DD128073B1 - CIRCUIT ARRANGEMENT OF A CONTROL SIGNAL GENERATOR END STEP FOR DIGITAL CIRCUITS - Google Patents
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Description
Anwendungsgebiet der ErfindungField of application of the invention
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung, die es gestattet, für die Prüfung von logischen Schaltungen Signale der zu prüfenden Logikfamilie zu erzeugen und gleichzeitig den logischen Zustand der angesteuerten Klemme zu kontrollieren, wobei der Ausgang der Schaltung gegenüber Kurzschlüssen im Prüfling, die auch gegen positive und negative systemfremde Spannungen auftreten können, unabhängig von dessen logischem Schaltzustand, geschützt iot»The invention relates to a circuit arrangement which allows to generate signals of the logic family to be tested for the purpose of checking logic circuits and at the same time to control the logic state of the controlled terminal, the output of the circuit being subject to short circuits in the test object which are also positive and negative system-external voltages can occur, regardless of its logical switching state, protected iot »
Charakteristik der bekannten technischen LösungenCharacteristic of the known technical solutions
Bei den bekannten Prüfeinrichtungen für logische Schaltungen sind Ein- und Ausgänge den Signalgeneratoren und Bewerterschaltungen zugeordnet. Dadurch ist ein großer Aufwand in gerate- und programmtechnischer Hinsicht "notwendige Weiterhin sind Signalgeneratoren bekannt, die fest an allen Anschlüssen des Prüflings liegen· Diese Schaltungen sind in der Lage, bei entsprechender Belegung mit logischen Signalen die Eingänge eines Prüflings anzusteuern und bei einem bestimmten logischen Zustand eine Abfrage von Piaiflingsausgängen zu gestatten» Der Nachteil besteht darin, daß sie nur für eine bestimmte Lcgikfamilie dimensioniert und nicht rückspeiaungsfest sind* Diese Mängel sind in der Auslegeschrift 22 33612,In the known test devices for logic circuits, inputs and outputs are assigned to the signal generators and evaluator circuits. Furthermore, signal generators are known which are firmly connected to all terminals of the device under test. These circuits are capable of driving the inputs of a device under test with appropriate assignment of logic signals and of a specific logic level Condition to allow a query of Piaiflingsausgängen »The disadvantage is that they are dimensioned only for a particular Lcgikfamilie and not rückspeiaungsfest * These deficiencies are in the Auslegeschrift 22 33612,
em О т·em О т ·
: G01r, 31/28 für eine Endstufe für einen Prüfsignalgeber vorhanden, mit der die Prüfung der verschiedenen Pegel der bekannten Pamilien logischer Schaltkreise bei gegebener Kurzschluß- und Rückspeisungsfestigkeit möglich ist» Der Aufwand für diese Schaltung ist sehr groß und sie erlaubt keine Abfrage der angeschlossenen Prüflingsanschlüsse·: G01r, 31/28 for a power amplifier for a test signal generator available, with the examination of the various levels of the known families of logic circuits for a given short-circuit and feedback power is possible »The cost of this circuit is very large and it does not allow a query of the connected test connections ·
Ziel der ErfindungObject of the invention
Es ist bekannt, daß mit dem ständig ansteigenden Integrationsgrad bei den integrierten Schaltkreisen und der Vielfalt der Logikfamilien die zu prüfenden Punktionseinheiten eine v/achsende Zahl von logischen Verknüpfungen aufweisen und die Verwendung von gemischten Schaltungen, d.h., es kommen eine oder mehrere Logikfamilien gemeinsam mit diskreten Schaltungen zur Anwendung, unumgänglich wird«. Das Ziel der Erfindung besteht darin, mit Hilfe einer einfachen Schaltungsanordnung definierte Logiksignale zu erzeugen, den logischen Schaltzustand des angesteuerten Prüflingsanschlusses zu signalisieren bzw. die Bewertung des logischen Zustandes vorzunehmen, wenn der Prüflingsanschluß ein Schaltungsausgang ist und weiterhin systemfremde Spannungen sowie Betriebsspannungen des Prüflings unabhängig vom logischen Schaltzustand unwesentlich zu belasten. Bei Anwendung der Schaltungsanordnung wird der geräte- und programmtechnische Aufwand verringert sowie die Prüfzeiten verkürzt·It is known that with the ever-increasing degree of integration of the integrated circuits and the variety of logic families, the puncture units to be tested have an increasing number of logical operations and the use of mixed circuits, ie one or more logic families come along with discrete ones Circuits to use, becoming inevitable «. The aim of the invention is to generate defined logic signals with the aid of a simple circuit arrangement, to signal the logic switching state of the addressed test terminal or to carry out the evaluation of the logic state, if the test terminal is a circuit output and furthermore system-external voltages and operating voltages of the test object independently to burden the logic switching state insignificantly. When using the circuit arrangement, the equipment and program technical effort is reduced and the test times shortened ·
Darlegung des V/esens der ErfindungStatement of the invention
- Die technische Aufgabe, die durch die Erfindung gelöst wird- The technical problem which is solved by the invention
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, für jedenThe invention is based on the task for everyone
möglichen Prüflingsanschluß eine Ansteuerschaltung su schaffen, die die Prüflingseingänge ansteuern und dabei das am Prüfling anliegende logische Signal signalisiert, um Kurzschlüsse im Prüfling zu ermitteln, die den logischen Zustand von Prüflingsausgängen bewertet und erforderliche Zuschaltungen von Betriebsspannungen bzw· von systemfremden Spannungen auf jeden beliebigen Prüflingsanschluß gestattet·possible Prüflingsanschluß create a control circuit su, which drive the Prüflingseingänge and signals the test signal applied to the DUT to determine short circuits in the DUT, which evaluates the logical state of Prüflingsausgängen and allows required switching of operating voltages or · non-system voltages on any test terminal ·
- Merkmale der ErfindungFeatures of the invention
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß innerhalb einer bekannten Emitterstufe' eine zweite Diode mit dem einen Anschluß mit einer Spannungsquelle und mit dem anderen Anschluß mit dem Emitter des Transistors und einem Widerstand verbunden ist, wobei die zweite Diode in Reihe geschaltet mit dem Widerstand, in Durchflußrichtung zwischen der Spannungsquelle und einer Hilfsspannungsquelle gepolt ist. Eine erste Diode ist mit dem einen Anschluß mit einem Ausgang und einem Widerstand und mit dem anderen Anschluß mit dem Kollektor des Transistors verbunden, wobei die erste Diode, in Reihe geschaltet mit dem Widerstand, der Kollektor-Emitter-Strecke des Transistors und dem Widerstand, der mit der Hilfsspannungsquelle verbunden ist, in Durchlaßrichtung zwischen einer Spannungsqueile und der Hilfsspannungsquelle gepolt ist оAccording to the invention the object is achieved in that within a known emitter stage 'a second diode is connected to the one terminal to a voltage source and the other terminal to the emitter of the transistor and a resistor, wherein the second diode connected in series with the resistor, in the flow direction between the voltage source and an auxiliary voltage source is poled. A first diode is connected to the one terminal with an output and a resistor and the other terminal connected to the collector of the transistor, wherein the first diode connected in series with the resistor, the collector-emitter path of the transistor and the resistor, which is connected to the auxiliary voltage source, is poled in the forward direction between a Spannungsqueile and the auxiliary voltage source о
Ausführungsbeispielembodiment
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungabeispiel näher erläutert v/erden0 The invention is explained in greater detail at a Ausführungabeispiel v / ground 0
In Figur 1 ist dsr Stromlaufρlan für eine Ansteuerschaltung mit positiven Logikpegeln dargestellt·FIG. 1 shows the circuit diagram for a drive circuit with positive logic levels.
Der Transistor T1 ist als Emitterstufe geschaltet und übernimmt die Schaltfunktion im Prüfsignalgenerator,The transistor T1 is connected as an emitter stage and takes over the switching function in the test signal generator,
Am Eingang E1 der Schaltung wird dor gewünschte Schaltzustand durch ein· entsprechendes Eingangssignal realisiert, das auf die Basis des Transistors T1 wirkt· Der Emitter des Transistors T1 erhält eine geringe negative Vorspannung, denn von der Spannung Ut, die im Beispiel Hull Volt beträgt, fließt ein Ruhestrom I^ durch den Widerstand R4 nach einer negativen Hilf sspannungsque He U^· Der Kollektorstrom des Transistors T1 fließt von der positiven Spannüngsquelle Ujt über den V/iderstand R1 und die Diode D1 durch den Transistor T1 und den Widerstand R4 zur Hilf sspannungsque lie Ujt·At the input E1 of the circuit, the desired switching state is realized by a corresponding input signal which acts on the basis of the transistor T1. The emitter of the transistor T1 receives a small negative bias, since it flows from the voltage Ut, which in the example is Hull volts a quiescent current I ^ through the resistor R4 after a negative auxiliary voltage He U ^ · The collector current of the transistor T1 flows from the positive voltage source Ujt via the resistor R1 and the diode D1 through the transistor T1 and the resistor R4 to the auxiliary sspannque lie ujt ·
Ist der Transistor T1 gesperrt, liegt die Spannung U,,, nur um den Spannungsabfall am Widerstand R1 vermindert, am Ausgang A1, d.h.* der Eingang des Prüflings erhält Hochpegel. Soll am Prüfling Tiefpegel liegen, wird der Transistor T1 durchgeschaltet. Der Transistor T1 führt jetzt den erforderlichen Strom, der durch den Y/iderstand R1 fließen muß, damit am Ausgang A1 Tiefpegel liegt. Zusätzlich fließt ein Leiststrom Ir vom Ausgang A1 durch den Transistor T1.When the transistor T1 is off, the voltage U ,, which is only reduced by the voltage drop across the resistor R1, is at the output A1, i.e. the input of the device under test becomes high. If the test specimen is low, the transistor T1 is turned on. The transistor T1 now carries the required current that must flow through the resistor R1 in order for the output A1 to be low. In addition, a power current Ir flows from the output A1 through the transistor T1.
Der Emitterstrom Ln, des Transistors Tl und der Strom' Ino The emitter current L n , the transistor Tl and the current 'I no
& Ud.& Ud
durch die Diode D2 bilden zusammen den Ruhestrom I,, durch, den Widerstand R4. Wird durch eine übermäßige Belastung des Ausganges A1 durch den Prüfling der Laststrom I, so groß, daß der Emitterstrom durch dan Transistor T1, größer wird als der Ruhestrom L-, nimmt auch derthrough the diode D2 together form the quiescent current I ,, through, the resistor R4. Is by an excessive load of the output A1 through the DUT, the load current I, so large that the emitter current through dan transistor T1, is greater than the quiescent current L-, also takes the
Spannungsabfall am Widerstand R4 au. Die Diode D2 sperrt dann infolge der ansteigenden Spannung am Emitter dea Transistors T1· Kommt bei einer v/eiteren Laststromerhöhung die Emitterspannung soweit in den positiven Bereich, daß der Transistor T1 zu sperren beginnt f ist eine weitere Erhöhung des Laststromes I-^ nicht mehr möglich. Statt dessen nimmt die Kollektor-Emitter-Spannung am Transistor T1 zu und somit wird der Pegel am Ausgang A1 höher· Dadurch wird der Last strom It begrenzt» Die maximal mögliche positive Spannung am Ausgang A1 wird durch dis Kennwerte des Transistors T1 und die des Widerstandes R1 begrenzt»Voltage drop across resistor R4 au. Diode D2 then blocks due to the rising voltage at the emitter of transistor T1 · If at a v / eiteren load current increase the emitter voltage far enough in the positive region that the transistor T1 starts to block f is a further increase in the load current I- ^ no longer possible , Instead, the collector-emitter voltage at the transistor T1 increases and thus the level at the output A1 becomes higher. This limits the load current It. The maximum possible positive voltage at the output A1 is determined by the characteristics of the transistor T1 and of the resistor R1 limited »
Treten im Ausgang A1 negative Spannungen auf, sperrt die Diode D1· Die maximal mögliche negative Spannung am Ausgang A1 wird durch die Kennwerte der Diode D1 und die des Widerstandes R1 begrenzt·If negative voltages occur in the output A1, the diode D1 blocks. The maximum possible negative voltage at the output A1 is limited by the characteristic values of the diode D1 and of the resistor R1.
Die Höhe des maximalen Laststromes It bei Hochpegel am Ausgang A1 wird durch die Kennwerte des Widerstandes RI begrenzt und die maximale Höhe des Laststromes It bei Tiefpegel am Ausgang A1 ist von dem eingestellten Ruhestrom In abhängig,The height of the maximum load current It at high level at the output A1 is limited by the characteristic values of the resistor RI and the maximum height of the load current It at low level at the output A1 depends on the set quiescent current I n .
Der Transistor T2 arbeitet zusammen mit dem Widerstand R2 und dem Widerstand R5 als Schalter und signalisiert den Signalsustand des Ausganges Al · Am Ausgang Δ2 wird das Axisgangssignal der Prüfsignalgeneratorendstufe abgefragt und mit dem Eingangssignal verglichen, so daß Kurzschlüsse bzw» Überlastungen, die der Prüfling verurfaacht, erkannt werden·The transistor T2 operates together with the resistor R2 and the resistor R5 as a switch and signals the signal state of the output Al · Am output Δ2 the Axisgangssignal the Prüfsignalgeneratorendstufe is queried and compared with the input signal, so that short circuits or »overloads that the Prüfling verurfaacht, be recognized·
Die logischen Pegel für den Ausgang Al können durch die Wahl der Spannungen Ujt und U3- variiert werden s jedoch mußThe logic levels for the output Al can be varied by choosing the voltages Ujt and U 3 - s, however
dann die Ansteuerung der Basis des Transistors T1 entsprechend modifiziert werden· Im angegebenen Beispiel dienen die Widerstände R3 und R6 sowie die Dioden D3 und D4 zur Anpassung der Generatorschaltung an die steuernde Einrichtung·then the control of the base of the transistor T1 are modified accordingly · In the example given, the resistors R3 and R6 and the diodes D3 and D4 are used to adapt the generator circuit to the controlling device.
Analog arbeitet die Schaltungsanordnung für negative Signalpegel, wenn die npn-Transistoren durch pnp-Transistoren ersetzt werden und die Dioden und die Betriebsspannungen umgepolt werden»Analogously, the circuit arrangement works for negative signal levels when the npn transistors are replaced by pnp transistors and the diodes and the operating voltages are reversed »
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD19567776A DD128073B1 (en) | 1976-11-09 | 1976-11-09 | CIRCUIT ARRANGEMENT OF A CONTROL SIGNAL GENERATOR END STEP FOR DIGITAL CIRCUITS |
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Publications (2)
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|---|---|
| DD128073A1 DD128073A1 (en) | 1977-10-26 |
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Family Applications (1)
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Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IN152012B (en) * | 1979-03-13 | 1983-09-24 | Int Computers Ltd |
-
1976
- 1976-11-09 DD DD19567776A patent/DD128073B1/en unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DD128073A1 (en) | 1977-10-26 |
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