CS272684B1 - Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control - Google Patents
Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control Download PDFInfo
- Publication number
- CS272684B1 CS272684B1 CS124789A CS124789A CS272684B1 CS 272684 B1 CS272684 B1 CS 272684B1 CS 124789 A CS124789 A CS 124789A CS 124789 A CS124789 A CS 124789A CS 272684 B1 CS272684 B1 CS 272684B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- current
- electrochemical etching
- connection
- etching
- sample
- Prior art date
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 14
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 abstract description 6
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Weting (AREA)
Description
(57) Zapojení je určeno pro řízení elektrochemického leptáni polovodičových materiálů typu n v zařízení, které sestává z komory (1) naplněné elektrolytem (3). Katoda (4) je uhlíková, anodu (2) tvoří vzorek z polovodičového materiálu typu n. Proud protékající obvodem je snímán snímačem (6) proudu a porovnáván v regulátoru (8) osvětlení s nastaveným požadovaným proudem z napájecího zdroje (7). Podle zjištěné odchylky se mění intenzita osvětlení tak, že vzorkem trvale protéká proud stálé předem nastavené velikosti.
Zapojení se používá v zařízení pro elektrochemické leptání polovodičových materiálů typu n, zejména při měření jejich fyzikálních parametrů. Je zaručena stálá rychlost leptání a vznik lesklého povrchu vzorku.
CS 272684 Bl í
fe
CS 272684 Bl
Vynález se týká zapojení pro řízení elektrochemického leptání polovodičových materiálů typu n.
Zařízení pro elektrochemické leptání se skládá z komory obsahující elektrolyt, ve kterém je ponořena uhlíková katoda. Anodou je vzorek z polovodičového materiálu. Vymezená část jeho povrchu je ve styku s elektrolytem. Ve stěně komory je okénko, umožňující průchod světla z vnějšího zdroje na vzorek. Ze zdroje proudu, připojeného na anodu a katodu protéká během leptání proud. Na velikosti tohoto proudu je přímo závislá rychlost leptání. Při leptání je nutná optická excitace vzorku z vnějšího zdroje světla. Hloubka odleptání polovodičového materiálu je funkcí integrálu protékajícího proudu v čase.
Proto se do elektrického obvodu zařízení zapojuje elektronický integrátor. Elektrochemické leptání obvykle trvá několik hodin a proto je velmi obtížné zjistit hodnotu integrálu běžnými integrátory. Při elektrochemickém leptání polovodičových materiálů typu n při konstantním osvětlení začne po určité době procházející proud klesat. Rychlost leptání se snižuje a povrch vzorku již není lesklý.
Účelem vynálezu je odstranit uvedené nevýhody. Podstata vynálezu spočívá v tom, že k první svorce zdroje proudu s obdélníkovou charakteristikou je připojena katoda a k druhé svorce zdroje proudu je přes snímač proudu připojena anoda tvořená vzorkem z polovodičového materiálu. Výstup snímače proudu je připojen k ovládacímu vstupu regulátoru osvětlení, k jehož druhému vstupu je připojen napájecí zdroj a k jehož výstupu je připojen osvětlovač.
Zapojení pro řízení elektrochemického leptání podle vynálezu umožňuje měnit intenzitu osvětlení tak, že vzorkem trvale protéká proud té velikosti, která byla předem nastavena. Tím je zaručeno, že leptaná plocha vzorku je lesklá a časový integrál proudu ve vztahu pro výpočet hloubky odleptání je nahrazen součinem proudu a času.
Příklad vynálezu je dále popsán pomocí připojeného výkresu. Komora 1 je naplněna elektrolytem _3. V něm je ponořena uhlíková katoda 4_. Anodu £ tvoří vzorek z polovodičového materiálu, jehož plocha 21, určená k leptání, je ve styku s elektrolytem £. Proti této ploše 21 je ve stěně komory £ okénko 11, kterým prochází světlo z osvětlovače £. K první svorce zdroje £ s obdélníkovou charakteristikou je připojena katoda _4. Druhá svorka zdroje £ s obdélníkovou charakteristikou je připojena přes snímač £ proudu k anodě £. Výstup snímače £ proudu je připojen k ovládacímu vstupu regulátoru £ osvětlení, k jehož druhému vstupu je připojen napájecí zdroj £. K výstupu regulátoru £ osvětlení je připojen osvětlovač £.
Před zahájením elektrochemického leptání se nastaví na zdroji £ požadované napětí a leptací proud, kterému odpovídá hodnota nastaveného požadovaného proudu z napájecího zdroje £. Proud protékající obvodem je snímán snímačem £ proudu a porovnáván v regulátoru £ osvětlení s nastaveným požadovaným proudem z napájecího zdroje £. Pokud během leptání začne leptací proud klesat, vznikne v regulátoru £ osvětlení odchylka, regulátor osvětlení zvýší napájecí proud osvětlovače £, intenzita osvětlení se také zvýší a stoupne leptací proud opět na původní hodnotu. Tím je zaručena stálá rychlost leptání a zajištěn vznik lesklého povrchu vzorku. Hloubka leptání je potom závislá na součinu protékajícího proudu a času.
Zapojení podle vynálezu je určeno pro zařízení k elektrochemickému leptání polovodičových materiálů typu n, zejména při měření fyzikálních parametrů těchto materiálů.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZUZapojení pro řízení elektrochemického leptání polovodičových materiálů typu n, vyznáčující se tím, že k první svorce zdroje (5) s obdélníkovou charakteristikou je připojena katoda (4), zatímco k druhé svorce zdroje (5) je přes snímač (6) proudu připojena anoda (2), tvořená vzorkem z polovodičového materiálu typu n, přičemž výstup snímače (6) proudu »Ά ifCS 272684 Bl je připojen k ovládacímu vstupu regulátoru (8) osvětlení, k jehož druhému vstupu je př pojen napájecí zdroj (7) a k jehož výstupu je připojen osvětlovač (9).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS124789A CS272684B1 (en) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS124789A CS272684B1 (en) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS124789A1 CS124789A1 (en) | 1990-05-14 |
| CS272684B1 true CS272684B1 (en) | 1991-02-12 |
Family
ID=5346358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS124789A CS272684B1 (en) | 1989-02-27 | 1989-02-27 | Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS272684B1 (cs) |
-
1989
- 1989-02-27 CS CS124789A patent/CS272684B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS124789A1 (en) | 1990-05-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI62594B (fi) | Monitor foer kontrollering av skumnivao | |
| ATE209404T1 (de) | Kurzschlussanzeiger | |
| CS272684B1 (en) | Connection for n-type semiconductor materials' electrochemical etching control | |
| MY142547A (en) | Apparatus and method for controlling temperature | |
| JPS57120820A (en) | Measuring device | |
| ATE164232T1 (de) | Vorrichtung zur überwachung der funktionsweise von induktivitäten | |
| JPS5587941A (en) | Humidity sensor | |
| JPS5517280A (en) | Excitation circuit for synchronous generator | |
| SU758054A1 (ru) | Способ и устройство для автоматического проявления металлизированных фотошаблонов 1 | |
| SU817751A1 (ru) | Устройство автоматического регули-РОВАНи пОгОННОгО СОпРОТиВлЕНи МиКРОпРОВОдА | |
| SU1677672A1 (ru) | Способ допускового контрол сопротивлени изол ции и устройство дл его осуществлени | |
| SU1056034A1 (ru) | Устройство дл измерени концентрации кислорода в газах | |
| JPS5795539A (en) | Controlling device for humidity | |
| JPS54141493A (en) | Wire-cut electric discharge machining device | |
| JPS6427833A (en) | Automatic adjustor for clearance on sliding guide face | |
| KR0118912Y1 (ko) | 자동검사기의 단일부품 검사장치 | |
| JPS5797627A (en) | Formation of electric wiring | |
| ATE131622T1 (de) | Schaltung zur erfassung von rf-leistung | |
| JPS6423546A (en) | Classification of integrated circuit device | |
| JPS61108978A (ja) | 半導体装置の熱抵抗測定方法 | |
| SU1474533A1 (ru) | Устройство дл измерени электрической проводимости жидких сред | |
| SU1719324A1 (ru) | Устройство регулировани уровн стекломассы | |
| SU1035478A1 (ru) | Устройство дл определени кинетики проницаемости химически агрессивных сред через полимеры | |
| SU834489A1 (ru) | Способ измерени диэлектрическойпРОНицАЕМОСТи жидКиХ диэлЕКТРиКОВ | |
| JPS5562367A (en) | Test device for patient supervisory unit |