CS217421B1 - Apparatus for compensating for measurement errors of first order - Google Patents
Apparatus for compensating for measurement errors of first order Download PDFInfo
- Publication number
- CS217421B1 CS217421B1 CS276279A CS276279A CS217421B1 CS 217421 B1 CS217421 B1 CS 217421B1 CS 276279 A CS276279 A CS 276279A CS 276279 A CS276279 A CS 276279A CS 217421 B1 CS217421 B1 CS 217421B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- measuring
- path
- compensating
- telescope
- light source
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B17/00—Systems with reflecting surfaces, with or without refracting elements
- G02B17/02—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system
- G02B17/04—Catoptric systems, e.g. image erecting and reversing system using prisms only
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q17/00—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools
- B23Q17/24—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools using optics or electromagnetic waves
- B23Q17/248—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools using optics or electromagnetic waves using special electromagnetic means or methods
- B23Q17/2495—Arrangements for observing, indicating or measuring on machine tools using optics or electromagnetic waves using special electromagnetic means or methods using interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
- G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B3/00—Simple or compound lenses
- G02B3/12—Fluid-filled or evacuated lenses
Abstract
Description
(54)(54)
Zařízení na kompenzaci měřicích chyb prvního pořadíFirst order measuring error compensation device
Vynález se týká zařízení na kompenzaci měřicích chyb prvního pořadí v interferamet» rických měřicích soustavách pro souřadnicové měřicí přístroje a obráběcí stroje za účelem zvýšení přesnosti měření a seřízení a s udáním o dosažení přizpůsobení kompenzačního účinku a vzdálenosti mezi dráhou měřicích paprsků a osou zkušebního vzorku; úkol je vyřešen tím, že v dráze měřicích paprsků měřicí soustavy,skládající se ze světelného zdroje, štěpíče světelného paprsku a interferometru, jsou před . odrazovým zrcadlem umístěny plauparalelní deska a nástrčný teleskop, přednostně a měnitelným zvětšením, mající spolu s odrazovým zrcadlem pevné spojení se saněmi . měřicího přístroje.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for compensating first order measurement errors in interferameter measuring systems for coordinate measuring instruments and machine tools in order to increase measurement accuracy and alignment and to provide compensation for compensating effect and distance between the beam path and the test axis; The problem is solved by having a forward beam in the measuring beam path of the measuring system, consisting of a light source, a light beam splitter and an interferometer. a plauparallel plate and a telescoping telescope, preferably and of variable magnification, having a rigid connection to the slide with the reflection mirror. measuring instrument.
Opticky Činné roviny plauparalelní desky jsou umístěny pod sklonem v dráze měři cích paprsků. Kompenzační účinek zařízení se ustavuje změnou zvětšení teleskopu v závislosti na vzdálenosti dráhy měřicích paprsků a osy zkušebního vzorku.The optically active planes of the plauparallel plate are located below the slope in the measuring beam path. The compensating effect of the device is established by varying the magnification of the telescope as a function of the distance between the measuring beam path and the axis of the sample.
Souřadnicové měřicí přístroje a obráběcí stroje.Coordinate measuring instruments and machine tools.
217 421217 421
НАЗЗАНУЕ ИЗОБРЕТЕНАНАЗЗАНУЕ ИЗОБРЕТЕНА
Устройство для компенсации ошибок измерения первого порядкаУстройство для компенсации ошибок измерения первого порядка
ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ Н30БРЕТЕННЯОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ Н30БРЕТЕННЯ
ИззОретение васается устройства для компенсацик ошибок измерения первого порадиа, возникающих вследзтвие нарушении компараторного принципа ДбСе, с поыоцьъю оптических элементов, преииущественно для · оборудованный интерфероиетраии коордияетннх мзмерительных пркеоров х иеталлообрабаиывающих станков.ИззОретение васается устройства для компенсацик ошибок измерения первого порадиа, возникающих вследзтвие нарушении компараторного принципа ДбСе, с поыоцьъю оптических элементов, преииущественно для · оборудованный интерфероиетраии коордияетннх мзмерительных пркеоров х иеталлообрабаиывающих станков.
ХАРАКТЕРИСТНКА. НЗЬЕСТНЫХ ΤΕΧΗΗΗΕΟΚΠΧ РЕШЕННЙХАРАКТЕРИСТНКА. НЗЬЕСТНЫХ ΤΕΧΗΗΗΕΟΚΠΧ РЕШЕННЙ
Прецизиониме мзмеренмя'длмн т помощью коордхнатннх измерительннх приборов проьоднтон в настоящее время, большей настию, на основе иетрипеского спределенхп в капестве сравненхд иеиду упастиои изиеренхн и длияой оветовяи волн. в иапестве изиеритэльяого устройства · алужат прх этом интерферомтрры, в которни итточникои свете глеьннм образои яьляетcя. лаеер. Длн зтого бнло Он несеисдимс проводить теисгс рода измеренин прк ооблюденхк иоипараторного прнннипа Дббе, нтобн моключмтв ошибкк изиеренин первого порндиа, обусдовденнне ошпбиаии вэдэнмъ Πρπманениа ляаерного измеρиτалн переиешении·в коордиивтяыи измеρительняи мсшияеи прк себлюдении иоипараторного приннипа 'отрицательно сказалось бн на габарите таиии иашин.Прецизиониме мзмеренмя'длмн т помощью коордхнатннх измерительннх приборов проьоднтон в настоящее время, большей настию, на основе иетрипеского спределенхп в капестве сравненхд иеиду упастиои изиеренхн и длияой оветовяи волн. и и · · · · · а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а а. а а............ лаеер. Длн зтого бнло Он несеисдимс проводить теисгс рода измеренин прк ооблюденхк иоипараторного прнннипа Дббе, нтобн моключмтв ошибкк изиеренин первого порндиа, обусдовденнне ошпбиаии вэдэнмъ Πρπманениа ляаерного измеρиτалн переиешении · в коордиивтяыи измеρительняи мсшияеи прк себлюдении иоипараторного приннипа 'отрицательно сказалось бн на габарите таиии иашин.
Дащее на оп^хе^ой длмяэ свободно проходящего в пространстве лезерного луча оиазньалиоь бн вдиннхн оиружающед средн. Позтоиу яиеесооораэныи оиазнваетси нарушение иоипараторного приннипа дббе также прк πρимеяаяии χнтеρφеρсмеτρиπесисгс изиерендз длияы к иоипенсация ошибок измэрэяия первого порядка с помощью кooтвeτтτyyϊяцмx устроиств.Дащее на оп ^ хе ^ ой длмяэ свободно проходящего in пространстве лезерного луча оиазньалиоь бн вдиннхн оиружающед средн. Позтоиу яиеесооораэныи оиазнваетси нарушение иоипараторного приннипа дббе также прк πρимеяаяии χнтеρφеρсмеτρиπесисгс изиерендз длияы к иоипенсация ошибок измэрэяия первого порядка с помощью кooтвeτтτyyϊяцмx устроиств.
Из DD 118 4б4 иавэстяо тэкого рода устройство. Β стэяияэ яэпсдьмжнс устенсьлен леаврнын м иятеρφеρомeτpичeиитT блси, изиаρительняИ луч истсрсгс отpяяяeтся тройныи рефлеитсрсм, ио2 торнй с возможностью качания подвешен к салазкам измерительного прибора. При этом ось качения совпадает с осью измерения, а ось интерферометра и ось измерения дежат в одной о.бщеИ вертикальном гоюскости. Посредством капающегосн подвешиванин.тройного рефлекторе должно бнть предовращено, нтобс наклон салазок изиерителвного прибора, обуелоеленный ощибкой ваденин, отрицателвно сказывадсс не рееулвтете изиеренин.Из DD 118 4б4 иавэстяо тэкого рода устройство. Β стэяияэ яэпсдьмжнс устенсьлен леаврнын м иятеρφеρомeτpичeиитT блси, изиаρительняИ луч истсрсгс отpяяяeтся тройныи рефлеитсрсм, ио2 торнй с возможностью качания подвешен к салазкам измерительного прибора. При этом ось качения совпадает с осью измерения, and ось интерферометра и ось измерения дежат в одной о.бщеИ вертикальном гоюскости. Посредством капающегосн подвешиванин.тройного рефлекторе должно бнть предовращено, нтобс наклон салазок изиерителвного прибора, обуелоеленный ощибкой ваденин, отрицателвно сказывадсс не рееулвтете изиеренин.
однако такого рода устройство обладает аиачмтэлвными нeвюcтвтквми, теи как поежение квивнли тройного рефпеиторе не дсстатопно воспроизвсднмо и на неи дегко сказываюгсн капанин.однако такого рста устройство обладает аиачмтэлвными нeвюcтвтквми теи как
ЦЕЛЬ ИЗОБРЕТЕНИЯЦЕЛЬ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Целью иэойретенкя нвлнэтон устраненпе нэдоотэтков настояеего уровнн техники м поЕ^1л^(^1ние тонности измеренин для координатннх ызмтpыаeльныx иашин, а текже точности нестройки для иеτаллоοйpвтывaещиx машин.Целью иэойретенкя нвлнэтон устраненпе нэдоотэтков настояеего уровнн техники м поЕ 1л ^ ^ (^ 1ние тонности измеренин для координатннх ызмтpыаeльныx иашин, а текже точности нестройки для машин иеτаллоοйpвтывaещиx.
ИЗЛОЖЕНИЕ . СУЩНОСТИ ИЗОЕРЕТЕННЯ .ИЗЛОЖЕНИЕ. СУЩНОСТИ ИЗОЕРЕТЕННЯ.
в основу мзобретенин люелжeнв задача, создать устройство для компеналщий одибок ызыepзяын первого лopидкa, с помащью которого посредством оптическлх срепс^ достигаетсн согласование коыиeннвциoняoгo дсЗствин с pннгоянызи трееитории измеритэлвнмх н^з^х^<зи до оси ынлвгyзыoгo образла.в основу мзобретенин люелжeнв задача, создать устройство для компеналщий одибок ызыepзяын первого лopидкa, с помащью которого посредством оптическлх срепс ^ достигаетсн согласование коыиeннвциoняoгo дсЗствин с pннгоянызи трееитории измеритэлвнмх н з ^ ^ ^ х <зи до оси ынлвгyзыoгo образла.
^гпасно изобретнЕИ» зта еадача ддн устройства компенсацим ошибок измеренма первого лopлдкв в ивмтρиеельнoй оистоие, состояеего из лнтояяыив оветэ, расцепителн овэтового пуппса и интерферометра, ' рещаетсн теи, нто в гpвзитоpлл мзиеρмтелвяих еучей изитр^ь^т^^^.^ьоой нлнтeыя перод отражательным зеркадом yнгвяввяиввются πлoнкoπaвaелтльндя плассинка и насадочный тзлзниoл, иоторие вмэотэ с отражающим зеркадом жсстко свяааны с нвеaзκaмм.^ Гпасно изобретнЕИ »зта еадача ддн устройства компенсацим ошибок измеренма первого в лopлдкв ивмтρиеельнoй оистоие, состояеего из лнтояяыив оветэ, расцепителн овэтового пуппса и интерферометра, 'рещаетсн теи, нто в гpвзитоpлл мзиеρмтелвяих еучей изитр ^ ^^^ т ь ^. ^ Ьоой нлнтeыя перод отражательным зеркадом yнгвяввяиввются πлoнкoπaвaелтльндя плассинка и насадочный тзлзниoл, иоторие вмэотэ с расасы нммсекс.
Положительным при этом является то, что плоокопараллельная пластина и насадочный телескоп расположены между источником света и отражательным зеркалом в траектории измерительных лучей, и что иллокопараллельнаа пластина положене наклонно, . £-0 поимущественно иод угдои 45 , ь траеитории измерительных дучеИ.Положительным при этом является то, что плоокопараллельная пластина и насадочный телескоп расположены между источником света и отражательным зеркалом в траектории измерительных лучей, и что иллокопараллельнаа пластина положене наклонно,. -0 £ поимущественно ио д угдои 45 ь т р аеито р ии измерительных дучеИ.
Кроме того положительным являетон и то, нто в траектормм измepытeдьнмx лучей иредусмотрен регудируемнй ио своеиу увеличению, мзменяющим комиенсаиионное действие ллыокипараллельной илзcтмны ызcздонныИ телеокоп, ирич-ем увелииение можно регулировать в завмсммостм от расстоянмн от траектории ^мерител^нх луией и оси ·. исилтуемого образиа.Кроме того положительным являетон и то, нто в траектормм измepытeдьнмx лучей иредусмотрен регудируемнй ио своеиу увеличению, мзменяющим комиенсаиионное действие ллыокипараллельной илзcтмны ызcздонныИ телеокоп, ирич-ем увелииение можно регулировать в завмсммостм от расстоянмн от траектории ^ ^ мерител нх луией и оси ·. исилтуемого образиа.
такое устройство ио сравненио с кзаеотннмм устройствмма обдадает cyщecтеeнныии паeимиУ!^ecτвaиы. Оно отлмньетон проотой и ироннои конструлаией, содерзЕащей яеболыпое иолипеотьо узлов. Подвижных иастей'нет. Яутем нзменеяия еφφеиτиьнсИ оптпиеской длмнн иутм возможно проьедить peгyлмpoезы‘иe комиeыcaипончого' действмн ь завмсммостм от расстояния от о см мсяянуе'мояо образна м от трееиторип еучеи иятерферометра, а таосе возможно пρмменение ь яесκсльκиx лежащих другнад другом плоокос^х измереямя. Как м иеьестнче у^ром^ва, дaннсе устромство м мятерферометр мотут быть зaпач^eны от ьо здемстьмя окаyaлκщeа средн и вοτροеяч а статмну мзмермтельного ирибора млм .изтaллюoPpaбaнывaющзM маπlм^ы. сдедлющее паeимy:цecтво заключаатса в том, нто данное устройство непуаотьмтельно ж изpзплeльыии пeаeмeщeнмн салазок в сторону и ио ьнооте. как стдельячИ блок данное устроНство может дспсляиеельнoт без больших еатрат встраивать^ а иемерителяные приборя и изτщыеooбpaбaτыaяEылиз мепины. кроме того, устроиство не ' залисмт от положенмя. .такое устройство ио сравненио с кзаеотннмм устройствмма обдадает cyщecтеeнныии паeимиУ! ^ ecτвaиы. Ольга за проотой и ироннои конструлаией, содерзЕащей яеболыпое иолипеотьо узлов. Подвижных иастей'нет. Яутем нзменеяия еφφеиτиьнсИ оптпиеской длмнн иутм возможно проьедить peгyлмpoезы'иe комиeыcaипончого 'действмн ь завмсммостм от расстояния от о см мсяянуе'мояо образна м от трееиторип еучеи иятерферометра, а таосе возможно пρмменение ь яесκсльκиx лежащих другнад другом плоокос ^ х измереямя. Как м иеьестнче у ^ ^ ром ва, дaннсе устромство м мятерферометр мотут быть зaпач ^ eны от ьо здемстьмя окаyaлκщeа средн и вοτροеяч а статмну мзмермтельного ирибора млм .изтaллюoPpaбaнывaющзM маπlм ^ ы. сдедлющее паeимy: цетво заключаатса в том, нто данное устройство непуаотьмтельно ж изpзплeльыии пeаeмeщeок салаз. как стдельячИ блок данное устроНство может дспсляиеельнoт без больших еатрат встраивать ^ а иемерителяные приборя и изτaыыеaеpa. кроме того, устроиство не 'залисмт от положенмя. .
ПРИМЕР ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ИЗОБРЕТЕНИЯ 'ПРИМЕР ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ИЗОБРЕТЕНИЯ '
Изобретение ^ноннет^ на иаилepз его осуществления. на иаЩIaгaeмыи иертелаи иоказано:Изобретение ^ ноннет ^ на иаилepз его осуществления. на иаЩIaгaeмыи иертелаи иоказано:
фиг. 1. Положение устройства в измерительном приборе, фиг. 2. Схематическое изображение конструкции и траектории лучей устройства фиг. 3. Траектория лучей через плоскопараллельную пластину.фиг. 1. Положение устройства в измерительном приборе, фиг. 2. Схематическое изображение конструкции и траектории лучей устройства фиг. 4. Траектория лучей через плоскопараллельную пластину.
Схематически показанный на фиг 1 координатный измерительный прибор состоит из статины прибора 1, на которой находятся монтированные с возможностью перемещения салазки 2 и стойкаСхематически показанный на фиг 1 координатный измерительный прибор состоит из статины прибора 1, на которой находятся монтированные семей
3. В верхней части измерительного прибора между стойкой 3 и салазками 2 расположен испытуемый образец 4. На расстоянии от оси испытуемого образца, которая одновременно является и осью измерения, в нижней части салазок 2 находится траектория измерительных лучей 5, на салазках 2 неподвижно расположено устройство для компенсации ошибок измерения первого порядка, которые обусловлены ошибкой ведения салазок 2 или деформациями. В станине· прибора 2 главным образом предусмотрены источник света 6, интерферометр и расщепитель свотового пучка (не показано) и жестко соединены со станиной. В качестве источника света 6 преимущественно применяется лазер.Third В верхней части измерительного прибора между стойкой 3 и салазками 2 расположен испытуемый образец fourth На расстоянии от оси испытуемого образца, которая одновременно является и осью измерения, в нижней части салазок 2 находится траектория измерительных лучей 5 на салазках 2 неподвижно расположено устройство для компенсации ошибок измерения первого парвого, вотибкой ведения салазок 2 или деформациями. · П 2 2 об 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6 6.... В качестве источника света 6 преимущественно применяется лазер.
Расположенное в траектории измерительных лучей 5 компенсационное устройство состоит из плоскопараллельной пластины 7 и насадочного телескопа 8, которые оптически взаимодействуют с предусмотренными в салазках 2 отражающим зеркадом 9 и расположены между отражающим зеркалом 9 и источником света 6 (фигуры 1 и 2). При этом оптически действующие плоскости плоскопараллельной пластины 7 положены в траектории измерительных лучей 5 наклонно, преимущественно под углом 45°. Насадочный телескоп 8 обладает преимущественно регулируемым в зависимости от расстояния от траектории измерительных лучей 5 и оси испытуемого образца увеличением.Расположенное в траектории измерительных лучей 5 компенсационное устройство состоит из плоскопараллельной пластины 7 и насадочного телескопа 8 которые оптически взаимодействуют с предусмотренными в салазках 2 отражающим зеркадом 9 и расположены между отражающим зеркалом 9 и источником света 6 (фигуры 1 и 2). При этом оптически действующие плоскости плоскопараллельной пластины 7 положены в траектории измерительных лучей 5 вклющим, в через 45 °. Насадочный телескоп 8 обладает преимущественно регулируемым зависимости от расстояния от траектории измерительных лучей
Принцип действия устройства описывается следующим образом:Принцип действия устройства описывается следующим образом:
Испускаемый источником света 6 и проходящий через расщепитель светового пучка свет траектории измерительных лучей пропускается через насадочный телескоп 8 и плоскопараллельную пластину 7 и падает на отражающее зеркало 9, выполненное в виде тройного рефлектора. Отразшзшись οτ зеркала 9, свет проходит в противоположном направлении nj^ocKoi^i^iDaj^j^eibř^^fo nnacTHHy 7 м насадочным телескоп 8 пазад к расщептеелю светового пучка (не показан) . Образованнне светом траекторкк сравниваемех оветовых пу~ чей (не показано) интерференции определяктоя с помощьо обичних длн интерфероиетричеоких изиерительннх диотеи средств с целью лзмеренин сиещенип млм положенин салазок 2. Компенсационное лействие устройства хз плоскопаракелльной плеотинм 7 к насадоеного телескопа 8, которые опрокиеывало’сн вместе с салазкаее 2 прк ошибкак веденлй кдк деформациях отанины устрокства 1, .· обеспениваетсн тем, ыто кспускаеинИ ыстоыныкоы света б, шpoчoдшщкч расщепитлгь светового пупка когерентнеИ свет двакде проходит переэ еео'скоопралллеьную пластину 7,6 Испускаемый источником света и проходящий через расщепитель светового пучка свет траектории измерительных лучей пропускается через насадочный телескоп 8 и плоскопараллельную пластину 7 и падает на отражающее зеркало 9 выполненное в виде тройного рефлектора. Отразшзшись οτ зеркала 9, свет проходит в противоположном направлении nj ^ ocDi ^ i ^ i ^ брх ^^ fo nnacTHHy 7 до 8 телесо. Образованнне светом траекторкк сравниваемех оветовых пу ~ чей (не показано) интерференции определяктоя с помощьо обичних длн интерфероиетричеоких изиерительннх диотеи средств с целью лзмеренин сиещенип млм положенин салазок second Компенсационное лействие устройства хз плоскопаракелльной плеотинм 7 к насадоеного телескопа 8 которые опрокиеывало'сн вместе с салазкаее 2 прк ошибкак веденлй кдк деформациях отанины устрокства 1,. вакде проходит переэ еео'скоопралллеьную пластину 7,
Чри очрокчдыьении изиеннетсн эффектньннй путь света в стекле шaеcκoшapоллeaьнoM гыастинн 7, Это хзиененке пути света в стекле про^^он^ьно угду опрокидывннке $ салазок. Расположенный в траекторки изнериеаеьных кучей 5 насадочный тeшecкoш 8 увеличивает угое oшpoккднвaнкш S οπτχμθοχμμ путем и увеличйвает эффективность чдocкoшapaлшeльнoS . еластинн. согдасно этоиу в зависииости от увелииенкн телеокоче Γ, чри однои х тои асе угде oшpoккднвaнкч S салазок 2 может бнть видиио кеиенена очтинеоко эффективна толщина тлoоскπapaллaльное плстины 7.Ори очрокчдыьении изиеннетсн эффектньннй путь света in стекле шaеcκoшapоллeaьнoM, уто хзиененке пути ути свер The 5-seater room features a flat-screen satellite TV with 8 beds. еластинн. согдасно этоиу в зависииости от увелииенкн телеокоче Γ, чри однои х тои асе угде oшpoккднвaнкч S 2 салазок может бнть видиио кеиенена очтинеоко эффективна толщина тлoоскπapaллaльное плстины 7th
На фкгурак 2иЭ cчeмaтичecки шpeдстaвшeнa траекторкп пучек ь члоскочараллелнной члеотине 7 х в насадоинои телеокоче 8. чри опрокидывании садазок 2 свет мсточнихе света б падает в нacaдoчнеS тепескоп 8 под угпом спрокиднванмн S , а выходит хз него под углом Sj = (Γ · 1) . по сравненио с пупеи света прк угпе накпона S . = 0. Эетем свет падает на ' . опредэлнкецую путь света в стекпе шшocκoπapaеIIeоьнyo насуну 7 с толщиной б к ноказателеи шpeлoмлeнмн щ·, прккеи пшocκoπapaллaльнап плест^е 7 расположена нaкшoнно, глевннм образои под угдои 45° в траекторкк изий^тйльныи пупек 5. Вкодной угле обознакен E (фит. з). Вслнсоптичесеап дпкна путиS иежду двуип неподвижными точками вычисляется с помощью наклонной на угол Е плоскопараллельной пластины 7 согласно фиг. 3 по уравнению S=a-b+ndl , где п- показатель преломления стекла для длины волн используемого монохроматического света.На фкгурак 2иЭ cчeмaтичecки шpeдстaвшeнa траекторкп пучек ь члоскочараллелнной члеотине 7 х в насадоинои телеокоче eighth чри опрокидывании садазок 2 свет мсточнихе света б падает в нacaдoчнеS тепескоп 8 под угпом спрокиднванмн S а выходит хз него под углом Sj = (Γ · 1). о S S S S S S S S S S... S. = 0. Эетем свет падает на '. опредэлнкецую путь света в стекпе шшocκoπapaеIIeоьнyo насуну 7 с толщиной б к ноказателеи шpeлoмлeнмн щ ·, прккеи пшocκoπapaллaльнап плест е ^ 7 расположена нaкшoнно, глевннм образои под угдои 45 в т р аекторкк изий ^ тйльныи пупе к fifth Вко д ной угле обознакен E (фит. З). Вслнсоптичесеап дпкна путиS сежду двуип неподвижными точками вычисляется с помощью наклонной на угол Е плоскопараллелнос. 3, where S = a-b + ndl, is the one that is used to fit the surface of the machine.
Для небольчих изменений входного угла света путем дифференцирования получаются изменения S оптической длины пути . cos Е .Для небольчих изменений входного угла света путем дифференцирования получаются изменения S оптической длины пути. cos Е.
s = a. sin е < 1------) Δε. · n -sin Е где - толщина плоскопараллельной пластины.s =. < 1 ------) Δε. · N -sin Е где - толщина плоскопараллельной пластины.
Если, например, вследствие неконтролированного опрокидывания салазок 2 отражающее зеркало 9 эффективно удаляется от источника света бив результате этого длина пути Sвозрастает, то это оптическое удлинение пути должно компенсироваться отрицательным эначением -ДБ . Знак S изменяется в зависимости от наклона плоскопараллельной пластины 7 к насадочному телескопу 8, т.е. к нему или от него. Кроме того знак Д$ можно изменить, подбирая насадочный телескоп 8.Если, например, вследствие неконтролированного опрокидывания салазок 2 отражающее зеркало 9 эффективно удаляется от источника света бив результате этого длина пути Sвозрастает, то это оптическое удлинение пути должно компенсироваться отрицательным эначением -ДБ. Знак S изменяется в зависимости от наклона плоскопараллельной пластины 7 к насадочному телескопу 8, т.е. к нему или от него. Кроме того знак Д $ можно изменить, подбирая насадочный телескоп 7.
Согласно устройству в соответствии с фигурами 1 и 2 для непрерывной компенсации ошибок первого ряда путем нарушения компараторного принципа Аббе на расстояние получается следующее отношение f=d. sin Е ( 1 - —“7---Z---- > ( Г + 1) n -sin^EСогласно устройству в соответствии с фигурами 1 и 2 для непрерывной компенсации ошибок первого ряда путееесе компаратор. sin Е ( 1- - “7 --- Z ----> (Г + 1) n -sin ^ E
Для однокоординатных измерительных приборов расстояние f между осью испытуемого образца и траекторией измерительных лучей 5 постоянно. Для двухкоординатных или трехкоординатных измерительных приборов с выбором измерительной плоскости на различных высотах испытуемого образца оно также постоянно изменяется. Если величина Г насадочного телескопа 8 непрерывно изменяется с помощью соответствующих средств, то изменяется также величина компенсационного действия устройства согласно изобретению и устройство можно таким образом пригонять к любым расстояниям f . Это означает, что, например, для трехкоординатных измерительных приборов ошибка ориентации координат х - у может быть исключена для каждой выбираемой в координате Z плоскости измерения.Для однокоординатных измерительных приборов расстояние f между осью испытуемого образца и траекторией измерительных лучей 5. Для двухкоординатных или трехкоординатных измерительных приборов с выбором измерительной плоскости на различных высотах испытуемос. Если величина Г насадочного телескопа 8 непрерывно изменяется с помощью соответствующих средств, то изменяется также величина компенсационного действия устройства согласно изобретению и устройство можно таким образом пригонять к любым расстояниям f. Ото означает, что, например, для трехкоординатных измерительных приборов ошибка ориентации координат хожете бете быть исклю
**
Благодаря связи регулировочных средств для увеличения телескопа с перестановкой измерительной плоскости достигаема автоматическая компенсация ошибок измерения первого . порядка.Благодаря связи регулировочных средств для увеличения телескопа с перестановкой измерительной плоскости достигаема автоматическаязиее. порядка.
1. Устройство для компенсации ошибок измерения - первого порядка, обусловленных нарушением коипараторного принципа Аббе, состоящего из ис очника света, расщепиееля светового пучка и интерферометра измерительной системы, преиоуяцеотвеяяо для коордиявтяых . изиерителвяях - шярИоров я иетедлообраетяывающсх маиин, иричеи'отражающее еернело траектории нзиерктелвннх лучей и используемые для компенаещии 'узлы распоАохенн на подвпяяях салазках вяе оси иопятуриого образца (ось измерения), а источник света и расиепитеАь светового пучка - наподвкжно . в стойле унтроЯства, отлечающяеся теи, что в трееиторич изиеритедвяях лучей измерительной окотаин переА отражающим зеркалом расположенн чщяcκoπapящяeльнaA игастина м ннондопннИ телеοκοπ, - - иоторяе .'виаота с отркжаящим зеркапом жеотио овязвнн с салазкамн.First Устройство для компенсации ошибок измерения - первого порядка, обусловленных нарушением коипараторного принципа Аббе, состоящего из ис очника света, расщепиееля светового пучка и интерферометра измерительной системы, преиоуяцеотвеяяо для коордиявтяых. изиерителвяях - шярИоров я иетедлообраетяывающсх маиин, иричеи'отражающее еернело траектории нзиерктелвннх лучей и используемые для компенаещии 'узлы распоАохенн на подвпяяях салазках вяе оси иопятуриого образца (ось измерения) а источник света и расиепитеАь светового пучка - наподвкжно. в стойле унтроЯства, отлечающяеся теи, что в трееиторич изиеритедвяях лучей измерительной окотаин переА отражающим зеркалом расположенн чщяcκoπapящяeльнaA игастина м ннондопннИ телеοκοπ - - иоторяе .'виаота с отркжаящим зеркапом жеотио овязвнн с салазкамн.
2. Уотройотво согласно пункту 1, отличащееся таи, чго пдоокючяpяюeсяьняы яляатина ж нясяаочный трдроиоп pяcчюлохeын- в тррритории иаиаρиτедвяиχ щупей мезщу источником оветв μι отражающееи заркадои и что чсяcκoπяpящяeльнян ялястина располохена в траектории измерительных лучеХ наклонно, преемутцественно под уилом 45°.Second Уотройотво согласно пункту 1 отличащееся таи, чго пдоокючяpяюeсяьняы яляатина ж нясяаочный трдроиоп pяcчюлохeын- в тррритории иаиаρиτедвяиχ щупей мезщу источником оветв μι отражающееи заркадои и что чсяcκoπяpящяeльнян ялястина располохена в траектории измерительных лучеХ наклонно, преемутцественно по д у илом 45 °.
3. Уотройотво согласно пунктам 1 - и 2, отличахяеесн'там, что в -траекторле мзиаρиτадвяиχ лучей преАусмотрен регулируемые по уволичелию и -изменнициМ компенсационное действие члоскопараллельной пдаотинн няcядючaлй трдроиоп, причем yвeAУчeнуe Oeиyоиоyeуо в зз'вислиости от рясстонния тояeктюояч язирритрдвчнх луеей и оси -уcчытyeиюию образла.Third Уотройотво согласно пунктам 1 - и 2 отличахяеесн'там, что в -траекторле мзиаρиτадвяиχ лучей преАусмотрен регулируемые по уволичелию и -изменнициМ компенсационное действие члоскопараллельной пдаотинн няcядючaлй трдроиоп, причем yвeAУчeнуe Oeиyоиоyeуо в зз'вислиости от рясстонния тояeктюояч язирритрдвчнх луеей и оси -уcчытyeиюию образла.
Приложение: чертежи на 1 странице.Приложение: чертежи на 1 странице.
АОООТАЦШАОООТАЦШ
Изобретение касается устройства для компенсации ошибок измерения первого порпдка в интерферометрических спстеиах изоиренин длн координатних измерительных приборов и станков с целью повншеннн точности иоиеренин и настройки и с укаоаниеи О для достикенин согиасованин коипенсррцгоцего действия с рсстояниeм иепдр траекторией изиеритедьних иучей и осьо испытреиого образца, дадапа решаетса теи, чтс в траекторик изиерчтельяых дучей спстеин иэиерения, состоящей ио источника света, расщеччтедя светсвсгс пучка к интерферометре, перед отражающим оериалом расположены яюяскопсрэллцяьн6я шгвстиякв к насадочный телескоп, чредчсчтитедвяс чзиеяяеии в свсеи рведичеяил, которые ссвиестяс с отражающии зеркадои хесткс соедчяеяи с ссдсзкаияя пзиерительного прпбора.Изобретение касается устройства для компенсации ошибок измерения первого порпдка в интерферометрических спстеиах изоиренин длн координатних измерительных приборов и станков с целью повншеннн точности иоиеренин и настройки и с укаоаниеи О для достикенин согиасованин коипенсррцгоцего действия с рсстояниeм иепдр траекторией изиеритедьних иучей и осьо испытреиого образца, дадапа решаетса теи, чтс в траекторик изиерчтельяых дучей спстеин иэиерения, состоящей ио источника света ющим оериалом расположены яюяскопсрэллцяьн6я шгвстиякв к насадочный телескоп, чредчсчтитедвяс чзиеяяеии в свсеи рведичеяил, которые ссвиестяс с отражающии зеркадои хесткс соедчяеяи с ссдсзкаияя пзиерительного прпбора.
Оптическп длйстрищил гшоскости пдocкoпсpсдлeдьнoй чдастияы распо^^нн .явкдйяяс в треекторип иоиерительныи лучей. Koйπeнсяциoннoл действие устройства рcтсыaвливaлйо изиенеяиеи уведине^^ тлдлскопа в зсвпслшости от pсccточыйч илпдр траектория измерительных дрчбй и осво йcпитрeйoгo ойразца. координатине идилpитeльчыл прпбори и станкн.Оптическп длйстрищил гшоскости пдocкoпсpсдлeдьнoй чдастияы распо ^^ нн .явкдйяяс в треекторип иоиерительныи лучей. Koëπeнсяциoннoл действие устройства рcтсыaвливaлйо изиенеяиеи уведине координатине идилpитeльчыл прпбори и станкн.
Claims (3)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD20528778A DD136536B1 (en) | 1978-05-10 | 1978-05-10 | ARRANGEMENT FOR COMPENSATING FIRST-ORDER MEASUREMENT ERRORS |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CS217421B1 true CS217421B1 (en) | 1983-01-28 |
Family
ID=5512580
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CS276279A CS217421B1 (en) | 1978-05-10 | 1979-04-20 | Apparatus for compensating for measurement errors of first order |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS54153056A (en) |
CS (1) | CS217421B1 (en) |
DD (1) | DD136536B1 (en) |
DE (1) | DE2909573A1 (en) |
GB (1) | GB2020845B (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5739308U (en) * | 1980-08-18 | 1982-03-03 | ||
ITTO20070318A1 (en) * | 2007-05-10 | 2008-11-11 | Hexagon Metrology Spa | METHOD FOR DETERMINING GEOMETRIC ERRORS IN A MACHINE TOOL OR MEASUREMENT |
-
1978
- 1978-05-10 DD DD20528778A patent/DD136536B1/en unknown
-
1979
- 1979-03-12 DE DE19792909573 patent/DE2909573A1/en not_active Withdrawn
- 1979-04-20 CS CS276279A patent/CS217421B1/en unknown
- 1979-05-10 GB GB7916162A patent/GB2020845B/en not_active Expired
- 1979-05-10 JP JP5639079A patent/JPS54153056A/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54153056A (en) | 1979-12-01 |
GB2020845A (en) | 1979-11-21 |
DE2909573A1 (en) | 1979-11-15 |
DD136536B1 (en) | 1980-07-23 |
DD136536A1 (en) | 1979-07-11 |
GB2020845B (en) | 1982-08-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7561280B2 (en) | Displacement measurement sensor head and system having measurement sub-beams comprising zeroth order and first order diffraction components | |
CN107228638B (en) | The method and apparatus that five degree of freedom error based on beam drift compensation measures simultaneously | |
US20050270542A1 (en) | Direct combination of fiber optic light beams | |
CN106461372A (en) | System for simultaneously measuring six-degree-of-freedom errors in way that double-frequency lasers are coupled by single optical fiber | |
TW201809612A (en) | Grating measurement apparatus | |
CN106767389B (en) | Striking rope type simultaneous phase-shifting interference testing device based on prismatic decomposition phase shift | |
CN101620044B (en) | Young's elastic modulus tester with optical lever without reflector | |
JPS6159224A (en) | Method and device for measuring state of polarization of quasi-monochromatic light for actual time | |
CN1316225C (en) | Inner three-directional moire interferometer | |
US4509858A (en) | Compact, linear measurement interferometer with zero abbe error | |
CS217421B1 (en) | Apparatus for compensating for measurement errors of first order | |
EP1286132A2 (en) | Birefringent beam combiners for polarized beams in interferometers | |
GB1144133A (en) | Optical multi-purpose measuring device | |
US3740150A (en) | Surface measurement by interferometer | |
US2461166A (en) | Instrument for testing the accuracy of the angle between two prism faces | |
US3825343A (en) | Optical devices | |
GB2076176A (en) | Focusing Optical Apparatus | |
GB869627A (en) | Improvements in apparatus for testing alignment and directions | |
US3288021A (en) | Microscope for measuring the size of an object | |
CN102901447B (en) | Real-time measuring device for motion straightness of worktable | |
Hutto | Equipment for evaluating lenses of television systems | |
CN216595770U (en) | Division device of optical zoom focusing system | |
CN110849593B (en) | Measuring equipment for measuring wave aberration of optical system based on heterodyne interference of acousto-optic modulator | |
US6081333A (en) | Bi-lateral shearing interferometer with beam convergence/divergence indication | |
RU1812424C (en) | Device for testing level |