CS214468B1 - Multiple connection field - Google Patents
Multiple connection field Download PDFInfo
- Publication number
- CS214468B1 CS214468B1 CS628379A CS628379A CS214468B1 CS 214468 B1 CS214468 B1 CS 214468B1 CS 628379 A CS628379 A CS 628379A CS 628379 A CS628379 A CS 628379A CS 214468 B1 CS214468 B1 CS 214468B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- multiple connection
- printed circuit
- connection field
- connection
- base plate
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Vynález řeší mnohonásobné připojení desek plošných spojů k elektronickým částem testovacích systémů. Podstatou vynálezu je provedení mnohonásobného připojovacího pole, které má základní desku s průchozími otvory. V každém otvoru základní desky je zasunut kontakt spojený pružinou s koncovkou. Tato podsestava, která je řešena jako výměnná je dále přes vývod spojena s měřící částí elektronického systérau. Využití mnohonásobného připojovacího pole se naskýtá zejména při výrobě a vývoji zařízení výpočetní techniky a všude tam, kde je nutno provádět kontrolu osazených nebo neosazených desek plošných spojů.The invention solves the multiple connection of printed circuit boards to electronic parts of test systems. The essence of the invention is the implementation of a multiple connection field, which has a base plate with through holes. In each hole of the base plate, a contact connected by a spring to the terminal is inserted. This subassembly, which is designed as a replaceable one, is further connected to the measuring part of the electronic system via a lead. The use of a multiple connection field is found especially in the production and development of computer equipment and wherever it is necessary to perform the inspection of mounted or unmounted printed circuit boards.
Description
Vynález se týká mnohonásobného připojovacího pole, zejména pro zkoušení a testování osazených i neosazených desek plošnýcm spojů bez ohledu na technologii jejich výroby. Pokrok v technologii výroby elektronických zařízení dosáhl takového Stupně, že ruční zkoušení propojení, bezchybnosti motivů plošných spojů a zadních propojovacích panelů v reálném čase je neekonomické a ve většině případů neřešitelné. Použití prostředků výpočetní techniky pro tyto účely je podstatněj^iódně jší. Jedním z hlavních problémů automatického zkou áení a testováni je připojení koncových bodů spojů na desoe, koncových bodů kabeláže nebo koncových bodů spojů zadního propojovacího panelu k elektronické testovací části zkoušečů a testerů.The invention relates to a multiple connection field, in particular for testing and testing both PCBs and PCBs regardless of their manufacturing technology. Advances in the technology of manufacturing electronic devices have reached the point that manual testing of interconnections, the flawlessness of printed circuit motifs and rear patch panels in real time is uneconomical and in most cases insoluble. The use of computer technology for these purposes is more substantial. One of the main problems of automated testing and testing is the connection of circuit board endpoints, cabling endpoints or rear end panel joints to the electronic test portion of testers and testers.
Dosud známá řešení mnohonásobných připojovacích polí testerů užívají k tomuto účelu individuálních sond, zvláštního připojovacího kabelu a konektoru, nebo pevnou konfiguraci připojovacích kontaktů. Individuelní sondy a zvláštní konektory vyhovují pro připojení pou ze omezeného počtu bodů zkoušené desky. Takto konstruovaná připojovací pole nepřesahují obvykle 100 až 150 připojovacích bodů. Zvláštní konektory navíc zmenšují využitelnou plochu desky plošného spoje. Jednotlivé sondy se obtížně instalují a pravděpodobnost jejich chybného umístění vzrůstá s počtem měřících bodů. Uspořádání mnohonásobného připojovacího pole do pevné konfigurace měřících bodů je vhodné pro zkoušení a testování velkého počtu naprosto stejných desek plošných spojů. Změna konfigurace měřících bodů bývá obtížná, časově náročná a často neproveditelná. Podobná zařízení jsou například popsána a zobrazena ve firemní literatuře firmy Siemens (Siemens - Zeitschřift), Araphenol-Tuchel Electronics (Federkontakte fúr Prufmittelbau), Program data incorporated (katalog Probing fixtures), Evaluation engineering (1977), Mania GMHB (Neues Universaladaptierungssystem).The prior art solutions of multiple testers' connection fields use for this purpose individual probes, a separate connection cable and connector, or a fixed configuration of connection contacts. Individual probes and special connectors are suitable for connection from only a limited number of test plate points. Connection fields constructed in this way do not usually exceed 100 to 150 connection points. In addition, special connectors reduce the usable area of the printed circuit board. Individual probes are difficult to install and the probability of misalignment increases with the number of measuring points. Arranging a multiple connection array into a fixed measurement point configuration is suitable for testing and testing a large number of exactly the same printed circuit boards. Changing the measurement point configuration is difficult, time consuming, and often impracticable. For example, similar devices are described and illustrated in Siemens' corporate literature (Siemens - Zeitschift), Araphenol-Tuchel Electronics (Federal Research Institute), Program data incorporated (Probing fixtures catalog), Evaluation engineering (1977), Mania GMHB (Neues Universaladaptierungssystem).
Výše uvedené nedostatky jsou odstraněny mnohonásobným připojovacím polem pro těstoT· vání desek plošných spojů podle vynálezu jehož podstatou je, že základní deska s průchozími otvory má v každém otvoru zasunut kontakt spojený s koncovkou, která je zasunuta do vývodu. Toto řešení umožňuje vysokou hustotu připojovacích bodů, která je nutným předpokladem pro vytvoření universálního připojovacího pole. Skutečnost, že podsestava kontaktu, pružiny a koncovky je výměnná umožňuje použití více druhů kontaktů podle požadavků zkoušené desky plošného spoje, respektive vyjmutí podsestav v místech, kde by jejich přítomnost komplikovala automatické zkoušení nebo byla příčinou nejednoznačnosti výsledků testu.The above drawbacks are overcome by the multiple dough connection board for the printed circuit board of the present invention, which is based on the fact that the base plate with through holes has a contact in each hole connected to a terminal which is inserted into the outlet. This solution allows a high density of connection points, which is a prerequisite for creating a universal connection field. The fact that the contact, spring, and terminal subassembly is replaceable makes it possible to use multiple types of contacts as required by the printed circuit board being tested, or to remove subassemblies at locations where their presence would complicate automatic testing or cause ambiguity in test results.
Mnohonásobné připojovací pole principielně umožňuje zejména připojování zkoušené desky plošných spojů k elektronické Vyhodnocovací Části, to jest Umožňuje automatické zkou šení desek a svojí konstrukcí zkracuje čas potřebný k přizpůsobení připojovacího pole při změně typu nebo formátu příslušné desky plošného spoje, respektive při změně typu testu například testování osazených a neosazených desek. Vysoká hustota kontaktů připojovacího pole, jejich výměnnost a možnost použití různých tvarů kontaktů vytvářejí základ testovacího pole, které je vhodné pro všechny druhy dosud prováděných testů, přičemž limitujícím faktorem se stává kapacita přepínací matice elektronické části testeru. .In principle, the multiple connection field allows the connection of the printed circuit board to the electronic evaluation part, i.e., allows the automatic testing of the boards and its design reduces the time needed to adapt the connection field when changing the type or format of the respective printed circuit board. fitted and non-fitted boards. The high contact field density, interchangeability, and the possibility of using different contact forms form the basis of a test field that is suitable for all types of tests performed so far, with the capacity of the switch matrix of the electronic part of the tester becoming a limiting factor. .
Na obr. 1 je znázorněno možné provedení mnohonásobného připojovacího pole dle vynálezu. Do základní desky £ vytvořené technologií odlévání, lisostřikem nebo vrtáním z izolačního materiálu jsou vsazeny vývody 2, jejiohž vyčnívající konce slouží ke spojení mno214 468 honásobného připojovacího pole a elektronickou částí zařízení pro testování. Podsestava kontaktu £ pružiny 2 a koncovky £ je vložena do otvoru základní desky i a je vodivým spojením vývodu 2 ÍJ kontaktem 2. Mnohonásobné připojovací pole je vytvořeno potřebným počtem podsestav, základní deskou £ a vývody 2· Obrázek 2 znázorňuje některá možná provedení podsestavy - kontakt 2, pružina 2» koncovka £. Kontakt 2 má tvar upravený podle desky plošného spoje například v provedení A polokulOvého vrchlíku pro desku s prokovenými otvory, v provedení B a D s hroty pro kontaktování pájecích bodů a v provedení C s vnitřním kuželem pro testování osazených desek. Podsestava kontaktu 2 s pružinou 2 a koncovkou £ je s výhodou provedena výměnné.FIG. 1 shows a possible embodiment of a multiple connection field according to the invention. Leads 2 are inserted into the base plate 6 formed by casting, injection molding or drilling of insulating material, the protruding ends of which serve to connect a plurality of connection fields to the electronic part of the test device. The subassembly of the contact 2 of the spring 2 and the terminal 4 is inserted into the opening of the base plate 1 and is the conductive connection of the terminal 2 with the contact 2. The multiple connection field is formed by the required number of subassemblies. , spring 2 »terminal 6. The contact 2 has a shape adapted to the printed circuit board, for example, in Form A of the hemispherical canopy for a plate with through holes, in Designs B and D with tips for contacting the soldering points, and in Form C with an internal cone for testing stepped boards. The contact subassembly 2 with the spring 2 and the terminal 6 is preferably interchangeable.
Funkce mnohonásobného připojovacího pole je následující: K základní desce £ opatřené vývody 2» kontakty 2, pružinami 2 a koncovkami £ je se strany vyčnívajících kontaktů 2 jednoznačně přiložena deska plošných spojů, která má být testována. Testovaná deska je přitlačována na mnohonásobné připojovací pole silou působící kolmo k základní desce £ mnohonásobného připojovacího pole a odpovídající jednak počtu použitých kontaktů a za druhé síle potřebné k dosažení spolehlivého propojení mezi testovanou deskou plošného spoje a kontaktem 2. K takto připojené desce plošného spoje může být přiváděn, respektive z ní * v snímán libovolný signál podle požadavků elektronické části zkoušeče.The function of the multiple connection field is as follows: A printed circuit board to be tested is unambiguously placed on the side of the protruding contacts 2 to the base plate 4 provided with terminals 2, contacts 2, springs 2 and terminals 6. The test board is pressed against the multiple connection field by a force perpendicular to the multiple connection field base plate 6 corresponding to the number of contacts used and second to the necessary force to achieve a reliable connection between the printed circuit board and the contact 2. any signal according to the requirements of the electronic part of the tester can be supplied or scanned from it.
Využití mnohonásobného připojovacího pole se naskýtá zejména při výrobě a vývoji zařízení výpočetní techniky /desek plošných spojů/. Kontakty 2 provedení A nebo D jsou vhodné pro testování neosazených desek plošných spojů. Osazené desky lze kontrolovat kontakty 2 provedení B a C obrázek 2. Další možnosti použití jeou v oborech spotřební i specielní elektrotechniky a všude tam, kde je nutno provádět kontiOlu osazených nebo neosazených desek plošných spojů.The multiple connection field is used especially in the production and development of computer equipment (printed circuit boards). Contacts 2 of type A or D are suitable for testing non-mounted printed circuit boards. The mounted boards can be checked by contacts 2 of versions B and C Figure 2. Other applications are possible in the fields of consumer and special electrical engineering and wherever it is necessary to check the mounted or unpopulated printed circuit boards.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS628379A CS214468B1 (en) | 1979-09-18 | 1979-09-18 | Multiple connection field |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS628379A CS214468B1 (en) | 1979-09-18 | 1979-09-18 | Multiple connection field |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS214468B1 true CS214468B1 (en) | 1982-04-09 |
Family
ID=5409519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS628379A CS214468B1 (en) | 1979-09-18 | 1979-09-18 | Multiple connection field |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS214468B1 (en) |
-
1979
- 1979-09-18 CS CS628379A patent/CS214468B1/en unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6194908B1 (en) | Test fixture for testing backplanes or populated circuit boards | |
| US5945838A (en) | Apparatus for testing circuit boards | |
| US5198756A (en) | Test fixture wiring integrity verification device | |
| US4924179A (en) | Method and apparatus for testing electronic devices | |
| US6191601B1 (en) | Test fixture for matched impedance testing | |
| US3931574A (en) | Device and method of wire wrap (or other electrical interconnection between I.C. sockets) checkout | |
| US5808475A (en) | Semiconductor probe card for low current measurements | |
| KR101149748B1 (en) | Electric connection structure, terminal device, socket, device for testing electronic component, and method of manufacturing socket | |
| CN212749137U (en) | Test apparatus with configurable probe fixture | |
| JPH0520701B2 (en) | ||
| US20040108848A1 (en) | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test | |
| EP0294925A2 (en) | Coplanarity testing device for surface mounted components | |
| GB2061630A (en) | Apparatus for testing printed circuit boards | |
| US6441632B1 (en) | Spring probe contactor for testing PGA devices | |
| CS214468B1 (en) | Multiple connection field | |
| JPS62269075A (en) | Apparatus for inspecting printed circuit board | |
| GB2214362A (en) | Detachable open/short testing fixture device for testing P.C. Boards | |
| KR200247134Y1 (en) | Apparatus for inspecting PCB | |
| US6150829A (en) | Three-dimensional programmable connector | |
| JP2759451B2 (en) | Printed circuit board inspection jig | |
| JPH045023Y2 (en) | ||
| CN222966359U (en) | A magnetic test connector | |
| KR930001586Y1 (en) | Connection pin connector of test board | |
| JPH05215814A (en) | Semiconductor device inspecting device | |
| JP2609860B2 (en) | Printed circuit board inspection jig pin |