CS268940B1 - Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek - Google Patents

Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek Download PDF

Info

Publication number
CS268940B1
CS268940B1 CS872912A CS291287A CS268940B1 CS 268940 B1 CS268940 B1 CS 268940B1 CS 872912 A CS872912 A CS 872912A CS 291287 A CS291287 A CS 291287A CS 268940 B1 CS268940 B1 CS 268940B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
components
encapsulation
layer
encapsulating
electrotechnical
Prior art date
Application number
CS872912A
Other languages
English (en)
Other versions
CS291287A1 (en
Inventor
Martin Ing Csc Capka
Marie Ing Czakova
Jiri Ing Pliva
Jaroslav Rndr Zamastil
Jan Ing Makovicka
Original Assignee
Capka Martin
Czakova Marie
Pliva Jiri
Zamastil Jaroslav
Makovicka Jan
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Capka Martin, Czakova Marie, Pliva Jiri, Zamastil Jaroslav, Makovicka Jan filed Critical Capka Martin
Priority to CS872912A priority Critical patent/CS268940B1/cs
Publication of CS291287A1 publication Critical patent/CS291287A1/cs
Publication of CS268940B1 publication Critical patent/CS268940B1/cs

Links

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

Způaob zapouzdřeni elektronických, elektrotechnických a zejaéna polovodičových součástek spočívající v to·, It ae na toučástky ualstěné v sodulu nejprve nanese prvá pouzdřicl vrstva tvořeni telechellckýa polya1loxane■ obsahující· vinyl skupiny a d1attyl-aetyl/hdroganZs1loxanový kopolyaer a po Jej 1 vulkan1zac1 v přltoanostl katalyzAtoru na biz1 rhodia nebo platiny aa nanese druhá chránící a ■echanlcky pevnějil vrstva tvořanA epoxidovou pryskyřici, příče·! některé součistky «ohou být najprva paslvoviny speciální pat1vačn1 vrstvou. Tento způsob zapouzdřeni je vhodný pro výkonové polovodičové aoučéitky a pro součástky obsahující spájeni spoje, tenké drAty nebo jjni snadno zranitelná aista.

Description

Vynález ·· týk* způsobu zapouzdřeni elektronických a elektrotechnických součástek, například polovodičových součástek, který je vhodný zejména pro součástky obsahující pájené spoje, tenké drétky e jiné snadno zranitelná sista.
K ochraně elektrotechnických e elektronických součástek, jeko jsou hybridní integrované «odulý, výkonové polovodičové «odulý, transistory std., před působeni· vlhkosti a korosivnlch látek přítomných v ovzduii se velmi často používají plastické hmoty. Po obvyklé psstveci elektronového a dírového přechodu polovodiče speciálními vysoce čistými povlaky /junction coating/ jako jsou bezalkalická n1zkotavitelná skla, nebo silikonové kaučuky a laky, polyimidové laky a podobné, následuje zapouzdřeni do plastu, obvykle ae jedná o epoxidové zalávacl nebo lisovací hmoty nebo jiné reekroplasty /diellylftaláty e podobné/.
Tyto «ateriály vyznačující se vysokou tvrdosti a vysoký· odulé· pružnosti máji kromě nesporných přednosti, jako je dobrá adheze, k různým povrchům, postačující zpracovatelské vlastnosti, nízká navlhavost i určité nevýhody. Patři k nim předevii· velké vnitřní pnuti, vznikající při saritěni plastu po vytvrdnutí, které spolu s rozdílnou roztažnosti použitých aateriélů /plasty, kovy, keramika a podobně/ vede ke vzniku prasklin a trhlin v plastu, což má za následek sníženi jeho ochranné funkce nebo naruienl spojů integrovaných obvodů, transistorových modulu a podobně, a tím i zvýienou poruchovost součástek a modulů. Na druhé straně některé pružné elastomery, jako silikonové kaučuky, nevykazuji dostatečné aechaniské vlastnosti, aby chránily součástky proti mechanickému poikozeni. Tyto nevýhody odstraňuje způsob zapouzdřeni součástek podle vynálezu.
Podstatou vynálezu je způsob vícevrstvého zapouzdřeni elektronických a elektrotechnických součástek a zejména polovodičových součástek, spočívající v tom, že se na součástky nanese prvá pouzdřlci vrstva, tvořená telecheHckým polysiloxanem, obsahujícím vinyl skupiny » d.1metyl-metyl/hydrogen/siloxanovým kopolymerem a po její vulkanizad za přítomnosti katalyzátoru na bázi rhodia nebo platiny se nanese druhá vrstva, tvořená epoxidovou pryskyřici, přičemž součástky mohou být nejprve pasívovány speciální pasivačni vrstvou.
Velkou výhodou zapouzdřeni podle vynálezu je nízké vnitřní pnuti v místech dotyku s jednotlivými součástkami. Silikonová hmota je po vulkanizad dostatečně pružná, aby vyrovnala dilatace i při velkém rozdílu teplot jednotlivých míst - obvod není mechanicky namáhán a ve vnitřní ochranné vrstvě nevznikají trhliny ve hmotě jako důsledek rozdílných dilated použitých materiálů, tak je potlačena možnost tvorby mezer obvykle se tvořících mezi plastem a povrchem polovodičového systému. Proto ochranná funkce této vrstvy zůstává zachována 1 v náročných klimatických a provozních podmínkách. Ha druhé straně vnějií vrstva vytvrzené époxidové*pryskyřice slouží předevilm k mechanické fixaci a ochraně i k celkovému zpevněni modulu obsahujícího zapouzdřené součástky.
Výhodou tohoto způsobu zapouzdřeni je také skutečnost, že hydros 11ylační vulkanlzovatelné silikonové hmoty lze připravovat ve vysoké čistotě a s vynikajícími elektroizolačními vlastnostmi, což zvyiuje provozní spolehlivost zapouzdřených součástek a zároveň jsou sníženy požadavky na čistotu epoxidových zalévadch hmot, tvořících vníjáí ochrannou vrstvu. Vlastností epoxidů potom mohou být optimalizovány z hlediska mechanických vlastnosti, technologie aplikace i ceny.
Výhodou tohoto způsobu zapouzdření je dále snadná repast /rozpouzdřenost/ součástek v případě banální závady v elektrickém obvodu /utržený drát a podobně/ nebo systém. Tato skutečnost je významná zejména pro pouzdření výkonových součástek, kde podstatnou částí ceny součástek je samotný polovodičový systém. Pouzdro lze mechaCS 268940 B1 nickou cestou rozebrat a gel odstranit organickými rozpouitidly. Při zapouzdřeni do epoxidových lisovacích hmot je repase součástky velel obtížná a vltllnou neproveditelná bez značného rizika poškozeni zapouzdřeného systému nebo elektrického obvodu.
Dále uvedené příklady Ilustruji zapouzdřeni podle vynálezu, aniž by Jej vymezovaly nebo ouezovaly.
Přiklad 1
Výkonový bezpotendálový tyrlstorový modul, který tvoři dva antlparalelnt propojené tyrlstory < paslvovanýml PNPU přechody speciálně čistým silikonovým povlakem, uložené na keraaických substrátech z korundové keramiky a přitlačené vhodnou konstrukci k měděné základné, na které je po obvodě pMtulin vnější kryt z epoxidové lisovací hmoty, byl zalit smid telechellckého poly/dlmetylslloxanu/, dlmetyt-metyl/hydrogen/d loxanového kopolymerů a hydrodlylaénlho katalyzátoru na bázi platiny. Po vulkanlzad silikonového potyacru 2 h/100 °C se horní ochranná vrstva vytvoří zalítlo neplněnou epoxidovou pryskyřici dlaňového typu s latentnlm katalyzátore·. Celek se uzavře vlčkem z lisovací hmoty a vytvrdl 5h/15O °C.
Přiklad 2
Výkonový bezpotendálový tyrlstorový tranzistorový aodul, tvořsný dvěma PNP tranzistory, paslvovanýml na přechodu Speciální· poly1m1dovým lakem, napájenými na korundové keramice opatřené na spodní straně aědínou fólii plátovanou na keramice technikou přímého spojováni mědi s keramikou /při teplotě 1 065 °C až 1 083 °C v Inertní atmosféře s malým přídavkem kyslíku - typicky setiny procenta/, vyrobený tak, že plátovaná keramika tvořící dosedad plochu modulu se po natmelenl keramických čipu do základny z epoxidové lisovací haoty se zalije směsi telechellckého polyslloxanu terminovaného vlny I«kup1nam1, d1aetyl-metyl/hydrogen/s1loxanového kopolyaeru a hydros 1lylačni ho katalyzátoru na bází rhodia. Po vulkanlzad silikonového polymeru 1 h/150 °C se horní ochranná vrstva - po natmelenl vnějšího pláště z epoxidové lisovací haoty - vytvoří nalítla epoxidovou pryskyřici dlaňového typu plněnou mletým křemenem a tvrdidlem na bázi aromatického dlamlnu. Celek se uzavře vlčkem z polymetylentereftalátu a vytvrdl 2 h/80 °C ♦ 4 h/150 °C.

Claims (1)

  1. Způsob zapouzdřeni elektronických a elektrotechnických součástek, vyznačující se tím, že se na součástky nanese prvá pouzdřid vrstva, tvořená telecheHckým polyslloxanem, obsahujícím vinyl skupiny a d1metyl-metyl/hydrogen/s1loxanovým kopolymerem a po její vulkanlzad za přítomnosti katalyzátoru na bázi rhodia nebo platiny se nanese druhá vrstva, tvořená epoxidovou pryskyřici.
CS872912A 1987-04-24 1987-04-24 Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek CS268940B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS872912A CS268940B1 (cs) 1987-04-24 1987-04-24 Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS872912A CS268940B1 (cs) 1987-04-24 1987-04-24 Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS291287A1 CS291287A1 (en) 1989-09-12
CS268940B1 true CS268940B1 (cs) 1990-04-11

Family

ID=5367629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS872912A CS268940B1 (cs) 1987-04-24 1987-04-24 Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS268940B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS291287A1 (en) 1989-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5539218A (en) Semiconductor device and resin for sealing a semiconductor device
JP2585006B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
US4521469A (en) Casing for electronic components
US5165956A (en) Method of encapsulating an electronic device with a silicone encapsulant
CN105190872B (zh) 半导体装置
JPS6018145B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS59109356A (ja) 気密性の良好な密封ケ−シング、及びその製造方法
US6046507A (en) Electrophoretic coating methodology to improve internal package delamination and wire bond reliability
JP2682788B2 (ja) 電子部品の封入装置
EP0130571A2 (en) A semiconductor device comprising an alpha-rays shielding layer
JPS6314499B2 (cs)
JPH0412027B2 (cs)
CN1324699C (zh) 功率半导体模块
JPS62197451A (ja) 電子部品封止用樹脂組成物
CS268940B1 (cs) Způsob zapouzdřeni elβktronických a elektrotechnických součistek
Wong Recent advances in hermetic equivalent flip-chip hybrid IC packaging of microelectronics
JPH0227756A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2827115B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
FR2751977A1 (fr) Composition liquide de resine epoxy, produit durci de cette composition et element a semi-conducteur encapsule avec ce produit durci
JPS63268261A (ja) 樹脂封止型半導体装置
IT984017B (it) Dispositivi elettronici allo stato solido incapsulati con fili conduttori collegati a tenuta ermetica
JP2003273292A (ja) 封止枠部材及びシリコーンエラストマーシート
GB2295722A (en) Packaging integrated circuits
Janczek Material investigation for pressure sensor package p-dsof-8-1
JP2591365B2 (ja) 液状エポキシ樹脂組成物及び半導体装置