CS212170B1 - Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací - Google Patents
Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací Download PDFInfo
- Publication number
- CS212170B1 CS212170B1 CS644680A CS644680A CS212170B1 CS 212170 B1 CS212170 B1 CS 212170B1 CS 644680 A CS644680 A CS 644680A CS 644680 A CS644680 A CS 644680A CS 212170 B1 CS212170 B1 CS 212170B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- crystals
- etching
- parts
- dislocations
- crystal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Vynález se týká způsobu leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací, kdy krystaly byly předem opracovány broušením ěi lepováním a povrch leptán na lesk. Dosud používaná leptadla mají bud dlouhou dobu působení, nebo jsou to látky jedovaté a agresivní. Tyto nevýhody odstraňuje způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění dislokací podle vynálezu, jehož podstatou je, že na krystal galliumarsenidu se působí po dobu 30 až 60 sekund při teplotě 20 až 30 °C leptadlem, obsahujícím 10 dílů koncentrované kyseliny fluorovodíkové, 10 dílů ledové kyseliny octové, 1 díl 1% vodného roztoku dusičnanu stříbrného a 1 až 5 dílů glycerinu, popřípadě glykolu, načež se opláchne vodou a čistým etanolem a celý postup ae dva až třikrát opakuje. Leptání krystalů pro zjištění dislokací umožňuje stanovit kvalitu krystalů, co se týče dokonalosti krystalu, která je velmi důležitá pro polovodičovou techniku a optiku.
Description
Vynález s· týká způsobu leptání krystalů gstlliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací, kde krystaly byly předem opracovány broušením ši lepováním a dále povrch leptán na lesk.
Leptání krystalů pro zjištění hustoty dislokací umožňuje stanovit kvalitu krystalů, oó se týče dokonalosti krystalu, která je velice důležitá pro polovodičovou techniku a optiku.
Existuje celá řada použitelných leptadel a leptacích postupů, čož je jediný způsob, jak zviditelnit dislokace. Avšak dosud používaná roztoky mají řadu nevýhod.
Používají se roztoky o složení HNO-j + HgO (H. A. Schell: Z. Metallk, 4-8 /1957/158) s dobou leptáni 15 minut, dále roztok HgOg + HF + H20 (J. L. Richarde: J. Appl. Phys. 31 /1960/ 600), kde doba působení je cca 45 minut1. Nevýhodou jsou především dlouhé doby leptání.
Dále je známo použití silně těkavých látek jako HC1 (R. K. Willardson, H, L. Goering: Preparation of III-V Compounds, Vol. I, New York, Reinhold Fubl, Cer /1962/) nebo jedovatých látek jako CrOj (M. S. Abrahame, C. J.. Buiocchi: J. Appl. Phys 36 /1965/ 2855) nebo brómu (L. Kossi, D. L. Rode: J. Eloh. Soc. 122 /1975/ 1676), nebo silně agresovních jako je roztavený hydroxid draselný (J. G. Grahmaier, C. B. Watson: Phys. St. Solidi 32 /1969/ K 13). Použití těchto leptadel vyžaduje však značně složitá bezpečnostní opatření, které práci ztěžuji a mnohdy negativně ovlivňují přesnost výsledků.
Tyto nevýhody .odstraňuje způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací po předchozím opracování krystalů broušením a leptáním na lesk podle tohoto vynálezu.
Podstatou vynálezu je pracovní· postup, podle kterého se na krystal galliumarsenidu působí po dobu 30 až 60 sekund při teplotě 20 až 30 °G leptadlem složeným z 10 dílů 55 až 65 % hmot. kyseliny dusičné, 10 dílů 28 až 40 % hmotn. kyseliny fluorovodíkové, ,0 dílů 90 až 100 % hmotn. ledové kyseliny octové, 1 dílu 1 % hmotn. vodného roztoku dusičnanu stříbrného a 1 až 5 dílů glycerinu nebo glykolu, načež se krystal opláchne vodou a čistým etanolem a celý postup se dva až třikrát opakuje.
Výhodou tohoto leptadla pro zjištění dislokací u krystalů galliumarsenidu je skutečnost, že neobsahuje látky silně těkavé, jedovaté a agresivní, leptael časy jsou velice krátké., takže celý postup trvé zhruba 3 až 6 minut. Použité létky jsou levné a snadno dostupné.
Krystal galliumarsenidu se před leptáním pro zjištění dislokací obrousí jemným karborundovým práškem za mokra, potom se oleptá na lesk. Po důkladném omyti lesklého povrchu a opláchnutí ve vodě se vloží do předem připraveného leptadla pro zjištění hustoty dislokací o složení podle vynálezu.
Leptání se provádí roztokem o teplotě cca 20 až 30 °C. Vzorek krystalu galliumarsenidu se v leptadle ponechá 30 až 60 sekund. Potom se vyjme a důkladně opláchne v proudící vodě a destilované vodě a nakonec ve vysoce čistém 96% etanoíu. Oleptané plocha se zkontroluje na metalografickém mikroskopu při zvětšení 200 až 500krát, kde se pozoruje tvar a počet leptových dislokačních důlků. Leptaoí postup se ještě opakuje jednou až dvakrát až jsou leptové důlky dostatečně vyvinuty a dalším leptáním již nepřibývají. Po každém leptáni se vidy plocha kontroluje na metalografickém mikroskopu při zvětšení 200 až 500krét.
Následující příklady slouží pouze k objasnění podstaty předmětu vynálezu, aniž by jej jakýmkoliv způsobem omezovaly.
Příklad 1
Dokonale obroušený a na lesk oleptaný krystal galliumarsenidu byl vložen do leptadla pro zjištění dislokací o složení:
dílů kyseliny dusičné koncentrované 65% dílů kyseliny fluorovodíkové koncentrované 40% dílů kyseliny octové ledové koncentrované 100% díl vodného roztoku dusičnanu stříbrného 1% díl glycerinu, '
Teplota leptadla byla 26 °C. Vzorek krystalu galliumarsenidu byl v roztoku ponechán 45 sekund, potom byl důkladně opláchnut v proudící vodě a destilované vodě a nakonec v čistém 96% etanolu. Po oschnutí byl kontrolován na metalografickém mikroskopu při zvětšení 400krát. Na ploše byly patrné dobře vyvinuté leptové důlky. Krystal byl opět leptán ve výše uvedeném leptadle a při stejné teplotě 45 sekund, opláchnut ve vodě a v destilované vodě a nakonec v.etanolu. Po uschnutí plošky byl opět pozorován pod mikroskopem. Počet a tvar leptových důlků se již nezměnil a bylo možné snadno zjistit počat dislokaci.
Příklad 2 »
Dokonale obroušený a na lesk oleptaný krystal galllumarsenidu byl vložen do leptadla pro zjištění dislokací o složení:
dílů kyseliny dusičné koncentrované 65% dílů kyseliny fluorovodíkové koncentrované 40% dílů kyseliny octové ledové koncentrované 100% díl vodného roztoku dusičnanu stříbrného 1% díly glykolu.
Teplota leptadla byla 24 °C. Vzorek krystalu byl v roztoku ponechán 55 sekund, potom byl důkladně opláchnut pod proudící vodou a v destilované vodě a dále ve vysoce čistém 96% etanolu. Po oschnutí byl zkontrolován na metalografickém mikroskopu při zvětšení 400krét. Na ploše byly patrné leptové důlky. Krystal byl opět leptán ve výše uvedeném leptadle při stejné teplotě 55 sekund, opláchnut ve vodě a v destilované vodě a nakonec v eta nolu. Po oschnutí byl opět prohlédnut pod mikroskopem. Počat i tvar důlků se změnil, proto bylo leptání znovu opakováno, tentokrát po dobu pouze 40 sekund. Po omytí a uschnutí byla provedena další kontrola na metalografickém mikroskopu, kde bylo zjištěno, že se počet a tvar leptových důlků již nezměnil a bylo možné·stanovit počet dislokací.
Způsob podle vynálezu je možno využít ve věech laboratořích, kde se připravuje krysta lický gelliuníarsenid.
Tímto způsobem se provádí kontrola základního materiálu pro výrobu polovodičových galliumarsenidových prvků a optických galliumarsenidovýeh součástek.
Claims (1)
- Způsob leptání krystalů.galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací po předchozím opracování krystalů broušením a leptáním na lesk, vyznačující se tím, že ee na krystal galliumarsenidu působí po dobu 30 až 60 sekund při teplotě 20 až 30 °C leptadlem složeným z 10 dílů 55 až 65 % hmotn. kyseliny dusičné, TO dílů 28 a& 40 % hmotn. kyseliny fluorovodíkové, 10 dílů 90 až 100 % hmotn. ledové kyseliny-octové, 1 dílů 1 % hmotn. vodného roztoku dusičnanu stříbrného a 1 až 5 dílů glycerinu nebo glykolu, načež se opláchne vodou a čistým etanolem a celý postup se dvakrát až třikrát opakuje.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS644680A CS212170B1 (cs) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS644680A CS212170B1 (cs) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS212170B1 true CS212170B1 (cs) | 1982-02-26 |
Family
ID=5411518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS644680A CS212170B1 (cs) | 1980-09-24 | 1980-09-24 | Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS212170B1 (cs) |
-
1980
- 1980-09-24 CS CS644680A patent/CS212170B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4156619A (en) | Process for cleaning semi-conductor discs | |
| Booker et al. | Method of preparing Si and Ge specimens for examination by transmission electron microscopy | |
| KR101762463B1 (ko) | 웨이퍼 공정 중에 반도체 웨이퍼들에 전해지는 오염물의 양을 모니터하는 방법 | |
| KR101694665B1 (ko) | 펠리클 프레임 및 그 제조 방법 | |
| JPH01160021A (ja) | ケイ素スライスの親水性化及び/または接合剤残渣除去表面処理方法 | |
| CN110526205A (zh) | 一种等离子体刻蚀辅助激光加工碳化硅的方法 | |
| CN101655427B (zh) | 一种锗单晶片位错腐蚀检测方法 | |
| Ahearn Jr et al. | The production of plane surfaces on single crystals of copper and copper alloys | |
| LTIP287A (en) | Dry granular composition for, and method of, polishing ferrous components | |
| Wegner et al. | Preferential chemical etching of terrestrial and lunar olivines | |
| CS212170B1 (cs) | Způsob leptání krystalů galliumarsenidu pro zjištění hustoty dislokací | |
| US4900363A (en) | Method and liquid preparation for removing residues of auxiliary sawing materials from wafers | |
| EP0005919B1 (en) | Process for sealing anodised aluminium and product so obtained | |
| US2705192A (en) | Etching solutions and process for etching members therewith | |
| BR8707891A (pt) | Composicao de dispersao liquida para,e processo para,polimento de componentes ferrosos | |
| HK88190A (en) | Method for removing a titanium nitride film | |
| CN109183034A (zh) | 一种纯钛的金相腐蚀液及其腐蚀方法 | |
| Baun | Formation of porous films on titanium alloys by anodization | |
| Wegner et al. | Chemical etching of dislocations in forsterite | |
| CS214252B1 (cs) | Způsob lesklého leptání krystalů galliumarsenidu | |
| Kestel | Polishing methods for metallic and ceramic transmission electron microscopy specimens: Revision 1 | |
| CS214254B1 (en) | Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls | |
| CN114839023A (zh) | 一种碲化镉掺砷金相试样的制备方法 | |
| Gavrishchuk et al. | Etching behavior of CVD zinc selenide in inorganic acid solutions. | |
| SU816331A1 (ru) | Полирующий травитель дл иодида ртути |