DD128073B1 - Schaltungsanordnung einer pruefsignalgeneratorendstufe fuer digitale schaltungen - Google Patents

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DD128073B1
DD128073B1 DD19567776A DD19567776A DD128073B1 DD 128073 B1 DD128073 B1 DD 128073B1 DD 19567776 A DD19567776 A DD 19567776A DD 19567776 A DD19567776 A DD 19567776A DD 128073 B1 DD128073 B1 DD 128073B1
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Roland Werner
Ekkehard Feige
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Roland Werner
Ekkehard Feige
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Description

Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung, die es gestattet, für die Prüfung von logischen Schaltungen Signale der zu prüfenden Logikfamilie zu erzeugen und gleichzeitig den logischen Zustand der angesteuerten Klemme zu kontrollieren, wobei der Ausgang der Schaltung gegenüber Kurzschlüssen im Prüfling, die auch gegen positive und negative systemfremde Spannungen auftreten können, unabhängig von dessen logischem Schaltzustand, geschützt iot»
Charakteristik der bekannten technischen Lösungen
Bei den bekannten Prüfeinrichtungen für logische Schaltungen sind Ein- und Ausgänge den Signalgeneratoren und Bewerterschaltungen zugeordnet. Dadurch ist ein großer Aufwand in gerate- und programmtechnischer Hinsicht "notwendige Weiterhin sind Signalgeneratoren bekannt, die fest an allen Anschlüssen des Prüflings liegen· Diese Schaltungen sind in der Lage, bei entsprechender Belegung mit logischen Signalen die Eingänge eines Prüflings anzusteuern und bei einem bestimmten logischen Zustand eine Abfrage von Piaiflingsausgängen zu gestatten» Der Nachteil besteht darin, daß sie nur für eine bestimmte Lcgikfamilie dimensioniert und nicht rückspeiaungsfest sind* Diese Mängel sind in der Auslegeschrift 22 33612,
em О т·
: G01r, 31/28 für eine Endstufe für einen Prüfsignalgeber vorhanden, mit der die Prüfung der verschiedenen Pegel der bekannten Pamilien logischer Schaltkreise bei gegebener Kurzschluß- und Rückspeisungsfestigkeit möglich ist» Der Aufwand für diese Schaltung ist sehr groß und sie erlaubt keine Abfrage der angeschlossenen Prüflingsanschlüsse·
Ziel der Erfindung
Es ist bekannt, daß mit dem ständig ansteigenden Integrationsgrad bei den integrierten Schaltkreisen und der Vielfalt der Logikfamilien die zu prüfenden Punktionseinheiten eine v/achsende Zahl von logischen Verknüpfungen aufweisen und die Verwendung von gemischten Schaltungen, d.h., es kommen eine oder mehrere Logikfamilien gemeinsam mit diskreten Schaltungen zur Anwendung, unumgänglich wird«. Das Ziel der Erfindung besteht darin, mit Hilfe einer einfachen Schaltungsanordnung definierte Logiksignale zu erzeugen, den logischen Schaltzustand des angesteuerten Prüflingsanschlusses zu signalisieren bzw. die Bewertung des logischen Zustandes vorzunehmen, wenn der Prüflingsanschluß ein Schaltungsausgang ist und weiterhin systemfremde Spannungen sowie Betriebsspannungen des Prüflings unabhängig vom logischen Schaltzustand unwesentlich zu belasten. Bei Anwendung der Schaltungsanordnung wird der geräte- und programmtechnische Aufwand verringert sowie die Prüfzeiten verkürzt·
Darlegung des V/esens der Erfindung
- Die technische Aufgabe, die durch die Erfindung gelöst wird
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, für jeden
möglichen Prüflingsanschluß eine Ansteuerschaltung su schaffen, die die Prüflingseingänge ansteuern und dabei das am Prüfling anliegende logische Signal signalisiert, um Kurzschlüsse im Prüfling zu ermitteln, die den logischen Zustand von Prüflingsausgängen bewertet und erforderliche Zuschaltungen von Betriebsspannungen bzw· von systemfremden Spannungen auf jeden beliebigen Prüflingsanschluß gestattet·
- Merkmale der Erfindung
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß innerhalb einer bekannten Emitterstufe' eine zweite Diode mit dem einen Anschluß mit einer Spannungsquelle und mit dem anderen Anschluß mit dem Emitter des Transistors und einem Widerstand verbunden ist, wobei die zweite Diode in Reihe geschaltet mit dem Widerstand, in Durchflußrichtung zwischen der Spannungsquelle und einer Hilfsspannungsquelle gepolt ist. Eine erste Diode ist mit dem einen Anschluß mit einem Ausgang und einem Widerstand und mit dem anderen Anschluß mit dem Kollektor des Transistors verbunden, wobei die erste Diode, in Reihe geschaltet mit dem Widerstand, der Kollektor-Emitter-Strecke des Transistors und dem Widerstand, der mit der Hilfsspannungsquelle verbunden ist, in Durchlaßrichtung zwischen einer Spannungsqueile und der Hilfsspannungsquelle gepolt ist о
Ausführungsbeispiel
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungabeispiel näher erläutert v/erden0
In Figur 1 ist dsr Stromlaufρlan für eine Ansteuerschaltung mit positiven Logikpegeln dargestellt·
Der Transistor T1 ist als Emitterstufe geschaltet und übernimmt die Schaltfunktion im Prüfsignalgenerator,
Am Eingang E1 der Schaltung wird dor gewünschte Schaltzustand durch ein· entsprechendes Eingangssignal realisiert, das auf die Basis des Transistors T1 wirkt· Der Emitter des Transistors T1 erhält eine geringe negative Vorspannung, denn von der Spannung Ut, die im Beispiel Hull Volt beträgt, fließt ein Ruhestrom I^ durch den Widerstand R4 nach einer negativen Hilf sspannungsque He U^· Der Kollektorstrom des Transistors T1 fließt von der positiven Spannüngsquelle Ujt über den V/iderstand R1 und die Diode D1 durch den Transistor T1 und den Widerstand R4 zur Hilf sspannungsque lie Ujt·
Ist der Transistor T1 gesperrt, liegt die Spannung U,,, nur um den Spannungsabfall am Widerstand R1 vermindert, am Ausgang A1, d.h.* der Eingang des Prüflings erhält Hochpegel. Soll am Prüfling Tiefpegel liegen, wird der Transistor T1 durchgeschaltet. Der Transistor T1 führt jetzt den erforderlichen Strom, der durch den Y/iderstand R1 fließen muß, damit am Ausgang A1 Tiefpegel liegt. Zusätzlich fließt ein Leiststrom Ir vom Ausgang A1 durch den Transistor T1.
Der Emitterstrom Ln, des Transistors Tl und der Strom' Ino
& Ud.
durch die Diode D2 bilden zusammen den Ruhestrom I,, durch, den Widerstand R4. Wird durch eine übermäßige Belastung des Ausganges A1 durch den Prüfling der Laststrom I, so groß, daß der Emitterstrom durch dan Transistor T1, größer wird als der Ruhestrom L-, nimmt auch der
Spannungsabfall am Widerstand R4 au. Die Diode D2 sperrt dann infolge der ansteigenden Spannung am Emitter dea Transistors T1· Kommt bei einer v/eiteren Laststromerhöhung die Emitterspannung soweit in den positiven Bereich, daß der Transistor T1 zu sperren beginnt f ist eine weitere Erhöhung des Laststromes I-^ nicht mehr möglich. Statt dessen nimmt die Kollektor-Emitter-Spannung am Transistor T1 zu und somit wird der Pegel am Ausgang A1 höher· Dadurch wird der Last strom It begrenzt» Die maximal mögliche positive Spannung am Ausgang A1 wird durch dis Kennwerte des Transistors T1 und die des Widerstandes R1 begrenzt»
Treten im Ausgang A1 negative Spannungen auf, sperrt die Diode D1· Die maximal mögliche negative Spannung am Ausgang A1 wird durch die Kennwerte der Diode D1 und die des Widerstandes R1 begrenzt·
Die Höhe des maximalen Laststromes It bei Hochpegel am Ausgang A1 wird durch die Kennwerte des Widerstandes RI begrenzt und die maximale Höhe des Laststromes It bei Tiefpegel am Ausgang A1 ist von dem eingestellten Ruhestrom In abhängig,
Der Transistor T2 arbeitet zusammen mit dem Widerstand R2 und dem Widerstand R5 als Schalter und signalisiert den Signalsustand des Ausganges Al · Am Ausgang Δ2 wird das Axisgangssignal der Prüfsignalgeneratorendstufe abgefragt und mit dem Eingangssignal verglichen, so daß Kurzschlüsse bzw» Überlastungen, die der Prüfling verurfaacht, erkannt werden·
Die logischen Pegel für den Ausgang Al können durch die Wahl der Spannungen Ujt und U3- variiert werden s jedoch muß
dann die Ansteuerung der Basis des Transistors T1 entsprechend modifiziert werden· Im angegebenen Beispiel dienen die Widerstände R3 und R6 sowie die Dioden D3 und D4 zur Anpassung der Generatorschaltung an die steuernde Einrichtung·
Analog arbeitet die Schaltungsanordnung für negative Signalpegel, wenn die npn-Transistoren durch pnp-Transistoren ersetzt werden und die Dioden und die Betriebsspannungen umgepolt werden»

Claims (1)

  1. Erfindungsanspruch
    Schaltungsanordnung einer Prüfsignalgeneratorendstufe für digitale Schaltungen, bestehend aus als Emitterstufe geschalteten Transistoren, Dioden und Widerständen, gekennzeichnet dadurch, daß eine zweite Diode (D2) mit dem einen Anschluß mit einer Spannungsquelle (Ut) und mit dem anderen Anschluß mit dem Emitter des Transistors (T1) und einem Widerstand (R4) verbunden ist, wobei die zweite Diode (D2), in Reihe geschaltet mit dem V/iderstand (R4)? in Durchlaßrichtung zwischen der Spannungsquelle (Ut) und einer Hilfsspannungsquelle (U„) gepolt ist, und eine 821Ste Diode (D1 ) mit dem einen Anschluß mit einem Ausgang (Δ1 ) und einem Widerstand (R1) und mit dem anderen Anschluß mit dem Kollektor des Transistors (T1) verbunden ist, wobei die erste Diode (D1), in Reihe geschaltet mit dein V/iderstand (R1), der Kollektor-Emitter-Strecke des Transistors (T1) und dem Widerstand (R4), in Durchlaßrichtung zwischen einer Spannungsquelle '(U™) und der Hilfsspannungsquelle (U^) gepolt ist«,
DD19567776A 1976-11-09 1976-11-09 Schaltungsanordnung einer pruefsignalgeneratorendstufe fuer digitale schaltungen DD128073B1 (de)

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