CS255745B1 - Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu - Google Patents

Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu Download PDF

Info

Publication number
CS255745B1
CS255745B1 CS866860A CS686086A CS255745B1 CS 255745 B1 CS255745 B1 CS 255745B1 CS 866860 A CS866860 A CS 866860A CS 686086 A CS686086 A CS 686086A CS 255745 B1 CS255745 B1 CS 255745B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
input
output
circuit
inputs
measurement
Prior art date
Application number
CS866860A
Other languages
English (en)
Other versions
CS686086A1 (en
Inventor
Michael Rychnovsky
Original Assignee
Michael Rychnovsky
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Michael Rychnovsky filed Critical Michael Rychnovsky
Priority to CS866860A priority Critical patent/CS255745B1/cs
Publication of CS686086A1 publication Critical patent/CS686086A1/cs
Publication of CS255745B1 publication Critical patent/CS255745B1/cs

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

Řešení se týká zapojení pro automatické -vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu. Podstatou zapojení je, že je tvořeno dekodérem, k jehož vstupům jsou jednotlivě připojeny komparátory, jejichž první vstupy jsou spojeny s jednotlivými zdroji referenčního napětí a jejichž druhé vstupy jsou spojeny s výstupem rozdílového zesilovače, jehož vstupy^jsou spojeny se vstupy obvodu měření rozměrů a s výstupy potenciometrů měřicích značek. Zapojení je možno použít u elektronových mikroskopů, vybavených pro přímé měření rozměrů pozorovaných objektů.

Description

Vynález se týká zapojení pro automatická vyhodnocení přesnosti máření elektronového mikroskopu*
Měřicí elektronové mikroskopy, vybavené pro přímé měření rozměrů pozorovaných objektů, zobrazují na pozo— rovací obrazovce dvě měřicí značky* Pomocí dvou potencioknetrů lze značkami navzájem nezávisle pohybovat ve vodorovném směru. Při měření se značky nastaví tak, aby přesně ohraničily měřený objekt zleva a zpmra, vlastní měření provádí plně automaticky obvod měřeni rozměrů*. Přesnost měření závisí na řadě faktorů, z nichž největší vliv má vzdálenost mezi měřicími značkami* Obecně platí, že přídavná chyba měření je nepřímo úměrná vzdálenosti mezi značkami. Další podstatný vliv na chybu měření má zkreslení obrazu, které vzrůstá s klesajícím zvětšením, zejména při rychlém, tak zvaném televizním rastrování. Měřicí elektronové mikroskopy jsou používány v širokém rozsahu aplikací, od rychlých orientačních měření bez zvláštních nároků na přesnost, kdy se měří při rychlém rastrováni s malou vzdáleností mezi značkami, až po přesná měření, kdy se pro dosažení maximální přesnosti měří při pomalém rastro vání a vzdálenost mezi značkami se volí co největší. Proto 'jsou měřicí elektronové mikroskopy vybaveny možnostmi měřit v širokém rozsahu rychlostí rastrování a vzdálenost mezi měřicími značkami lze nastavovat od jednotek do desítek milimetrů. Specifikace přesnosti měření v celém
rozsahu aplikací je značně obtížná. 3
U dosavadních měřicích elektronových mikroskopů lze přesnost měření zjistit pouze z návodu k obsluze. Obvykle bývá uvedena pouze přesnost měření při pomalém rastrování a pro jedinou vzdálenost mezi měřicími značkami. Pro jiné podmínky měření nebývá přesnost uváděna.
Když obsluha přístroje omylem zvolí rychlé televizní rastro vání nebo nastaví malou vzdálenost mezi měřicími značkami, chyba měření podstatně vzroste, aniž to obsluha zjistí. To v praxi vede často k znehodnocení celé řady měření a zejména při nasazení přístroje v technologickém procesu to může způsobit značné škody. Proto je u některých přístrojů rozděleno ovládání měřicích značek do dvou rozsahů. Při zvolení vyššího rozsahu nelze vzdálenost mezi značkami zmenšit pod hranici, při které se začíná nepříznivě uplatňovat přídavná chyba měření. Toto řešení však neumožňuje pohyb obou měřicích značek po celé obrazovce, což velmi zpomaluje měření.
Uvedené nevýhody dosavadního stavu do značné míry odstraňuje zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu, jehož podstatou je, že je tvořeno dekodérem, jehož výstup je spojen se vstupem indikátoru a k jehož prvnímu až N—tému vstupu, kde N je přirozené číslo, jsou jednotlivě připojeny výstupy prvního až N-tého komparátoru, přičemž první vstup každého
255 745 n-tého komparátorů, kde n je přirozené číslo v rozmezí od 1 do N, je spojen s výstupem n-tého zdroje referenčního napětí, zatímco druhé vstupy každého n—tého komparátoru jsou připojeny k výstupu rozdílového zesilovače, spojeného svým prvním vstupem s výstupem potenciometru první měřicí značky a s prvním vstupem obvodu měřeni rozměrů a svým druhým vstupem s výstupem potenciometru druhé měřicí značky a s druhým vstupem obvodu měření rozměrů.
Výhodné přitom je, jestliže dekodér je svým N + prvním vstupem spojen s výstupem obvodu volby rastrování, a/nebo jestliže dekodér je svým N + druhým vstupem spojen s výstupem obvodu řízení a vyhodnocení zvětšení.
Hlavní výhodou zapojení podle vynálezu je možnost automatického vyhodnocení velikosti chyby měření v závislosti na zvolených podmínkách měření, což prakticky vylučuje chybná měření, způsobená omylem obsluhy* Jinou výhodou zapojení podle vynálezu je, že odstraňuje nutnost rozdělení ovládání značek do dvou rozsahů a tím umožňuje použít spojité ovládání obou značek po celé ploše obrazovky. Další výhodou je pak jednoduchost zapojení.
Vynález bude dále podrobněji popsán podle přiloženého výkresu, na kterém je znázorněno blokové schéma příkladného zapojení podle vynálezu.
Na tomto schématu je znázorněn dekodér 1 s N + 2 vstupy, kde N je přirozené číslo* K výstupu dekodéru 1
255 745 je připojen vstup indikátoru 2. Ke každému n-ternu vstupu dekodéru 1, kde n je přirozené číslo v rozmezí od 1 do N, je připojen výstup n-tého komparátoru 3n. K prvnímu vstupu každého n-tého komparátoru 3n je připojen výstup n-tého zdroje 4n referenčního napěti, zatímco druhé vstupy prvního až N-tého komparátoru 31 až 3N jsou všechny při pojeny k výstupu rozdílového zesilovače £. Rozdílový zesilovač £ j© spojen svým pivním vstupem s výstupem potenciometru 6 první měřicí značky a s prvním vstupem obvodu 2 měření rozměrů a svým druhým vstupem s výstupem potencidmetru 8 druhé měřicí značky a s druhým vstupem obvodu 2 měření rozměrů. Dekodér 1 je dále spojen svým N + prvním vstupem s výstupem obvodu £ volby rastrování a svým N + druhým vstupem s výstupem obvodu 10 řízení a vyhodnocení zvětšení .
Zapojení podle vynálezu pracuje takto :
Obvod 2 měření rozměrů zobrazuje na pozorovací obrazovce mčřH cí elektronového mikroskopu dvě navzájem nezávislé značky. Polohy měřicích značek na obrazovce jsou určeny stejnosměr nými napětími z potenciometru 6 první měřicí značky a z potenciometru 8 druhé měřicí značky. Obě napětí přicházejí na vstupy rozdílového zesilovače £. Na výstupu rozdílového zesilovače £ je stejnoměrné napětí, které je přímo úměrné vzdálenosti mezi měřicími značkami na obrazovce. Toto napětí je přiváděno na druhé vstupy
255 745 prvního až N—tého komparátoru 31 až 3N, kde je porovnáváno s odstupňovanou řadou referenčních napětí, přicházejících z prvního až N—tého zdroje 4l až 4N referenčního napětí prvními vstupy. Na výstupech prvního až N-tého komparátoru 31 až 3N je logická informace o velikosti vzdálenosti mezi měřicími značkami na obrazovce. Tato informace přichází na vstupy dekodéru 1_, který ji vyhodnocuje spolu S informací o rychlosti rastrování z obvodu 2 volby rastrování a spolu s informací o velikosti zvětšení z obvodu 10 řízení a vyhodnocení zvětšení. Na výstupu dekodéru 1 je logická informace o velikos ti chyby měření, Tuto informaci zobrazuje indikátor 2.
Počet N komparátorů 31 až 3N určuje přesnost vyhodnocení chyby měření. V nejjednodušším případě postačí jediný komparátor 31» přičemž dekodér 1_ lze realizovat například součtovým obvodem.
Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu nalezne uplatnění u měřicích elektronových mikroskopů, vybavených pro přímé měření rozměrů pozorovaných objektů.

Claims (3)

  1. pSedmžt vynXlezu
    255 745
    1. Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu, vyznačující se tím, že je tvořeno dekodérem (l), jehož výstup je spojen se vstupem indikátoru (2) a k jehož prvnímu až N - tému vstupu, kde N je přirozené číslo, jsou jednotlivě připojeny výstupy prvního až N-tého komparátoru (31 až 3N), přičemž první vstup každého n—tého komparátoru (3n), kde n je přirozené číslo v rozmezí od 1 do N, je spojen s výstupem n-tého zdroje (4n) referenčního napětí, zatímco druhé vstupy každého n-tého komparátoru (3n) jsou připojeny k výstupu rozdílového zesilovače (5)» spojeného svým prvním vstupem s výstupem potenciometru (6) první měřicí značky a s prvním vstupem obvodu (7) měření rozměrů a svým druhým vstupem s výstupem potenciometru (8) druhé měřicí značky a s druhým vstupem obvodu (7) měření rozměrů,
  2. 2. Zapojení podle bodu 1, vyznačující se tím, že dekodér (l) je svým N + prvním vstupem spojen s výstupem obvodu (9) volby rastrování.
  3. 3. Zapojení podle bodů 1 a 2, vyznačující se tím, že dekodér (l) je svým N + druhým vstupem spojen s výstupem obvodu (lO) řízení a vyhodnocení zvětšení.
CS866860A 1986-09-24 1986-09-24 Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu CS255745B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS866860A CS255745B1 (cs) 1986-09-24 1986-09-24 Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS866860A CS255745B1 (cs) 1986-09-24 1986-09-24 Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS686086A1 CS686086A1 (en) 1987-07-16
CS255745B1 true CS255745B1 (cs) 1988-03-15

Family

ID=5416591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS866860A CS255745B1 (cs) 1986-09-24 1986-09-24 Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS255745B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS686086A1 (en) 1987-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8304722B2 (en) Charged particle beam equipment and charged particle microscopy
KR850700273A (ko) 정밀 주사형 전자 현미경 측정을 위한 방법 및 장치
JP4464857B2 (ja) 荷電粒子線装置
CN1166091C (zh) 具有时标变焦特性的电信时标测试能力的测试和测量仪器
JPS61217704A (ja) 線幅測定装置
US3782834A (en) Method of correcting photoelectric microscopes
US5448173A (en) Triple-probe plasma measuring apparatus for correcting space potential errors
US5182454A (en) Scanning electron microscope
US4459109A (en) Kinesiograph sensor array alignment system
CS255745B1 (cs) Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu
US4233510A (en) Scanning electron microscope
GB2175394A (en) Measuring dimensions of small objects
Miyoshi et al. A precise and automatic very large scale integrated circuit pattern linewidth measurement method using a scanning electron microscope
Mingard et al. Recent developments in two fundamental aspects of electron backscatter diffraction
US3390327A (en) Calibration device for electrical instruemnts having an error percentage indicator
Gard The use of the stereoscopic tilt device of the electron microscope in unit-cell determinations
US4404856A (en) Strain measuring device
JP2564359B2 (ja) パタ−ン検査方法及びパタ−ン測長方法並びに検査装置
JPS595907A (ja) 走査形電子顕微鏡
GB2116724A (en) Microscope for measuring and displaying dimensions electrically
JPS63200450A (ja) 荷電ビ−ムの自動制御装置
CS254392B1 (cs) Zapojení pro vyloučení chybných výsledků méření
GB2127550A (en) Tilt-independent tensioned wire straight edge
US3307103A (en) Device for measuring and indicating the frequency dependent characteristics of circuit elements by means of a cro
CS238098B1 (cs) Zapojení pro automatické vyhodnocení rozměrů mikroskopických objektů