CS240040B1 - Způsob výroby výkonové diodové struktury - Google Patents
Způsob výroby výkonové diodové struktury Download PDFInfo
- Publication number
- CS240040B1 CS240040B1 CS846550A CS655084A CS240040B1 CS 240040 B1 CS240040 B1 CS 240040B1 CS 846550 A CS846550 A CS 846550A CS 655084 A CS655084 A CS 655084A CS 240040 B1 CS240040 B1 CS 240040B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- aluminum
- silicon
- silicon wafer
- temperature
- hours
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Weting (AREA)
Abstract
Účelem řešení je snížení výrobních nákladů, kterého se dosáhne tím, že křemíková deska s povrchem opracovaným řezáním z monokrystalu křemíku se jednostranně oleptá, dále se provede difúze hliníku z vrstvy difuzantu naneseného na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250 * 20 °C po dobu maximálně 25 hod. Pak následuje oboustranná difúze fosforu při teplotě 1200 až I25O °C po dobu maximálně 3 hod. Potom se křemíková deska spájí na straně nadifunované hliníkem s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie na bázi hliník-křemík tloušíky 40 až 70 nm při teplotě 65Ο až 800 °C ve vakuu nebo ochranně atmosféře.
Description
Vynález se týká způsobu výroby výkonových diodových struktur s vysokými závěrnými i propastnými parametry·
V technologii výroby výkonových polovodičových diod se používá jako výchozí materiál pro vysokotepelné operace mono* krystalická křemíková deska, která po nařezání z krystalu se obrousí /olapuje/ na definitivní tlouš/ku* Použití pouze řezaných křemíkových desek by sice vedlo k úspoře pracnosti a křemíku, ale PN přechody vytvořené do tohoto povrchu jsou nehomogenní· Po difúzi hliníku do broušeného povrchu pak následuje obvykle difúze boru a fosforu, přičemž každá vrstva je vytvářena do jiné strany desky, což vyžaduje provedení maskovacích, respeleptacích operací· Celý proces je poměrně pracný, vyžaduje řadu kusových operací, resp· operací náročných na přesnost a vysokou kapacitu technologických zařízení,například: broušení desek, oxidace, nanášení fotorezistu, difúze bóru a pod·.
Nevýhody vysokých nákladů řeší způsob výroby výkonové diodové struktury podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že křemíková deska,s povrchem opracovaným řezáním z monokrystalu křemíku,se jednostranně oleptá, dále se provede difoze hliníku z vrstvy difuzantu naneseného na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250 i 20° C po dobu maximálně 25 hod·, poté následuje oboustranná difúze fosforu při teplotě 1200 až 1250° C po dobu maximálně 3 hod·, načež se křemíková deska spájí na
240 040 straně nadifundované hliníkem s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie na bázi hliník-křemík tloušlAcy 40 až 70^ při teplotě 650 až 800° C ve vakuu nebo ochranné atmosféře.
Způsob výroby výkonové diodové struktury podle vynálezu je vysoce efektivní s nízkými náklady, při zajištění vysokých závěrných i propustných parametrů diod v oblasti provozních teplot -60° C až 200° C. Vysokých závěrných vlastností vysokonapěťového PN přechodu je dosaženo tak, že vliv nehomogenit přechodu vzniklých difúzí hliníku do řezaného povrchu křemíku je eliminován vytvořením rekrystalizováné vrstvy křemíku obohaceného hliníkem během pájecího procesu.
Vynález je vhodný pro výrobu všech typů diod.
Příklad
Křemíková deska řezaná z monokrystalu křemíku se jednostranně oleptá v silikonovém návleku v 30 % hydroxidu draselném, načež následuje difúze hliníku z nanesené vrstvy dusičnanu hlinitého na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250° C po dobu 20 hod., dále oboustranná difúze fosforu z oxidchloridufosforečného při teplotě 1230° C po dobu 1 hod., načež se křemíková deska spájí s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí fólie na bázi hliník-křemík tloušťky 60 jam ve vakuu při teplotě 770° C.
Claims (1)
- Předmět vynálezu240 040Způsob výroby výkonové diodové struktury, vyznačený tím , že křemíková deska s povrchem /opracovaným řezáním z monokrystalu křemíku se jednostranně oleptá, dále se provede difúze hliníku z vrstvy difuzantu naneseného na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250 £ 20° C po dobu maximálně 25 hod., poté následuje oboustranná difúze fosforu při teplotě 1200 až 1250° C po dobu maximálně 3 hodo, načež se křemíková deska spájí na straně nadífundované hliníkem s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie na bázi hliník-křemík tloušťky 40 až 70<4un při teplotě 650 až 800 °C ve vakuu nebo ochranné atmosféře*
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS846550A CS240040B1 (cs) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | Způsob výroby výkonové diodové struktury |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS846550A CS240040B1 (cs) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | Způsob výroby výkonové diodové struktury |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS655084A1 CS655084A1 (en) | 1985-06-13 |
| CS240040B1 true CS240040B1 (cs) | 1986-02-13 |
Family
ID=5412822
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS846550A CS240040B1 (cs) | 1984-08-30 | 1984-08-30 | Způsob výroby výkonové diodové struktury |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS240040B1 (cs) |
-
1984
- 1984-08-30 CS CS846550A patent/CS240040B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS655084A1 (en) | 1985-06-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5344524A (en) | SOI substrate fabrication | |
| US4891329A (en) | Method of forming a nonsilicon semiconductor on insulator structure | |
| TWI639498B (zh) | 將一個固態物分離成多個固態層之組合製造方法 | |
| KR970063766A (ko) | 반도체기판의 제조방법 | |
| US3816906A (en) | Method of dividing mg-al spinel substrate wafers coated with semiconductor material and provided with semiconductor components | |
| DE3856075D1 (de) | Verfahren zur herstellung dünner einzelkristallsiliciuminseln auf einem isolator | |
| CN88100817A (zh) | 半导体元件制造工艺 | |
| JPS57194518A (en) | Manufacture of polycrystalline silicon | |
| JPS5516464A (en) | Method of forming wafer for semiconductor device | |
| JPS57155726A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| US3661741A (en) | Fabrication of integrated semiconductor devices by electrochemical etching | |
| EP0170560A3 (en) | Backside gettering of silicon wafers | |
| JP2961522B2 (ja) | 半導体電子素子用基板およびその製造方法 | |
| CS240040B1 (cs) | Způsob výroby výkonové diodové struktury | |
| US3341743A (en) | Integrated circuitry having discrete regions of semiconductor material isolated by an insulating material | |
| JPH04223356A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS566451A (en) | Deviding method of semiconductor device | |
| JPS577117A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| JPS5745256A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| JPS567434A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| JPS5643734A (en) | Anneal method of polycrystalline silicon thin film | |
| UA56001A (uk) | Спосіб локальної дифузії алюмінію | |
| JPH0258329A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS63260148A (ja) | 誘電体分離基板 | |
| JPS57201015A (en) | Manufacture of semiconductor device |