CS261024B1 - Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků - Google Patents
Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků Download PDFInfo
- Publication number
- CS261024B1 CS261024B1 CS863895A CS389586A CS261024B1 CS 261024 B1 CS261024 B1 CS 261024B1 CS 863895 A CS863895 A CS 863895A CS 389586 A CS389586 A CS 389586A CS 261024 B1 CS261024 B1 CS 261024B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- input
- frequency divider
- output
- circuit
- phase detector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Zapojení je určené pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků, sestávajícího z pomocného děliče kmitočtu, komparátorů a vyhodnocovacího obvodu. Zapojení obsahuje dělič kmitočtu, stupnicový dělič kmitočtu, fázový detektor, tachozesilovač, generátor impulsů, převodník úrovně, pomocný dělič kmitočtu, kodér, komparátor a vyhodnocovací obvod, propojené podle obr. a lze využít v automatických testovacích zařízeních jak u výrobce integrovaných obvodů, tak u výrobce finálních výrobků na vstupní kontrolu integrovaných obvodů.
Description
Vynález se týká zapojení pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků, sestávajícího z pomocného děliče kmitočtu, komparátoru a vyhodnocovacího obvodu.
Monolitický LSI integrovaný obvod je určen pro řízení otáček motorků systémem fázového závěsu. Jedním z prvořadých požadavků při výrobě integrovaného obvodu je zajištění produktivity testování. Využití principů známých z řešení obvodů fázového závěsu pro testování stupnico1vého děliče kmitočtu a fázového detektoru je nevýhodné pro aplikaci v automatických testovacích zařízeních. Při využití těchto metod jsou nutné analogové smyčky, což s sebou přináší relativně dlouhé doby potřebné pro dosažení stavu fázového závěsu a změření kmitočtu oscilátoru a nelze vyhodnotit chybné počáteční nastavení stupnicového děliče kmitočtu, které se projeví změnou fáze referenčního signálu. Doba potřebná pro úplné otestování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru touto metodou se pohybuje kolem 1 s.
Nevýhody odstraňuje zapojení pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že výstup generátoru impulsů, který je opatřen startovacím vstupem, je spojen s prvním vstupem testovaného integrovaného obvodu, jehož první výstup je spojen se vstupem převodníku úrovně, jehož výstup je spojen s prvním vstupem pomocného děliče kmitočtu majícího stejné funkční vlastnosti jako stupnicový dělič kmitočtu dobrého integrovaného obvodu, přičemž jeho výstup je spojen s druhým vstupem testovaného integrovaného obvodu a současně s druhým vstupem vyhodnocovacího obvodu, jehož první vstup je spojen s výstupem komparátoru a jehož výstupem je dávána informace o kvalitě testovaného integrovaného obvodu, přičemž vstup komparátoru je propojen s druhým výstupem testovaného integrovaného obvodu, jehož třetí vstup je spojen s výstupem kodéru, přičemž řídicí vstup kodéru je propojen s řídicím vstupem pomocného děliče kmitočtu.
Na připojeném výkresu je blokově znázorněno zapojení pro funkční testování integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků.podle vynálezu.
Testovaný integrovaný obvod χ obsahuje dělič 2 kmitočtu, jehož vstup současně tvoří první vstup 36 testovaného integrovaného obvodu χ a jehož výstup 38 je spojen s prvním vstupem 39 stupnicového děliče 2 kmitočtu, přičemž druhý vstup současně tvoří třetí vstup 34 testovaného integrovaného obvodu JI a výstup 40 stupnicového děliče 2 kmitočtu je spojen s referenčním vstupem 41 fázového detektoru 3, jehož výstup je současně druhým výstupem 29 testovaného integrovaného obvodu χ a tacho vstup 42 fázového detektoru 3 je spojen s výstupem 43 tachozesilovače £, jehož vstup je současně druhým vstupem 31 testované^ integrovaného obvodu I. Výstup 21 generátoru 5 impulsů opatřeného startovacím vstupem 20 je spojen s prvním vstupem 36 testovaného integrovaného obvodu χ, jehož první výstup 37 je spojen se vstupem 22 převodníku 6 úrovně, jehož výstup 23 je spojen s prvním vstupem 25 pomocného děliče T_ kmitočtu, přičemž jeho výstup 26 je spojen s druhým vstupem 31 testovaného integrovaného obvodu χ a současně s druhým vstupem 44 vyhodnocovacího obvodu 11, jehož třetí vstup 49 slouží k inicializaci vyhodnocovacího obvodu 11 a jehóž první vstup 45 je spojen s výstupem 46 komparátoru 2, přičemž výstupem 27 vyhodnocovacího obvodu 11 je dávána informace o kvalitě testovaného integrovaného obvodu a vstup 47 komparátoru 2 je propojen s druhým výstupem 29 testovaného integrovaného obvodu χ, jehož třetí vstup 34 je spojen s výstupem 57 kodéru 2, přičemž řídicí vstup 48 kodéru 2 3e propojen s řídicím vstupem 24 pomocného děliče 7_ kmitočtu.
Princip testování integrovaného obvodu je následující: Přes tříbitový řídicí vstup 24 inicializujeme pomocný dělič J_ kmitočtu, přes tříbitový řídicí vstup 42, pomocí kodéru 8 inicializujeme přes dvoubitový vstup 34 testovaný integrovaný obvod χ a přes vstup 49 vyhodnocovací obvod χχ. Potom rovněž přes řídicí vstup 24 a řídicí vstup 48 nastavíme požadovaný dělicí poměr pomocného děliče T_ kmitočtu a stupnicového děliče 2 kmitočtu uvnitř testovaného integrovaného obvodu χ. Pomocí startovacího vstupu 20 spustíme generátor 5 impulsů, který budí přes vstup 36 dělič χ kmitočtu, z jehož výstupu 38 je buzen vstup 39 stupnicového děliče 2 kmitočtu a současně přes výstup 37 testovaného integrovaného obvodu £ je signál přiveden na vstup 22 převodníku £ úrovně, z jehož výstupu 23 je přes vstup 25 buzen pomocný dělič 7_ kmitočtu, z jehož výstupu 26 je signál přiveden na druhý vstup 31 testovaného integrovaného obvodu £ a současně na druhý vstup 44 vyhodnocovacího obvodu 11. Tímto zapojením je zajištěno shodné buzení referenčního vstupu 41 a taoho vstupu 42 fázového detektoru £. Výstup 29 testovaného integrovaného obvodu £ je současně výstupem fázového detektoru £ a je spojen se vstupem 47 komparátoru £, jehož výstup 46 je spojen se vstupem 45 vyhodnocovacího obvodu ££. U dobrého integrovaného obvodu je po inicializaci výstup 29 ve stavu odpovídajícímu stavu fázového závěsu. Komparátor £ monitoruje tento stav a při jeho změně překlopí. Vyhodnocovací obvod 11 vyhodnocuje změnu stavu komparátoru po dobu dvou period signálu na výstupu 26 pomocného děliče £ kmitočtu. Vyhodnocovací časový interval je odvozen ze signálu přivedeného na vstup 44 vyhodnocovacího obvodu ££. Vyhodnocovací obvod 11 na svém výstupu 27 dává informaci o hodnocení testovaného integrovaného obvodu systémem dobrý/vadný. Testovací postup se opakuje pro všechny dělicí poměry stupnicového děliče 2 kmitočtu. Doba potřebná pro úplné otestování stupnicového děliče 2 a fázového detektoru £ v zapojení podle vynálezu je 0,12 s při frekvenci generátoru £ impulsů rovné 4 MHz. Další výhodou je snadné vyhodnocení chybného počátečního nastavení stupnicového děliče kmitočtu projevující se změnou fáze referenčního signálu. Rozdílná fáze referenčního a tacho signálu způsobí změnu na výstupu 29 testovaného integrovaného obvodu £, v důsledku které dojde k překlopení komparátoru £ a vyhodnocovací obvod 11 vyhodnotí testovaný integrovaný obvod £ jako vadný.
Zapojení pro funkční testování integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků lze využít v automatických testovacích zařízeních jak u výrobce integrovaných obvodů, tak u výrobce finálních výrobků na vstupní kontrolu integrovaných obvodů. Využití zapojení podle vynálezu zvýší produktivitu testování.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZUZapojení pro funkční testování stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízení otáček motorků, vyznačující se tím, že výstup (21) generátoru (5) impulsů, který je opatřen startovacím vstupem (20) , je spojen s prvním vstupem (36) testovaného integrovaného obvodu (I), jehož první výstup (37) je spojen se vstupem (22) převodníku (6) úrovně, jehož výstup (23) je spojen s prvním vstupem (25) pomocného děliče (7) kmitočtu majícího stejné funkční vlastnosti jako stupnicový dělič (2) kmitočtu dobrého integrovaného obvodu, přičemž jeho výstup (26) je spojen s druhým vstupem (31) testovaného integrovaného obvodu a současně s druhým vstupem (44) vyhodnocovacího obvodu (11), jehož první vstup (45) je spojen s výstupem (46) komparátoru (9), přičemž vstup (47) komparátoru (9) je propojen s druhým výstupem (29) testovaného integrovaného obvodu, jehož třetí vstup (34) je spojen s výstupem kodéru (8), přičemž řídicí vstup (48) kodéru (8) je propojen s řídicím vstupem (24) pomocného děliče (7) kmitočtu.1 výkres
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS863895A CS261024B1 (cs) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS863895A CS261024B1 (cs) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS389586A1 CS389586A1 (en) | 1988-06-15 |
| CS261024B1 true CS261024B1 (cs) | 1989-01-12 |
Family
ID=5380360
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS863895A CS261024B1 (cs) | 1986-05-28 | 1986-05-28 | Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS261024B1 (cs) |
-
1986
- 1986-05-28 CS CS863895A patent/CS261024B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS389586A1 (en) | 1988-06-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5453993A (en) | Semiconductor integrated circuit with clock selecting function | |
| EP0470770B1 (en) | Test driver for connecting an integrated circuit chip to a controlling computer | |
| US6005407A (en) | Oscillation-based test method for testing an at least partially analog circuit | |
| DE69017169D1 (de) | Testen integrierter Schaltungen unter Verwendung von Taktgeberstössen. | |
| US6294935B1 (en) | Built-in-self-test circuitry for testing a phase locked loop circuit | |
| EP1024367B1 (en) | Frequency measurement test circuit and semiconductor integrated circuit having the same | |
| US4982109A (en) | Circuit and method for measuring the duration of a selected pulse in a pulse train | |
| US6650162B2 (en) | Digital clock generator circuit with built-in frequency and duty cycle control | |
| CS261024B1 (cs) | Zapojeni pro funkční testováni stupnicového děliče kmitočtu a fázového detektoru integrovaného obvodu pro řízeni otáček motorků | |
| US4157500A (en) | Multiperiodical phasemeter | |
| JP3123454B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| US5428625A (en) | Method of controlling a self-test in a data processing system and data processing system suitable for this method | |
| US4489279A (en) | Variable-frequency oscillator having a crystal oscillator | |
| JP2710574B2 (ja) | プリスケーラicテスト方法及びテストプローブカード | |
| SU1689869A1 (ru) | Устройство дл измерени фазового сдвига гармонических сигналов | |
| US4379238A (en) | Integrated signal processing circuit | |
| JPS6321511A (ja) | 試験用パルス発振装置 | |
| US5047712A (en) | Circuit for inverting the latter half of pattern output from device under test | |
| SU995003A1 (ru) | Двухпороговое устройство контрол уровн напр жени | |
| SU1182450A1 (ru) | Устройство дл калибровки уровней высокочастотных и сверхвысокочастотных гармонических сигналов | |
| JPH06148245A (ja) | 回路素子の定数測定装置 | |
| SU788057A1 (ru) | Устройство контрол больших интегральных схем на динамических моп-структурах | |
| SU1003011A1 (ru) | Стробоскопический измеритель временных интервалов | |
| SU911473A1 (ru) | Устройство дл определени частотных характеристик | |
| SU1280393A1 (ru) | Измеритель среднеквадратического значени скорости случайного процесса |