CS236383B1 - Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice - Google Patents
Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice Download PDFInfo
- Publication number
- CS236383B1 CS236383B1 CS1018083A CS1018083A CS236383B1 CS 236383 B1 CS236383 B1 CS 236383B1 CS 1018083 A CS1018083 A CS 1018083A CS 1018083 A CS1018083 A CS 1018083A CS 236383 B1 CS236383 B1 CS 236383B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- input
- output
- data
- group
- bus
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims abstract description 34
- 230000006870 function Effects 0.000 abstract description 6
- 230000011664 signaling Effects 0.000 abstract description 6
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Cílem řešení je vytvořit prostorově
nenáročné a jednoduché zapojení, které
umožňuje převádění výstupních datových
funkcí při využití výstupních řídicích
funkcí na vstupní datové funkce u obousměrných
vstupních a výstupních funkcí,
přičemž výsledek testování je vyhodnocován
přímo ve výpočetním zařízení. Tohoto
cíle se dosáhne zapojením, v kterém skupina
datových vstupů a výstupů budiče
obousměrné vstupní a výstupní sběrnice
tvoři současně skupinu datových vstupů
a výstupů zapojení, skupina datových
výstupů budiče obousměrné vstupní a výstupní
sběrnice je připojena na skupinu
datových vstupů vyrovnávací paměti, skupina
datových výstupů varovnavacá paměti
je připojena na skupinu datových vstupů
budiče obousměrné vstupní a výstupní
sběrnice. Signalizační výstup vyrovnávací
paměti je připojen na signalizační
vstup obvodu kombinační a sekvenční loiky.
Nastavovací výstup obvodu kombinaní
a sekvenční logiky je připojen na
nastavovací vstup vyrovnávací paměti,
kdežto jeho informační výstup tvoří současně
informační výstup zapojení. Řídicí
vstup obvodu kombinační a sekvenční logiky
tvoří současně řídicí vstup zapojení
a přepínací výstup obvodu kombinační a
sekvenční logiky je připojen na přepínací
vstup budiče obousměrné vstupní a výstupní
sběrnice. Zapojení lze použít zejména
při oživování a testování universálních
výpočetních zařízení, jako jsouinteligentní terminály, stolní počítače,
universální procesory a podobně
Description
Vynález se týká zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice výpočetních zařízení.
t
Lokalizování poruchy funkce spojení výpočetního zařízení s periferní jednotkou je spojeno s potížemi. Pokud není k dispo sici náhradní adaptér nebo technické prostředky pro jeho otestování, není možné odpovědně rozhodnout, zda porucha nastala před nebo za rozhraním spojení, to je před nebo za obousměrnou vstupní a výstupní sběrnicí z hlediska výpočetního zařízení.
*
Při oživování výpočetního zařízení je žádoucí mít možnost testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice v místě, kde je tato dávána k disposici jednotlivým adaptérům, které využívají vždy pouze zcela specifický, omezený počet datových a řídicích funkcí. I když obousměrná vstupní a výstupní sběrnice bývá součástí vnitřní kabeláže výpočetního zařízení a jsou na ni připojeny vestavěné jednotky, jako displej, vestavěná vnější pamět a jiné, nezaručuje správná funkce těchto komponent;současně správnou funkci obousměrné vstupní a výstupní sběrnice na konektorech pro vstupní a výstupní adaptéry. Navíc, konektory obousměrné vstupní a výstupní sběrnice bývají umístěny uvnitř prostoru pro fyzické připojení dalších vstupních a výstupních adaptérů, takže testování funkce obousměrné vstupní a výstupní sběrnice pomocí osciloskopu nebo běžných logických analyzátorů je značně ztíženo. Připojování simulátorů vstupních a výstupních zařízení na obousměrnou vstupní a výstupní sběrnici je další možností pro oživování a testování, vyžaduje však přídavné technické prostředky, často zvláštní napájecí zdroje a je zbytečně rozměrné a pro běžný servis nevhodné. K tomu je dále nezbytné propojení prostřednictvím spojovací kabeláže a interní kabeláže, což společně s deskami logiky simulátorů vnáší do testování další možnost zavedení poruchy samotného testovacího zařízení.
Uvedené nevýhody odstraňuje zapojení na testování obou2
236 383 směrné vstupní a výstupní sběrnice podle vynálezu, jehož podstatou je, že skupinadatových vstupů a výstupů budiče obousměr né vstupní a výstupní· sběrnice tvoří současně skupinu datových vstupů a výstupů zapojení, skupina datových výstupů budiče obou směrné vstupní a výstupní sběrnice je připojena na skupinu datových vstupů vyrovnávací paměti, skupina datových výstupů vyrovnávací paměti je připojena na skupinu datových vstupů budiče obousměrné vstupní a výstupní sběrnice, signalizační výstup vyrovnávací paměti je připojen na signalizační vstup obvodu kombinační a sekvenční logiky, nastavovací výstup obvodu kombinační a sekvenční logiky je připojen na nastavovací vstup vyrovnávací paměti, kdežto jeho informační výstup tvoří současně informační výstup zapojení, řídicí vstup obvodu kombinační a sekvenční logiky tvoří současně řídicí vstup zapojení, přepínací výstup obvodu kombinační a sekvenční logiky je připojen na přepínací vstup budiče obousměrné vstupní a výstupní sběrnice.
Výhodou zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice podle vynálezu je jeho jednoduchost a prostorová nenáročnost. Umožňuje vyhodnocování výsledků testování přímo ve výpočetním zařízení. Je tak sníženo risiko zahrnutí dalších prvků s možností nespolehlivosti, na příklad kabeláže. Správnou funkci zapojení obvodu na testování obousměrné vstupní a výstup ní sběrnice lze kdykoliv ověřit standardním způsobem jako test jediné desky. Další výhodou je možnost využití technických prostředků uvnitř výpočetního zařízení ke komparaci hodnot datových a řídicích signálů, převzatých na vstupu obousměrné vstupní a výstupní sběrnice s hodnotami očekávanými a případné další využití inteligence zabudovaných technických prostředků ve spolupráci s účelovým vybavením pro detekci, lokalizaci a indikaci poruch.
Příklad zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice podle vynálezu je znázorněn na připojeném výkrese v blokovém schématu.
Skupina datových vstupů a výstupů 11 budiče 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice tvoří současně skupinu datových vstupů a výstupů 91 zapojení pro připojení na neznázorněnou obousměrnou vstupní a výstupní sběrnici výpočetního zařízení. Skupina datových výstupů 011 budiče 2 obousměrné; vstupní a výstupní sběrnice je připojena na skupinu datových vstupů 21 vyrovnávací paměti 2. Skupina datových výstupů 021 vyrovnávací pa měti 2 je připojena na skupinu datových vstupů 12 budiče 1 obou
236 383 směrné vstupní a výstupní sběrnice. Signalizační výstup 022 vyrovnávací paměti 2 je připojen na signalizační vstup 32 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky. Nastavovací výstup 032 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky je připojen na nastavovací vstup 22 vyrovnávací paměti 2, kdežto jeho informační vý• tup 031 tvoří současně informační výstup 091 zapojení pro připojení na obousměrnou vstupní a výstupní sběrnici výpočetního zařízení. Řídicí vstup 31 obvodu 3 kombinační a sekvenční logiky tvoří současně řídicí vstup 92 zapojení pro připojení na obousměrnou vstupní a výstupní sběrnici výpočetního zařízení. Přepínací výstup 033 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky je připojen na přepínací vstup 13 budičé .1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice.
Vystavení datového slova ve formě výstupního datového signálu na skupině datových vstupů a výstupů 11 budiče 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice předchází řídicí signál na řídicím vstupu 31 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky, který je tímto obvodem převeden na přepínací signál na signalizačním výstupu 033» Tento přepínací signál nastaví směr budiče 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice do stavu pro vstup dat. V okamžiku přítomnosti výstupního datového slova na obousměrné vstupní a výstupní sběrnici je prostřednictvím jiného řídicího signálu na řídicím vstupu 31 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky generován tímto obvodem přepínací signál pro nastavení výstupního datového slova přes budič 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice do vyrovnávací paměti 2.. Vystavení obsahu vyrovnávací paměti 2 na obousměrnou datovou vstupní a výstupní sběrnici ve směru vstupu dat předchází řídicí signál z výpočetního zařízeni na řídicí vstup 31 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky, sloužící k nastavení směru budiče 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice do stavu pro výstup dat. Toto nastavení směru a současně přítomnost datového slova z vyrovnávací paměti 2. přes budič 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice na obousměrné vstupní a výstupní sběrnici pro vstupní data signalizuje signál na informačním výstupu 031 obvodu 3. kombinační a sekvenční logiky, kterýžto obvod zpracovává rovněž signál připravenosti ze signalizačního výstupu 022 vyrovnávací paměti 2. Testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice je možné realizovat postupným vystavováním logických hodnot na výstupní řídicí signály a sledováním odezev na řídicích signálech vstupních. Postupným nabalováním dalších řídicích signálů
236 383 vstupních a výstupních se otestuje aparát, to je další výstupní řídicí signály, nezbytný k ovládání multiplexorů pro redukci nestejného počtu vstupních a výstupních datových signálů. Přiváděním různých kombinací na výstupní datové signály lze navíc testovat vzájemné zkraty mezi jednotlivými datovými signály, případně poruqhy typu trvalá úroveň logické nuly nebo tr valá úroveň logické jedničky. V případě, že obousměrná vstupní a výstupní sběrnice je bez závad, vyhodnotí výpočetní zařízení očekávaný signál, přivedený z vyrovnávací paměti 2 prostřednictvím budiče 1 obousměrné vstupní a výstupní sběrnice s využitím vlastní inteligence a o výsledku testu informuje operátora výpisem na obrazovce nebo prostřednictvím jiných indikačních prvků.
Vynálezu lze použít zejména při oživování a testování universálních výpočetních zařízení, jako jsou inteligentní terminály, stolní počítače, universální procesory a podobně.
Claims (1)
- Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice s vyrovnávací pamětí, vyznačené tím, že skupina datových vstupů a výstupů (11) budiče (1) obousměrné vstupní a výstupní sběrnice tvoří současně skupinu datových vstupů a výstupů (91) zapojení, skupina datových výstupů (011) budiče (1) obousměrné vstupní a výstupní sběrnice je připojena na skupinu datových vstupů (21) vyrovnávací paměti (2), skupina datových výstupů (021) vyrovnávací paměti (2) je připojena na skupinu datových vstupů (12) budiče (1) obousměrné vstupní a výstupní sběrnice, signalizační výstup (022) vyrovnávací paměti (2) je připojen na signalizační vstup (32) obvodu (3) kombinační a sekvenční logiky, nastavovací výstup (032) obvodu (3) kombinační a sekvenční logiky je připojen na nastavovací vstup (22) vyrovnávací paměti (2), kdežto jeho informační výstup (031) tvoří současně informační výstup (091) zapojení, řídicí vstup (31) obvodu (3) kombinační a sekvenční logiky tvoří současně řídicí vstup (92) zapojení, přepínací výstup (033) obvodu (3) kombinační a sekvenční logiky je připojen na přepínací vstup (13) budiče (1) obousměrné vstupní a výstupní sběrnice.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS1018083A CS236383B1 (cs) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CS1018083A CS236383B1 (cs) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS236383B1 true CS236383B1 (cs) | 1985-05-15 |
Family
ID=5448243
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS1018083A CS236383B1 (cs) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CS (1) | CS236383B1 (cs) |
-
1983
- 1983-12-29 CS CS1018083A patent/CS236383B1/cs unknown
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4196386A (en) | Method and portable apparatus for testing digital printed circuit boards | |
US3922537A (en) | Multiplex device for automatic test equipment | |
US5107230A (en) | Switched drivers providing backmatch impedance for circuit test systems | |
US4772845A (en) | Cable continuity testor including a sequential state machine | |
EP0758113B1 (en) | Test mode matrix circuit for an embedded microprocessor core | |
EP0191632A2 (en) | ROM emulator for diagnostic tester | |
US4174805A (en) | Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus | |
US6255843B1 (en) | Semiconductor integrated circuit testing apparatus and composite semiconductor integrated circuit testing apparatus | |
US4485472A (en) | Testable interface circuit | |
US10156606B2 (en) | Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same | |
US4429362A (en) | Data buffer operating in response to computer halt signal | |
US6459707B1 (en) | Relay multiplexer system and method for prevention of shock hazard | |
JP3555953B2 (ja) | プリング抵抗を備える接続部をテストする装置 | |
CS236383B1 (cs) | Zapojení na testování obousměrné vstupní a výstupní sběrnice | |
EP0157028A1 (en) | Programmable tester | |
US5581565A (en) | Measuring apparatus used for testing connections between at least two subassemblies | |
US6601196B1 (en) | Method and apparatus for debugging ternary and high speed busses | |
CS238481B1 (cs) | Zapojení obvodu pro testování jednosměrné vstupní a výstupní sběrnice | |
CN114296532B (zh) | 一种riom机箱及其网络控制系统 | |
CN219266942U (zh) | 一种导控计算机测试平台的自检系统 | |
EP0803735A1 (en) | Multi-chip module | |
JPS63198881A (ja) | 集積回路の試験装置 | |
KR100300242B1 (ko) | 내장형 마이크로프로세서 코어를 위한 검사모드 매트릭스 회로및 그 검사 방법 | |
SU1018062A1 (ru) | Устройство дл контрол монтажных схем | |
Zhang et al. | Research on embedded computer techniques used in Agricultural Equipments ATS |