-
Polarisat ionsmikroskop
-
Die Erfindung betrifft ein Polarisationsmikroskop, bei dem zur schnellen
Bestimmung von Gangunterschieden Kompensatoren mit MeBteilung dem zu messenden Objekt
in einer Bildebene überlagert werden oder zur Steigerung der Meßgenauigkeit bei
Anwendung bekannter Ze3kompensatoren eine Halbechattenpiatte angewendet wird oder
bei denen mittels einer Dichroskopplatte oder strahlenteilende Polarisationsprismen
z. B. das richtungsabhängige Transmissionvermögen eines optisches anisotropen Stoffes
erkannt werden soll.
-
Die bekannten technischen Lösungen haben als Gemeinsamkeit, daß das
zur Beobachtung benötigte polarisationsoptische Element in der Ebene des vom Objektiv
des Polarisationcmikroskops entworfenen Zwischenbildes des zu messenden Objektes
angeordnet werden muß, um so die gewünschte physikalische VerSnderung in dem vom
Polarisationsmikroskop erzeugten Bild hervorzurufen.
-
Dabei gilt die Forderung, daß vor dieser Ebene keine Strahlenumlenkung
erfolgen darf, da der Polarisationszustand der abbildenden Strahlen bei der Reflexion
an dem strahlenumlenkenden Element im allgemeinen unkontrollierbar verändert wird.
-
Die genannten polarisationsoptischen Elemente werden aus diesem Grund
in der mechanisch zugänglichen Dingebene eines sogenannten Wright'schen Okulars
angeordnet, welches Uber einen geraden Tubus Polarisationsmikroskop angesetzt wird
und somit nur eine monokulare Beobachtung bei ermüdender Körperhaltung ermöglioht.
-
Bekannt ist auch eine technische Lösung, bei der Aber einen ZuEatzstrahlengang
mit Strahlenumlenkelementen ein vor der ersten Umlenkung liegendes polarisationsoptisches
Element zusamen mit dem vom Objektiv erzeugten Zwischenbild des Objekts in die Okulardingebene
eines geneigten binokularen Tubua abgebildet wird.
-
Dieser ist Aber ein weiteres, einschaltbares Strahlenumlenkelement
in Ublicher Weise mit dem Mikroskop verbunden und gewährleistet einen bequemen Einblick.
schteilig an dieser Anordnung ist, daß die zu bedienenden polarisationsoptischen
Elemente und ein nachgeschalteter, ebenfalls zu bedienender Meßanalysator oberhalb
der Augenhohe des Mikroskopierenden liegen, daß die durch das polarisationsoptische
Element zu beeinflussenden und danach zur Umlenkung kommenden Strahlenbündel mit
Rücksicht auf moderne Großfeldbeobachtung Durchmesser von 20 bis 25 mm erhalten,
was die Korrekt ion der Zwischenabbildungsysteme erschwert und an die Umlenkelemente
bezüglich Größe und Oberflächengüte höhere Anforderungen stellt. Die als Mikroskopaufsatz
ausgeführte Anordnung wird damit sehr voluminös9 so daß die zusätzliche große Masse
das Mikroskopstativ belastet.
-
Weiterhin kann der im Tubus des Polarisationsmikroskops bereits vorhandene
Analysator nicht genutzt werden; es ist notwendig, einen zweiten Analysator in der
Zustz einrichtung anzuordnen.
-
Ziel der Erfindung ist es, die orthoskopische oder konoskopische Beobachtung
eines Objektes bei einem Polarisationsmikroskop mit binokularem Schrägeinblick
in
ergonomisch günstiger Lage gewährleisten, den optischen und Materialaufwand erheblich
zu senken und die obengenannten Bachteile zu beseitigen.
-
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Polarisationsmikroskop
mit binokularem Schrägeinblick so U realisieren, daß die gleichzeitige Beobachtung
von Objekt und einem ihm in seiner Bildebene Uberlagerten polarisationsoptischen
Element möglich ist, wobei zwischen Objekt und polarisationsoptischen Element keine
Strahlenumlenkung erfolgt und in beiden Fällen die Anwendung eines üblichen Tubusanalysators
möglich ist.
-
Diese Aufgabe wird durch ein Polarisationsaikroskop mit binokularem
Schrägeinblick, telezentrischem Strahlengang zwischen Objektiv und Analysator, einer
Tubualinse und einem in den telezentrischen Strahlengang vor der eraten Strahlenuilenkung
befindlichen, einschaltbaren und ein Zwischenbild erzeugenden Zusatssystem gelost
und ist dadurch gekennzeichnet, daß das optische Zusatzsystem eine afokale Anordnung
mindestens zweier Glieder mit gemeinsamer Brennebene darstellt, in der sich ein
die Polarisation beeinflussenden optisches Element befindet. Es ist von Vorteil,
wenn dieses optische Element herausnehmbar angeordnet ist.
-
Vorteilhaft ist es, wenn die Glieder des afokalen Systems gleiche
Brennweiten besitzen.
-
Weiterhin ist ea von Vorteil, wenn der vordere Brennpunkt des optischen
Zusatzsystems mit der hinteren Brennebene des Objekts und der hintere Brennpunkt
des optischen Zusatzsystems mit der hinteren Brennebene des Objektivs und der hintere
Brennpunkt des optischen Zusatzsystems mit einer Haupt ebene der Tubuslinse zusammenfällt.
-
Die Erfindung wird nachstehend anhand der schematischen Zeichnung
näher erläutert.
-
Einem Objektiv 1 sind auf einer optischen Achse °1 = O1 ein Kompensator
2, ein optisches Zusatzsystem 3, bestehend aus einem vorderen Glied 4, einem hinteren
Glied 5 und einer einschaltbaren Halbschattenplatte 6, ein Analysator 7, eine Tubuslinse
8 und ein Strahlenumlenkelement 9 nachgeordnet. Dem Strahlenumlenkelement folgt
auf einer Achse 02 - 02 das Okular 10. Senkrecht zur Achse O1 - ° und senkrecht
zur Achse °2 - O2 befinden sich jeweils die Zwischenbildebenen 11 und 12. Zwischen
dem Kompensator 2 und dem optischen Zusatzsystem 3 sowie zwischen dem Analysator
7 und dem Strahlenumlenkelement 9 befinden sich auf der optischen Achse °1 - O die
Brennpunkte 15 und 16.
-
Das vordere Glied 4 des in den Strahlengang Oi - Oi zwischen dem Objektiv
1 von unendlicher Schnittweite und dem Analysator 17 einschaltbaren optischen Zusatzsystem
3 erzeugt ein zusätzliches Zwischenbild 13, in der Zvischenbildebene 11, die vor
dem Strahlenumlenkelement 9 liegt und in der die ie Halbschattenplatte 6 einschaltbar
ist.
-
Die Halbschattenplatte 6 zeigt den genauen Abgleich des Gangunterschiedes
mit dem Kompensator 2 an und ist dem Bild des Objektes (nicht dargestellt) überlagert.
Das hintere Glied 5 des optischen Zusatzsystems 3 bildet zusammen mit der Tubuslinse
8 das zusätzliche Zwischenbild 3 und die Halbschattenplatte 6 in die Okulardingebene
12 ab.
-
Das optische Zusatzsystem 3 ist als afokales System ausgebildet, dessen
vorderes Glied 4 und hinteres Glied 5 gleiche Brennweite haben. In diesem Fall wird
beim Einschalten des optischen Zusatzsystems 3 weder Lage des ursprünglichen Zwischenbildes
14 noch seine Größe verändert.
-
Fokussierung und Abbildungsmaästab bleiben erhalten.
-
Das optische Zusatzsystem 3 ist so in den Strahlengang Ci - O1 einzuschalten,
daß der Brennpunkt 15 gemeinsamer Brennpunkt des vorderen Gliedes 4 und des Objektivs
1 ist und der Brennpunkt 16 (Brennpunkt des hinteren Gliedes ) in einer hier nicht
dargestellten Hauptebene der Tubuslinse 8 liegt.
-
Bei einer anderen Ausführung kann der Kompensator weggelassen werden
und die Halbschattenplatte durch andere polarisationsoptische Elemente, z. B. einen
Kompensator mit Meßeinteilung für Gangunterschiede oder Dichroskope ersetzt werden.