CS240040B1 - Způsob výroby výkonové diodové struktury - Google Patents

Způsob výroby výkonové diodové struktury Download PDF

Info

Publication number
CS240040B1
CS240040B1 CS846550A CS655084A CS240040B1 CS 240040 B1 CS240040 B1 CS 240040B1 CS 846550 A CS846550 A CS 846550A CS 655084 A CS655084 A CS 655084A CS 240040 B1 CS240040 B1 CS 240040B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
aluminum
silicon
silicon wafer
temperature
hours
Prior art date
Application number
CS846550A
Other languages
English (en)
Other versions
CS655084A1 (en
Inventor
Jan May
Jaroslav Satek
Jaromir Louda
Jiri Javurek
Jaroslav Zamastil
Jaroslav Homola
Original Assignee
Jan May
Jaroslav Satek
Jaromir Louda
Jiri Javurek
Jaroslav Zamastil
Jaroslav Homola
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jan May, Jaroslav Satek, Jaromir Louda, Jiri Javurek, Jaroslav Zamastil, Jaroslav Homola filed Critical Jan May
Priority to CS846550A priority Critical patent/CS240040B1/cs
Publication of CS655084A1 publication Critical patent/CS655084A1/cs
Publication of CS240040B1 publication Critical patent/CS240040B1/cs

Links

Landscapes

  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Weting (AREA)

Abstract

Účelem řešení je snížení výrobních nákladů, kterého se dosáhne tím, že křemíková deska s povrchem opracovaným řezáním z monokrystalu křemíku se jednostranně oleptá, dále se provede difúze hliníku z vrstvy difuzantu naneseného na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250 * 20 °C po dobu maximálně 25 hod. Pak následuje oboustranná difúze fosforu při teplotě 1200 až I25O °C po dobu maximálně 3 hod. Potom se křemíková deska spájí na straně nadifunované hliníkem s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie na bázi hliník-křemík tloušíky 40 až 70 nm při teplotě 65Ο až 800 °C ve vakuu nebo ochranně atmosféře.

Description

Vynález se týká způsobu výroby výkonových diodových struktur s vysokými závěrnými i propastnými parametry·
V technologii výroby výkonových polovodičových diod se používá jako výchozí materiál pro vysokotepelné operace mono* krystalická křemíková deska, která po nařezání z krystalu se obrousí /olapuje/ na definitivní tlouš/ku* Použití pouze řezaných křemíkových desek by sice vedlo k úspoře pracnosti a křemíku, ale PN přechody vytvořené do tohoto povrchu jsou nehomogenní· Po difúzi hliníku do broušeného povrchu pak následuje obvykle difúze boru a fosforu, přičemž každá vrstva je vytvářena do jiné strany desky, což vyžaduje provedení maskovacích, respeleptacích operací· Celý proces je poměrně pracný, vyžaduje řadu kusových operací, resp· operací náročných na přesnost a vysokou kapacitu technologických zařízení,například: broušení desek, oxidace, nanášení fotorezistu, difúze bóru a pod·.
Nevýhody vysokých nákladů řeší způsob výroby výkonové diodové struktury podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že křemíková deska,s povrchem opracovaným řezáním z monokrystalu křemíku,se jednostranně oleptá, dále se provede difoze hliníku z vrstvy difuzantu naneseného na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250 i 20° C po dobu maximálně 25 hod·, poté následuje oboustranná difúze fosforu při teplotě 1200 až 1250° C po dobu maximálně 3 hod·, načež se křemíková deska spájí na
240 040 straně nadifundované hliníkem s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie na bázi hliník-křemík tloušlAcy 40 až 70^ při teplotě 650 až 800° C ve vakuu nebo ochranné atmosféře.
Způsob výroby výkonové diodové struktury podle vynálezu je vysoce efektivní s nízkými náklady, při zajištění vysokých závěrných i propustných parametrů diod v oblasti provozních teplot -60° C až 200° C. Vysokých závěrných vlastností vysokonapěťového PN přechodu je dosaženo tak, že vliv nehomogenit přechodu vzniklých difúzí hliníku do řezaného povrchu křemíku je eliminován vytvořením rekrystalizováné vrstvy křemíku obohaceného hliníkem během pájecího procesu.
Vynález je vhodný pro výrobu všech typů diod.
Příklad
Křemíková deska řezaná z monokrystalu křemíku se jednostranně oleptá v silikonovém návleku v 30 % hydroxidu draselném, načež následuje difúze hliníku z nanesené vrstvy dusičnanu hlinitého na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250° C po dobu 20 hod., dále oboustranná difúze fosforu z oxidchloridufosforečného při teplotě 1230° C po dobu 1 hod., načež se křemíková deska spájí s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí fólie na bázi hliník-křemík tloušťky 60 jam ve vakuu při teplotě 770° C.

Claims (1)

  1. Předmět vynálezu
    240 040
    Způsob výroby výkonové diodové struktury, vyznačený tím , že křemíková deska s povrchem /opracovaným řezáním z monokrystalu křemíku se jednostranně oleptá, dále se provede difúze hliníku z vrstvy difuzantu naneseného na neoleptanou stranu křemíkové desky při teplotě 1250 £ 20° C po dobu maximálně 25 hod., poté následuje oboustranná difúze fosforu při teplotě 1200 až 1250° C po dobu maximálně 3 hodo, načež se křemíková deska spájí na straně nadífundované hliníkem s molybdenovou dilatační elektrodou pomocí hliníkové fólie nebo fólie na bázi hliník-křemík tloušťky 40 až 70<4un při teplotě 650 až 800 °C ve vakuu nebo ochranné atmosféře*
CS846550A 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonové diodové struktury CS240040B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS846550A CS240040B1 (cs) 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonové diodové struktury

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS846550A CS240040B1 (cs) 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonové diodové struktury

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS655084A1 CS655084A1 (en) 1985-06-13
CS240040B1 true CS240040B1 (cs) 1986-02-13

Family

ID=5412822

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS846550A CS240040B1 (cs) 1984-08-30 1984-08-30 Způsob výroby výkonové diodové struktury

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS240040B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS655084A1 (en) 1985-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5344524A (en) SOI substrate fabrication
US4891329A (en) Method of forming a nonsilicon semiconductor on insulator structure
TWI639498B (zh) 將一個固態物分離成多個固態層之組合製造方法
KR970063766A (ko) 반도체기판의 제조방법
US3816906A (en) Method of dividing mg-al spinel substrate wafers coated with semiconductor material and provided with semiconductor components
DE3856075D1 (de) Verfahren zur herstellung dünner einzelkristallsiliciuminseln auf einem isolator
CN88100817A (zh) 半导体元件制造工艺
JPS57194518A (en) Manufacture of polycrystalline silicon
JPS5516464A (en) Method of forming wafer for semiconductor device
JPS57155726A (en) Manufacture of semiconductor device
US3661741A (en) Fabrication of integrated semiconductor devices by electrochemical etching
EP0170560A3 (en) Backside gettering of silicon wafers
JP2961522B2 (ja) 半導体電子素子用基板およびその製造方法
CS240040B1 (cs) Způsob výroby výkonové diodové struktury
US3341743A (en) Integrated circuitry having discrete regions of semiconductor material isolated by an insulating material
JPH04223356A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS566451A (en) Deviding method of semiconductor device
JPS577117A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS5745256A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS567434A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS5643734A (en) Anneal method of polycrystalline silicon thin film
UA56001A (uk) Спосіб локальної дифузії алюмінію
JPH0258329A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS63260148A (ja) 誘電体分離基板
JPS57201015A (en) Manufacture of semiconductor device