DD156298A1

DD156298A1 - Polarisationsmikroskop

Info

Publication number: DD156298A1
Application number: DD22736581A
Authority: DD
Inventors: Joachim Bergner
Original assignee: Joachim Bergner
Priority date: 1981-02-02
Filing date: 1981-02-02
Publication date: 1982-08-11
Also published as: JPS6233571B2; DE3142912A1; JPS57130010A

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Polarisationsmikroskop zur schnellen Bestimmung von Gangunterschieden. Ziel der Erfindung ist es, die Beobachtung bei einem Polarisationsmikroskop mit binokularem Schraegeinblick in ergonomisch guenstiger Lage zu gewaehrleisten und den optischen und Materialaufwand erheblich zu senken. Die Aufgabe ein Polarisationsmikroskop mit binokularem Schraegeinblick und gleichzeitiger Beobachtungsmoeglichkeit fuer Objekt und ein in dessen Bildebene ueberlagertes, polarisationsoptisches Element ohne Strahlenumlenkung zwischen Objekt und polarisationsoptischen Element und bei Anwendung eines ueblichen Tubusanalysators wird durch ein in den telezentrischen Strahlengang zwischen Objektiv und Analysator vor der ersten Strahlenumlenkung einschaltbares, optisches Zusatzsystem ausgebildet als afokales System zweier Glieder mit gemeinsamer Brennebene und gleichen Brennweiten,realisiert, wobei in diese Brennebene das polarisationsoptische Element einfuehrbar ist und vorderer Brennpunkt des optischen Zusatzsystems und hinterer Brennpunkt des Objektivs sowie hinterer Brennpunkt des optischen Zusatzsystems und eine Hauptebene einer verwendeten Tubuslinse zusammenfallen.

Description

Ti'tel: Polarisationsmikroskop

Anwendungsgebiet der Erfindung

Die Erfindung betrifft ein Polarisationsmikroskop, bei dem zur schnellen Bestimmung von Gangunterschieden Kompensatoren mit Meßteilung dem zu messenden Objekt in einer Bildebene überlagert werden oder zur Steigerung der Meßgenauigkeit bei Anwendung bekannter Meßkompensatoren eine Halbschattenplatte angewendet wird oder bei denen mittels einer Dichroskopplatte oder strahlenteilender Polarisationsprismen z. B. das richtungsabhängige Transmissionsvermögen eines optisch anisotropen Stoffes erkannt werden soll.

Charakteristik der bekannten technischen Lösungen

Die bekannten technischen Lösungen haben als Gemeinsamkeit, daß das zur Beobachtung benötigte polarisationsoptische Element in der Ebene des vom Objektiv des Polarisationsmikroskops entworfenen Zwischenbildes des zu messenden Objektes angeordnet werden muß, um so die gewünschte physikalische Veränderung in dem vom Polarisationsmikroskop erzeugten Bild hervorzurufen. Dabei gilt die Forderung, daß vor dieser Ebene keine Strahlenumlenkung erfolgen darf, da der Polarisationszustand der abbildenden Strahlen bei der Reflexion an dem strahlenumlenkenden Element im allgemeinen unkontrollierbar verändert wird.

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Die genannten polarisationsoptischen Elemente werden aus diesem Grund in der mechanisch zugänglichen Dingebene eines sogenannten Wright"sehen Okulars angeordnet, welches über einen geraden Tubus Polarisationsmikroskop angesetzt wird und somit nur eine monokulare Beobachtung bei ermüdender Körperhaltung ermöglicht. Bekannt ist auch eine technische Lösung, bei der über einen Zusatzstrahlengang mit Strahlenumlenkelementen ein vor der ersten Umlenkung liegendes polärisationsoptisches Element zusammen mit dem vom Objektiv er- . zeugten Zwisohenbild des Objekts in die Okulardingebene eines geneigten binokularen Tubus abgebildet wird. Dieser ist über ein weiteres, einschaltbares Strahlenumlenkelement in üblicher Weise mit dem Mikroskop verbunden und gewährleistet einen bequemen Einbliok.,Nachteilig an dieser Anordnung ist, daß die zu bedienenden polarisationsoptischen Elemente und ein nachgeschalteter, ebenfalls zu bedienender Meßanalysator oberhalb der Augenhöhe des Mikroskopierenden liegen, daß die durch das polarisationsoptische Element zu beeinflussenden und danach zur Umlenkung kommenden Strahlenbündel mit Rücksicht auf moderne Großfeldbeobachtung Durchmesser von 20 bis 25 mm erhalten, was die Korrektion der Zwisohenabbildungssysteme erschwert und an die Umlenkelesente bezüglich Größe und Oberflächengüte höhere Anforderungen stellt. Die als Mikroskopaufsatz ausgeführte Anordnung wird damit sehr voluminös, so daß die zusätzliche große Messe das Mikroskopstativ belastet. Weiterhin kann der im Tubus des Polarisationsmikroskops bereits vorhandene Analysator nicht genutzt werden; es ist notwendig, einen sv/eiten Analysator in der Zusatzeinrichtung anzuordnen.

Ziel der Erfindung

Ziel der Erfindung ist es, die orthoskopische oder konoskopische Beobachtung eines Objektes bei einem Polarisationsmikroskop mit binokularem Schrägeinblick

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in ergonomisch günstiger Lage zu gewährleisten, den optischen und Materialaufwand erheblich zu senkiÄ^and die obengenannten Kachteile zu beseitigen.

Darlegung des Wesens der Erfindung

Der Erfindung liegt die Aufgab© zugrunde, ein Polari- sationsmikroskop mit binokularem Schrägeinbliok so zu realisieren, daß die gleichzeitige Beobachtung von Objekt und einem ihm in seiner Bildebene überlagerten polarisationsoptischen Element möglich ist, wobei zwischen Objekt und polarisationsoptischen Element keine Strahlenumlenkung erfolgt und in beiden Fällen die Anwendung eines üblichen Tubusanalysators möglich ist.

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Diese Aufgabe wird durch ein Polarisationsmikroskop mit binokularem Schrägeinblick, telezentrischem Strahlengang zwischen Objektiv und Analysator, einer Tubuslinse und einem in den telezentrischen Strahlengang vor der ersten Strahlenumlenkung befindlichen, einschaltbaren und ein Zwischenbild erzeugenden Zusatzsystem gelöst und ist dadurch gekennzeichnet, daß das optische Zusatzsystem eine afokale Anordnung mindestens zweier Glieder mit gemeinsamer Brennebene darstellt, in der sich ein die Polarisation beeinflussendes optisches Element befindet. Es ist von Vorteil, wenn dieses optische Element herausnehmbar angeordnet ist. Vorteilhaft ist es, wenn die Glieder des afokalen Systems gleiche Brennweiten besitzen.

Weiterhin ist es von,Vorteil, wenn der vordere Brennpunkt des optischen Zusatzsystems mit der hinteren Brennebene des Objekts und der hintere Brennpunkt des optischen Zusatzsystems mit der hinteren Brennebene des Objektivs und der hintere Brennpunkt des optischen Zusatzsystems mit einer Hauptebene der Tubuslinse zusammenfällt.

M^ jij;hrungs b ei s ρ i el

Die Erfindung wird nachstehend anhand der schematischen Zeichnung näher erläutert.

Einem Objektiv 1 sind auf einer optischen Achse O₁ - O₁ ein Kompensator 2, ein optisches Zusatzsystem 3_S bestehend aus einem vorderen Glied h_t einem hinteren Glied 5 und einer einschaltbaren Halbschattenplatte 6, ein Analysator 7, eine Tubuslinse 8 und ein Strahlenumlenkelement 9 nachgeprdnet. Dem Strahlenumlenkelement folgt auf einer Achse O^ - Og das Okular 10. Senkrecht zur Achse Qa - 0. und senkrecht zur Achse O₂ - Op befinden sich jeweils die Zwischenbildebenen 11 und 12. Zwischen dem Kompensator 2 und dem optischen Zusatzsystem 3 sowie zwischen dem Analysator 7 und dem Strahlenumlenkelement befinden sich auf',der optischen Achse O₁ ~ 0. die Brennpunkte 15 und 16.

Das vordere Glied 4 des in den Strahlengang O₁ - O₁ zwischen dem Objektiv 1 von unendlicher Schnittweite und dem Analysator 17 einschaltbaren optischen Zusatzsystem erzeugt ein zusätzliches Zwischenbild 13, in der Zwischenbildebene 11, die vor dem Strahlenumlenkelement 9 liegt und in der die Halbschattenplatte 6 einschaltbar ist. Die Halbschattenplatte 6 zeigt den genauen Abgleich des Gangunterschiedes mit dem Kompensator 2 an und ist dem Bild des Objektes (nicht dargestellt) überlagert. Das hintere Glied 5 des optischen Zusatzsysterns 3 bildet zusammen mit der Tubuslinse 8 das zusätzliche Zwischenbild 3 und die Halbschattenplatte 6 in die Okulardingebene 12 ab.

Das optische Zusatzsystem 3 ist als afokales System ausgebildet, dessen vorderes Glied 4 und hinteres Glied 5 gleiche Brennweite haben. In diesem Pail wird beim Einschalten des optischen Zusatzsystems 3 weder Lage des ursprünglichen Zwischenbildes 14 noch seine Große verändert·

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Fokussierung und Abbildungsm&ßstab bleiben erhalten. Das optische Zusatzsystem 3 ist so in den Strahlengang

1 "" 1 einzuschalten, daß der Brennpunkt 15 gemeinsamer Brennpunkt des vorderen Gliedes 4 und des Objektivs 1 ist und der Brennpunkt 16 (Brennpunkt des hinteren Gliedes) in einer hier nicht dargestellten Hauptebene der Tubuslinse 8 liegt.

Bei einer anderen Ausführung kann der Kompensator weggelassen werden und die Halbschattenplätte durch andere polarisationsoptische Elemente, z. B. einen Kompensator mit Meßeinteilüng für Gangunterschiede oder Bichroskope ersetzt werden.

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Claims

Erfindungs ans pruch - ' . .

1. Polarisationsmikroskop mit binokularem Schrägeinblick, telezentrisch^ Strahlengang zwischen Objektiv und Analysator, einer Tubuslinse und einem in den telezentrischen Strahlengang vor der ersten Strahlenumlenkung befindlichen,'einschaltbaren und ein Zwischenbild erzeugenden optischen Zusatzsysteins, dadurch gekennzeichnet, daß das optische Zusatzsystem eine afokale Anordnung mindestens zweier Glieder mit gemeinsamer Brennebene darstellt, in der sich ein die Polarisation beeinflussendes optisohes Element befindet.
2. Polarisationsmikroskop nach Punkt 1 , dadurch gekennzeichnet, daß das die Polarisation beeinflussende optische Element herausnehmbar angeordnet ist.
3. Polarisationsmikroskop nach Punkt 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Glieder des afokalen Systems gleiche Brennweiten besitzen.
4. Polarisationsmikroskop nach Punkt 3, dadurch gekennzeichnet , daß der vordere Brennpunkt des optischen Zusatzsystems mit der hinteren Brennebene des Objektivs und der hintere Brennpunkt des optischen Zusatzsystems mit einer Hauptebene der Tubuslinae zusammenfällt.

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