DD218691A1 - Zwischenabbildungssystem fuer kontrastmikroskope - Google Patents
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Abstract
Das erfindungsgemaesse Zwischenabbildungssystem fuer Kontrastmikroskope ermoeglicht in Verbindung mit Phasen- oder Interferenzkontrasteinrichtungen fuer Auf- und Durchlichtmikroskope sowie fuer Messmikroskope einen schnellen Wechsel von Objekt- und Pupillenbeobachtung. Ziel der Erfindung ist es, eine Einrichtung zu schaffen, die es ermoeglicht, im schnellen Wechsel das Objekt oder die Objektivaustrittspupille zu beobachten, zu fotografieren oder beide auszumessen. Die zu loesende Aufgabe bestand darin, ein Zwischenabbildungssystem fuer Kontrastmikroskope so zu gestalten, dass in die Bildebenen des Okulars und eines Fotostrahlenganges wahlweise die Objektebene oder die Objektivaustrittspupille abgebildet werden koennen, und dass in den Beobachtungsstrahlengang Messhilfsmittel einschaltbar sind. Diese Aufgabe wird dadurch geloest, dass zu einem im Abbildungsstrahlengang vorhandenen Zwischenabbildungssystem ein weiteres optisches System zuschaltbar ist, wodurch die Objektivaustrittspupille in die Bildebene des Okulars oder des Fotostrahlenganges abgebildet wird und dass in ein Zwischenbild des Beobachtungsstrahlenganges Messhilfsmittel einschaltbar sind. Fig. 1
Description
-1- 252 655
Zwischenabbildungssystem für Kontrastmikroskope Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung findet Anwendung in Kontrastmikroskopen. Sie gestattet, in Verbindung mit Phasenkontrast- oder Interferenzkontrasteinrichtungen für Auf- und Durchlichtmikroskope sowie Meßmikroskope, bei denen in ein Zwischenbiid Meß- und Zählplatten eingesetzt werden, einen schnellen Wechsel von Objekt- und Pupillenbeobachtung.
Charakteristik der bekannten technischen Lösungen
Zur Durchführung mikroskopischer Meß- und Zählverfahfen werden im einfachsten Fall spezielle Meßokulare verwendet, die in der durch die Feldblende festgelegten Ebene Meß- und Zählplatten einzulegen gestatten. Zur Beobachtung der Pupille, wie sie beim Phasenkontrast zur Zentrierung von Ringblendenbild und Phasenring erforderlich ist, wird in den Tubus des Mikroskops ein dafür konstruiertes Hilfsmikroskop eingeschoben. In beiden Fällen erfolgt die Beobachtung monokular. Eine binokulare Beobachtung der Pupille läßt sich durch Einschalten eines Bertrandlinsensystems zwischen Objektiv und Binokulartubus erreichen. Dieses bewirkt, daß die Objektivpupille in die durch die Feldblende des Okulars festgelegte Zwischenbildebene abgebildet wird und die Beobachtung mit einem normalen Okular erfolgen kann. Zum Ausgleich der unterschiedlichen Pupillenlagen der Objektive wird das Bertrandlinsensystem meist fokussierbar gemacht. Es sind auch optische Zwischenabbildungssysteme bekannt geworden, die ein Schiebeglied enthalten, mit dem das Zwischenbild der Pupille stets ari die gleiche Stelle gelegt werden kann, so daß das Bertrandlinsensystem nicht fokussierbar sein muß. Bei im Bereich des Schiebegliedes parallelen Abbildungsstrahlengang bleibt bei Verschiebung des Zwischenbildes der Pupille das Zwischenbiid des Objekts in Lage und Größe unverändert. Ein solches System ist in Verbindung mit einem nach dem Prinzip des Shearing-Verfahrehs arbeitenden Interferenzmikroskop in BEYER, Handbuch der Mikroskopie, Verlag Technik Berlin, 1973, S.273 beschrieben worden, das über den Abstandder Interferenzstreifen in der Pupille kleine laterale Größen in der Objektebene mit großer Genauigkeit zu messen gestattet.Da sich das zur Pupillenabbiidung erforderliche Bertrandlinsensystem außerhalb des Zwischenabbildungssystems im Beobachtungsstrahlengang befindet, ist eine unmittelbare Dokumentation des Pupiiienabbildes nicht möglich. , ' ·
Es soll eine Einrichtung, insbesondere zur Verwendung von nach dem Shearing-Verfahren durchzuführenden interferenzmikroskopischen Messungen geschaffen werden, die es im schnellen Wechselermöglicht, nacheinander mit den gleichen Meßhilfsmitteln Messungen in der Objektebene direkt oder in der vergrößert abgebildeten Pupille durchzuführen und das Pupiilenbild wahlweise über Fotografie, Fernsehen und dgl. zu dokumentieren.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Zwischenabbildungssystem für Kontrastmikroskope, bei dem ein Abbildungsstrahlengang in einen Beobachtüngs-und einen Photostrahlengang aufgeteilt wird, so zu gestalten, daß in eine Okularbildebene und in eine Bildebene des Photostrahlenganges wahlweise die Objektebene oder die Objektivaustrittspupille abgebildet werden, und daß in den Beobachtungsstrahlengang Meßhilfsmittel einschaltbar sind. Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß in dem Abbildungsstrahlengang ein abbildendes optisches System angeordnet ist, und daß zu dem abbildenden optischen System ein zweites optisches System zuschaltbanist. Nach dem optischen System ist ein Strahlumlenkelement in den Strahlengang einschaltbar angeordnet. Wenn dieses ausgeschaltet ist, wird das Objektbild, oder bei eingeschaltetem zweiten optischen System, das Bild der Objektivaustrittspupille in die Bildebene des Photostrahlenganges abgebildet. Ist das Strahlumlenkelement in den Abbildungsstrahlengang eingeschaltet, wird dieser zuni Beobachtungsstrahlengang umgelenkt und die Abbildungen der Objektebene bzw. Pupille entstehen in einer Zwischenbildebene. In diese Zwischenbildebene sind MeßhilfsmittPl einschaltbar angeordnet. Ein im nachfolgenden Beobachtungsstrahlengang angeordnetes abbildendes optisches System erzeugt ein Bild der gesamten Zwischenbildebene in der Okularbildebene des Gerätes. Vorteilhaft kann auch statt des Zuschaltens des Abbildungssystems 9 zu dem Abbildungssystem 8 das letztere aus dem Strahlengang entfernt werden und statt dessen an dieser Stelle ein anderes geeignetes Abbildungssystem in den Abbildungsstrahlengang gebracht werden. ·
Die Erfindung wird nachstehend anhand der schematischen Zeichnung näher erläutert. Die Figur zeigt ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen Zwischenabbildungssystems in Verbindung mit einem SHEARING-INTERFERENZMIKROSKOP. Eine in einer Brennebene eines Objektives 1 eines nicht dargestellten Mikroskopes gelegene Objektebene 20 wird durch das Objektiv 1 ins Unendliche und durch eine Tubuslinse 2 über ein Ablenksystem 3 in eine Brennebene 22 der Tubuslinse abgebildet. Das dort entstehende Zwischenbild wird über ein Schiebeprisma 5 und ein aus den beiden Teilungsprismen 6 und 7 bestehendes MACH-ZEHNDER-INTERFEROMETER mit Hilfe von Abbildungssystemen 4 und 8 in eine Zwischenbildebene 25 abgebildet. Der Abbildungsstrahlengang verläuft dabei nach Verlassen des Abbildungssystems 8 über einen Umlenkspiegel und bei eingeschaltetem Umlenkelement 11 über einen Spiegel 13 zu einer Okularbiidebene 26. Ein Abbildungssystem 12 bildet das in der Zwischenbildebene 25 entstehende Zwischenbild in die Okularbildebene 26 ab, wo es mit Hilfe der Okulare eines nicht dargestellten binokularen Tubus beobachtet wird. In die Zwischenbildebene 25 ist ein Meßhilfsmittel 14, z.B. eine Meßplatte zum Ausmessen von Objektstrukturen, einschaltbar. Bei ausgeschaltetem Umlenkelement 11 entsteht ein . Zwischenbild in einer Zwischenbildebene 27 in einem Fotostrahlengang und kann entweder direkt fotografiert oder mit Hilfe eines Prdjektivs vergrößert in eine Filmebene abgebildet werden. In diesen Strahlengang kann auch eine Fernsehkamera angesetzt werden. Die Austrittspupille 21 des Objektivs 1 wird mit Hilfe der Tubuslinse 2 und des Abbildungssystems 4 in Zwischenbildebenen 23 und 24 innerhalb des Interferometers abgebildet. Bei unterschiedlichen Pupillenlagen der zu verwendenden Objektive ermöglicht es das Schiebeprisma 5 die Zwischenbildebenen 23 und 24 in jedem Fall an die gleiche Stelle zu bringen. Wird jetzt zu dem Abbildungssystem 8 ein Abbildungssystem 9 zugeschaltet, erfolgt eine Abbildung der Pupillenzwischenbilder der Zwischenbildebenen 23 und 24 in der Zwischenbildebene 25. Das Pupillenzwischenbild wird wiederum über das Abbildungssystem 12 und das Umlenkelement 13 in die Okularbildebene 26 abgebildet. Wird das Umlenkelement 11 aus dem Strahlengang ausgeschaltet, erfolgt eine Abbildung der Pupillenzwischenbilder in der Zwischenbüdebene 27 des Fotostrahlenganges. Werden die Linsensysteme 8 und 9 so berechnet, daß sich die
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Zwischenbiidebene 25 vordem Umlenkelement 11 befindet, undwerden die nachfolgenden Strahlengänge entsprechend gestaltet, ist es möglich, die in der Zwischenbildebene 25 eingeschalteten Meßhilfsmittel über den Fotostrahlengang zu dokumentieren. . . ' .
Weiterhin ist es möglich, z. B. durch Zuschalten eines weiteren Linsensystems zu den Linsensystemen 8 und 9, ein Zwischenbild an der Stelle der zweiten Strahlurnlenkung im Umlenkprisma 11 zu erzeugen. Ist an dieser Stelle eine Lichtaustrittsöffnung in dem Belag des Prismas freigelassen, so kann mit einer nachgeordneten Fotometeranordnung ein Teil des dort erzeugten Zwischenbildes fotometriert werden.
Claims (2)
- -3- 252 655Erfindungsansprüche: .1. Zwischenabbildungssystem für Kontrastmikroskope, bei dem ein Abbildungsstrahlengang in einen Beobachtungs- und einen Photostrahlengang aufgeteilt wird, gekennzeichnet dadurch, daß in dem Abbildungsstrahlengang'ein abbildendes optisches System (8) angeordnet ist, und daß zu dem abbildenden optischen System (8) ein zweites optisches System (9) zuschaltbar ist, daß in den. Abbildungsstrahlengang nach den optischen Systemen (8) und (9) ein Umlenkelement (11) einschaltbar ist, und daß bei ausgeschaltetem Umlenkelement (11) der Photostrahlengang freigegeben ist und. bei eingeschaltetem Umlenkelement (11) der Photostrahlengang gesperrt und der Beobachtungsstrahlengang freigegeben ist, daß meine durch die optischen Systeme (8) und (9) nach dem UmlenkelementJI im Bepbachtungsstrahlengang erzeugte Zwischenbildebene Meßhilfsmittel (14) einschaltbar sind und daß ein weiteres abbildendes optisches System 12 nach der Zwischenbildebene im Beobachtungsstrahlengang angeordnet ist.
- 2. Zwischenabbildurigssystem nach Punkt 1, gekennzeichnet dadurch, daß wahlweise das optische System (8) aus dem Strahlengang ausschaltbar und gekoppelt damit ein weiteres abbildendes optisches System mit gleicher optischer Wirkung wie die optischen Systeme (8) und (9) gemeinsam in den Strahlengang einschaltbar sind.Hierzu 1 Seite Zeichnungen
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD25265583A DD218691A1 (de) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | Zwischenabbildungssystem fuer kontrastmikroskope |
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DD25265583A DD218691A1 (de) | 1983-07-01 | 1983-07-01 | Zwischenabbildungssystem fuer kontrastmikroskope |
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Publication Number | Publication Date |
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DD218691A1 true DD218691A1 (de) | 1985-02-13 |
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ID=5548737
Family Applications (1)
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DD (1) | DD218691A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1950596A1 (de) | 2007-01-29 | 2008-07-30 | Carl Zeiss MicroImaging GmbH | Optische Anordnung zur Phasenkontrast-Beobachtung |
-
1983
- 1983-07-01 DD DD25265583A patent/DD218691A1/de not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP1950596A1 (de) | 2007-01-29 | 2008-07-30 | Carl Zeiss MicroImaging GmbH | Optische Anordnung zur Phasenkontrast-Beobachtung |
DE102007004333A1 (de) | 2007-01-29 | 2008-07-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Optische Anordnung zur Phasenkontrast-Beobachtung |
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