CS214468B1 - Mnohonásobné připojovací pole - Google Patents
Mnohonásobné připojovací pole Download PDFInfo
- Publication number
- CS214468B1 CS214468B1 CS628379A CS628379A CS214468B1 CS 214468 B1 CS214468 B1 CS 214468B1 CS 628379 A CS628379 A CS 628379A CS 628379 A CS628379 A CS 628379A CS 214468 B1 CS214468 B1 CS 214468B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- multiple connection
- printed circuit
- connection field
- connection
- base plate
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Vynález řeší mnohonásobné připojení desek plošných spojů k elektronickým částem testovacích systémů. Podstatou vynálezu je provedení mnohonásobného připojovacího pole, které má základní desku s průchozími otvory. V každém otvoru základní desky je zasunut kontakt spojený pružinou s koncovkou. Tato podsestava, která je řešena jako výměnná je dále přes vývod spojena s měřící částí elektronického systérau. Využití mnohonásobného připojovacího pole se naskýtá zejména při výrobě a vývoji zařízení výpočetní techniky a všude tam, kde je nutno provádět kontrolu osazených nebo neosazených desek plošných spojů.
Description
Vynález se týká mnohonásobného připojovacího pole, zejména pro zkoušení a testování osazených i neosazených desek plošnýcm spojů bez ohledu na technologii jejich výroby. Pokrok v technologii výroby elektronických zařízení dosáhl takového Stupně, že ruční zkoušení propojení, bezchybnosti motivů plošných spojů a zadních propojovacích panelů v reálném čase je neekonomické a ve většině případů neřešitelné. Použití prostředků výpočetní techniky pro tyto účely je podstatněj^iódně jší. Jedním z hlavních problémů automatického zkou áení a testováni je připojení koncových bodů spojů na desoe, koncových bodů kabeláže nebo koncových bodů spojů zadního propojovacího panelu k elektronické testovací části zkoušečů a testerů.
Dosud známá řešení mnohonásobných připojovacích polí testerů užívají k tomuto účelu individuálních sond, zvláštního připojovacího kabelu a konektoru, nebo pevnou konfiguraci připojovacích kontaktů. Individuelní sondy a zvláštní konektory vyhovují pro připojení pou ze omezeného počtu bodů zkoušené desky. Takto konstruovaná připojovací pole nepřesahují obvykle 100 až 150 připojovacích bodů. Zvláštní konektory navíc zmenšují využitelnou plochu desky plošného spoje. Jednotlivé sondy se obtížně instalují a pravděpodobnost jejich chybného umístění vzrůstá s počtem měřících bodů. Uspořádání mnohonásobného připojovacího pole do pevné konfigurace měřících bodů je vhodné pro zkoušení a testování velkého počtu naprosto stejných desek plošných spojů. Změna konfigurace měřících bodů bývá obtížná, časově náročná a často neproveditelná. Podobná zařízení jsou například popsána a zobrazena ve firemní literatuře firmy Siemens (Siemens - Zeitschřift), Araphenol-Tuchel Electronics (Federkontakte fúr Prufmittelbau), Program data incorporated (katalog Probing fixtures), Evaluation engineering (1977), Mania GMHB (Neues Universaladaptierungssystem).
Výše uvedené nedostatky jsou odstraněny mnohonásobným připojovacím polem pro těstoT· vání desek plošných spojů podle vynálezu jehož podstatou je, že základní deska s průchozími otvory má v každém otvoru zasunut kontakt spojený s koncovkou, která je zasunuta do vývodu. Toto řešení umožňuje vysokou hustotu připojovacích bodů, která je nutným předpokladem pro vytvoření universálního připojovacího pole. Skutečnost, že podsestava kontaktu, pružiny a koncovky je výměnná umožňuje použití více druhů kontaktů podle požadavků zkoušené desky plošného spoje, respektive vyjmutí podsestav v místech, kde by jejich přítomnost komplikovala automatické zkoušení nebo byla příčinou nejednoznačnosti výsledků testu.
Mnohonásobné připojovací pole principielně umožňuje zejména připojování zkoušené desky plošných spojů k elektronické Vyhodnocovací Části, to jest Umožňuje automatické zkou šení desek a svojí konstrukcí zkracuje čas potřebný k přizpůsobení připojovacího pole při změně typu nebo formátu příslušné desky plošného spoje, respektive při změně typu testu například testování osazených a neosazených desek. Vysoká hustota kontaktů připojovacího pole, jejich výměnnost a možnost použití různých tvarů kontaktů vytvářejí základ testovacího pole, které je vhodné pro všechny druhy dosud prováděných testů, přičemž limitujícím faktorem se stává kapacita přepínací matice elektronické části testeru. .
Na obr. 1 je znázorněno možné provedení mnohonásobného připojovacího pole dle vynálezu. Do základní desky £ vytvořené technologií odlévání, lisostřikem nebo vrtáním z izolačního materiálu jsou vsazeny vývody 2, jejiohž vyčnívající konce slouží ke spojení mno214 468 honásobného připojovacího pole a elektronickou částí zařízení pro testování. Podsestava kontaktu £ pružiny 2 a koncovky £ je vložena do otvoru základní desky i a je vodivým spojením vývodu 2 ÍJ kontaktem 2. Mnohonásobné připojovací pole je vytvořeno potřebným počtem podsestav, základní deskou £ a vývody 2· Obrázek 2 znázorňuje některá možná provedení podsestavy - kontakt 2, pružina 2» koncovka £. Kontakt 2 má tvar upravený podle desky plošného spoje například v provedení A polokulOvého vrchlíku pro desku s prokovenými otvory, v provedení B a D s hroty pro kontaktování pájecích bodů a v provedení C s vnitřním kuželem pro testování osazených desek. Podsestava kontaktu 2 s pružinou 2 a koncovkou £ je s výhodou provedena výměnné.
Funkce mnohonásobného připojovacího pole je následující: K základní desce £ opatřené vývody 2» kontakty 2, pružinami 2 a koncovkami £ je se strany vyčnívajících kontaktů 2 jednoznačně přiložena deska plošných spojů, která má být testována. Testovaná deska je přitlačována na mnohonásobné připojovací pole silou působící kolmo k základní desce £ mnohonásobného připojovacího pole a odpovídající jednak počtu použitých kontaktů a za druhé síle potřebné k dosažení spolehlivého propojení mezi testovanou deskou plošného spoje a kontaktem 2. K takto připojené desce plošného spoje může být přiváděn, respektive z ní * v snímán libovolný signál podle požadavků elektronické části zkoušeče.
Využití mnohonásobného připojovacího pole se naskýtá zejména při výrobě a vývoji zařízení výpočetní techniky /desek plošných spojů/. Kontakty 2 provedení A nebo D jsou vhodné pro testování neosazených desek plošných spojů. Osazené desky lze kontrolovat kontakty 2 provedení B a C obrázek 2. Další možnosti použití jeou v oborech spotřební i specielní elektrotechniky a všude tam, kde je nutno provádět kontiOlu osazených nebo neosazených desek plošných spojů.
Claims (2)
1. Mnohonásobné připojovací pole pro testování desek plošných spojů vyznačené tím, že základní deska (l) s průchozími otvory má v každém otvoru zasunut kontakt (2) spojený pružinou (3) s koncovkou (4), která je zasunuta do vývodu (5).
2, Mnohonásobné připojovací pole dle bodu 1 vyznačené tím, že kontakt (2) s pružinou (3) a koncovkou (4) tvoří podsestavu, která je výměnná.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS628379A CS214468B1 (cs) | 1979-09-18 | 1979-09-18 | Mnohonásobné připojovací pole |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS628379A CS214468B1 (cs) | 1979-09-18 | 1979-09-18 | Mnohonásobné připojovací pole |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS214468B1 true CS214468B1 (cs) | 1982-04-09 |
Family
ID=5409519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS628379A CS214468B1 (cs) | 1979-09-18 | 1979-09-18 | Mnohonásobné připojovací pole |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS214468B1 (cs) |
-
1979
- 1979-09-18 CS CS628379A patent/CS214468B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6194908B1 (en) | Test fixture for testing backplanes or populated circuit boards | |
| US5945838A (en) | Apparatus for testing circuit boards | |
| US5198756A (en) | Test fixture wiring integrity verification device | |
| US4924179A (en) | Method and apparatus for testing electronic devices | |
| US6191601B1 (en) | Test fixture for matched impedance testing | |
| US3931574A (en) | Device and method of wire wrap (or other electrical interconnection between I.C. sockets) checkout | |
| US5808475A (en) | Semiconductor probe card for low current measurements | |
| KR101149748B1 (ko) | 전기접속구조, 단자장치, 소켓, 전자부품시험장치 및 소켓의 제조방법 | |
| JPH0520701B2 (cs) | ||
| US20040108848A1 (en) | Adapter method and apparatus for interfacing a tester with a device under test | |
| CN212749137U (zh) | 具有可配置探头固定装置的测试设备 | |
| EP0294925A2 (en) | Coplanarity testing device for surface mounted components | |
| GB2061630A (en) | Apparatus for testing printed circuit boards | |
| US6441632B1 (en) | Spring probe contactor for testing PGA devices | |
| CS214468B1 (cs) | Mnohonásobné připojovací pole | |
| GB2214362A (en) | Detachable open/short testing fixture device for testing P.C. Boards | |
| KR200247134Y1 (ko) | 인쇄회로기판검사장치 | |
| JPS62269075A (ja) | プリント基板検査装置 | |
| US6150829A (en) | Three-dimensional programmable connector | |
| JP2759451B2 (ja) | プリント基板検査治具 | |
| JPH045023Y2 (cs) | ||
| CN222966359U (zh) | 一种磁吸测试连接器 | |
| KR100246320B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드 | |
| KR930001586Y1 (ko) | 테스트 보드의 접속핀 접속장치 | |
| JPH05215814A (ja) | 半導体デバイスの検査装置 |