CS240039B1 - Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur - Google Patents

Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur Download PDF

Info

Publication number
CS240039B1
CS240039B1 CS846549A CS654984A CS240039B1 CS 240039 B1 CS240039 B1 CS 240039B1 CS 846549 A CS846549 A CS 846549A CS 654984 A CS654984 A CS 654984A CS 240039 B1 CS240039 B1 CS 240039B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
production
semiconductor structures
aluminum
temperature
silicon
Prior art date
Application number
CS846549A
Other languages
English (en)
Other versions
CS654984A1 (en
Inventor
Jan May
Jaroslav Satek
Jiri Javurek
Timotej Simko
Jaroslav Zamastil
Jaroslav Homola
Original Assignee
Jan May
Jaroslav Satek
Jiri Javurek
Timotej Simko
Jaroslav Zamastil
Jaroslav Homola
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jan May, Jaroslav Satek, Jiri Javurek, Timotej Simko, Jaroslav Zamastil, Jaroslav Homola filed Critical Jan May
Priority to CS846549A priority Critical patent/CS240039B1/cs
Publication of CS654984A1 publication Critical patent/CS654984A1/cs
Publication of CS240039B1 publication Critical patent/CS240039B1/cs

Links

Landscapes

  • Thyristors (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

Řešeni přináší snížení výrobních nákladů, kterého se dosahuje tím, že do křemíkové desky se nadifunduje fosfor při teplotě 1230 az 1250 °C po dobu 0,5 až 2 hod. V některé z dalších operaci se provede slitinový spoj struktury s molybdenovou nebo wolframovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie ze slitiny hliník-křemik tloušťky 40 až 90 A® při teplotě 650 až 850 °C ve vakuu nebo ochranné atmosféře.

Description

Vynález se týká výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur, obsahujících alespoň jeden vysokcnapěíový PN přechod®
Vzhledem k rostoucím potřebám výkonových polovodičových součástek vzrůstá potřeba zvyšovat ekonomičnost výroby součástek především s nižší úrovní parametrů® Jsou vyvíjeny technologické postupy s minimální pracností, s malým počtem vysokoteplotních operací, s vyloučením nebo zmenšením počtu maskovacích operací z důvodu úspory času, energie a technologických zařízení.
Při výrobě výkonových diod, tyristorů a tranzistorů se vychází z monokrystalické křemíkové desky typu lí, načež v dalších operacích se vytvoří NP nebo PUP struktura® Následuje vytvoření N+NP struktury pro diody nebo N+PNP struktury pro tyristory® Vzhledem k tomu, že N+ vrstva /případně plošně rozčleněná/ je pouze na jedné straně křemíkové desky, je nutné před difúzí N+ maskovat druhou stranu vrstvou oxidu standartním fotolitografickým postupem® Případně je možné oboustranně nadifun dovánou N+ vrstvu jednostranně oleptat, přičemž je nutné druhou stranu překrýt alespoň fotorezistem® Oba způsoby jsou značně pracné®
Tuto nevýhodu odstraňuje způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur podle vynálezu, jehož podstatou je, že do křemíkové vrstvy se nadifunduje fosfor při teplotě 1230 až
240 039
1250° C po dobu 0,5 až 2 hod·, načež v některé z dalších operací se provede slitinový spoj struktury s molybdenovou nebo wolframovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové folie nebo fólie ze slitiny hliník-křemík tlouštíky 40 až 90<Aun při teplotě 650 až 850° C ve vakuu nebo ochranné atmosféře.
Postupem dle vynálezu se rozpustí na přitavované ploše křemíkové desky vrstva N+ do taveniny a při chladnutí slitiny se vytvoří rekrystalováná vrstva obohacená hliníkemjtedy vodivosti typu P.
Využitím způsobu výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur podle vynálezu u diodových, tyristorových a tranzistorových systémů se dosáhne snížení výrobní nákladů.
Příklad
V diodovém systému se provede difúze fosforu po dobu jedné hodiny při teplotě 1230° C/načež se provede slitinový spoj křemíkové desky s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí fólie ze slitiny hliník-křemík tloušťky 60,/uin ve vakuu při teplotě 770°C.

Claims (1)

  1. Předmět vynálezu
    240 039
    Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur, vyznačený tím , že do křemíkové desky se nadifunduje fosfor při teplotě 1230° až 1250° C po dobu 0,5 až 2 hod., načež se v některé z dalších operací provede slitinový spoj struktury s molybdenovou nebo wolframovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo folie ze slitiny hliník-křemík tlouš-ficy 40 až 90<4im při teplotě 650 až 850° C ve vakuu nebo ochranné atmosféře.
CS846549A 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur CS240039B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS846549A CS240039B1 (cs) 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS846549A CS240039B1 (cs) 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS654984A1 CS654984A1 (en) 1985-06-13
CS240039B1 true CS240039B1 (cs) 1986-02-13

Family

ID=5412811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS846549A CS240039B1 (cs) 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS240039B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS654984A1 (en) 1985-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Werner et al. From polycrystalline to single crystalline silicon on glass
US8324044B2 (en) Method of producing a semiconductor device with an aluminum or aluminum alloy electrode
JPS5951743B2 (ja) 半導体集積装置
JPS6445166A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS5763854A (en) Semiconductor device
US3341377A (en) Surface-passivated alloy semiconductor devices and method for producing the same
CS240039B1 (cs) Způsob výroby výkonových velkoplošných polovodičových struktur
US8610257B2 (en) Semiconductor device and method for producing such a device
EP0044048A1 (en) Glass passivated high power semiconductor devices
JPS5643754A (en) Manufacture of semiconductor device
JP3310326B2 (ja) 光電変換装置の作製方法
CA1127322A (en) Method of fabricating semiconductor device by bonding together silicon substrate and electrode or the like with aluminum
CN111668100B (zh) 一种快恢复二极管及其制备方法和应用
CN115831728B (zh) 半导体器件的制造方法
US3988763A (en) Isolation junctions for semiconductors devices
JPH0249732Y2 (cs)
US3384518A (en) Method for making semiconductor devices
JPS6431452A (en) Semiconductor integrated circuit containing current mirror
Hurley et al. Some recent advances in silicon microtechnology and their dependence on processing technique
JPS5633852A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS5748258A (en) Semiconductor memory
CS240040B1 (cs) Způsob výroby výkonové diodové struktury
JPS57124427A (en) Manufacture of semiconductor device
UA56001A (uk) Спосіб локальної дифузії алюмінію
JPS57143873A (en) Manufacture of solar cell