CS258906B1 - Zařízení pro zjišfování rovinnosti ploch, zejména do sedacích ploch jader transformátorů - Google Patents

Abstract

Zařízení se týká zjištování rovinnosti ploch, zejména dosedacích ploch jader transformátorů. Podstatou je, že je tvořeno první a druhou soustavou na tuhé podložce v jedné rovině uspořádaných, od sebe izolovaných kontaktních hrotů, přičemž každý kontaktní hrot první soustavy je spojen přes světloemitující diodu v nepropustném směru a s rii v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v nepropustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí, zatímco každý kontaktní hrot druhé soustavy je spojen přes světloemitující diodu v propustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v propustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí. Zařízení je s výhodou možno využít zejména při montáži přístrojů, používajících na sebe dosedající transformátorová jádra.

Description

Vynález se. týká zařízení pro zjištování rovinnosti ploch, zejména dosedací cl· ploch jader transformátorů.

Zjištování, zda rovina, jejíž částí je jedna měřená plocha, je totožná s rovinou, jejíž částí je druhá měřená plocha, zejména jsou-li první a druhá měřená plocha od sebe prostorově vzdáleny, se podle dosavadního stavu techniky provádí pomocí třetí plochy, se kterou se první a druhá měřená plocha srovnají, načež se toto srovnání, vyhodnotí.

Nevýhody dosavadního stavu techniky spočívají zejména ve zdlouhavosti měření a obtížnosti jeho použití pro sériovou výrobu. U některých součástí, jako jsou na příklad C jádra transformátorů nebo jádra palcových kleští k měření proudů, je stanovení třetí porovnávací roviny natolik obtížné, že se měření rovinnosti jejich dosedaoích ploch neprovádí. Takto může dojít k tomu, že se vzájemné posunutí jinak zcela rovných ploch, mající za následek vznik malé mezery mezi dosedacími plochami, zjistí až po konečné montáži. Takto nelze zabránit značné zmetkovitosti ve výrobě a případně zhoršení parametrů vyráběných přístrojů a zbytečnému nárůstu výrobních nákladů.

Uvedené nevýhody dosavadního stavu techniky do značné míry řeší zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu, jehož podstatou je, že je tvořeno první a druhou soustavou na tuhé podložce v jedné rovině uspořádaných, od sebe izolovaných kontaktních hrotů, přičemž každý kontaktní hrot první soustavy je spojen přes světloemitující diodu v nepropustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v nepropustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí, zatímco každý kontaktní hrot druhé soustavy je spojen přes světloemitující diodu v propustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v propustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí.

Výhodné přitom je, jestliže obě soustavy kontaktních hrotů jsou uspořádány na tuhé podložce v geometrickém obrazci shodném s geometrickým obrazcem uspořádání světlo emitujících diod, přičemž každá světloemitující dioda a s ní elektricky spojený kontaktní hrot zaujímají ve svých geometrických obrazcích shodné místo. Výhodné rovněž je, jestliže prvni a druhá soustava kontaktních hrotů sestává z devíti kontaktních hrotů, uspořádaných ve třech řadách po třech kontaktních hrotech.

Výhody zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu spočívají zejména v tom, že umožňují rychlé a přesné zjištění, zda rovina, jejíž částí je jedna měřená plocha, je totožná s rovinou, jejíž částí je druhá měřená plocha, zvláště jsou-li první a druhá měřená plocha od sebe prostorově vzdáleny. Zařízení dále umožňuje porovnat dvě rovné plochy i tam, kde se porovnávání pro obtížnost stanovení třetí porovnávací roviny dosud neprovádělo, jako na příklad u C jader transformátorů nebo jader palcových kleští k měření proudů. Tím dochází ve výrobě ke značnému snížení zmetkovitosti, způsobenému vzájemným posuvem dvou či více měřených rovin, ke stabilizaci technických parametrů na vyšší úrovni a ke snížení výrobních nákladů.

Vynález bude dále podrobněji popsán podle přiložených výkresů, kde na obr. 1 je znázorněno schéma elektrického zapojení příkladného provedení zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu, na obr. 2 je znázorněn půdorysný pohled na příkladné provedení tuhé podložky s vodivými hroty podle vynálezu, na obr. 3 je znázorněno příkladné provedení vyhodnocovacího tabla podle vynálezu.

Na obr. 1 je znázorněno schéma elektrického zapojeni příkladného provedení zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu. Zapojení je tvořeno první soustavou 2 a druhou soustavou 2 ^θά sebe izolovaných kontaktních hrotů 2· Každý kontaktní hrot 2 první soustavy 2 je spojen přes světloemitující diodu 4_ v nepropustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor 2 ^s první svorkou 2 střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu 2 v nepropustném směru s druhou svorkou 2 střídavého napájecího napětí. Každý kontaktní hrot 2 druh·’ soustavy 2 j^e spojen přes. světloemitující diodu £ v propustném směru a s ní v sérii říipojený ochranný odpor 2 ^s první svorkou 6 střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu 7_ v propustném směru s druhou svorkou 2 střídavého napájecího napětí.

Fa obi . ? je znázorněn půdorysný pohled na příkladné provedení tuhé podložky 2 s kontaktními hroty 3 podle vynálezu. Tuhá podložka 2 je vytvořeno z materiálu, který při změnách teploty nebo £ čarem nemění svůj tvar ani objem. Na tuhé podložce 9_ jsou pevně uloženy první soustava 2 a druhá soustava 2 kontaktních hrotů 2 tak, aby všechny vrcholy kontaktních hrotů 2 prvíí soustavy 2 i druhé soustavy 2 ležely v téže rovině. K tuhé podložce 9 je dále připevněn první konektor 10.

Na obr. 3 je znázorněno příkladné provedení vyhodnocovacího tabla 11 podle vynálezu. Vyhodnocovací tablo 11 je v příkladném provedení tvořeno rámem 22' ^{v η}θ^π'ζ jsou uspořádány světloemitu jící diody 4 tak, aby’ poloha každé jednotlivé světloemitu j ící diody 4_ odpovídala poloze s ní elektricky spojeného kontaktního hrotu 2 ^v první soustavě 2 či druhé soustavě 2 kontaktních hrotů 2 na tuhé podložce 9. Takto první, druhé a třetí řadě kontaktních hrotů 2 na tuhé podložce 9_ odpovídají postupně první, druhá a třetí řada světloemitujících diod 2 na vyhodnocovacím tablu 22· ^K rámu 12 je dále připojen druhý konektor 12· První konektor a druhý konektor 13 jsou pak propojeny neznázorněným propojovacím kabelem.

Je zřejmé, že pro jednoúčelové operace může být výhodné uspořádat vyhodnocovací tablo v jednom kuse s tuhou podložkou 2· V tomto případě je možné propojit světloemitující diody 2 vyhodnocovacího tabla 11 s kontaktními hroty 2 ^a dalšími elektronickými součástkami bez prvního a druhého konektoru 10 a 13.

Další elektronické součásti, to je ochranné odpory 5, usměrňovači diody 7_, první svorkou 2 střídavého napájecího napětí a druhou svorku 2 střídavého napájecího napětí, je možno s výhodou uspořádat uvnitř tuhé podložky 9_ nebo uvnitř rámu 12.

V činnosti zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu se mezi první svorkou 2 a druhou svorkou 2 přivede střídavé napájecí napětí. Pokud jsou k první a druhé soustavě a 2 kontaktních hrotů 2 přiloženy měřené plochy, dochází při dotyku alespoň jednoho kontaktní ho hrotu 2 první soustavy 2 a alespoň jednoho kontaktního hrotu 2 druhé soustavy 2 ^s měřenou plochou k vodivému propojení těchto kontaktních hrotů 2 přes měřenou plochu. V kladné půlperiodě napájecího napětí teče proud z první svorky střídavého napájecího napětí přes ochranný odpor 2» ^s spojenou světloemitující diodu 2» ^s ní spojený kontaktní hrot 2 první soustavy 1_, měřenou plodit, kontaktní hrot 2 druhé soustavy 2, s ním spojenou usměrňovači diodu 2 ke druhé svorce 2 střídavého napájecího napětí.

V záporné půlperiodě napájecího napětí teče proud z druhé svorky 2 napájecího napětí přes usměrňovači diodu 7_, s ní spojený kontaktní hrot 2 první soustavy 2» měřenou plochu, kontaktní hrot 2 druhé soustavy 2» ^s ním spojenou světloemitující diodu 4_, s ní spojený ochranný odpor 2 k první svorce 2 střídavého napájecího napětí. Takto se v kladné půlperiodě napájecího napětí rozsvěcují světloemitující diody 2 první soustavy 2' zatímco v záporné půlperiodě napájecího napěti se rozsvěcují světloemitující diody 2 druhé soustavy 2.

Při obvyklém kmitočtu 50 Hz lidské oko kratičké zhasínání světloemitujících diod 2 nevnímá a při dotyku kontaktního hrotu 2 ^a měřené plochy vzniká za předpokladu, že se měřené plochy dotýká vždy alespoň jeden kontaktní hrot 2 každé soustavy 2» dojem trvalého rozsvíceni světloemitujících diod 2» spojených s těmi kontaktními hroty 2» které jsou v dotyku s měřenou plochou. Přitom jeden kontaktní hrot 2 jedné ze soustav 1, 2 umožní uzavření elektric kého obvodu pro každou světloemitující diodu 2 druhé ze soustav 2» 1' pokud se s ní spojený kontaktní hrot 3 dotýká měřené plochy. Styk kontaktního hrotu 2 s měřenou plochou je tedy indikován rozsvícením s ním spojené světloemitující diody 2' takže každá nerovnoběžnost měřených ploch je zřejmá z toho, že se příslušná světloemitující dioda 2 nerozsvítí.* Souhlasné rozmístění kontaktních hrotu _3. ti a tuhé podložce j) o s ninti spojených světloemitujících diod £ na vyhodnocovacím tablu 11 přitom umožní snadno určit charakter nerovnosti měřené plochy.

Vynález je s výhodou možno využít při zjištování rcvinnosti ploch, zejména při montáži přístrojů, používajících na sebe dosedající transformátorová jádra, například C jádra nebo jádra palcových kleští k měření proudů.

Claims (3)

1. P fi E D Í1 Ě T VYNÁLEZU

   1. Zařízení pro zjištování rovinnosti ploch, zejména dosedacích ploch jader transformátorů, vyznačující se tím, že je tvořeno první a druhou soustavou (1 a 2) na tuhé podložce (9) v jedné rovině uspořádaných, od sebe izolovaných kontaktních hrotů (3), přičemž každý kontaktní hrot (3) první soustavy (1) je spojen přes světloemitující diodu (4) v nerozpustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor (5) s první svorkou (6) střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu (7) v nepropustném směru s druhou svorkou (8) střídavého napájecího napětí, zatímco každý kontaktní hrot (3) druhé soustavy (2) je spojen přes světloemitující diodu (4) v propustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor (5) s první svorkeu (6) střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu (7) v propustném směru s druhou svorkou (8) střídavého napájecího napětí.
2. 2. Zařízení podle bodu 1, vyznačující se tím, že obě soustavy (1 a 2) kontaktních hrotů (3) jsou uspořádány na tuhé podložce (9) v geometrickém obrazci shodném s geometrickým obrazcem uspořádání světloemitujících diod (4), přičemž každá syětloemitující dioda (4) a s ní elektricky spojený kontaktní hrot (3) zaujímají ve svých geometrických obrazcích shodné místo.
3. 3. Zařízení podle bodů 1 nebo 2, vyznačující se tím, že první a druhá soustava (1 a 2) kontaktních hrotů (3) sestává z devíti kontaktních hrotů (3), uspořádaných ve třech řadách po třech kontaktních hrotech (3).