CS241183B1 - Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů - Google Patents
Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů Download PDFInfo
- Publication number
- CS241183B1 CS241183B1 CS845064A CS506484A CS241183B1 CS 241183 B1 CS241183 B1 CS 241183B1 CS 845064 A CS845064 A CS 845064A CS 506484 A CS506484 A CS 506484A CS 241183 B1 CS241183 B1 CS 241183B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- printed circuit
- tips
- circuit board
- measuring tips
- test
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů. Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada. Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.
Description
(54) Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů
8
Přihláška vynálezu se týká způsobu lokalizace vadných měřicích hrotů adaptérů s jehlovým polem u testerů desek plošných spojů.
Podstatou způsobu je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky, provedení dvou kompletních testů na souvislost a zkrat při použití dvou speciálních desek plošných spojů. Jedna speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, druhá speciální deska plošných spojů propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců. Programové vybavení testeru umožňuje provést identifikaci vadného měřicího hrotu v řádku a sloupci, kde byla testerem hlášena závada.
Způsobu může být využito v lokalizaci závad u všech adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů, které jsou používány u testerů neosazených i osazených desek plošných spojů ve výrobě elektronických zařízení.
Vynález, řeší způsob ^lokalizace vadných měřicích lirotů u testerů \desek t plošných spojů, které používají adaptérů s jehlovým polem měřicích hrotů.
V poslední době se rozvíjejí metody testování neosazených i osazených desek plošných spojů pomocí automatických testerů vybavených jehlovým polem měřicích hrotů, kontaktujícím vnitřní body desek. U těchto testerů je nutné mít možnost přesné lokalizace závad všech měřicích hrotů pro potřeby diagnostiky vlastního testeru. Přitom je třeba odhalit jak měřicí hroty s přerušeným spojem do testeru, tak měřicí hroty zkratované. V praxi se běžně používá metody vodivé desky; postup je následující: do jehlového pole měřicích hrotů testeru se upne deska, která má všechny své body navzájem propojeny (postačí deska z vodivého materiálu) a provede se test na souvislost. Jestliže není některý měřicí hrot připojen nebo je mechanicky poškozen a nekontaktuje, tester vypíše závadu včetně lokalizační informace. Tato metoda je však nepoužitelná pro nalezení místa závady při zkratu dvou měřicích hrotů nebo spojovacích cest. K odhalení místa zkratu je možno provést test na zkrat při nepřipojených měřicích hrotech, avšak tento test trvá velmi dlouho, typicky desítky minut.
Tuto nevýhodu odstraňuje způsob lokali•zace vadných; měřicích hrotů .podl-e vynálezu. : 'y zs \· ·· -· • Jeho podstatou je rozdělení pole měřicích hrotů na sloupce a řádky. K testeru desek plošných spojů se přiloží měřicí deska plošných spojů, přičemž při prvním testu se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř řádků, pro druhý test se použije speciální deska plošných spojů, která propojuje všechny měřicí hroty uvnitř sloupců; S výhodou je možno použít jediné desky plošných spojů s dvoustranným motivem bezcpokovených Otvorů, kterou je nutno mezi testy obrátit. Vadný měřicí hrot se nalezne v tom řádku a tom sloupci, kde byla hlášena testerem chyba; celou identifikaci je možno svěřit programovému vybavení testeru. Celý test, včetně zakládání desky, se provede v době typicky kratší než 1 minuta, protože při testu na zkrat není nutno kontrolovat všechny dvojice bodů speciální desky plošných spojů, kterých jsou řádově tisíce, ale pouze dvojice spojů této speciální desky, kterých jsou řádově desítky.
Výhodou způsobu lokalizace podle vynálezu je značná úspora času při provádění profylaktických testů samotného testeru a adaptéru jehlového pole měřicích hrotů a z toho vyplývající zvýšení produktivity práce.
Claims (1)
- pRedmEtZpůsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testeru desek plošných spojů, vyznačený tím, že pole měřicích hrotů je rozděleno na sloupce a řádky, přičemž k testeru desek plošných spojů se přiloží měřicí deska plošných spojů, na níž jsou při prvním testu vzájemně propojeny všechny měVYNALEZU řičí hroty uvnitř řádků a na níž jsou při druhém testu vzájemně propojeny všechny měřicí hroty uvnitř sloupců, přičemž se určí vadný měřicí hrot jako ten, v jehož řádku i sloupci byla testerem nalezena příslušná závada.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS845064A CS241183B1 (cs) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS845064A CS241183B1 (cs) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS506484A1 CS506484A1 (en) | 1985-04-16 |
| CS241183B1 true CS241183B1 (cs) | 1986-03-13 |
Family
ID=5394787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS845064A CS241183B1 (cs) | 1984-06-29 | 1984-06-29 | Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS241183B1 (cs) |
-
1984
- 1984-06-29 CS CS845064A patent/CS241183B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS506484A1 (en) | 1985-04-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3723867A (en) | Apparatus having a plurality of multi-position switches for automatically testing electronic circuit boards | |
| JPH02186279A (ja) | 試験用tabフレームとその試験方法 | |
| US4052793A (en) | Method of obtaining proper probe alignment in a multiple contact environment | |
| US3824462A (en) | Device for testing printed circuit boards | |
| US4290015A (en) | Electrical validator for a printed circuit board test fixture and a method of validation thereof | |
| CN211741340U (zh) | 一种带有自检装置的电路板检测工装 | |
| HK133996A (en) | Adapter for a device for electronic testing of printed circuit boards | |
| JP2764854B2 (ja) | プローブカード及び検査方法 | |
| CS241183B1 (cs) | Způsob lokalizace vadných měřicích hrotů u testerů desek plošných spojů | |
| JPH10153644A (ja) | Bgaデバイス・テスト用アダプタ・モジュール | |
| KR100652421B1 (ko) | 도넛형 병렬 프로브 카드 및 이를 이용한 웨이퍼 검사방법 | |
| US4091325A (en) | Verification technique for checking wrapped wire electronic boards | |
| JP3589835B2 (ja) | 電子回路アセンブリ試験方法及び試験装置及び該試験用アダプタ | |
| CN219369921U (zh) | 一种优化探针顺畅度和四线测试pass范围的治具针盘装置 | |
| US8044675B2 (en) | Testing apparatus with high efficiency and high accuracy | |
| JPH01313777A (ja) | プリント基板配線パターンの絶縁不良位置検出方式 | |
| JPH0354312B2 (cs) | ||
| KR20050067759A (ko) | 반도체 검사장치 | |
| JPH0421104Y2 (cs) | ||
| JPS6042662A (ja) | プリント配線板の検査方法とその検査装置 | |
| CN108008161B (zh) | 金属化半孔光电产品电性能的快速检测方法 | |
| EP0289145B1 (en) | Self-learn method for circuit tester | |
| JPS6122268A (ja) | プリント基板検査機 | |
| JPS61117473A (ja) | プリント配線板の検査方法とその検査装置 | |
| JPH0621242Y2 (ja) | 集積回路試験装置 |