CS246305B1 - Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin - Google Patents

Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin Download PDF

Info

Publication number
CS246305B1
CS246305B1 CS847889A CS788984A CS246305B1 CS 246305 B1 CS246305 B1 CS 246305B1 CS 847889 A CS847889 A CS 847889A CS 788984 A CS788984 A CS 788984A CS 246305 B1 CS246305 B1 CS 246305B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
semiconductor materials
sensors
physical
component semiconductor
extruded
Prior art date
Application number
CS847889A
Other languages
English (en)
Slovak (sk)
Other versions
CS788984A1 (en
Inventor
Jan Cervenak
Pavol Duhaj
Original Assignee
Jan Cervenak
Pavol Duhaj
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jan Cervenak, Pavol Duhaj filed Critical Jan Cervenak
Priority to CS847889A priority Critical patent/CS246305B1/cs
Publication of CS788984A1 publication Critical patent/CS788984A1/cs
Publication of CS246305B1 publication Critical patent/CS246305B1/cs

Links

Landscapes

  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

2 4 6 3 O S
Vynález sa týká s-posobu výroby viackom-ponentných polovodičových materiálov ty-pu A" BVI, A111 Bv a dalších vhodných pře ichpoužitie ako senzorov fyzikálnych a che-mických veličin.
Doteraz sa vo funkcii polovodičových sen-zorov fyzikálnych a chemických veličin da-jú použit prakticky všetky elektronické prv-ky, ako sú diody, tranzistory, odpory, kon-denzátory, varaktory, termistory, integrova-né obvody a pod. Ich charakteristickou čr-tou je, že sú připravované z polovodičovýchmonokryštálov, ako východiskových mate-riálov a v případe ich přípravy vo formětenkových vrstiev nanášených na podložkysa aplikujú vákuové, alebo chemické metó-dy nanášania. Z vákuových metod přípra-vy tenkých vrstiev využitelných vo- funkciisenzorov fyzikálnych a chemických veličinje najrozšírenejšia metóda vákuového nap-a-rovania, katodového, vysokofrekvenčného,alebo magnetrónového naprašovania. Z che-mických metod sa najčastejšie na přípravuuvedených senzorov používá metóda elek-trolytického nanášania, metóda epitaxnéhorastu z kvapalnej, alebo plynnej fázy, vyža-dujúca monokryštalické materiály ako pod-ložky. Ďalej sú to metody termického roz-kladu různých chemických zlúčenín a tiežmetody využívajúce kombináciu chemickýcha fyzikálnych procesov, ako je napr. che-mický rozklad, alebo syntéza látok vo vá-kuu iniciovaná elektromagnetickým polomvysokofrekvenčnej, alebo mikrovlnnej ob-lasti. Spoločným nedostatkoím výroby sen-zorov fyzikálnych a chemických veličin u-vedenými metodami je ich náročnost, ná-kladnost dlh-odobo-sť přípravy, zvýšené po-žiadavky na čistotu vstupných materiálov,chemikálií, plynných a tekutých médií, akoaj potřeba dostatečného teplotného spraco-vania v priebehu jednotlivých technologic-kých o-perácií s cielom optimalizovat poža-dovánu štruktúru a fyzikálně parametre.
Uvedené nevýhody v podstatnej miere od-straňuje spósob výroby viackomponentnýchpolovodičových materiálov pře senzory fy-zikálnych a. chemických veličin pódia vyná-lezu, ktorého podstata spočívá v tom, žeroztavená tavenina viackomponentných po-lovodičových materiálov, výhodné typuA" BVI a A111 Bv sa leje a/alebo vytláča napovrch rotujúceho valca v inertnej atmo-sféře, vo vákuu a/aleboi na vzduchu pri at-mosférickém tlaku.
Roztavená tavenina viackomponentnýchpolovodičových materiálov sa leje a/alebovytláča na vnútornú stenu rotujúceho val-ca. Roztavená tavenina viackomponentnýchpolovodičových materiálov sa leje a/alebovytláča medzi dva válce, z ktorých aspoňjeden rotuje. Teplota rotujúceho valca jenižšia než teplota taveniny. Roztavená ta-venina atomárnych a viackomonentných po-lovodičových materiálov sa leje a/alebo vy-tláča aspoň z jednej piecky. Roztavená ta-venina atomárnych a viackomponentných polovodičových materiálov sa leje a/alebovytláča z piecky opatrenej aspoň jednýmotvorom. Zloženie viackomponentných polo-vodičových materiálov je stechiometrické.Zloženie viackomponentných polovodičovýchmateriálov je rozdielne od stechiometrické-ho. Viackom-ponentné polovodičové mate-riály obsahujú aspoň stopové množstvo' prv-kov, výhodné piatej skupiny Mendelejovejsústavy prvkov. Výhodou sposobu výroby viackomponent-ných polovodičových materiálov pódia vy-nálezu a ich následného použitia na přípra-vu senzorov fyzikálnych a chemických ve-ličin je, že ich priamo získáváme vo forměsamonosných vlákien, pások, fólií, alebovrstvových štruktúr odpovedajúcich stechio-metrickému zloženiu, ak je východzia tave-nina tiež v stechiometrickom zložení, pri-čoím majú polovodičové vlastnosti odpove-dajúce momokryštalickým materiálom. Ďal-šo-u přednostou je jednoduchost a podstat-né skrátenie času pri ich přípravě, zníženienákladov a vo vačšine prípadov- odstráne-nie nutnosti dodatočného tepelného spra-covania.
Na pripojenom výkrese, a to na obr. 1,obr. 2 a obr. 3 sú schematicky znázorněnésposoby výroby viackomponentných polo-vodičov pre přípravu senzorov fyzikálnycha chemických veličin.
Podlá obr. 1 sa na povrch S rýchlo rotu-júceho valca RV, nachádzajúceho sa na tep-lotě To a otáčajúceho sa rýchlosťou v as-poň z jednej piecky Pb P2, P3 vyhriatej nateplotu Τχ, T2, T3 leje, alebo za m-iernebopredtlaku vytláča tavenina otvormi na dnepiecok, kto-rá vo smere A vystupuje vo- for-mě samonosného vlákna, pásky, fólie alebovrstvovej štruktúry. Pre teploty valca a pie-cok platí, že To < Tt; To « T2, To <ž T3.
Pri usporiad-ainí podl-a obr. 2 sa roztave-ná tavenina viackomponentných polovodi-čových materiálov o teplote napr. T2 aspoňz jednej piecky leje, alebo vytláča medzidva proti sebe rýchlo otáčajúce sa válce na-chádzajúce sa na teplote To, pre ktoré pla-tí rovnaká .nerovnost, ako u obr. 1. Priusporiadaní po-dla obr. 3 sa roztavená ta-venina viackomponentných polovodičovýchmateriálov leje, alebo vytláča z piecok me-dzi dva rotujúce válce, ktoré sa nachádza-jú na rozdielnej teplote T01 a T02, pričompre nich platí Toi < T02. P-re teplotu piecok vo vzťahu k teplotámrotujúceho valca platia nerovnosti TOÍ « TltToi T2, Tqi T3, resp. Tq2 < Tj, T<,2 << T2,T02 < T3- Příklad
Do jednej z piecok napr. podlá obr. 1sa tavenina polovodičovej zlúčeniny napr.InSb v stechiometrickom pomere jej zložiekzahřeje na bod topenia. Na rýchlo' rotujú-ci válec .nachádzajúci sa na teplote 300 K,

Claims (9)

  1. 6 .2 4 6 3 O 5 S príp. nižšej sa naleje alebo za mierneho pře-tlaku vytlačí roztavená tavenina In + Sb. Po jej doipade na povrch rotujúceho val-ca sa tavenina dostává z fázy tekutej do fá-zy tuhej a vystupuje už v závislosti od ot-voru v piecke a profilu na rotujúcom válciv tvare vlákna, pásky, fólie alebo- vrstvovejštruktúry. Takto připravené polovodičovépásky, napr. In Sb sa raóžu použit na sen-zory citlivé na magnetické pole s vlastnosía- mi zhodnými ako keby bolí připravené zmonokryštalického materiálu. Vynález může nájsť široké p-riemyselnévyužitie najma pri výrobě senzorov fyzikál-nych a chemických veličin v elektromike,mikroelektronike, optoelektronike, autorna-tizácli, kybernetizácii a robotizácii ako sen-zorov magnetického polá tlaku, teploty,vlhkosti, optoelektronických senzorov apod. PREDMET
    1. Sposob výroby viackomponentných po-lovodičových materiálov pře senzory fyzi-kálnych a chemických veličin, vyznačujúcisa tým, že roztavená tavenina viackompo-nentných polovodičových materiálov výhod-né typu A11 BVI a A111 Bv sa leje a/alebo vy-tláča na povrch rotujúceho valca v inertnejatmosféře, vo vákuu a/alebo na vzduchu priatmosferickom tlaku.
  2. 2. Sposob výroby podlá bodu 1, vyznaču-júci sa tým, že roztavená tavenina viackom-ponentných polovodičových materiálov saleje a/alebo vytláča na vnútornú stenu ro-tujúceho valca.
  3. 3. Sposob výroby podlá bodu 1, vyznaču-júci sa tým, že roztavená tavenina viackom-ponentných polovodičových materiálov saleje a/alebo vytláča medzi dva válce, z kto-rých aspoň jeden rotuje.
  4. 4. Sposob výroby podlá bodov 1, 2 a 3,vyznačujúci sa tým, že teplota, rotujúcehovalca je nižšia než teplota taveniny.
  5. 5. Sposob výroby podlá bodov 1 až 4, vy- VYNALEZU značujúci sa tým, že sa roztavená taveninaatomárnych a viackomponentných polovo-dičových materiálov leje a/alebo vytláčaaspoň z jednej piecky.
  6. 6. Sposob výroby podlá bodu 1 až 5, vy-značujúci sa tým, že sa roztavená taveninaatomárnych a viackomponentných polovo-dičových materiálov leje a/alebo vytláča zpiecky opatrenej aspoň jedným otvorom.
  7. 7. Sposob výroby podlá bodov 1 až 6, vy-značujúci sa tým, že zloženie viackompo-nentných polovodičových materiálov je ste-chiometrické.
  8. 8. Sposob výroby podlá bodov 1 až 6, vy-značujúci sa tým., že zloženie viackompo-nentných polovodičových materiálov je roz-dielne od stechiometrického.
  9. 9. Sposob výroby podlá bodov- 1 až 8, vy-značujúci sa tým, že viackomponentně po-lovodičové materiály, obsahujú aspoň sto-pové množstvo prvkov, výhodné piatej sku-piny Mendelejovej sústavy prvkov. 1 list výkresov
CS847889A 1984-10-17 1984-10-17 Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin CS246305B1 (sk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS847889A CS246305B1 (sk) 1984-10-17 1984-10-17 Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS847889A CS246305B1 (sk) 1984-10-17 1984-10-17 Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS788984A1 CS788984A1 (en) 1985-09-17
CS246305B1 true CS246305B1 (sk) 1986-10-16

Family

ID=5428804

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS847889A CS246305B1 (sk) 1984-10-17 1984-10-17 Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS246305B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS788984A1 (en) 1985-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6267175A (ja) 強誘電体薄膜の製造方法
EP0732752B1 (en) Method and apparatus for manufacturing chalcopyrite semiconductor thin films
DE3781016T2 (de) Verfahren zur zuechtung eines multikomponent-kristalls.
CS246305B1 (sk) Sposob výroby viackomponentných polovodičových materiálov pre senzory fyzikálnych a chemických veličin
Yogo et al. Synthesis of highly oriented K (Ta, Nb) O3 (Ta: Nb= 65: 35) film using metal alkoxides
US3113889A (en) Method of vacuum depositing superconductive metal coatings
US3213825A (en) Vacuum deposition apparatus
US5314867A (en) Process for making Tl-Ba-Ca-Cu-O superconductors using thallium vapor
KR910001428A (ko) 정밀 세선 회로용 기판 제조방법
US4874438A (en) Intermetallic compound semiconductor thin film and method of manufacturing same
US5620739A (en) Thin film capacitors on gallium arsenide substrate and process for making the same
Patel et al. TfP258. Physicochemical properties of SOL-GEL derived lead scandium tantalate Pb (Sc0. 5Ta0. 5) O3 thin films
Li et al. An automatic dip coating process for dielectric thin and thick films
US3404026A (en) Method of forming magnetic ferrite films
JP3436554B2 (ja) 複合酸化物薄膜及びその製造法
Hamieh et al. Composition control of lead‐free piezoelectric BNT thin ceramic films deposited by ex situ sputtering
RU2005103C1 (ru) Способ получени пленок на основе халькогенидных стеклообразных полупроводников
JPH04308607A (ja) Pzt強誘電体薄膜の製造方法
US3480484A (en) Method for preparing high mobility indium antimonide thin films
US5112800A (en) Preparation of superconducting Tl-Ba-Ca-Cu-O thin films by Tl2 O3
JPH04279001A (ja) 抵抗体膜形成材料、抵抗体膜および電子部品
US6007868A (en) Method of manufacturing ferroelectric bismuth-titanate layers on a substrate from solution
EP0363480A1 (en) Retention vessel
JPS55124244A (en) Method of fabricating chip component
JPH0535563B2 (cs)