CS235130B1 - Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů - Google Patents
Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů Download PDFInfo
- Publication number
- CS235130B1 CS235130B1 CS471183A CS471183A CS235130B1 CS 235130 B1 CS235130 B1 CS 235130B1 CS 471183 A CS471183 A CS 471183A CS 471183 A CS471183 A CS 471183A CS 235130 B1 CS235130 B1 CS 235130B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- circuit
- input
- output
- sampling
- sampling circuit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
Zapojení je určeno pro rastrovací elektronové mikroskopy. Podstatou vynálezu je, že komparátory a klopné obvody vytvářejí impulsy, které jednak určují okamžiky vzorkování vychylovacího pilovitého napětí vzorkovacími obvody a jednak se zobrazují na monitoru jako dvě svislé přímky v obraze. Přímky (impulsy) je možné posouvat pomocí dvou nezávislých potenciometrů. Výstupní signál vzorkovacích obvodů je přes rozdílový obvod přiváděn do obvodů vyhodnocení délky, na jejichž výstup je informace o měřené délce.
Description
Vynález se týká zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů, pozorovaných rastrovacím elektronovým mikroskopem.
Dosavadní způsob určení rozměrů objektů, pozorovaných rastrovacím elektronovým mikroskopem, zvláště struktur integrovaných obvodů, spočívá v odměřování rozměrů na obrazovce pomocí přiložené měrky a následném přepočítávání pomocí údaje zvětšení na skutečnou velikost. U dokonalejších zařízení je na obrazovce zobrazena měrná úsečka neměnné délky, která odstraňuje obtížné odměřování měrkou. Při měření však musí obsluha mikroskopu užitím ovládačů zvětšení a posuvů x a y ztotožnit okraje měřeného objektu s koncovými body měrné úsečky.
Nevýhodou dosavadního způsobu je zdlouhavé a nepřesné odměřování rozměrů přes sklo obrazovky. Měření je zatížené velkou chybou, navíc je třeba rozměr přepočítávat z údaje zvětšení, který je rovněž zatížen chybou. U dokonalejších zařízení odpadá měření měrkou přes sklo obrazovky, měření je však zatíženo chybou údaje úsečky a je třeba manipulovat s ovládačem zvětšení — měření je značně zdlouhavé.
Tyto dosavadní nevýhody odstraňuje zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů podle vynálezu.
Podstatou vynálezu je, že vstupní svorka zapojení je spojena s prvním vstupem komparátorů a klopných obvodů a současně je spojena přes obvod plynulého ovládání zvětšení jednak s vychylovacím zesilovačem, jednak se signálovým vstupem prvního vzorkovacího obvodu, jehož výstup je spojen s vstupem druhého vzorkovacíh obvodu, je rozdílovým obvodem a jednak se signálovým vstupem druhého vzorkovacího obvodu, jehož výstup je spojen přes rozdílový obvod s obvody vyhodnocení délky, přičemž první a druhý potenciometr je spojen s druhým a třetím vstupem komparátorů a klopných obvodů, jejichž první výstup je spojen s řídicím vstupem prvního vzorkovacího obvodu, druhý výstup je spojen s řídicím vstupem druhého vzorkovacího obvodu a třetí výstup je spojen s monitorem.
Mezi vychylovací zesilovač a společný bod obvodu plynulého ovládání zvětšení a signálového vstupu prvního vzorkovacího obvodu mohou být zapojeny obvody rotace.
V obou případech zapojení je možné zapojit zesilovač mezi signálový vstup prvního vzorkovacího obvodu a společný bod obvodu plynulého ovládání zvětšení a vychylovacího zesilovače.
Hlavní výhodou zapojení podle vynálezu je značné zjednodušení a urychlení měření rozměrů objektů, pozorovaných rastrovacím elektronovým mikroskopem. Pro změření rozměru mikroskopického objektu musí obsluha pouze posunout časové značky — měřicí přímky — dvěma nezávislými ovládači zleva a zprava k měřenému objektu tak, aby jej přesně ohraničily. Tím je měření skončeno a na zobrazovači se automaticky objeví výsledný údaj délky.
Další výhodou je vysoká přesnost měření, neboť údaj délky je odvozen přímo z napětí, řídicího proud ve vychylovacích cívkách elektronového mikroskopu. Chyba údaje zvětšení nemá vliv na přesnost měření.
Vynález blíže objasní výkresy, kde na obr. 1 je blokové schéma zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů a na obr. 2 jsou zobrazeny časové průběhy jednotlivých napětí.
Vstupní svorka 1 zapojení je spojena přes obvod 2 plynulého ovládání zvětšeni jednak s vychylovacím zesilovačem 3 a jednak se signálovými vstupy 41 a 51 prvního a druhého vzorkovacího obvodu 4 a 5, jejichž výstupy 43 a 53 jsou spojeny přes rozdílový obvod 6 s obvody 7 vyhodnocení délky. Vstupní svorka 1 zapojení je současně spojena s prvním vstupem 81 komparátorů a klopných obvodů 8, jejichž první výstup 84 je spojen s řídicím vstupem 42 prvního vzorkovacího obvodu 4, druhý výstup 85 je spojen s řídicím vstupem 52 druhého vzorkovacího obvodu 5 a třetí výstup 86 je spojen s monitorem 9. První a druhý potenciometr 10 a 11 je spojen s druhým a třetím vstupem 82 a 83 komparátorů a klopných obvodů 8.
Mezi vychylovací zesilovač 3 a společný bod obvodu 2 plynulého ovládání zvětšení a signálového vstupu 41 prvního vzorkovacího obvodu 4 mohou být zapojeny obvody 13 rotace, případně mezi signálový vstup 41 prvního vzorkovacího obvodu 4 a společný bod obvodu 2 plynulého ovládání zvětšení a vychylovacího zesilovače 3 může být zapojen zesilovač 12.
Zapojení podle vynálezu pracuje takto:
Na vstupní svorku 1 zapojení přichází pilovité napětí s konstantní amplitudou u81 (obr. 2aJ pro vychylování ve vodorovném směru. Toto napětí porovnávají komparátory a klopné obvody 8 se stejnosměrnými napětími u§2 a u83 (obr. 2a) z prvního a druhého potenciometru 10 a 11, čímž vznikají časové značky — úzké impulsy u86 (obr. 2b), které jsou přiváděny do monitoru 9, kde se zobrazují jako dvě svislé přímky v obraze. Změnou stejnosměrných napětí u82 a u83 (obr. 2a), pomocí prvního a druhého potenciometru 10 a 11, lze přímkami v obraze pohybovat ve vodorovném směru. Při měření se přímky nastaví na počátek a konec měřeného objektu tak, aby přesně ohraničily měřený rozměr.
Ze vstupní svorky 1 zapojení je pilovité napětí s konstantní amplitudou u81 (obr. 2a) přiváděno také na vstup obvodu 2 plynulého ovládání zvětšení, který mění jeho amplitudu a tím ovládá zvětšení mikroskopu. Výstupní vychylovací napětí u41 (obr. 2e) je přiváděno na vstup vychylovacího ze235130 silovače 3, kde řídí proud ve vychylovacích cívkách elektronového mikroskopu.
Vychylovací napětí u4l (obr. 2e) je současně přivedeno na signálového vstupy 41 a 51 prvního a druhého vzorkovacího obvodu 4 a 5, na jejichž řídicí vstupy 42 a 52 jsou přivedeny řídicí impulsy u84 a u85 (obr. 2c, dj z prvního a druhého výstupu 84 a 85 komparátorů a klopných obvodů 8. Řídicí impulsy, odvozené z komparace napětí u8] (obr. 2aj s napětími u82 a u83 (obr. 2a), určují okamžiky vzorkování vychylovacího napětí u4| (obr. 2e) prvním a druhým vzorkovacím obvodem 4 a 5. Na výstupech 43 a 53 prvního a druhého vzorkovacího obvodu 4 a 5 jsou pak stejnosměrná napětí u43 a u53 (obr. 2e), jejichž velikost ]e rovna velikosti vychylovacího napětí u4t (obr. 2ej v okamžicích vzorkování. Obě napětí u43 a U53 jsou přivedena do rozdílového obvodu 6, který vytváří jejich rozdíl Au = u53 — — u43. Výstupní napětí Au rozdílového obvodu 6 je přímo úměrné měřené délce a je v obvodech 7 vyhodnocení délky převedeno na číslicový údaj, nezávislý na použitém urychlovacím napětí a vzdálenosti pozorovacího vzorku v ose z.
Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů nalezne uplatnění v rastrovacích elektronových mikroskopech ve všech aplikacích, kdy je potřeba rychle a přesně měřit rozměry pozorovaných objektů libovolného druhu.
Claims (3)
1. Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů, vyznačující se tím, že vstupní svorka (1) zapojeni je spojena s prvním vstupem (81J komparátorů a klopných obvodů (8) a současně je spojena přes obvod (2) plynulého ovládání zvětšení jednak s vychylovacím zesilovačem (3), jednak se signálovým vstupem (41J prvního vzorkovacího obvodu (4), jehož výstup (43J je spojen s rozdílovým obvodem (6) a jednak se signálovým vstupem (51) druhého vzorkovacího obvodu (5J, jehož výstup (53J je spojen přes rozdílový obvod (6) s obvody (7J vyhodnocení délky, přičemž první a druhý potenciometr (10. 11) je spojen s druhým n třetím vstupem (82, 83J komparátorů a klopných obvodů (8), jejichž první výstup (84) je spojen s řídicím vstupem (42) prvního vzorkovacího obVYNALEZU vodu (4), druhý výstup (85) je spojen s řídicím vstupem (52) druhého vzorkovacího obvodu (5) a třetí výstup (88) je spojen s monitorem (9).
2. Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů podle bodu 1, vyznačující se tím, že mezi vychylovací zesilovač (3) a společný bod obvodu (2) plynulého ovládání zvětšení a signálového vstupu (41} prvního vzorkovacího obvodu (4) jsou zapojeny obvody (13) rotace,
3. Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů podle bodů 1 a 2, vyznačující se tím, že mezi signálový vstup (41) prvního vzorkovacího obvodu (4) a společný bod obvodu (2j plynulého ovládání zvětšení a vychylovacího zesilovače (3) je zapojen zesilovač'(12 j.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS471183A CS235130B1 (cs) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS471183A CS235130B1 (cs) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS235130B1 true CS235130B1 (cs) | 1985-05-15 |
Family
ID=5390492
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS471183A CS235130B1 (cs) | 1983-06-24 | 1983-06-24 | Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS235130B1 (cs) |
-
1983
- 1983-06-24 CS CS471183A patent/CS235130B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4544879A (en) | Stimulus/measuring unit for DC characteristics measuring | |
| US4384407A (en) | Three dimensional coordinate measuring apparatus | |
| DE69730670T2 (de) | Rastersondenmikroskop und Signalverarbeitungsgerät | |
| JPH0312503A (ja) | 表面顕微鏡 | |
| CS235130B1 (cs) | Zapojení pro měření rozměrů mikroskopických objektů | |
| KR960019094A (ko) | 다기능 측정기 | |
| CS243809B1 (cs) | Zapojeni pro přesné vytvářeni měřicfch značek na obrazovce | |
| EP0316644A1 (de) | Messeinrichtung mit Sensorelementen | |
| EP0119266A4 (en) | SELECTION CIRCUIT FOR EXTENSOMETERS. | |
| JPH06317402A (ja) | 走査型トンネル顕微鏡を用いた高分解能・高精度測定装置 | |
| JP2000162104A (ja) | 材料試験機 | |
| JPS595907A (ja) | 走査形電子顕微鏡 | |
| JPH07113732A (ja) | 引張試験方法 | |
| JP2000235053A (ja) | 計測装置 | |
| CS254392B1 (cs) | Zapojení pro vyloučení chybných výsledků méření | |
| SU779923A1 (ru) | Симметроскоп | |
| SU864213A1 (ru) | Устройство дл автоматической поверки стрелочных измерительных приборов | |
| JPH11258249A (ja) | 走査形トンネル顕微鏡 | |
| CS251042B1 (cs) | Zapojeni pro řízení korekčního obvodu rastrovacího elektronového mikroskopu | |
| CS255745B1 (cs) | Zapojení pro automatické vyhodnocení přesnosti měření elektronového mikroskopu | |
| GB2116724A (en) | Microscope for measuring and displaying dimensions electrically | |
| JPH06120127A (ja) | 電子線描画装置 | |
| JP2000162219A (ja) | チューブ型アクチュエータ | |
| JPH0442776B2 (cs) | ||
| JP3015582B2 (ja) | 細線位置決め装置 |