CS225999B1 - Zapojení komparačního testeru - Google Patents

Zapojení komparačního testeru Download PDF

Info

Publication number
CS225999B1
CS225999B1 CS986082A CS986082A CS225999B1 CS 225999 B1 CS225999 B1 CS 225999B1 CS 986082 A CS986082 A CS 986082A CS 986082 A CS986082 A CS 986082A CS 225999 B1 CS225999 B1 CS 225999B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
terminal
comparator
microcomputer
comparation
microcomputers
Prior art date
Application number
CS986082A
Other languages
English (en)
Inventor
Jiri Ing Smisek
Original Assignee
Jiri Ing Smisek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiri Ing Smisek filed Critical Jiri Ing Smisek
Priority to CS986082A priority Critical patent/CS225999B1/cs
Publication of CS225999B1 publication Critical patent/CS225999B1/cs

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

Předmětem vynálezu je zapojení komparačního testeru, které řeší zrychlení a zkvalitnění výsledků testování vícepočítačových struktur se shodnými počítači.
V počítačové praxi existuje celá řada testerů. Jsou řešeny podle způsobu použití a je možno je rozdělit na testery samotných integrovaných obvodů, testery spojů v kabeláži, testery spojů na neosazených deskách, testery integrovaných obvodů v zapojení na desce nebo testery celých funkčních celků počítače. S nástupem obvodů vysoké a velmi vysoké integrace vystupují do popředí řešení, která sdružují do jednoho celku více mikropočítačů a vznikají tak vícepočítačové struktury. V dosud známých testovacích zapojeních těchto struktur ae používá bu3 metody vzájemných testů mezi mikropočítači anebo jejich vzájemné komparace. Metoda vzájemných testů má určitou nevýhodu v nutnosti sekvenčního provedení jednotlivých testů, což prodlužuje test celého systému. Komparační metoda testování je rychlejší, avšak dosud je řešena za předpokladu, že komparátory tvoří tvrdé jádro. Tento předpoklad je splněn v případě, že komparátory mají mnohonásobně vyšší spolehlivost než testované jednotky. V opačném případě není pravděpodobnost výskytu poruchy v komparátoru zanedbatelná a je srovnatelná s testovanými jednotkami. Potom může nastat situace, že diagnóza je chybná.
Uvedenou nevýhodu odstraňuje zapojení podle vynálezu. Zrychlení a zkvalitnění testování vícepočítačových struktur s shodnými počítači řeší zapojení komparačního testeru podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že svorka prvního mikropočítače je spojena s první
225 999
225 999 svorkou prvního komparátoru, s první svorkou druhého komparátoru, s první svorkou třetího komparátoru a s první evorkou čtvrtého komparátoru, svorka druhého mikropočítače je spojena s první svorkou pátého komparátoru, s první svorkou šestého komparátoru, s první svorkou sedmého komparátoru a s druhou svorkou prvního komparátoru, svorka m-tého mikropočítače je spojena s první svorkou osmého komparátoru, s první svorkou devátého komparátoru, s druhou svorkou pátého komparátoru a s druhou svorkou druhého komparátoru, svorka m+prvního mikropočítače je spojena e první svorkou desátého komparátoru, s druhou svorkou osmého komparátoru, s druhou svorkou třetího komparátoru a s druhou evorkou šestého komparátoru, svorka m+p-tého mikropočítače je spojena s druhou svorkou desátého komparátoru, s druhou svorkou čtvrtého komparátoru, s druhou svorkou sedmého komparátoru a s druhou svorkou devátého komparátoru.
Výhodou uvedeného zapojení je zajištění rozlišitelnosti poruch v mikropočítačích od poruch v komparátorech v průběhu testů mikropočítačů. Na konci testu potom nedochází k nejednoznačné nebo k chybné diagnóze příčiny poruchy. Mikropočítače, které Jsou funkční, jeou úplně testované. Ostatní jednotky mají pouze diagnostický význam a nepožadujeme jejich úplný test.
Na přiloženém výkresu je zapojení podle vynálezu, kde je uvedeno vzájemné propojení jednotlivých bloků společně s jejich označením. Svorka 20 prvního mikropočítače 2 je spojena s první svorkou 70 prvního komparátoru 2, s první svorkou 110 druhého komparátoru 11. s první svorkou 120 třecího komparátoru 12 a s první svorkou 130 čtvrtého komparátoru 13. Svorka 30 druhého mikropočítače 2 Je spojena s druhou svorkou 72 prvního komparátoru 2» s první svorkou 30 pátého komparátoru 8, s první evorkou 140 šestého komparátoru 14 a s první svorkou 150 sedmého komparátoru 15. Svorka 40 m-tého mikropočítače £ je spojena e druhou svorkou 82 pátého komparátoru 8, s druhou svorkou 112 druhého komparátoru 11, s první svorkou 90 osmého komparátoru £ a s první svorkou 160 devátého komparátoru 16. Svorka 50 m+prvního mikropočítače £ Je spojena e druhou evorkou 92 osmého komparátoru £, s druhou evorkou 122 třetího komparátoru 12, s druhou svorkou 142 šestého komparátoru 14 a s první svorkou 100 desátého komparátoru 10. Svorka 60 m+p-tého mikropočítače 6 je spojena s druhou svorkou 102 desátého komparátoru 10. s druhou svorkou 132 čtvrtého komparátoru 12, s druhou svorkou 152 sedmého komparátoru 15 a s druhou svorkou 162 devátého komparátoru 16.
Popis funkce zapojení : Komparační tester vytvořený z m mikropočítačů a z k komparátorů se připojí k testovanému systému s p mikropočítači, kde 1 < p < 2t + 1, t je daný maximální počet poruch, které se mohou současně vyskytnout v systému i v testeru jako celku, k =^2t 2 , m = 2t + 1 - p. Je možné dokázat, že minimální počet mikropočítačů, tj. aktivních jednotek, musí být nA min. = 2t + 1, potom minimální počet komparátorů je k = ηθ = ( 2t 2 9 * V mikropočítačích prvním až m+p-tém probíhá úplný test mikropočítače a jeho průběh je komparován obecně pomocí k komparátorů. V našem případě t » 2, k = 10, p = 2, m=3. Z těchto hodnot vyplývá, že uvedený příklad zapojení je navržen optimálně.
Pro dané t jsou počty jednotek minimální. Po proběhnutí testu se hlášení z komparátorů 2»
8, 2» 32.» 11» 12.» 11» 11» 15 a lá zpracovávají ve vyhodnocovacím obvodu, který podá úplnou
225 999 informaci o stavu funkčních mikropočítačů 2 a). Protože v celkovém systému jsou identifikovatelné všechny poruchy pouze v mikropočítačích říkáme, že takový systém je částečně diag nostikovatelný v jednom kroku testu pro danou n-tici jednotek /v našem případě n = m + p/ a pro daný maximální počet poruch t.
Možnost použití uvedeného zapojení je při testování systémů se shodnými funkčními moduly, kde je možno použít komparační techniky.

Claims (1)

  1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU
    Zapojení komparačního testeru vyznačující se tím, že svorka /20/ prvního mikropočítače /2/ je spojena s první svorkou /70/ prvního komparátoru /7/, s první svorkou /110/ druhého komparátoru /11/, s první svorkou /120/ třetího komparátoru /12/ a s první svorkou /130/ čtvrtého komparátoru /13/, svorka /30/ druhého mikropočítače /3/ je spojena s druhou svorkou /72/ prvního komparátoru /7/, s první svorkou /80/ pátého komparátoru /8/, s první svorkou /140/ šestého komparátoru /14/ a s první svorkou /150/ sedmého komparátoru /15/, svorka /40/ m-tého mikropočítače /4/ je spojena s druhou svorkou /32/ pátého komparátoru /8/, s druhou svorkou /112/ druhého komparátoru /11/, s první svorkou /90/ osmého komparátoru /9/ a s první svorkou /160/ devátého komparátoru /16/,.svorka /50/ m+prvního mikropočítače /5/ je spojena s druhou svorkou /92/ osmého komparátoru /9/, s druhou svorkou /122/ třetího komparátoru /12/, s druhou svorkou /142/ šestého komparátoru /14/ a s první svorkou /100/ desátého komparátoru /10/, svorka /60/ m+p-tého mikropočítače /6/ je spojena s druhou svorkou /102/ desátého komparátoru /10/, s druhou svorkou /132/ čtvrtého komparátoru /13/, s druhou svorkou /152/ sedmého komparátoru /15/ a s druhou svorkou /162/ devátého komparátoru /16/.
CS986082A 1982-12-28 1982-12-28 Zapojení komparačního testeru CS225999B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS986082A CS225999B1 (cs) 1982-12-28 1982-12-28 Zapojení komparačního testeru

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS986082A CS225999B1 (cs) 1982-12-28 1982-12-28 Zapojení komparačního testeru

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS225999B1 true CS225999B1 (cs) 1984-03-19

Family

ID=5446882

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS986082A CS225999B1 (cs) 1982-12-28 1982-12-28 Zapojení komparačního testeru

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS225999B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4233682A (en) Fault detection and isolation system
DE60100754T2 (de) System und verfahren zum testen von signalverbindungen unter verwendung einer eingebauten selbsttestfunktion
Benowitz et al. An advanced fault isolation system for digital logic
US5410551A (en) Net verification method and apparatus
EP0663092B1 (en) Robust delay fault built-in self-testing method and apparatus
GB2186094A (en) Self diagnostic cyclic analysis testing for lsi/vlsi
US4183459A (en) Tester for microprocessor-based systems
Sorensen et al. An analyzer for detecting intermittent faults in electronic devices
CN111290891B (zh) 计算机系统及测试计算机系统的方法
US3833853A (en) Method and apparatus for testing printed wiring boards having integrated circuits
US10156606B2 (en) Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same
JPH06289102A (ja) 自動開放検出方法
CS225999B1 (cs) Zapojení komparačního testeru
JPH08507610A (ja) プリング抵抗を備える接続部をテストする装置
US4320512A (en) Monitored digital system
WO1981000475A1 (en) Testor for microprocessor-based systems
US6553519B1 (en) Method for detecting signal transfer errors in near real time in a digital system
CS226899B1 (cs) Zapojení diagnostikovatelného systému s testovanými komparátory
WO2025013029A1 (en) Method and system for boundary scan testing of joint test action group (jtag) compliant devices
SU947863A1 (ru) Устройство дл контрол и диагностики логических узлов
JPS6249264A (ja) 配線試験装置
KR19990021363A (ko) 번인 테스트 보드
SU892445A1 (ru) Устройство дл диагностики логических узлов
CA1124870A (en) Tester for micro-processor-based systems
JPH04128661A (ja) 線路ディレイ試験装置