CS241183B1 - Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů - Google Patents

Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů Download PDF

Info

Publication number
CS241183B1
CS241183B1 CS845064A CS506484A CS241183B1 CS 241183 B1 CS241183 B1 CS 241183B1 CS 845064 A CS845064 A CS 845064A CS 506484 A CS506484 A CS 506484A CS 241183 B1 CS241183 B1 CS 241183B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
printed circuit
tips
circuit board
measuring tips
test
Prior art date
Application number
CS845064A
Other languages
English (en)
Other versions
CS506484A1 (en
Inventor
Karel Uhlir
Rene Kolliner
Vaclav Skvor
Original Assignee
Karel Uhlir
Rene Kolliner
Vaclav Skvor
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Karel Uhlir, Rene Kolliner, Vaclav Skvor filed Critical Karel Uhlir
Priority to CS845064A priority Critical patent/CS241183B1/cs
Publication of CS506484A1 publication Critical patent/CS506484A1/cs
Publication of CS241183B1 publication Critical patent/CS241183B1/cs

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů. Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada. Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.

Description

(54) Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů
8
Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů.
Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada.
Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.
Vynález, řeší způsob ^lokalizace vadných měřicích lirotů u testerů \desek t plošných spojů, které používají adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů.
V poslední době se rozvíjejí metody testování neosazených i osazených desek plošných spojů pomocí automatických testerů vybavených jehlovým polem měřicích hrotů, kontaktujícím vnitřní body desek. U těchto testerů je nutné mít možnost přesné lokalizace závad všech měřicích hrotů pro potřeby diagnostiky vlastního testeru. Přitom je třeba odhalit jak měřicí hroty s přerušeným spojem do testeru, tak měřicí hroty zkratované. V praxi se běžně používá metody vodivé desky; postup je následující: do jehlového pole měřicích hrotů testeru se upne deska, která má všechny své body navzájem propojeny (postačí deska z vodivého materiálu) a provede se test na souvislost. Jestliže není některý měřicí hrot připojen nebo je mechanicky poškozen a nekontaktuje, tester vypíše závadu včetně lokalizační informace. Tato metoda je však nepoužitelná pro nalezení místa závady při zkratu dvou měřicích hrotů nebo spojovacích cest. K odhalení místa zkratu je možno provést test na zkrat při nepřipojených měřicích hrotech, avšak tento test trvá velmi dlouho, typicky desítky minut.
Tuto nevýhodu odstraňuje způsob lokali•zace vadných; měřicích hrotů .podl-e vynálezu. : 'y zs \· ·· -· • Jeho podstatou je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky. K testeru desek plošných spojů se přiloží měřicí deska plošných spojů, přičemž při prvním testu se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, pro druhý test se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců; S výhodou je možno použít jediné desky plošných spojů s dvoustranným motivem bezcpokovených Otvorů, kterou je nutno mezi testy obrátit. Vadný měřicí hrot se nalezne v tom řádku a tom sloupci, kde byla hlášena testerem chyba; celou identifikaci je možno svěřit programovému vybavení testeru. Celý test, včetně zakládání desky, se provede v době typicky kratší než 1 minuta, protože při testu na zkrat není nutno kontrolovat všechny dvojice bodů speciální desky plošných spojů, kterých jsou řádově tisíce, ale pouze dvojice spojů této speciální desky, kterých jsou řádově desítky.
Výhodou způsobu lokalizace podle vynálezu je značná úspora času při provádění profylaktických testů samotného testeru a adaptéru jehlového pole měřicích hrotů a z toho vyplývající zvýšení produktivity práce.

Claims (1)

  1. pRedmEt
    Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testeru desek plošných spojů, vyznačený tím, že pole měřicích hrotů je rozděleno na sloupce a řádky, přičemž k testeru desek plošných spojů se přiloží měřicí deska plošných spojů, na níž jsou při prvním testu vzájemně propojeny všechny měVYNALEZU řičí hroty uvnitř řádků a na níž jsou při druhém testu vzájemně propojeny všechny měřicí hroty uvnitř sloupců, přičemž se určí vadný měřicí hrot jako ten, v jehož řádku i sloupci byla testerem nalezena příslušná závada.
CS845064A 1984-06-29 1984-06-29 Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů CS241183B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS845064A CS241183B1 (cs) 1984-06-29 1984-06-29 Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS845064A CS241183B1 (cs) 1984-06-29 1984-06-29 Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS506484A1 CS506484A1 (en) 1985-04-16
CS241183B1 true CS241183B1 (cs) 1986-03-13

Family

ID=5394787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS845064A CS241183B1 (cs) 1984-06-29 1984-06-29 Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS241183B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS506484A1 (en) 1985-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3723867A (en) Apparatus having a plurality of multi-position switches for automatically testing electronic circuit boards
JPH02186279A (ja) 試験用tabフレームとその試験方法
US4052793A (en) Method of obtaining proper probe alignment in a multiple contact environment
US3824462A (en) Device for testing printed circuit boards
US4290015A (en) Electrical validator for a printed circuit board test fixture and a method of validation thereof
CN211741340U (zh) 一种带有自检装置的电路板检测工装
HK133996A (en) Adapter for a device for electronic testing of printed circuit boards
JP2764854B2 (ja) プローブカード及び検査方法
CS241183B1 (cs) Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů
JPH10153644A (ja) Bgaデバイス・テスト用アダプタ・モジュール
KR100652421B1 (ko) 도넛형 병렬 프로브 카드 및 이를 이용한 웨이퍼 검사방법
US4091325A (en) Verification technique for checking wrapped wire electronic boards
JP3589835B2 (ja) 電子回路アセンブリ試験方法及び試験装置及び該試験用アダプタ
CN219369921U (zh) 一种优化探针顺畅度和四线测试pass范围的治具针盘装置
US8044675B2 (en) Testing apparatus with high efficiency and high accuracy
JPH01313777A (ja) プリント基板配線パターンの絶縁不良位置検出方式
JPH0354312B2 (cs)
KR20050067759A (ko) 반도체 검사장치
JPH0421104Y2 (cs)
JPS6042662A (ja) プリント配線板の検査方法とその検査装置
CN108008161B (zh) 金属化半孔光电产品电性能的快速检测方法
EP0289145B1 (en) Self-learn method for circuit tester
JPS6122268A (ja) プリント基板検査機
JPS61117473A (ja) プリント配線板の検査方法とその検査装置
JPH0621242Y2 (ja) 集積回路試験装置