CS272684B1 - Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control - Google Patents

Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control Download PDF

Info

Publication number
CS272684B1
CS272684B1 CS124789A CS124789A CS272684B1 CS 272684 B1 CS272684 B1 CS 272684B1 CS 124789 A CS124789 A CS 124789A CS 124789 A CS124789 A CS 124789A CS 272684 B1 CS272684 B1 CS 272684B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
current
electrochemical etching
connection
etching
sample
Prior art date
Application number
CS124789A
Other languages
English (en)
Other versions
CS124789A1 (en
Inventor
Lubomir Ing Hrdlicka
Miroslav Ing Vesely
Original Assignee
Lubomir Ing Hrdlicka
Vesely Miroslav
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lubomir Ing Hrdlicka, Vesely Miroslav filed Critical Lubomir Ing Hrdlicka
Priority to CS124789A priority Critical patent/CS272684B1/cs
Publication of CS124789A1 publication Critical patent/CS124789A1/cs
Publication of CS272684B1 publication Critical patent/CS272684B1/cs

Links

Landscapes

  • Weting (AREA)

Description

(57) Zapojení je určeno pro řízení elektrochemického leptáni polovodičových materiálů typu n v zařízení, které sestává z komory (1) naplněné elektrolytem (3). Katoda (4) je uhlíková, anodu (2) tvoří vzorek z polovodičového materiálu typu n. Proud protékající obvodem je snímán snímačem (6) proudu a porovnáván v regulátoru (8) osvětlení s nastaveným požadovaným proudem z napájecího zdroje (7). Podle zjištěné odchylky se mění intenzita osvětlení tak, že vzorkem trvale protéká proud stálé předem nastavené velikosti.
Zapojení se používá v zařízení pro elektrochemické leptání polovodičových materiálů typu n, zejména při měření jejich fyzikálních parametrů. Je zaručena stálá rychlost leptání a vznik lesklého povrchu vzorku.
CS 272684 Bl í
fe
CS 272684 Bl
Vynález se týká zapojení pro řízení elektrochemického leptání polovodičových materiálů typu n.
Zařízení pro elektrochemické leptání se skládá z komory obsahující elektrolyt, ve kterém je ponořena uhlíková katoda. Anodou je vzorek z polovodičového materiálu. Vymezená část jeho povrchu je ve styku s elektrolytem. Ve stěně komory je okénko, umožňující průchod světla z vnějšího zdroje na vzorek. Ze zdroje proudu, připojeného na anodu a katodu protéká během leptání proud. Na velikosti tohoto proudu je přímo závislá rychlost leptání. Při leptání je nutná optická excitace vzorku z vnějšího zdroje světla. Hloubka odleptání polovodičového materiálu je funkcí integrálu protékajícího proudu v čase.
Proto se do elektrického obvodu zařízení zapojuje elektronický integrátor. Elektrochemické leptání obvykle trvá několik hodin a proto je velmi obtížné zjistit hodnotu integrálu běžnými integrátory. Při elektrochemickém leptání polovodičových materiálů typu n při konstantním osvětlení začne po určité době procházející proud klesat. Rychlost leptání se snižuje a povrch vzorku již není lesklý.
Účelem vynálezu je odstranit uvedené nevýhody. Podstata vynálezu spočívá v tom, že k první svorce zdroje proudu s obdélníkovou charakteristikou je připojena katoda a k druhé svorce zdroje proudu je přes snímač proudu připojena anoda tvořená vzorkem z polovodičového materiálu. Výstup snímače proudu je připojen k ovládacímu vstupu regulátoru osvětlení, k jehož druhému vstupu je připojen napájecí zdroj a k jehož výstupu je připojen osvětlovač.
Zapojení pro řízení elektrochemického leptání podle vynálezu umožňuje měnit intenzitu osvětlení tak, že vzorkem trvale protéká proud té velikosti, která byla předem nastavena. Tím je zaručeno, že leptaná plocha vzorku je lesklá a časový integrál proudu ve vztahu pro výpočet hloubky odleptání je nahrazen součinem proudu a času.
Příklad vynálezu je dále popsán pomocí připojeného výkresu. Komora 1 je naplněna elektrolytem _3. V něm je ponořena uhlíková katoda 4_. Anodu £ tvoří vzorek z polovodičového materiálu, jehož plocha 21, určená k leptání, je ve styku s elektrolytem £. Proti této ploše 21 je ve stěně komory £ okénko 11, kterým prochází světlo z osvětlovače £. K první svorce zdroje £ s obdélníkovou charakteristikou je připojena katoda _4. Druhá svorka zdroje £ s obdélníkovou charakteristikou je připojena přes snímač £ proudu k anodě £. Výstup snímače £ proudu je připojen k ovládacímu vstupu regulátoru £ osvětlení, k jehož druhému vstupu je připojen napájecí zdroj £. K výstupu regulátoru £ osvětlení je připojen osvětlovač £.
Před zahájením elektrochemického leptání se nastaví na zdroji £ požadované napětí a leptací proud, kterému odpovídá hodnota nastaveného požadovaného proudu z napájecího zdroje £. Proud protékající obvodem je snímán snímačem £ proudu a porovnáván v regulátoru £ osvětlení s nastaveným požadovaným proudem z napájecího zdroje £. Pokud během leptání začne leptací proud klesat, vznikne v regulátoru £ osvětlení odchylka, regulátor osvětlení zvýší napájecí proud osvětlovače £, intenzita osvětlení se také zvýší a stoupne leptací proud opět na původní hodnotu. Tím je zaručena stálá rychlost leptání a zajištěn vznik lesklého povrchu vzorku. Hloubka leptání je potom závislá na součinu protékajícího proudu a času.
Zapojení podle vynálezu je určeno pro zařízení k elektrochemickému leptání polovodičových materiálů typu n, zejména při měření fyzikálních parametrů těchto materiálů.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Zapojení pro řízení elektrochemického leptání polovodičových materiálů typu n, vyznáčující se tím, že k první svorce zdroje (5) s obdélníkovou charakteristikou je připojena katoda (4), zatímco k druhé svorce zdroje (5) je přes snímač (6) proudu připojena anoda (2), tvořená vzorkem z polovodičového materiálu typu n, přičemž výstup snímače (6) proudu »
    Ά if
    CS 272684 Bl je připojen k ovládacímu vstupu regulátoru (8) osvětlení, k jehož druhému vstupu je př pojen napájecí zdroj (7) a k jehož výstupu je připojen osvětlovač (9).
CS124789A 1989-02-27 1989-02-27 Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control CS272684B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS124789A CS272684B1 (en) 1989-02-27 1989-02-27 Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS124789A CS272684B1 (en) 1989-02-27 1989-02-27 Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS124789A1 CS124789A1 (en) 1990-05-14
CS272684B1 true CS272684B1 (en) 1991-02-12

Family

ID=5346358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS124789A CS272684B1 (en) 1989-02-27 1989-02-27 Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS272684B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS124789A1 (en) 1990-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI62594B (fi) Monitor foer kontrollering av skumnivao
ATE209404T1 (de) Kurzschlussanzeiger
CS272684B1 (en) Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control
MY142547A (en) Apparatus and method for controlling temperature
JPS57120820A (en) Measuring device
ATE164232T1 (de) Vorrichtung zur überwachung der funktionsweise von induktivitäten
JPS5587941A (en) Humidity sensor
JPS5517280A (en) Excitation circuit for synchronous generator
SU758054A1 (ru) Способ и устройство для автоматического проявления металлизированных фотошаблонов 1
SU817751A1 (ru) Устройство автоматического регули-РОВАНи пОгОННОгО СОпРОТиВлЕНи МиКРОпРОВОдА
SU1677672A1 (ru) Способ допускового контрол сопротивлени изол ции и устройство дл его осуществлени
SU1056034A1 (ru) Устройство дл измерени концентрации кислорода в газах
JPS5795539A (en) Controlling device for humidity
JPS54141493A (en) Wire-cut electric discharge machining device
JPS6427833A (en) Automatic adjustor for clearance on sliding guide face
KR0118912Y1 (ko) 자동검사기의 단일부품 검사장치
JPS5797627A (en) Formation of electric wiring
ATE131622T1 (de) Schaltung zur erfassung von rf-leistung
JPS6423546A (en) Classification of integrated circuit device
JPS61108978A (ja) 半導体装置の熱抵抗測定方法
SU1474533A1 (ru) Устройство дл измерени электрической проводимости жидких сред
SU1719324A1 (ru) Устройство регулировани уровн стекломассы
SU1035478A1 (ru) Устройство дл определени кинетики проницаемости химически агрессивных сред через полимеры
SU834489A1 (ru) Способ измерени диэлектрическойпРОНицАЕМОСТи жидКиХ диэлЕКТРиКОВ
JPS5562367A (en) Test device for patient supervisory unit