CS241183B1 - Method of faulty measuring tips localization with printed circuits' boards testers - Google Patents
Method of faulty measuring tips localization with printed circuits' boards testers Download PDFInfo
- Publication number
- CS241183B1 CS241183B1 CS845064A CS506484A CS241183B1 CS 241183 B1 CS241183 B1 CS 241183B1 CS 845064 A CS845064 A CS 845064A CS 506484 A CS506484 A CS 506484A CS 241183 B1 CS241183 B1 CS 241183B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- testers
- boards
- tips
- localization
- printed circuit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů. Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada. Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.The invention relates to a method of localization faulty adapter tips with needle field for flat plate testers connections. The essence of the method is the division of the measurement field spikes on columns and rows, execution two complete tests for a short circuit when using two special boards printed circuit boards. One special printed circuit board connections connect all measuring tips inside the rows, the second special board flat connections connect all measuring tips inside columns. Tester software allows you to identify a defective one measuring tip in row and column where a fault has been reported by the tester. The method can be used in localization faults on all needle array adapters measuring tips that are used in testers non-mounted and mounted planar boards connections in the production of electronic equipment.
Description
(54) Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů(54) Method of locating defective test tips in printed circuit board testers
88
Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů.The invention relates to a method for locating defective measuring tips of needle field adapters in circuit board testers.
Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada.The principle of the method is to divide the field of the measuring tips into columns and rows, to perform two complete tests for continuity and short circuit using two special printed circuit boards. One special printed circuit board connects all the measuring tips inside the rows, the other special printed circuit board connects all the measuring tips inside the columns. The tester software enables to identify the faulty measuring tip in the row and column where the fault was reported by the tester.
Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.The method can be used to locate faults in all needle tip adapters that are used in both unplated and stepped PCB testers in the manufacture of electronic equipment.
Vynález, řeší způsob ^lokalizace vadných měřicích lirotů u testerů \desek t plošných spojů, které používají adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a method for locating defective measuring orifices in printed circuit board testers that use adapters having a needle array of measuring tips.
V poslední době se rozvíjejí metody testování neosazených i osazených desek plošných spojů pomocí automatických testerů vybavených jehlovým polem měřicích hrotů, kontaktujícím vnitřní body desek. U těchto testerů je nutné mít možnost přesné lokalizace závad všech měřicích hrotů pro potřeby diagnostiky vlastního testeru. Přitom je třeba odhalit jak měřicí hroty s přerušeným spojem do testeru, tak měřicí hroty zkratované. V praxi se běžně používá metody vodivé desky; postup je následující: do jehlového pole měřicích hrotů testeru se upne deska, která má všechny své body navzájem propojeny (postačí deska z vodivého materiálu) a provede se test na souvislost. Jestliže není některý měřicí hrot připojen nebo je mechanicky poškozen a nekontaktuje, tester vypíše závadu včetně lokalizační informace. Tato metoda je však nepoužitelná pro nalezení místa závady při zkratu dvou měřicích hrotů nebo spojovacích cest. K odhalení místa zkratu je možno provést test na zkrat při nepřipojených měřicích hrotech, avšak tento test trvá velmi dlouho, typicky desítky minut.Recently, methods of testing both unpopulated and populated printed circuit boards have been developed using automatic testers equipped with a needle array of measuring tips, contacting the internal points of the boards. With these testers, it is necessary to be able to accurately locate the faults of all measuring tips for the purpose of self-tester diagnostics. It is necessary to detect both the test leads with a broken connection to the tester and the test leads shorted. In practice, the conductive plate method is commonly used; the procedure is as follows: a plate having all its points connected to each other (a plate of conductive material) is sufficient for the tester needle tips of the tester and a continuity test is performed. If one of the probe tips is not connected or is mechanically damaged and does not contact, the tester will display a fault including location information. However, this method is not applicable to finding a fault location when two measuring tips or connecting paths are short-circuited. A short-circuit test can be performed to detect the short-circuit location with the test tips not connected, but this test takes a very long time, typically tens of minutes.
Tuto nevýhodu odstraňuje způsob lokali•zace vadných; měřicích hrotů .podl-e vynálezu. : 'y zs \· ·· -· • Jeho podstatou je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky. K testeru desek plošných spojů se přiloží měřicí deska plošných spojů, přičemž při prvním testu se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, pro druhý test se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců; S výhodou je možno použít jediné desky plošných spojů s dvoustranným motivem bezcpokovených Otvorů, kterou je nutno mezi testy obrátit. Vadný měřicí hrot se nalezne v tom řádku a tom sloupci, kde byla hlášena testerem chyba; celou identifikaci je možno svěřit programovému vybavení testeru. Celý test, včetně zakládání desky, se provede v době typicky kratší než 1 minuta, protože při testu na zkrat není nutno kontrolovat všechny dvojice bodů speciální desky plošných spojů, kterých jsou řádově tisíce, ale pouze dvojice spojů této speciální desky, kterých jsou řádově desítky.This disadvantage is overcome by the method of locating defective ones; of the measuring tips according to the invention. : 'y zs \ · ·· - · • Its essence is to divide the field of the measuring tips into columns and rows. A printed circuit board is attached to the PCB, using a special PCB that connects all test points inside the rows during the first test, and a special PCB that connects all test points inside the columns for the second test; Advantageously, a single printed circuit board with a double-sided pattern of uncovered holes can be used, which must be reversed between tests. A faulty measuring tip is found in the row and column where the tester reported an error; all identification can be entrusted to the tester software. The entire test, including the placement of the board, is typically completed in less than 1 minute, since the short circuit test does not have to check all the pairs of special PCBs of the order of thousands, but only the pairs of this special board of tens. .
Výhodou způsobu lokalizace podle vynálezu je značná úspora času při provádění profylaktických testů samotného testeru a adaptéru jehlového pole měřicích hrotů a z toho vyplývající zvýšení produktivity práce.The advantage of the localization method according to the invention is the considerable time savings in carrying out prophylactic tests of the tester itself and the needle tip adapter of the measuring tips and the resulting increase in labor productivity.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS845064A CS241183B1 (en) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Method of faulty measuring tips localization with printed circuits' boards testers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS845064A CS241183B1 (en) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Method of faulty measuring tips localization with printed circuits' boards testers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS506484A1 CS506484A1 (en) | 1985-04-16 |
CS241183B1 true CS241183B1 (en) | 1986-03-13 |
Family
ID=5394787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS845064A CS241183B1 (en) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Method of faulty measuring tips localization with printed circuits' boards testers |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CS (1) | CS241183B1 (en) |
-
1984
- 1984-06-29 CS CS845064A patent/CS241183B1/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CS506484A1 (en) | 1985-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3723867A (en) | Apparatus having a plurality of multi-position switches for automatically testing electronic circuit boards | |
JPH02186279A (en) | Tab frame for test and testing method | |
US3824462A (en) | Device for testing printed circuit boards | |
US4052793A (en) | Method of obtaining proper probe alignment in a multiple contact environment | |
KR100652421B1 (en) | Doughnut type parallel probe card and method of wafer testing using the same | |
ATE45427T1 (en) | ADAPTER FOR A PCB TESTER. | |
US4290015A (en) | Electrical validator for a printed circuit board test fixture and a method of validation thereof | |
JP2764854B2 (en) | Probe card and inspection method | |
KR100638330B1 (en) | Adapter For Testing Conductor Arrangements | |
CS241183B1 (en) | Method of faulty measuring tips localization with printed circuits' boards testers | |
JPH10153644A (en) | Adaptor module for bga device test | |
EP0909117B1 (en) | Method of making thick film circuits | |
US4328264A (en) | Method for making apparatus for testing traces on a printed circuit board substrate | |
US4091325A (en) | Verification technique for checking wrapped wire electronic boards | |
JP3589835B2 (en) | Electronic circuit assembly test method, test apparatus, and test adapter | |
CN219369921U (en) | Jig dial device for optimizing smoothness of probe and four-wire test PASS range | |
JP2000171512A (en) | Continuity inspection apparatus for printed-wiring board | |
US8044675B2 (en) | Testing apparatus with high efficiency and high accuracy | |
JPH0421104Y2 (en) | ||
KR20050067759A (en) | A semiconductor test device | |
JPS6033064A (en) | Method and device for inspecting pattern of printed wiring board | |
EP0289145B1 (en) | Self-learn method for circuit tester | |
JPS6122268A (en) | Inspecting machine for printed circuit board | |
KR0127639B1 (en) | Probing test method and apparatus | |
GB2215064A (en) | Testing printed circuit boards |