CS201379B1 - Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits - Google Patents

Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits Download PDF

Info

Publication number
CS201379B1
CS201379B1 CS787478A CS787478A CS201379B1 CS 201379 B1 CS201379 B1 CS 201379B1 CS 787478 A CS787478 A CS 787478A CS 787478 A CS787478 A CS 787478A CS 201379 B1 CS201379 B1 CS 201379B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
bath
current
galvanic
gold
layer
Prior art date
Application number
CS787478A
Other languages
English (en)
Inventor
Ludek Smid
Jan Badal
Original Assignee
Ludek Smid
Jan Badal
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ludek Smid, Jan Badal filed Critical Ludek Smid
Priority to CS787478A priority Critical patent/CS201379B1/cs
Publication of CS201379B1 publication Critical patent/CS201379B1/cs

Links

Landscapes

  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Description

ČESKOSLOVENSKÁ SOCIALISTICKÁ REPUBLIKA POPIS VYNALEZU 201379 (11) (Bl) ( 19 ) K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ (51) Int. Cl.3 H 05 K 3/24 (22) Přihlášeno 30 11 78(21) (PV 7874-78) (40) Zveřejněno 29 02 80 ÚŘAD PRO VYNÁLEZY A OBJEVY (45) Vydáno 15 06 82 (75)
Autor vyinálezu SMlD LUDĚK ing. a BADAL JAN ing. CSc., PRAHA (54) Způsob zesilování tenkých vodivých vrstev u hybridních integrova-ných obvodů
Vynález se týká způsobu zesilování tenkýchvodivých vrstev u hybridních integrovanýchobvodů galvanickým způsobem.
Pro zvyšování elektrické vodivosti někte-rých vodivých drah v tenkých vrstvách proúčely hybridních integrovaných obvodů sevýhodně používá zesilování těchto tenkýchvodivých vrstev galvanickým způsobem. Pří-slušné motivy se získají tak, že se galvanickévrstvy nanášejí do okének v předem vytvo-řené fotorezistové masce. Při této metodě všakdochází k vytváření hroznovitých útvarů„clusterů“, hlavně na hranách tvořících setenkovrstvých obrazců. Tyto nárůsty zhoršujíobrysovou ostrost a přesnost takto zhotove-ných vodivých drah. Nárůsty způsobují i zvý-šené pnutí v nanesené galvanické vrstvě a cel-kově snižují kvalitu povrchu vyloučenýchvrstev. To má za následek zhoršení adhezetěchto vrstev k podložce a dochází i k jejichodlupování od podložních vrstev, zejména vli-vem dlouhodobého působení teploty a teplot-ních změn.
Uvedené nevýhody se odstraní způsobemzesilování tenkých vodivých vrstev u hybrid-ních integrovaných obvodů galvanickým způ-sobem do otvorů fotorezistové masky, jehožpodstata podle vynálezu spočívá v tom, žek substrátu s tenkými vodivými vrstvami po-nořenému v pokovovací lázni se připojí zdroj galvanického proudu, který dodává střídavéproudové impulsy, přičemž poměr dob trvánízáporného a kladného impulsu se mění v zá-vislosti na druhu použité pokovovací lázně od4:1 do 25 : 1 s opakovači frekvencí 0,1 až1 Hz a střední proudovou hustotou danou po-užitou galvanickou lázní. Výhodou tohoto způsobu zesilování tenkýchvodivých vrstev u hybridních integrovanýchobvodů je omezená tvorba nežádoucích hroz-novitých nárůstků a lepší adheze k ostatnímvrstvám, popřípadě podložkám. Povrch nane-sených vrstev je hladší a homogennější, zvy-šuje se i přesnost vytvářených motivů.
Vynález bude dále blíže vysvětlen na pří-kladech, kde v prvém příkladu se galvanickynanáší vrstva mědi na kotvicí vrstvu vakuověnapařeného niklu a v druhém příkladě se na-náší vrstva zlata. Příklad 1 Při vytváření zlatých vzdušných můstkůpři křížení vodivých cest u hybridních integ-rovaných obvodů se galvanicky nanáší vrstvamědi na kotvicí vrstvu vakuově napařenéhoniklu do otvorů rezistově masky. Je nutno,aby tato mezivrstva mědi měla homogennípovrch, definovanou tloušťku po celém povr-chu podložky, dobrou adhezi a dobrou hrano-vou ostrost bez hroznovitých výrůstků. 20 1 37 9

Claims (1)

  1. 2 Připraví se galvanická lázeň a složení: 120 g kyanid měďný, 175 g kyanid drasel-ný, 60 g uhličitan draselný a doplní se vodouna 1 litr lázně. Lázeň se zahřeje na pracovníteplotu 55 °C. Střední proudová hustota meziměděnou anodou a podložkou s tenkými vo-divými vrstvami činí 4 A/dm2. Do lázně se ponoří podložka s kotvící vrst-vou napářeného niklu tloušťky 50 až 100 nm.Připojí se zdroj galvanického proudu s prou-dovými impulsy o střídě 1 : 10 a opakovačifrekvencí 1 Hz. Pokovuje se 50 minut, čímžse vyloučí vrstva mědi o tloušťce asi 35 μτη.Tato vrstva mědi má shora požadované vlast-nosti. Příklad 2 Pro zvětšení vodivosti tenkých vrstev va-kuově napařeného sendviče titan — paladium— zlato je třeba na tyto motivy galvanicky PŘEDMĚT Způsob zesilování tenkých vodivých vrstevu hybridních integrovaných obvodů galvanic-kým způsobem do otvorů fotorezistové maskyvylučováním příslušného kovu z galvanickélázně, vyznačený tím, že k substrátu s tenký-mi vodivými vrstvami ponořenému v poko-vovací lázni se připojí zdroj galvanického nanést vrstvu zlata do otvorů rezistové mas-ky. Je třeba, aby povrch nanesené zlaté vrst-vy byl hladký, aby tvary hran vytvářenýchmotivů byly přesné a rozměrová tolerancei 5 μτη. Připraví se zlatící lázeň o složení: 10 g kyanid zlatno-draselný, 60 g střednífosforečnan draselný, 60 g kyselý fosforečnandraselný a doleje se vodou na 1 litr lázně. Lá-zeň se ohřeje na pracovní teplotu 50 °C. Prou-dová hustota je 2 A/dm2. Podložky s tenkými vodivými motivy seponoří do pokovovací lázně a připojí se zdrojgalvanického proudu s pulsním průběhem,přičemž poměr dob trvání záporného a klad-ného proudu činí 15 : 1 s opakovači frekvencí0,5 Hz. Pokovuje se 20 minut. Vyloučená zlatá vrstva má tloušťku asi10 μτη a splňuje shora uvedené požadavky. proudu, který dodává střídavé proudové im-pulsy, přičemž poměr dob trvání zápornéhoa kladného impulsu se mění v závislosti nadruhu použité pokovovací lázně od 4:1 do25 :1 s opakovači frekvencí 0,1 až 1 Hz astřední proudovou hustotou danou použitougalvanickou lázní.
CS787478A 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits CS201379B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS787478A CS201379B1 (en) 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS787478A CS201379B1 (en) 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS201379B1 true CS201379B1 (en) 1980-11-28

Family

ID=5428626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS787478A CS201379B1 (en) 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS201379B1 (cs)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4468293A (en) Electrochemical treatment of copper for improving its bond strength
US4515671A (en) Electrochemical treatment of copper for improving its bond strength
TWI250223B (en) Apparatus for electroplating a semiconductor substrate
CA1167406A (en) Process for electroforming copper foil
US4633035A (en) Microwave circuit boards
JPS63500250A (ja) 銅箔に対する処理
JPH0224037B2 (cs)
JPH0255943B2 (cs)
WO1989007162A1 (en) Electrochemical processes
CN1787114A (zh) 一种复合电磁屏蔽薄膜材料及其制造方法
JPS6257120B2 (cs)
CS201379B1 (en) Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits
JPS5927592A (ja) マイクロウエ−ブ回路基板及びその製造法
US4082622A (en) Electrodeposition of ruthenium
DE3922477A1 (de) Quellmittel zur vorbehandlung von kunstharzen vor einer stromlosen metallisierung
CA1162505A (en) Process for high speed nickel and gold electroplate system
JP3276919B2 (ja) 樹脂基材への高密着性めっき方法およびこれに用いる銅めっき液
US3516848A (en) Process and solution for sensitizing substrates for electroless plating
KR20060053149A (ko) 전기부품의 제조방법
KR100826113B1 (ko) 인쇄회로기판 및 그 제조방법
EP0269208A1 (en) A process for the treatment of copper foil
JPH06260759A (ja) プリント回路板の製造方法
JPH02194182A (ja) 高リン含有ニツケルメツキ方法
JPS6317597A (ja) 印刷回路用銅箔及びその製造方法
JPH03196597A (ja) 印刷配線板の製造方法