CS214254B1 - Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls - Google Patents

Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls Download PDF

Info

Publication number
CS214254B1
CS214254B1 CS614580A CS614580A CS214254B1 CS 214254 B1 CS214254 B1 CS 214254B1 CS 614580 A CS614580 A CS 614580A CS 614580 A CS614580 A CS 614580A CS 214254 B1 CS214254 B1 CS 214254B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
etching
grains
galliumarsenide
parts
crystal
Prior art date
Application number
CS614580A
Other languages
English (en)
Inventor
Arnost Hruby
Bedrich Stepanek
Original Assignee
Arnost Hruby
Bedrich Stepanek
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Arnost Hruby, Bedrich Stepanek filed Critical Arnost Hruby
Priority to CS614580A priority Critical patent/CS214254B1/cs
Publication of CS214254B1 publication Critical patent/CS214254B1/cs

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Weting (AREA)

Description

ČESKOSLOVENSKÁSOCIALISTICKÁREPUBLIKA< 1S )
POPIS VYNÁLEZU K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ 214 254 (Π) (Bl)
(61) (23) Výstavní priorita(22) Přihlášeno n 09 80(21) PV 6145-80 (51) IntCl.5 H 01 L 21/302
ÚŘAD PRO VYNÁLEZY
A OBJEVY (40) Zveřejněno 15 09 81(45) Vydáno 01 Q6 84 (75)
Autor vynálezu hrubý arnošt ing. esc., Štěpánek bedřich ing. esc., praha (54) Způsob leptání pro stanovení krystalických zrn krystalů galliumarsenidu
Vynález se týká způsobu leptáni krystalů galliumarsenidu pro stanovení krystalických zrn,-kdy krystaly byly předem opracovány broušením či lapovéním, a dále povrch leptán na lesk. í
Leptání krystalů pro stanovení krystalických zrn umožňuje jednoduchou cestou Stanovit,zda vypěstovaný krystal galliumarsenidu je monokrystalem, či je složen z několika zrn.
Existuje celá řada použitelných leptadel a leptacích postupů, avšak doposud používanéroztoky mají řadu nevýhod.
Použití roztoku Η,,02 + HF + HgO (R. K. Willardson, H. L. Goering: Preparation of III-VCompounds, vol. I. New Yourk, Reinhold Publ. Cer. (1962) je příliš náročné na čas. Leptáníprobíhá 45 minut. Dále se používá brom, který je jedovatý (L. Koszi,' D. L. Rode: J. Ělch.
Soc. 122 /1975/ 1696) nebo autoři J. G. Grahmaier, C. B. Watson: Phys. St. Solidi 32 /1969/ K 13) používají silně agresivních látek jako je roztavený hydroxid draselný. Použití jedova-tých a silně agresivních látek značně ztěžuje práci, nebot je nutné používat složitá bezpeč-nostní opatření, která jsou mnohdy i ňa úkor přesnosti výsledku.
Využívání výše uvedených leptadel je příliš časově náročné jednak pro vlastní leptacíproces a jednak pro zajištění všech potřebných bezpečnostních opatření, tuc(íž se popsaná lep-tadla a postupy jeví jako neekonomické.
Tyto nevýhody odstraňuje způsob leptání pro stanovení krystalických zrn galliumarsenidu 214254
L

Claims (2)

  1. 214254 .
  2. 2 podle vynálezu, jehož podstatou je, že na krystal galliumarsenidu se působí po dobu 30 až 60sekund při teplotě 40 až. 60 °C leptadlem, obsahujícím 20' dílů 40 % vodného roztoku kyselinyvinné, 5 dílů koncentrované kyseliny dusičné a 4 díly 1 vodného roztoku dusičnanu stříbr-ného, přičemž se krystalem v roztoku mírně pohybuje. Výhodou tohoto způsobu leptání je, že neobsahuje látky jedovaté a silně agresivní, a želeptací časy jsou velice krátké, takže celý postup trvá zhruba 2 až 3 minuty. Použité látkyjsou levné a snadno dostupné. Před leptáním pro stanoveni krystalických zrn se krystal galliumarsenidu za mokra obrou-sí jemným karborundovým práškem a oelptá. na lesk. Po důkladném omytí lesklého povrchu a opláchnutí ve vodě se vloží do předem připravenéholeptadla pro stanovení krystalických zrn o složení podle vynálezu. Leptání se provádí v roztoku o teplotě 40 až 60 °C. Vzorkem se v leptadle mírně pohybujepo dobu 30 až 60 sekund, pak sé substrát důkladně opláchne pod proudící vodou a nakonec vdestilované vodě, Na metalografickém mikroskopu při zvětšeni 200 až 500 x lze pak pozorovatpočet zrn vzorku galliumarsenidu. Následující příklady provedeni mají pouze objasnit předmět vynálezu, aniž by jej jakým-koliv způsobem omezovaly. Přiklad 1 Dokonale obroušený krystal galliumarsenidu, oleptaný na lesk, se po důkladném opláchnutívodou vložil do leptadla pro stanovení knystalických zrn o složení podle vynálezu. Leptadlo mělo teplotu 45 °C a vzorek galliumarsenidu byl v něm ponechán za mírného míchá-ni 55 sekund. Potom byl vyjmut a opláchnut v proudící vodě a naxonec v destilované vodě. Pooschnutí byl pozorován na metalografickém mikroskopu. Skládal se z několika dobře patrných zrn. Příklad 2 Dobře obroušený krystal galliumarsenidu, oleptaný na lesk byl po důkladném opláchnutívodou vložen do leptadla pro stanovení krystalických zrn o složení podle vynálezu. Leptadlo mělo teplotu 57 °C a vzorek galliumarsenidu v něm byl ponechán za mírného mí-cháni 40 sekund. Potom byl vyjmut, důkladně opláchnut v proudící vodě a nakonec v destilovanévodě. Po uschnuti byl pozorován na metalografickém mikroskopu. Vzorek galliumarsenidu se sklá-dal z několika dobře vyvinutých zrn. Způsob leptáni pro stanovení krystalických zrn podle vynálezu lze využít ve všech labo-ratořích, kde se připravuje krystalický galliumarsenid. Leptání krystalů pro stanovení krystalických zrn umožňuje jednoduchou cestou určit, zdavypěstovaný krystal je monokrystalem," nebo je složen z několika zrn. PŘEDMĚT VYNALEZU Způsob leptání pro stanovení krystalických zrn krystalů galliumarsenidu předem opraco- 3 214254 váných broušenímpůsobí leptadlemkyseliny dusičnéaž 60 sekund při a oleptaných na lesk vyznačující se tím, že se na krystal galliumarseniduo složení 20 dílů vodného roztoku kyseliny vinné koncentrované 40 %, 5 dílůkoncentrované a 4 díly vodného roztoku dusičnanu stříbrného 1 % po dobu 30teplotě 40 až 60 °C, přičemž se vzorkem v roztoku mírně pohybuje.
CS614580A 1980-09-11 1980-09-11 Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls CS214254B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS614580A CS214254B1 (en) 1980-09-11 1980-09-11 Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS614580A CS214254B1 (en) 1980-09-11 1980-09-11 Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS214254B1 true CS214254B1 (en) 1982-04-09

Family

ID=5407818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS614580A CS214254B1 (en) 1980-09-11 1980-09-11 Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS214254B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5049200A (en) Process for the hydrophilizing and/or cement-residue-removing surface treatment of silicon wafers
US5032203A (en) Apparatus for polishing
US4238244A (en) Method of removing deposits from surfaces with a gas agitated cleaning liquid
US3864139A (en) Pretreatment compositions and use thereof in treating metal surfaces
GB1528990A (en) Polishing semiconductor materials
US4737195A (en) Activator-accelerator mixtures for alkaline paint stripper compositions
DE2531431C3 (de) Poliermittel zur Herstellung schleierfreier Halbleiteroberflächen
US3856694A (en) Process for stripping nickel from articles and composition utilized therein
US4305779A (en) Method of polishing nickel-base alloys and stainless steels
US2653861A (en) Etching aluminum using hexahydroxyheptanoic acid as a modifier
ATE86311T1 (de) Trockengranulatzubereitung und verfahren zum polieren eisenhaltiger komponenten.
US4243473A (en) Method for detecting crystal defects in semiconductor silicon and detecting solution therefor
CS214254B1 (en) Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls
US2705192A (en) Etching solutions and process for etching members therewith
CZ280639B6 (cs) Leštící lázeň a způsob chemického leštění povrchů z nerezové oceli
BR8707891A (pt) Composicao de dispersao liquida para,e processo para,polimento de componentes ferrosos
US4900363A (en) Method and liquid preparation for removing residues of auxiliary sawing materials from wafers
US4383857A (en) Attack polish for nickel-base alloys and stainless steels
CS214252B1 (cs) Způsob lesklého leptání krystalů galliumarsenidu
CS212170B1 (cs) Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací
JPS5521541A (en) Process for purifying waste phosphoric acid used in chemicial grinding
US3552993A (en) Process for rinsing chromium plated parts
Melikhov et al. Non-diffusive topochemical transformation of calcium sulphate hemihydrate into the dihydrate
SU1701759A1 (ru) Композици дл химико-механической полировки поверхности полупроводниковых кристаллов
USH125H (en) Etch and polish for metal halides