CS261024B1 - Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků - Google Patents

Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků Download PDF

Info

Publication number
CS261024B1
CS261024B1 CS863895A CS389586A CS261024B1 CS 261024 B1 CS261024 B1 CS 261024B1 CS 863895 A CS863895 A CS 863895A CS 389586 A CS389586 A CS 389586A CS 261024 B1 CS261024 B1 CS 261024B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
input
frequency divider
output
circuit
phase detector
Prior art date
Application number
CS863895A
Other languages
English (en)
Other versions
CS389586A1 (en
Inventor
Jaromir Chocholac
Original Assignee
Jaromir Chocholac
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jaromir Chocholac filed Critical Jaromir Chocholac
Priority to CS863895A priority Critical patent/CS261024B1/cs
Publication of CS389586A1 publication Critical patent/CS389586A1/cs
Publication of CS261024B1 publication Critical patent/CS261024B1/cs

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Zapojení je určené pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků, sestávajícího z pomocného děliče kmitočtu, komparátorů a vyhodnocovacího obvodu. Zapojení obsahuje dělič kmitočtu, stupnicový dělič kmitočtu, fázový detektor, tachozesilovač, generátor impulsů, převodník úrovně, pomocný dělič kmitočtu, kodér, komparátor a vyhodnocovací obvod, propojené podle obr. a lze využít v automatických testovacích zařízeních jak u výrobce integrovaných obvodů, tak u výrobce finálních výrobků na vstupní kontrolu integrovaných obvodů.

Description

Vynález se týká zapojení pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků, sestávajícího z pomocného děliče kmitočtu, komparátoru a vyhodnocovacího obvodu.
Monolitický LSI integrovaný obvod je určen pro řízení otáček motorků systémem fázového závěsu. Jedním z prvořadých požadavků při výrobě integrovaného obvodu je zajištění produktivity testování. Využití principů známých z řešení obvodů fázového závěsu pro testování stupnico1vého děliče kmitočtu a fázového detektoru je nevýhodné pro aplikaci v automatických testovacích zařízeních. Při využití těchto metod jsou nutné analogové smyčky, což s sebou přináší relativně dlouhé doby potřebné pro dosažení stavu fázového závěsu a změření kmitočtu oscilátoru a nelze vyhodnotit chybné počáteční nastavení stupnicového děliče kmitočtu, které se projeví změnou fáze referenčního signálu. Doba potřebná pro úplné otestování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru touto metodou se pohybuje kolem 1 s.
Nevýhody odstraňuje zapojení pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že výstup generátoru impulsů, který je opatřen startovacím vstupem, je spojen s prvním vstupem testovaného integrovaného obvodu, jehož první výstup je spojen se vstupem převodníku úrovně, jehož výstup je spojen s prvním vstupem pomocného děliče kmitočtu majícího stejné funkční vlastnosti jako stupnicový dělič kmitočtu dobrého integrovaného obvodu, přičemž jeho výstup je spojen s druhým vstupem testovaného integrovaného obvodu a současně s druhým vstupem vyhodnocovacího obvodu, jehož první vstup je spojen s výstupem komparátoru a jehož výstupem je dávána informace o kvalitě testovaného integrovaného obvodu, přičemž vstup komparátoru je propojen s druhým výstupem testovaného integrovaného obvodu, jehož třetí vstup je spojen s výstupem kodéru, přičemž řídicí vstup kodéru je propojen s řídicím vstupem pomocného děliče kmitočtu.
Na připojeném výkresu je blokově znázorněno zapojení pro funkční testování integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků.podle vynálezu.
Testovaný integrovaný obvod χ obsahuje dělič 2 kmitočtu, jehož vstup současně tvoří první vstup 36 testovaného integrovaného obvodu χ a jehož výstup 38 je spojen s prvním vstupem 39 stupnicového děliče 2 kmitočtu, přičemž druhý vstup současně tvoří třetí vstup 34 testovaného integrovaného obvodu JI a výstup 40 stupnicového děliče 2 kmitočtu je spojen s referenčním vstupem 41 fázového detektoru 3, jehož výstup je současně druhým výstupem 29 testovaného integrovaného obvodu χ a tacho vstup 42 fázového detektoru 3 je spojen s výstupem 43 tachozesilovače £, jehož vstup je současně druhým vstupem 31 testované^ integrovaného obvodu I. Výstup 21 generátoru 5 impulsů opatřeného startovacím vstupem 20 je spojen s prvním vstupem 36 testovaného integrovaného obvodu χ, jehož první výstup 37 je spojen se vstupem 22 převodníku 6 úrovně, jehož výstup 23 je spojen s prvním vstupem 25 pomocného děliče T_ kmitočtu, přičemž jeho výstup 26 je spojen s druhým vstupem 31 testovaného integrovaného obvodu χ a současně s druhým vstupem 44 vyhodnocovacího obvodu 11, jehož třetí vstup 49 slouží k inicializaci vyhodnocovacího obvodu 11 a jehóž první vstup 45 je spojen s výstupem 46 komparátoru 2, přičemž výstupem 27 vyhodnocovacího obvodu 11 je dávána informace o kvalitě testovaného integrovaného obvodu a vstup 47 komparátoru 2 je propojen s druhým výstupem 29 testovaného integrovaného obvodu χ, jehož třetí vstup 34 je spojen s výstupem 57 kodéru 2, přičemž řídicí vstup 48 kodéru 2 3e propojen s řídicím vstupem 24 pomocného děliče 7_ kmitočtu.
Princip testování integrovaného obvodu je následující: Přes tříbitový řídicí vstup 24 inicializujeme pomocný dělič J_ kmitočtu, přes tříbitový řídicí vstup 42, pomocí kodéru 8 inicializujeme přes dvoubitový vstup 34 testovaný integrovaný obvod χ a přes vstup 49 vyhodnocovací obvod χχ. Potom rovněž přes řídicí vstup 24 a řídicí vstup 48 nastavíme požadovaný dělicí poměr pomocného děliče T_ kmitočtu a stupnicového děliče 2 kmitočtu uvnitř testovaného integrovaného obvodu χ. Pomocí startovacího vstupu 20 spustíme generátor 5 impulsů, který budí přes vstup 36 dělič χ kmitočtu, z jehož výstupu 38 je buzen vstup 39 stupnicového děliče 2 kmitočtu a současně přes výstup 37 testovaného integrovaného obvodu £ je signál přiveden na vstup 22 převodníku £ úrovně, z jehož výstupu 23 je přes vstup 25 buzen pomocný dělič 7_ kmitočtu, z jehož výstupu 26 je signál přiveden na druhý vstup 31 testovaného integrovaného obvodu £ a současně na druhý vstup 44 vyhodnocovacího obvodu 11. Tímto zapojením je zajištěno shodné buzení referenčního vstupu 41 a taoho vstupu 42 fázového detektoru £. Výstup 29 testovaného integrovaného obvodu £ je současně výstupem fázového detektoru £ a je spojen se vstupem 47 komparátoru £, jehož výstup 46 je spojen se vstupem 45 vyhodnocovacího obvodu ££. U dobrého integrovaného obvodu je po inicializaci výstup 29 ve stavu odpovídajícímu stavu fázového závěsu. Komparátor £ monitoruje tento stav a při jeho změně překlopí. Vyhodnocovací obvod 11 vyhodnocuje změnu stavu komparátoru po dobu dvou period signálu na výstupu 26 pomocného děliče £ kmitočtu. Vyhodnocovací časový interval je odvozen ze signálu přivedeného na vstup 44 vyhodnocovacího obvodu ££. Vyhodnocovací obvod 11 na svém výstupu 27 dává informaci o hodnocení testovaného integrovaného obvodu systémem dobrý/vadný. Testovací postup se opakuje pro všechny dělicí poměry stupnicového děliče 2 kmitočtu. Doba potřebná pro úplné otestování stupnicového děliče 2 a fázového detektoru £ v zapojení podle vynálezu je 0,12 s při frekvenci generátoru £ impulsů rovné 4 MHz. Další výhodou je snadné vyhodnocení chybného počátečního nastavení stupnicového děliče kmitočtu projevující se změnou fáze referenčního signálu. Rozdílná fáze referenčního a tacho signálu způsobí změnu na výstupu 29 testovaného integrovaného obvodu £, v důsledku které dojde k překlopení komparátoru £ a vyhodnocovací obvod 11 vyhodnotí testovaný integrovaný obvod £ jako vadný.
Zapojení pro funkční testování integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků lze využít v automatických testovacích zařízeních jak u výrobce integrovaných obvodů, tak u výrobce finálních výrobků na vstupní kontrolu integrovaných obvodů. Využití zapojení podle vynálezu zvýší produktivitu testování.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Zapojení pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků, vyznačující se tím, že výstup (21) generátoru (5) impulsů, který je opatřen startovacím vstupem (20) , je spojen s prvním vstupem (36) testovaného integrovaného obvodu (I), jehož první výstup (37) je spojen se vstupem (22) převodníku (6) úrovně, jehož výstup (23) je spojen s prvním vstupem (25) pomocného děliče (7) kmitočtu majícího stejné funkční vlastnosti jako stupnicový dělič (2) kmitočtu dobrého integrovaného obvodu, přičemž jeho výstup (26) je spojen s druhým vstupem (31) testovaného integrovaného obvodu a současně s druhým vstupem (44) vyhodnocovacího obvodu (11), jehož první vstup (45) je spojen s výstupem (46) komparátoru (9), přičemž vstup (47) komparátoru (9) je propojen s druhým výstupem (29) testovaného integrovaného obvodu, jehož třetí vstup (34) je spojen s výstupem kodéru (8), přičemž řídicí vstup (48) kodéru (8) je propojen s řídicím vstupem (24) pomocného děliče (7) kmitočtu.
    1 výkres
CS863895A 1986-05-28 1986-05-28 Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků CS261024B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS863895A CS261024B1 (cs) 1986-05-28 1986-05-28 Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS863895A CS261024B1 (cs) 1986-05-28 1986-05-28 Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS389586A1 CS389586A1 (en) 1988-06-15
CS261024B1 true CS261024B1 (cs) 1989-01-12

Family

ID=5380360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS863895A CS261024B1 (cs) 1986-05-28 1986-05-28 Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS261024B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS389586A1 (en) 1988-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5453993A (en) Semiconductor integrated circuit with clock selecting function
EP0470770B1 (en) Test driver for connecting an integrated circuit chip to a controlling computer
US6005407A (en) Oscillation-based test method for testing an at least partially analog circuit
DE69017169D1 (de) Testen integrierter Schaltungen unter Verwendung von Taktgeberstössen.
US6294935B1 (en) Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit
EP1024367B1 (en) Frequency measurement test circuit and semiconductor integrated circuit having the same
US4982109A (en) Circuit and method for measuring the duration of a selected pulse in a pulse train
US6650162B2 (en) Digital clock generator circuit with built-in frequency and duty cycle control
CS261024B1 (cs) Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků
US4157500A (en) Multiperiodical phasemeter
JP3123454B2 (ja) 半導体集積回路
US5428625A (en) Method of controlling a self-test in a data processing system and data processing system suitable for this method
US4489279A (en) Variable-frequency oscillator having a crystal oscillator
JP2710574B2 (ja) プリスケーラicテスト方法及びテストプローブカード
SU1689869A1 (ru) Устройство дл измерени фазового сдвига гармонических сигналов
US4379238A (en) Integrated signal processing circuit
JPS6321511A (ja) 試験用パルス発振装置
US5047712A (en) Circuit for inverting the latter half of pattern output from device under test
SU995003A1 (ru) Двухпороговое устройство контрол уровн напр жени
SU1182450A1 (ru) Устройство дл калибровки уровней высокочастотных и сверхвысокочастотных гармонических сигналов
JPH06148245A (ja) 回路素子の定数測定装置
SU788057A1 (ru) Устройство контрол больших интегральных схем на динамических моп-структурах
SU1003011A1 (ru) Стробоскопический измеритель временных интервалов
SU911473A1 (ru) Устройство дл определени частотных характеристик
SU1280393A1 (ru) Измеритель среднеквадратического значени скорости случайного процесса