CS256711B1 - Optoelectronic infrared sensing element for measuring of nominal size's deviations and surface roughness - Google Patents
Optoelectronic infrared sensing element for measuring of nominal size's deviations and surface roughness Download PDFInfo
- Publication number
- CS256711B1 CS256711B1 CS855226A CS522685A CS256711B1 CS 256711 B1 CS256711 B1 CS 256711B1 CS 855226 A CS855226 A CS 855226A CS 522685 A CS522685 A CS 522685A CS 256711 B1 CS256711 B1 CS 256711B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- sensor
- roughness
- measuring
- optoelectronic
- infrared
- Prior art date
Links
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims abstract description 11
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 title claims description 16
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000004439 roughness measurement Methods 0.000 claims abstract description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims description 2
- 241000251468 Actinopterygii Species 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 241000997494 Oneirodidae Species 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- BQJCRHHNABKAKU-KBQPJGBKSA-N morphine Chemical compound O([C@H]1[C@H](C=C[C@H]23)O)C4=C5[C@@]12CCN(C)[C@@H]3CC5=CC=C4O BQJCRHHNABKAKU-KBQPJGBKSA-N 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
256711
Vynález sa týká zariadenia pře súčasnémeranie odchýlok menovítých rozmerov adrsnosti povrchu v automatické]' kontrolepřesnosti obrábania rotačných súčiastok načíslicovo a programovo riadených strojoch.
Pri trieskovom obrábaní rotačných súčias-tok v automatizovaných výrobných systé-moch je problematické počas automatické-ho cyklu rýchlo a spoiahlivo definovat od-chýlku menovitého rozměru a drsnostpovrchu. Problematika spočívá v nájdení spó-sobu merania, ktorý by bol schopný bez-prostředné pri vlastnom reznom procese a-lebo po jeho skončení v pracovnom priesto- re stroja, súčasne merať odchýlky meno-vitého rozměru a drsnosti povrchu a zabez-pečit prípadnú korekciu pre dosiahnutíepožadovanéj hodnoty. Doteraz vo svete známesnímače sa používajú len na meranie odchý-lok menovítých rozmerov.
Optoelektronický infračervený snímač pó-dia vynálezu, rieši uvedená problematikyaktívnej kontroly pri trieskovom obrábanírotačných súčiastok. Podstata vynálezu spo-čívá v tom, že k držiaku nástrojov je mati-cou uchytené základné teleso snímača, vktorom sú umiestnené zdroje infračervené-ho žiiarenia. K základnému telesu snímačaje upevněný vyhodnocovací fotodetektor, u-miestnený v puzdre, ktoré je uchytené v ty-čovom segmente, ktorý je v kontakte s di-ferenciálnou skrutkou a spojený s vodiacoutyčkou, ktorá je posuvné uložená v drážkezákladného telesa snímača a telesa. Vymě-nitelné teleso, v ktorom je umiestnená sú-stava šošoviek, je upevněné v přírubě, kto-ré je připevněná k základnému telesu sní-mača. K základnému telesu snímača je tiežpřipojené teleso, v ktorom je uložená sústa-va vyhodnocovacích fotodiód, šošovka a fli-ter. Rektifikačnými skrutkami a tlačnýmipružinami je k základnému telesu snímačauchytené přírubové teleso, v ktorom sú u-miestnené a upevněné optické odrazné hra-noly.
Podlá dalšieho prevedenia snímača súzdroje infračerveného žiarenia uložené vpuzdrách, ktoré sú spojené s telesami, kdesú umiestnené šošovky, pričom telesá súupevněné v základném telese snímača-
Uvedené zariadenie pódia vynálezu opro-ti súčasnému stavu techniky umožňuje sú-časne merať rozměrové změny a drsnosťpovrchu priamo v priebehu režného proce-su alebo po jeho skončení a súčasne usku-točňovať analýzu hodnotených parametrova s nadváznosťou riadiaceho systému obrá-bacieho stroja uskutočňovať příslušné ko-rekcie pre dosiahnutíe požadovanej hodno-ty. Příklad konštrukčného riešenia snímačapódia vynálezu je znázorněný na jednotli-vých výkresoch.
Na obr. 1 je znázorněný pohiad na cel-ková zostavu optoelektronického infračer-veného snímača.
Na obr. 2 je priečný rez C—C z obr. 1, zo- brazujňci snímaciu časť na meranie odchý-lok rozmerov.
Na obr. 3 je priečny rez A—A z obr. 1 aspolu s obr. 4, kde je rez B—B z obr. 3, zo-brazujú snímaciu časť na meranie drsnostipovrchu. Pódia obr. 1 je v základnom telese sní-mača 1 umiestnená snímacia časť na me-ranie odchýlok menovitých rozmerov 2 asnímacia časť na meranie drsnosti povrchu 3. Základné teleso snímača 1 je spojené sprednou časťou 4 držiaka nástrojov 5 s ku-želovou stopkou, prostredníctvom matice B. Pódia obr. 2 v základnom telese snímača 1 je uchytené teleso 8, v ktorom je umiest-nená Šošovka 10. Teleso 8 je spojené s puz-drom 7, v. ktorom je umiestnený zdroj infra-červeného žiarenia 9. Vyhodnocovací foto-detektor 11 a šošovka 19 sú umiestnené vpuzdre 12. Puzdro 12 je uchytené v tyčovomsegmente 13, skrutkou 20, ktorého rektífi-káciu pre nastavenie uhlu odrazu, zabezpe-čuje diferenciálna skrutka 14 a skrutka 15.Vodiaca tyčka 18 je spojená s tyčovým seg-mentem 13 a posuvné uložená v rybinovitejdrážke základného telesa snímača 1 a tele-sa 17. Skrutka 18 ovládajúca vodiacu tyčku18 a je umiestnená v telese 17. Pódia obr. 3 a 4 v základnom telese sní-mača 1 je umiestnené teleso 8 s puzdrom7 pri tom istom zložení a tým istým spňso-bom, ako pri popise obr. 2. Optické odraz-né hranoly 21 s polopriepustnou vrstvou súuchytené v prírubovom telese 22 a sú za-istené podložkami a skrutkami 23. Přírubo-vé teleso 22 je uchytené pomocou dvochrektifikačných skrutiek 24 a tlačných pru-žin 25. Sústava šošoviek 26, 27 je umiestne-ná vo vymeniteinom telese 28 a zaistenákrúžkom 29. Vyměnitelné teleso 28 je pri-skrutkované v prírube 30. Příruba 30 dosa-dá na opěrná plochu základného telese sní-mača 1 a je v ňom presne uložená. Lineár-na sústava vyhodnocovacích fotodiód 31 jeumiestnená v telese 32, kde sa nachádzašošovka 34, filter 33 a sú zaistené podložka-mi a skrutkami 35, 36. V základnom telese snímača 1 je připev-něné puzdro 37, v ktorom je umiestnená fo-todióda 38. Fotodióda 38 a jej uchytenie od-padá, ked zdrojom žiarenia je laser.
Funkcia snímača spočívá v meraní odchý-lok rozmerov a drsnosti povrchu a je nasle-dovná:
Meranie rozmerovej odchýlky pódia obr. 2 je založené na zákone lomu a odrazu svět-la, ktorý závisí od rozměru súčiastky. Zdro-jom infračerveného žiarenia 9 je napr. lu-miniscenčná dioda, ktorá je umiestnená vovoliteinej vzdialenosti pod osou obrobku.Volbou vzdialenosti sa zváčšuje alebo zmen-šuje rozsah merania. Povrch obrobku odrá-ža dopadajúci lúč na vyhodnocovací foto-detektor 11, ktorého poloha zodpovedá da-nému uhlu odrazu. Před uvedením do čin-nosti je potřebné nastaviť vyhodnocovací
Claims (3)
1. Optoelektronický infračervený snímačna meranie odchýlok menovitých rozmerova drsnosti povrchu, vyznačujúci sa tým, žezosíáva z držiaku nástrojov (5), ku které-mu je maíicou (6) uchytené základné těle-so snímača (1), v ktorom sú umiestnenézdroje infračerveného žiarenia (9, 39) a u-pevnený vyhodnocovací fotodetektor (11),umiestnený v puzdre (12), ktoré je uchy-tené v tyčovom segmente (13), ktorý je vkontakte s diferenciálnou skrutkou (14) aspojený s vodiacou tyčkou (16), ktorá je po-suvné uložená v drážke základného telesasnímača (1) a telesa (17), pričom vyměni-telné teleso (28), v ktorom je umiestnenásústava šošoviek (26, 27), je upevněné vpřírubě (30), ktorá je připevněná k základ- VYNALEZU nému telesu snímača (1), ku ktorému je při-pojené teleso (32), v ktorom je uložená sú-stava vyhodnocovacích fotodiód (31) a šo-šovka (34), mezi nimiž je uložen filter (33)a rektifikačnými skrutkami (24) s tlačnýmipružinami (25) je k základnému telesu sní-mača (1) uchytené přírubové teleso (22),v ktorom sú upevněné optické odrazné hra-noly (21).
2. Optoelektronický infračervený snímačpodlá bodu 1, vyznačujúci sa tým, že zdrojeinfračerveného žiarenia (9, 39) sú uloženév. puzdrách (7), ktoré sú spojené s telesa-mi (8), kde sú umiestnené šošovky (10),pričom telesá (8) sú upevněné v základnomtelese snímača (1).
3 listy výkresov·
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS855226A CS256711B1 (en) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | Optoelectronic infrared sensing element for measuring of nominal size's deviations and surface roughness |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS855226A CS256711B1 (en) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | Optoelectronic infrared sensing element for measuring of nominal size's deviations and surface roughness |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS522685A1 CS522685A1 (en) | 1987-09-17 |
CS256711B1 true CS256711B1 (en) | 1988-04-15 |
Family
ID=5396743
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS855226A CS256711B1 (en) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | Optoelectronic infrared sensing element for measuring of nominal size's deviations and surface roughness |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CS (1) | CS256711B1 (cs) |
-
1985
- 1985-07-15 CS CS855226A patent/CS256711B1/cs unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CS522685A1 (en) | 1987-09-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3037622C2 (de) | Einrichtung zur Bestimmung der Oberflächengüte | |
US7796278B2 (en) | Method for precisely measuring position of a part to be inspected at a part inspection station | |
US7920278B2 (en) | Non-contact method and system for inspecting parts | |
US4564765A (en) | Optoelectronic method and apparatus for measuring the bending angle of materials | |
US4275964A (en) | Apparatus and method for determining the refractive characteristics of a test lens | |
US20090103107A1 (en) | Method And System For Inspecting Parts Utilizing Triangulation | |
US20090100901A1 (en) | Calibration device for use in an optical part measuring system | |
EP0992763A2 (en) | Method and associated apparatus for measuring shape deviations of machined surfaced | |
US20090101851A1 (en) | Method for estimating thread parameters of a part | |
JPH0786407B2 (ja) | 光ファイバ移動量測定装置 | |
KR830001843B1 (ko) | 전기 광학식 중심선 측정장치 | |
US4763006A (en) | Device determining surface element inclination angle for the optical detection of form errors of a low order | |
EP0240113B1 (en) | Position sensor | |
DE3410149A1 (de) | Optisches messgeraet | |
US5124563A (en) | Optical scanning method and device for measuring the width of lines | |
DE4229313A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Abstandsmessung von Oberflächen | |
CS256711B1 (en) | Optoelectronic infrared sensing element for measuring of nominal size's deviations and surface roughness | |
KR100420373B1 (ko) | 공작물표면의 주기성 파형들을 감지하기 위한 방법 및 장치 | |
US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
DE3940518C2 (de) | Vorrichtung zur Belichtungsregelung für einen Lichtschnittsensor | |
SU1377674A1 (ru) | Устройство дл контрол износа режущего инструмента | |
RU2712962C1 (ru) | Контактный датчик положения | |
SU1735710A1 (ru) | Способ измерени размеров издели | |
SU1717956A1 (ru) | Устройство дл измерени углов внутренних конических поверхностей детали | |
SU1219917A1 (ru) | Способ контрол формы вогнутых оптических поверхностей |