CS258906B1

CS258906B1 - Device for surfaces evenness detection especially for transformers' cores bearing surfaces

Info

Publication number: CS258906B1
Application number: CS85251A
Authority: CS
Inventors: Josef Polacek
Original assignee: Josef Polacek
Priority date: 1985-01-14
Filing date: 1985-01-14
Publication date: 1988-09-16
Also published as: CS25185A1

Abstract

Zařízení se týká zjištování rovinnosti ploch, zejména dosedacích ploch jader transformátorů. Podstatou je, že je tvořeno první a druhou soustavou na tuhé podložce v jedné rovině uspořádaných, od sebe izolovaných kontaktních hrotů, přičemž každý kontaktní hrot první soustavy je spojen přes světloemitující diodu v nepropustném směru a s rii v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v nepropustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí, zatímco každý kontaktní hrot druhé soustavy je spojen přes světloemitující diodu v propustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v propustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí. Zařízení je s výhodou možno využít zejména při montáži přístrojů, používajících na sebe dosedající transformátorová jádra.The device relates to the determination of flatness surfaces, in particular the bearing surfaces of the transformer cores. The essence is that it is formed first and a second system on a solid support in one plane, separated from each other contact tips, each contacting the tip of the first set is connected through a light emitting a diode in the impermeable direction and with the rii in series connected protective resistor with first AC power supply terminal and over a directional diode in the impermeable direction with a second AC power terminal tension while each contact tip of the other the system is connected through light emitting in the forward direction and with it in series the protective resistor connected to the first terminal AC supply voltage and over forward direction rectifier diode with a second AC power terminal Tension. The device can advantageously be used especially when mounting devices using mutually abutting transformer cores.

Description

Vynález se. týká zařízení pro zjištování rovinnosti ploch, zejména dosedací cl· ploch jader transformátorů.The invention is. It relates to a device for detecting the flatness of surfaces, in particular the contact surfaces of transformer cores.

Zjištování, zda rovina, jejíž částí je jedna měřená plocha, je totožná s rovinou, jejíž částí je druhá měřená plocha, zejména jsou-li první a druhá měřená plocha od sebe prostorově vzdáleny, se podle dosavadního stavu techniky provádí pomocí třetí plochy, se kterou se první a druhá měřená plocha srovnají, načež se toto srovnání, vyhodnotí.Determining whether a plane of which one measurement surface is part is identical to a plane whose measurement part is a second measurement surface, especially if the first and second measurement surface are spatially spaced apart, according to the prior art, is carried out by means of a third surface with which the first and second measured surfaces are compared, and this comparison is evaluated.

Nevýhody dosavadního stavu techniky spočívají zejména ve zdlouhavosti měření a obtížnosti jeho použití pro sériovou výrobu. U některých součástí, jako jsou na příklad C jádra transformátorů nebo jádra palcových kleští k měření proudů, je stanovení třetí porovnávací roviny natolik obtížné, že se měření rovinnosti jejich dosedaoích ploch neprovádí. Takto může dojít k tomu, že se vzájemné posunutí jinak zcela rovných ploch, mající za následek vznik malé mezery mezi dosedacími plochami, zjistí až po konečné montáži. Takto nelze zabránit značné zmetkovitosti ve výrobě a případně zhoršení parametrů vyráběných přístrojů a zbytečnému nárůstu výrobních nákladů.The disadvantages of the prior art are, in particular, the lengthy measurement and the difficulty of using it for mass production. In some components, such as C transformer cores or current clamp cores, the determination of the third reference plane is so difficult that the flatness of their bearing surfaces is not measured. In this way, it may happen that the relative displacement of otherwise completely flat surfaces, resulting in a small gap between the bearing surfaces, is only detected after final assembly. In this way, it is not possible to prevent significant rejects in production and possibly deterioration of the parameters of the manufactured devices and unnecessary increase in production costs.

Uvedené nevýhody dosavadního stavu techniky do značné míry řeší zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu, jehož podstatou je, že je tvořeno první a druhou soustavou na tuhé podložce v jedné rovině uspořádaných, od sebe izolovaných kontaktních hrotů, přičemž každý kontaktní hrot první soustavy je spojen přes světloemitující diodu v nepropustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v nepropustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí, zatímco každý kontaktní hrot druhé soustavy je spojen přes světloemitující diodu v propustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor s první svorkou střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu v propustném směru s druhou svorkou střídavého napájecího napětí.The aforementioned disadvantages of the prior art are largely solved by the flatness detecting device according to the invention, which consists of a first and a second assembly on a rigid support arranged in one plane, spaced apart contact tips, each contact tip of the first assembly being connected through a light-emitting diode in a leak-proof direction and with a series resistor connected in series with a first AC terminal and through a rectifying diode in a leak-proof direction with a second AC-terminal while each contact of the second system is connected through and in a forward-leakage diode a series-connected protective resistor with a first AC supply terminal and a forward diode through a rectifier diode with a second AC supply terminal.

Výhodné přitom je, jestliže obě soustavy kontaktních hrotů jsou uspořádány na tuhé podložce v geometrickém obrazci shodném s geometrickým obrazcem uspořádání světlo emitujících diod, přičemž každá světloemitující dioda a s ní elektricky spojený kontaktní hrot zaujímají ve svých geometrických obrazcích shodné místo. Výhodné rovněž je, jestliže prvni a druhá soustava kontaktních hrotů sestává z devíti kontaktních hrotů, uspořádaných ve třech řadách po třech kontaktních hrotech.Preferably, the two contact tip assemblies are arranged on a solid support in a geometric pattern identical to the geometric pattern of the light emitting diode arrangement, wherein each light emitting diode and the electrically connected contact tip occupy the same place in their geometric figures. It is also preferred that the first and second set of contact tips consist of nine contact tips arranged in three rows of three contact tips each.

Výhody zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu spočívají zejména v tom, že umožňují rychlé a přesné zjištění, zda rovina, jejíž částí je jedna měřená plocha, je totožná s rovinou, jejíž částí je druhá měřená plocha, zvláště jsou-li první a druhá měřená plocha od sebe prostorově vzdáleny. Zařízení dále umožňuje porovnat dvě rovné plochy i tam, kde se porovnávání pro obtížnost stanovení třetí porovnávací roviny dosud neprovádělo, jako na příklad u C jader transformátorů nebo jader palcových kleští k měření proudů. Tím dochází ve výrobě ke značnému snížení zmetkovitosti, způsobenému vzájemným posuvem dvou či více měřených rovin, ke stabilizaci technických parametrů na vyšší úrovni a ke snížení výrobních nákladů.Advantages of the surface flatness detecting device according to the invention are, in particular, that they allow a quick and accurate determination of whether a plane of which one surface is part is identical to a plane of which the other surface is part, especially if the first and second surface are space spaced apart. Furthermore, the device makes it possible to compare two planar surfaces even where comparisons have not yet been made due to the difficulty of determining the third reference plane, such as, for example, C transformer cores or current clamp cores. This significantly reduces the reject rate in production due to the mutual displacement of two or more measured planes, stabilizes the technical parameters at a higher level and reduces production costs.

Vynález bude dále podrobněji popsán podle přiložených výkresů, kde na obr. 1 je znázorněno schéma elektrického zapojení příkladného provedení zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu, na obr. 2 je znázorněn půdorysný pohled na příkladné provedení tuhé podložky s vodivými hroty podle vynálezu, na obr. 3 je znázorněno příkladné provedení vyhodnocovacího tabla podle vynálezu.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention will now be described in more detail with reference to the accompanying drawings, in which: Figure 1 shows an electrical circuit diagram of an exemplary flatness detector according to the invention; Figure 2 shows a plan view of an exemplary conductive prong pad; Fig. 3 shows an exemplary embodiment of an evaluation panel according to the invention.

Na obr. 1 je znázorněno schéma elektrického zapojeni příkladného provedení zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu. Zapojení je tvořeno první soustavou 2 a druhou soustavou 2 ^θά sebe izolovaných kontaktních hrotů 2· Každý kontaktní hrot 2 první soustavy 2 je spojen přes světloemitující diodu 4_ v nepropustném směru a s ní v sérii zapojený ochranný odpor 2 ^s první svorkou 2 střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu 2 v nepropustném směru s druhou svorkou 2 střídavého napájecího napětí. Každý kontaktní hrot 2 druh·’ soustavy 2 j^e spojen přes. světloemitující diodu £ v propustném směru a s ní v sérii říipojený ochranný odpor 2 ^s první svorkou 6 střídavého napájecího napětí a přes usměrňovači diodu 7_ v propustném směru s druhou svorkou 2 střídavého napájecího napětí.FIG. 1 shows a circuit diagram of an exemplary embodiment of a surface flatness detecting device according to the invention. The wiring consists of a first set 2 and a second set 2 ^θ ά of the insulated contact tips 2. Each contact 2 of the first set 2 is connected via a light-emitting diode 4 in a leak-proof direction and a protective resistor 2 connected in series ^{with the} first terminal 2 of AC. through a rectifier diode 2 in an impermeable direction with a second terminal 2 of the AC supply voltage. Any kind of contact tip 2 · 'system 2 ^e j connected through. a light-emitting diode 6 in the forward direction and a protective resistor 2 ^connected in series ^{with the} first AC terminal 6 and through the rectifying diode 7 in the forward direction with the second AC terminal 2.

Fa obi . ? je znázorněn půdorysný pohled na příkladné provedení tuhé podložky 2 s kontaktními hroty 3 podle vynálezu. Tuhá podložka 2 je vytvořeno z materiálu, který při změnách teploty nebo £ čarem nemění svůj tvar ani objem. Na tuhé podložce 9_ jsou pevně uloženy první soustava 2 a druhá soustava 2 kontaktních hrotů 2 tak, aby všechny vrcholy kontaktních hrotů 2 prvíí soustavy 2 i druhé soustavy 2 ležely v téže rovině. K tuhé podložce 9 je dále připevněn první konektor 10.Fa obi. ? a plan view of an exemplary embodiment of a rigid pad 2 with contact tips 3 according to the invention is shown. The rigid washer 2 is made of a material that does not change its shape or volume when temperature or line changes. The first assembly 2 and the second assembly 2 of the contact tips 2 are fixedly mounted on the rigid support 9 so that all the peaks of the contact tips 2 of the first assembly 2 and the second assembly 2 lie in the same plane. Further, a first connector 10 is attached to the rigid support 9.

Na obr. 3 je znázorněno příkladné provedení vyhodnocovacího tabla 11 podle vynálezu. Vyhodnocovací tablo 11 je v příkladném provedení tvořeno rámem 22' ^{v η}θ^π'ζ jsou uspořádány světloemitu jící diody 4 tak, aby’ poloha každé jednotlivé světloemitu j ící diody 4_ odpovídala poloze s ní elektricky spojeného kontaktního hrotu 2 ^v první soustavě 2 či druhé soustavě 2 kontaktních hrotů 2 na tuhé podložce 9. Takto první, druhé a třetí řadě kontaktních hrotů 2 na tuhé podložce 9_ odpovídají postupně první, druhá a třetí řada světloemitujících diod 2 na vyhodnocovacím tablu 22· ^K rámu 12 je dále připojen druhý konektor 12· První konektor a druhý konektor 13 jsou pak propojeny neznázorněným propojovacím kabelem.FIG. 3 shows an exemplary embodiment of the evaluation board 11 according to the invention. The evaluation board 11 in the exemplary embodiment consists of a frame 22 ' ^{in which η} θ ^π ' ány light emitting diodes 4 are arranged so that the position of each individual light emitting diode 4 corresponds to the position of the electrically connected contact tip 2 ^{in the} first assembly 2 or second system two contact tips 2 on the rigid frame 9. In this manner the first, second and third row of contact pins 2 on the rigid frame 9 correspond to the first, second and third series of light emitting diodes 2 on the evaluating tableau 22 · ^the frame 12 is further connected to the second connector 12 · The first connector and the second connector 13 are then connected by a connection cable (not shown).

Je zřejmé, že pro jednoúčelové operace může být výhodné uspořádat vyhodnocovací tablo v jednom kuse s tuhou podložkou 2· V tomto případě je možné propojit světloemitující diody 2 vyhodnocovacího tabla 11 s kontaktními hroty 2 ^a dalšími elektronickými součástkami bez prvního a druhého konektoru 10 a 13.Obviously, for single-purpose operations, it may be advantageous to arrange the evaluation board in one piece with the rigid pad 2. In this case, it is possible to connect the light-emitting diodes 2 of the evaluation board 11 to the contact tips 2 ^and other electronic components without the first and second connectors 10 and 13.

Další elektronické součásti, to je ochranné odpory 5, usměrňovači diody 7_, první svorkou 2 střídavého napájecího napětí a druhou svorku 2 střídavého napájecího napětí, je možno s výhodou uspořádat uvnitř tuhé podložky 9_ nebo uvnitř rámu 12.Other electronic components, i.e. protective resistors 5, rectifier diodes 7, a first AC power terminal 2 and a second AC power terminal 2, can preferably be arranged inside the rigid pad 9 or within the frame 12.

V činnosti zařízení pro zjištování rovinnosti ploch podle vynálezu se mezi první svorkou 2 a druhou svorkou 2 přivede střídavé napájecí napětí. Pokud jsou k první a druhé soustavě a 2 kontaktních hrotů 2 přiloženy měřené plochy, dochází při dotyku alespoň jednoho kontaktní ho hrotu 2 první soustavy 2 a alespoň jednoho kontaktního hrotu 2 druhé soustavy 2 ^s měřenou plochou k vodivému propojení těchto kontaktních hrotů 2 přes měřenou plochu. V kladné půlperiodě napájecího napětí teče proud z první svorky střídavého napájecího napětí přes ochranný odpor 2» ^s spojenou světloemitující diodu 2» ^s ní spojený kontaktní hrot 2 první soustavy 1_, měřenou plodit, kontaktní hrot 2 druhé soustavy 2, s ním spojenou usměrňovači diodu 2 ke druhé svorce 2 střídavého napájecího napětí.In operation of the surface flatness detector according to the invention, an alternating supply voltage is applied between the first terminal 2 and the second terminal 2. If at least one contact tip 2 of the first set 2 and at least one contact tip 2 of the second set 2 ^{with the} measured surface are contacted with the first and second set 2 of the contact tips 2, the contact tips 2 are conductively connected over the measured surface . In the positive half period of the supply voltage, current flows from the first terminal of the AC supply voltage via a protective resistor 2 ^{»with the} associated light emitting diode 2» ^with its associated contact point 2 of the first set 1_ measured spawn, the contact point 2 of the second system 2, with the associated rectifying diode 2 to the other terminal 2 of the AC supply voltage.

V záporné půlperiodě napájecího napětí teče proud z druhé svorky 2 napájecího napětí přes usměrňovači diodu 7_, s ní spojený kontaktní hrot 2 první soustavy 2» měřenou plochu, kontaktní hrot 2 druhé soustavy 2» ^s ním spojenou světloemitující diodu 4_, s ní spojený ochranný odpor 2 k první svorce 2 střídavého napájecího napětí. Takto se v kladné půlperiodě napájecího napětí rozsvěcují světloemitující diody 2 první soustavy 2' zatímco v záporné půlperiodě napájecího napěti se rozsvěcují světloemitující diody 2 druhé soustavy 2.In the negative half cycles of the supply voltage current flows from the second terminal 2 of the supply voltage through a rectifying diode 7, with its associated contact point 2 of the first set 2 »measured area, the contact point 2 of the second system 2» ^with the associated light emitting diode 4, its associated protective resistance 2 to the first terminal 2 of the AC supply voltage. Thus, in the positive half-period of the supply voltage, the light-emitting diodes 2 of the first system 2 'light up, while in the negative half-period of the supply voltage, the light-emitting diodes 2 of the second system 2 light up.

Při obvyklém kmitočtu 50 Hz lidské oko kratičké zhasínání světloemitujících diod 2 nevnímá a při dotyku kontaktního hrotu 2 ^a měřené plochy vzniká za předpokladu, že se měřené plochy dotýká vždy alespoň jeden kontaktní hrot 2 každé soustavy 2» dojem trvalého rozsvíceni světloemitujících diod 2» spojených s těmi kontaktními hroty 2» které jsou v dotyku s měřenou plochou. Přitom jeden kontaktní hrot 2 jedné ze soustav 1, 2 umožní uzavření elektric kého obvodu pro každou světloemitující diodu 2 druhé ze soustav 2» 1' pokud se s ní spojený kontaktní hrot 3 dotýká měřené plochy. Styk kontaktního hrotu 2 s měřenou plochou je tedy indikován rozsvícením s ním spojené světloemitující diody 2' takže každá nerovnoběžnost měřených ploch je zřejmá z toho, že se příslušná světloemitující dioda 2 nerozsvítí.* Souhlasné rozmístění kontaktních hrotu _3. ti a tuhé podložce j) o s ninti spojených světloemitujících diod £ na vyhodnocovacím tablu 11 přitom umožní snadno určit charakter nerovnosti měřené plochy.At the usual frequency of 50 Hz, the human eye does not perceive brief extinguishing of the light emitting diodes 2, and when the contact tip 2 ^{and the} measurement surface touch each other, at least one contact tip 2 of each assembly 2 is »touching the measurement surface. those contact tips 2 which are in contact with the surface to be measured. In this case, one contact tip 2 of one of the assemblies 1, 2 allows the electric circuit to be closed for each light emitting diode 2 of the other of the assemblies 2, 1 'when the contact tip 3 connected to it touches the surface to be measured. Contact of the contact tip 2 with the measured surface is thus indicated by the illumination of the associated light emitting diode 2 ', so that any non-parallelism of the measured surfaces is apparent from the fact that the respective light emitting diode 2 does not light up. The light-emitting diodes 4 and the solid support j) of the ninti-connected light emitting diodes 6 on the evaluation board 11 make it possible to easily determine the nature of the unevenness of the measured area.

Vynález je s výhodou možno využít při zjištování rcvinnosti ploch, zejména při montáži přístrojů, používajících na sebe dosedající transformátorová jádra, například C jádra nebo jádra palcových kleští k měření proudů.The invention can be advantageously used for detecting the surface curvature, in particular for the assembly of apparatuses using transformer cores, for example C cores or inch clamp cores, for measuring currents.

Claims

THE FIELD OF THE INVENTION

An apparatus for detecting the flatness of surfaces, in particular the bearing surfaces of transformer cores, characterized in that it consists of first and second assemblies (1 and 2) on a rigid support (9) arranged in one plane, spaced apart contact tips (3), wherein each contact tip (3) of the first assembly (1) is connected via a light-emitting diode (4) in an insoluble direction and a protective resistor (5) connected in series with a first terminal (6) of AC supply voltage and a rectifier diode (7) a leakage direction with the second terminal (8) of the AC supply voltage, while each contact tip (3) of the second system (2) is connected via a light-emitting diode (4) in the forward direction and a protective resistor (5) connected in series with the first terminal (6) ) of the AC supply voltage and through the rectifier diode (7) in the forward direction with the second AC supply terminal (8).

Device according to claim 1, characterized in that the two systems (1 and 2) of the contact tips (3) are arranged on a rigid support (9) in a geometric pattern identical to the geometric pattern of the light emitting diodes (4), each diode emitting diode. (4) and the electrically connected contact tip (3) occupy the same place in their geometric figures.

Device according to claim 1 or 2, characterized in that the first and second sets (1 and 2) of the contact tips (3) consist of nine contact tips (3) arranged in three rows of three contact tips (3).