochtemperatur-Supraleiter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die mittels Plasmaspritzen aufgetragene ZrOrZwischenschicht auf ein Trägermaterial aufgebracht ist, das aus einem Metall oder einer Metallegierung oder auseinem oxidkeramischen Werkstoff besteht.
5. Hochtemperatur-Supraleiter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Trägermaterial AI2O3, SiO2 oder MgO ist.
Priority Applications (1)
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DD89334873A DD289369A5 (de) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | Hochtemperatur-supraleiter |
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Publications (1)
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DD289369A5 true DD289369A5 (de) | 1991-04-25 |
Family
ID=5614077
Family Applications (1)
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DD89334873A DD289369A5 (de) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | Hochtemperatur-supraleiter |
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DD (1) | DD289369A5 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1245696A2 (de) * | 2001-03-30 | 2002-10-02 | Toshiba Ceramics Co., Ltd. | Plasmabeständiger Bauteil |
US8187964B2 (en) | 2007-11-01 | 2012-05-29 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit device and method |
-
1989
- 1989-11-27 DD DD89334873A patent/DD289369A5/de not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP1245696A2 (de) * | 2001-03-30 | 2002-10-02 | Toshiba Ceramics Co., Ltd. | Plasmabeständiger Bauteil |
EP1245696A3 (de) * | 2001-03-30 | 2004-02-25 | Toshiba Ceramics Co., Ltd. | Plasmabeständiger Bauteil |
US8187964B2 (en) | 2007-11-01 | 2012-05-29 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit device and method |
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