CS241935B1 - A method of fixing semiconductor elements to a backing based on the use of low-viscosity sealants - Google Patents
A method of fixing semiconductor elements to a backing based on the use of low-viscosity sealants Download PDFInfo
- Publication number
- CS241935B1 CS241935B1 CS843992A CS399284A CS241935B1 CS 241935 B1 CS241935 B1 CS 241935B1 CS 843992 A CS843992 A CS 843992A CS 399284 A CS399284 A CS 399284A CS 241935 B1 CS241935 B1 CS 241935B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- low
- semiconductor elements
- sealant
- fixing semiconductor
- viscosity
- Prior art date
Links
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
Podstata řešeni spočívá v tom, že se na část povrchu polovodičového prvku nejprve nanese tmel, ze kterého se otáčením prvku vytvoří vrstva, jež se dále vysuší a poté následuje fixace polovodičového prvku na podložku pájecím zařízením při teplotě 120 až 250 °C.The essence of the solution is that a sealant is first applied to a part of the surface of the semiconductor element, from which a layer is formed by rotating the element, which is then dried, followed by fixation of the semiconductor element to the substrate with a soldering device at a temperature of 120 to 250 °C.
Description
Vynález se týká způsobu fixace polovodičových prvků na podložku, založeného na použití nízkoviskozních tmelů.The invention relates to a method of fixing semiconductor elements to a substrate based on the use of low viscosity sealants.
Doposud známé způsoby využívají bučí nanášení tmelu na podložku dávkováním, razítkováním, sítotiskem apod. a pak vsazování polovodičových prvkůz nebo nanášení vodivého tmelu na zadní stranu prvku sítotiskem, jeho předtvrzení a pak fixace na podložku při zvýšené teplotě. Pro tyto postupy lze použít tmelů o viskozitě 50tfz500 Pa.s, resp. tmely schopné sítotisku.The prior art methods utilize either applying the sealant to the substrate by dispensing, stamping, screen printing, and the like, and then embedding the semiconductor elements from or applying the conductive sealant to the back of the element by screen printing, pre-curing and then fixing to the substrate at elevated temperature. For these processes it is possible to use cements with viscosity 50 tfz500 Pa.s, resp. screen printing mastics.
Nízkoviskozní tmely lze nanášet dávkováním na podložku pouze pro malé prvky přibližně čtvercového půdorysu za předpokladu, že se zabrání vysychání tmelu. Ostatní citované metody jsou pro nízkoviskozní tmely nevhodné.Low-viscosity sealants can only be applied to the substrate for small elements of approximately square ground plan, provided the sealant does not dry out. The other methods cited are unsuitable for low viscosity sealants.
Výše uvedený nedostatek odstraňuje způsob fixace polovodičových prvků na podložkui založený na použití nízkoviskozních tmelů podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že na Část povrchu polovodičového prvku se nejprve nanese tmel, ze kterého se otáčením prvku vytvoří vrstva, jež se dále vysuší a poté následuje fixace polovodičového prvku ha podložku pájecím zařízením při teplotě 120^/ 250 °C.The above-mentioned drawback removes the method of fixing semiconductor elements on a substrate based on the use of low viscosity sealants according to the invention, which consists in that a part of the surface of the semiconductor element is first applied with a sealant. fixation of the semiconductor element to the substrate by a solder at a temperature of 120 ° / 250 ° C.
Nanášením tmelu na část povrchu polovodičového prvku rotací se docílí homogenní vrstvy tmelu, jejíž tlouštku lze přesně regulovat rychlostí otáčení. Záměrným vysušením tmelu odpadnou problémy se změnou viskozity tmelu a při dalším zpracování polovodičového prvku lze plně využít stávající techniky pro montáž polovodičových prvků bez jakýchkoliv úprav.By applying the sealant to a portion of the surface of the semiconductor element by rotation, a homogeneous layer of sealant is obtained whose thickness can be precisely controlled by the rotation speed. By deliberately drying the sealant, problems with changing the viscosity of the sealant will be eliminated and further processing of the semiconductor element can be fully utilized without any modifications.
Jako příklad je uveden postup fixace křemíkového integrovaného obvodu na patku typu TO 5. Jako tmel je použita polyimidová pryskyřice.As an example, the silicon integrated circuit is fixed to a TO 5 foot. A polyimide resin is used as a sealant.
241 93S241 93S
- 2.- 2.
Nanášení pryskyřice je provedeno na zadní stranu křemíkové desky s čipy integrovaného obvodu na odstředivce při 2000^000 ot/min, čímž se vytvoří homogenní vrstva pryskyřice 0,03«i0,05 mm. Následné vysušení pryskyřice je prováděno v teplovzdušném sterilizátoru při teplotě 70 °C po dobu 1 hod. Členění je v plném rozsahu prováděno standardní technologií. Fixace neboli lepení se provádí na běžných pájecích zařízeních při teplotě 160λΖ180 °C, přičemž následuje vytvrzení pryskyřice v teplovzdušném sterilizátoru při teplotě 200 °C po dobu 30 min.The resin is deposited on the back of a silicon wafer with integrated circuit chips on a centrifuge at 2000-4000 rpm, thereby forming a homogeneous resin layer of 0.03 mm to 0.05 mm. Subsequent drying of the resin is carried out in a hot-air sterilizer at a temperature of 70 ° C for 1 hour. The division is carried out in full by standard technology. Fixing or bonding is carried out on conventional soldering equipment at a temperature of 160 ° -180 ° C, followed by curing of the resin in a hot air sterilizer at 200 ° C for 30 minutes.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS843992A CS241935B1 (en) | 1984-05-28 | 1984-05-28 | A method of fixing semiconductor elements to a backing based on the use of low-viscosity sealants |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS843992A CS241935B1 (en) | 1984-05-28 | 1984-05-28 | A method of fixing semiconductor elements to a backing based on the use of low-viscosity sealants |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS399284A1 CS399284A1 (en) | 1985-08-15 |
| CS241935B1 true CS241935B1 (en) | 1986-04-17 |
Family
ID=5381622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS843992A CS241935B1 (en) | 1984-05-28 | 1984-05-28 | A method of fixing semiconductor elements to a backing based on the use of low-viscosity sealants |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS241935B1 (en) |
-
1984
- 1984-05-28 CS CS843992A patent/CS241935B1/en unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS399284A1 (en) | 1985-08-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04234193A (en) | Method of mounting smd constituent element on substrate | |
| US6084311A (en) | Method and apparatus for reducing resin bleed during the formation of a semiconductor device | |
| JP2002538626A5 (en) | ||
| CS241935B1 (en) | A method of fixing semiconductor elements to a backing based on the use of low-viscosity sealants | |
| DE102004032605B4 (en) | Semiconductor component with a semiconductor chip and electrical connection elements to a conductor structure | |
| JPS62104044A (en) | Passivating method | |
| JP3264072B2 (en) | Electronic component and method of manufacturing the same | |
| JPS589345A (en) | How to fabricate semiconductor devices on a semiconductor board | |
| JPH084101B2 (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
| JPH02102563A (en) | Semiconductor device and manufacture thereof | |
| JPS629728Y2 (en) | ||
| JPS6012789A (en) | Waterproofing method for electronic component mounting boards | |
| KR950034720A (en) | Die attach cure method for bonding between IC die and substrate and product by this method | |
| JPH06124952A (en) | Bump forming method for semiconductor chip | |
| JPS62281361A (en) | Semiconductor device | |
| JPS60245293A (en) | Printed board | |
| JP2676815B2 (en) | Moisture proofing method for hybrid integrated circuit device | |
| JPH0212931A (en) | Manufacture of circuit device | |
| JPH07263470A (en) | Mounting method of semiconductor chip | |
| EP0343379A3 (en) | Thin film package for mixed bonding of a chip | |
| JPH0334552A (en) | Semiconductor bare chip | |
| JPS6468935A (en) | Face-down bonding of semiconductor integrated circuit device | |
| JPS6480057A (en) | Manufacture of circuit module | |
| JPH0225251Y2 (en) | ||
| JPS57133641A (en) | Manufacture of semiconductor device |