CS217606B1 - Interferometric length measuring apparatus - Google Patents
Interferometric length measuring apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- CS217606B1 CS217606B1 CS124775A CS124775A CS217606B1 CS 217606 B1 CS217606 B1 CS 217606B1 CS 124775 A CS124775 A CS 124775A CS 124775 A CS124775 A CS 124775A CS 217606 B1 CS217606 B1 CS 217606B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- triple
- triple mirror
- reflector
- mirror
- test item
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Vynález se týká zařízení pro interferometrické . měření délek na zkoušených předmětech prostřednictvím světelných vln.
U známých zařízení pro měření délek pomocí tělesového .nebo netělesového normálu jsou za účelem zabránění chybám překlápěním osy prvního řádu zkoušený předmět a normál uspořádány souose za sebou. U podélných komparátorů pro větší délky nelze často z konstrukčních a tepelných důvodů toto uspořádání realizovat. Zkoušený předmět a normál jsou pak umístěny vedle sebe a chyby vznikající překlápěním osy prvního řádu musí být pak korigovány nebo kompenzovány. K tomu je znám Eppensteinův princip, u něhož je ryskami opatřená měřicí tyč, sloužící jako normál, uspořádána rovnoběžně se zkoušeným předmětem ve vzdálenosti, která se rovná ohniskové vzdálenosti obou souměrných objektivů. Nevýhodou tohoto způsobu je, že ho nelze aplikovat pro normály, nepropouštějící světlo, nebo normály netělesové. U doposud známých interferometrických měření délky na principu interference dvou paprsků pro velké délky je reflektor uspořádán rovnoběžně se zkoušeným předmětem, například za účelem zkoušení měřicích tyčí. Chyby, které se vyskytují překlápěním osy, se projevují jako chyby prvního řádu.
Účelem vynálezu je odstranit nevýhody doposud známých měřicích zařízení pro měření délek prostřednictvím dvoupaprskového interferometru.
Úkolem vynálezu je zhotovit zařízení pro měření délek prostřednictvím dvoupaprskového interferometru, u něhož dráha světla probíhá rovnoběžně se zkoušeným předmětem a u něhož je zabráněno výskytu chyb překlápěním osy prvního řádu.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že první reflektor pro vytváření měřicího a referenčního paprsku je proveden jako první trojité zrcadlo se dvěma částečně propustnými zrcadly, přičemž první trojité zrcadlo nebo druhé trojité zrcadlo umístěné za prvním trojitým zrcadlem je opatřeno středovým otvorem, zatímco obě . trojitá zrcadla jsou v rovině trojného bodu spojena se zaměřovacírni . zařízeními a vzájemně nezávisle posuvně upravena vzhledem ke zkoušenému předmětu.
Vynález má tu výhodu, že při překlopení trojitého zrcadla vzhledem ke zkoušenému předmětu, dochází ke kompenzaci chyb překlopením osy prvního rádu, které vedou ke zvýšené nepřesnosti měření, jelikož dopadající a odražený paprsek mají stejnou vzdálenost od měřicích přímek, tudíž jsou změny délek paprsků, vznikající následkem překlápění, stejně velké a opačné.
217 6 3
Vynález je v následujícím textu blíže vysvětlen na příkladu provedení.
Na výkresu je schematicky znázorněno zařízení pro interferometrické měření délek podle vynálezu.
Světelný paprsek 2 přicházející od světelného zdroje 1, s výhodou laseru, je rozdělen ve dva dílčí paprsky 5, 6 částečně propustným prvním trojitým zrcadlem 3, které je pevně spojeno se zkoušeným předmětem 4. Dílčí paprsek 5 je odrážen rovnoběžně zpět k hlavní interferometrické stanici 7. Dílčí paprsek 6 se dostává k druhému trojitému zrcadlu 8, které je ve svém středu opatřeno středovým otvorem 10, v němž je měřený zkoušený předmět 4 uspořádán s možností relativního posunu tak, aby jeho měřicí přímka splývala s osou druhého trojitého zr-
Claims (1)
- Zařízení pro interferometrické měření délek na zkoušených předmětech prostřednictvím světelných vln, skládající se ze světelného zdroje, zařízení pro dělení paprsků, například reflektoru uspořádaného pevně vzhledem ke světelnému zdroji, a z druhého reflektoru, posu-novatelného vzhledem k reflektoru prvnímu a provedeného jako druhé trojité zrcadlo, vyznačené tím, že první reflektor je proveden jako první trojité zrca06 cadla 8, od. druhého trojitého zrcadla 8 je dílčí paprsek 6 odrážen částečně propustným prvním trojitým zrcadlem 3 k hlavní interferometrické stanici 7, v níž jsou oba překrývající se . dílčí paprsky 5, 6 indikovány. Na druhém trojitém zrcadle 8 je v rovině trojného bodu upraveno zaměřovači zařízení 9 pro určování měřicích značek na zkoušeném předmětu.Dojde-li k překlopení druhého trojitého zrcadla 8 vzhledem ke zkoušenému předmětu 4, je kompenzována chyba překlopením osy prvního řádu, jelikož dopadající paprsek a odražený paprsek má od měřicí přímky zkoušeného předmětu 4 stejnou vzdálenost a, tudíž jsou změny délky následkem překlápění stejně veliké a opačné.’YNALEZU ..........dlo (3) se dvěma částečně propustnými zrcadly, přičemž první trojité zrcadlo (3) a/ /nebo druhé trojité zrcadlo (8) umístěné za prvním trojitým zrcadlem (3) je opatřeno středovým otvorem (10), zatímco obě trojitá zrcadla (3, 8) jsou v rovině trojného bodu spojena se . zaměřovacími zařízeními (9) a vzájemně nezávisle posuvně upravena vzhledem ke zkoušenému předmětu.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD17782274A DD111735A1 (cs) | 1974-04-11 | 1974-04-11 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS217606B1 true CS217606B1 (en) | 1983-01-28 |
Family
ID=5495366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS124775A CS217606B1 (en) | 1974-04-11 | 1975-02-25 | Interferometric length measuring apparatus |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH581823A5 (cs) |
CS (1) | CS217606B1 (cs) |
DD (1) | DD111735A1 (cs) |
-
1974
- 1974-04-11 DD DD17782274A patent/DD111735A1/xx unknown
-
1975
- 1975-02-25 CS CS124775A patent/CS217606B1/cs unknown
- 1975-03-12 CH CH313375A patent/CH581823A5/de not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH581823A5 (en) | 1976-11-15 |
DD111735A1 (cs) | 1975-03-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5847828A (en) | Michelson interferometer using matched wedge-shaped beam splitter and compensator | |
US5056921A (en) | Optical apparatus for use with inteferometric measuring devices | |
CN110530257A (zh) | 飞秒激光器分布式干涉仪系统 | |
US3738754A (en) | Optical contacting systems for positioning and metrology systems | |
JPH07239208A (ja) | 干渉応用測定装置 | |
US5333053A (en) | Apparatus for measuring straightness | |
US4600308A (en) | Phase-matching arrayed telescopes with a corner-cube-bridge metering rod | |
GB1471386A (en) | Interferometer for testing telescope optics | |
CS217606B1 (en) | Interferometric length measuring apparatus | |
US4052129A (en) | Method of and apparatus for measuring the wavelength of a source of radiant energy | |
US3419331A (en) | Single and double beam interferometer means | |
JPH06288735A (ja) | 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計 | |
US5337145A (en) | Two component straightness interferometer apparatus for measuring movements of parts of a machine | |
JPH01143906A (ja) | 不透明体表裏面の平行度測定装置 | |
US3572929A (en) | Range finder with rotating prism & successive reflections | |
JPS57199909A (en) | Distance measuring device | |
SU1364866A1 (ru) | Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений | |
US3495911A (en) | Extended range interferometer | |
JPS54133180A (en) | Reflectance measuring apparatus | |
JPS59164926A (ja) | 干渉分光計 | |
GB617416A (en) | Optical instrument for testing plane surfaces and rectilinear lines | |
JPS59136604A (ja) | 多重光路レ−ザ−干渉計 | |
JPS58208602A (ja) | レ−ザ装置及びこのようなレ−ザ装置を具える干渉計 | |
SU815490A1 (ru) | Устройство дл измерени угловыхпЕРЕМЕщЕНий Об'ЕКТА | |
SU1429084A1 (ru) | Устройство дл записи интерферограмм |