CS201379B1 - Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits - Google Patents

Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits Download PDF

Info

Publication number
CS201379B1
CS201379B1 CS787478A CS787478A CS201379B1 CS 201379 B1 CS201379 B1 CS 201379B1 CS 787478 A CS787478 A CS 787478A CS 787478 A CS787478 A CS 787478A CS 201379 B1 CS201379 B1 CS 201379B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
bath
current
galvanic
gold
layer
Prior art date
Application number
CS787478A
Other languages
Czech (cs)
Inventor
Ludek Smid
Jan Badal
Original Assignee
Ludek Smid
Jan Badal
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ludek Smid, Jan Badal filed Critical Ludek Smid
Priority to CS787478A priority Critical patent/CS201379B1/en
Publication of CS201379B1 publication Critical patent/CS201379B1/en

Links

Landscapes

  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)

Description

ČESKOSLOVENSKÁ SOCIALISTICKÁ REPUBLIKA POPIS VYNALEZU 201379 (11) (Bl) ( 19 ) K AUTORSKÉMU OSVĚDČENÍ (51) Int. Cl.3 H 05 K 3/24 (22) Přihlášeno 30 11 78(21) (PV 7874-78) (40) Zveřejněno 29 02 80 ÚŘAD PRO VYNÁLEZY A OBJEVY (45) Vydáno 15 06 82 (75)CZECHOSLOVAK SOCIALIST REPUBLIC DESCRIPTION 201379 (11) (Bl) (19) TO COPYRIGHT CERTIFICATE (51) Int. Cl.3 H 05 K 3/24 (22) Registered 30 11 78 (21) (PV 7874-78) (40) Published 29 02 80 OFFICE AND DISCOVERY OFFICE (45) Published 15 06 82 (75)

Autor vyinálezu SMlD LUDĚK ing. a BADAL JAN ing. CSc., PRAHA (54) Způsob zesilování tenkých vodivých vrstev u hybridních integrova-ných obvodůAuthor of vylálzu SMlD LUDĚK ing and BADAL JAN ing., CSc., PRAGUE (54) Method of strengthening thin conductive layers in hybrid integrated circuits

Vynález se týká způsobu zesilování tenkýchvodivých vrstev u hybridních integrovanýchobvodů galvanickým způsobem.BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a method for strengthening thin conductive layers in hybrid integrated circuits by a galvanic method.

Pro zvyšování elektrické vodivosti někte-rých vodivých drah v tenkých vrstvách proúčely hybridních integrovaných obvodů sevýhodně používá zesilování těchto tenkýchvodivých vrstev galvanickým způsobem. Pří-slušné motivy se získají tak, že se galvanickévrstvy nanášejí do okének v předem vytvo-řené fotorezistové masce. Při této metodě všakdochází k vytváření hroznovitých útvarů„clusterů“, hlavně na hranách tvořících setenkovrstvých obrazců. Tyto nárůsty zhoršujíobrysovou ostrost a přesnost takto zhotove-ných vodivých drah. Nárůsty způsobují i zvý-šené pnutí v nanesené galvanické vrstvě a cel-kově snižují kvalitu povrchu vyloučenýchvrstev. To má za následek zhoršení adhezetěchto vrstev k podložce a dochází i k jejichodlupování od podložních vrstev, zejména vli-vem dlouhodobého působení teploty a teplot-ních změn.In order to increase the electrical conductivity of some conductive paths in thin layers of hybrid integrated circuits, it is preferred to use these thin-film layers in a galvanic manner. Appropriate motifs are obtained by applying galvanic layers to the windows in a preformed photoresist mask. However, this method creates grape-like clusters, mainly at the edges of the centrefold patterns. These increases deteriorate the visual acuity and the accuracy of the conductors so produced. The increases also cause increased stress in the applied galvanic layer and generally reduce the surface quality of the deposited layers. This results in a deterioration of the adhesion of these layers to the backing and peeling away from the backing layers, in particular due to the long-term exposure to temperature and temperature changes.

Uvedené nevýhody se odstraní způsobemzesilování tenkých vodivých vrstev u hybrid-ních integrovaných obvodů galvanickým způ-sobem do otvorů fotorezistové masky, jehožpodstata podle vynálezu spočívá v tom, žek substrátu s tenkými vodivými vrstvami po-nořenému v pokovovací lázni se připojí zdroj galvanického proudu, který dodává střídavéproudové impulsy, přičemž poměr dob trvánízáporného a kladného impulsu se mění v zá-vislosti na druhu použité pokovovací lázně od4:1 do 25 : 1 s opakovači frekvencí 0,1 až1 Hz a střední proudovou hustotou danou po-užitou galvanickou lázní. Výhodou tohoto způsobu zesilování tenkýchvodivých vrstev u hybridních integrovanýchobvodů je omezená tvorba nežádoucích hroz-novitých nárůstků a lepší adheze k ostatnímvrstvám, popřípadě podložkám. Povrch nane-sených vrstev je hladší a homogennější, zvy-šuje se i přesnost vytvářených motivů.These disadvantages are eliminated by the method of amplifying thin conductive layers in hybrid integrated circuits by galvanic method into the photoresist mask openings, the principle of which according to the invention is to connect the source of the thin current conductive layers in the plating bath with a source of galvanic current supplied by alternating current pulses, wherein the ratio of the duration of the negative and positive pulses varies depending on the type of metallization bath used, from 4: 1 to 25: 1 with a repetition rate of 0.1 to 1 Hz and a mean current density given by the galvanic bath used. The advantage of this method of cross-linking thin-film layers in hybrid integrated circuits is the limited formation of undesirable racemates and better adhesion to other layers or substrates. The surface of the deposited layers is smoother and more homogeneous, as well as the accuracy of the motifs produced.

Vynález bude dále blíže vysvětlen na pří-kladech, kde v prvém příkladu se galvanickynanáší vrstva mědi na kotvicí vrstvu vakuověnapařeného niklu a v druhém příkladě se na-náší vrstva zlata. Příklad 1 Při vytváření zlatých vzdušných můstkůpři křížení vodivých cest u hybridních integ-rovaných obvodů se galvanicky nanáší vrstvamědi na kotvicí vrstvu vakuově napařenéhoniklu do otvorů rezistově masky. Je nutno,aby tato mezivrstva mědi měla homogennípovrch, definovanou tloušťku po celém povr-chu podložky, dobrou adhezi a dobrou hrano-vou ostrost bez hroznovitých výrůstků. 20 1 37 9The invention will now be explained in more detail by the following examples, wherein in the first example the galvanically deposited layer of copper on the anchor layer of the vacuum-welded nickel, and in the second example, the layer of gold. EXAMPLE 1 In the formation of golden air bridges when crossing conductive paths in hybrid integrated circuits, the layers are galvanically applied to the anchoring layer by vacuum vapor deposition into the resist mask apertures. It is desirable that the copper interlayer has a homogeneous surface, a defined thickness over the entire surface of the substrate, good adhesion, and good edge sharpness without grape-like growths. 20 1 37 9

Claims (1)

2 Připraví se galvanická lázeň a složení: 120 g kyanid měďný, 175 g kyanid drasel-ný, 60 g uhličitan draselný a doplní se vodouna 1 litr lázně. Lázeň se zahřeje na pracovníteplotu 55 °C. Střední proudová hustota meziměděnou anodou a podložkou s tenkými vo-divými vrstvami činí 4 A/dm2. Do lázně se ponoří podložka s kotvící vrst-vou napářeného niklu tloušťky 50 až 100 nm.Připojí se zdroj galvanického proudu s prou-dovými impulsy o střídě 1 : 10 a opakovačifrekvencí 1 Hz. Pokovuje se 50 minut, čímžse vyloučí vrstva mědi o tloušťce asi 35 μτη.Tato vrstva mědi má shora požadované vlast-nosti. Příklad 2 Pro zvětšení vodivosti tenkých vrstev va-kuově napařeného sendviče titan — paladium— zlato je třeba na tyto motivy galvanicky PŘEDMĚT Způsob zesilování tenkých vodivých vrstevu hybridních integrovaných obvodů galvanic-kým způsobem do otvorů fotorezistové maskyvylučováním příslušného kovu z galvanickélázně, vyznačený tím, že k substrátu s tenký-mi vodivými vrstvami ponořenému v poko-vovací lázni se připojí zdroj galvanického nanést vrstvu zlata do otvorů rezistové mas-ky. Je třeba, aby povrch nanesené zlaté vrst-vy byl hladký, aby tvary hran vytvářenýchmotivů byly přesné a rozměrová tolerancei 5 μτη. Připraví se zlatící lázeň o složení: 10 g kyanid zlatno-draselný, 60 g střednífosforečnan draselný, 60 g kyselý fosforečnandraselný a doleje se vodou na 1 litr lázně. Lá-zeň se ohřeje na pracovní teplotu 50 °C. Prou-dová hustota je 2 A/dm2. Podložky s tenkými vodivými motivy seponoří do pokovovací lázně a připojí se zdrojgalvanického proudu s pulsním průběhem,přičemž poměr dob trvání záporného a klad-ného proudu činí 15 : 1 s opakovači frekvencí0,5 Hz. Pokovuje se 20 minut. Vyloučená zlatá vrstva má tloušťku asi10 μτη a splňuje shora uvedené požadavky. proudu, který dodává střídavé proudové im-pulsy, přičemž poměr dob trvání zápornéhoa kladného impulsu se mění v závislosti nadruhu použité pokovovací lázně od 4:1 do25 :1 s opakovači frekvencí 0,1 až 1 Hz astřední proudovou hustotou danou použitougalvanickou lázní.2 Prepare a galvanic bath and make up: 120 g cuprous cyanide, 175 g potassium cyanide, 60 g potassium carbonate and make up to 1 liter with water. The bath is heated to a working temperature of 55 ° C. The mean current density of the copper-anode and the thin-walled substrate was 4 A / dm 2. A bath with an anchored layer of steamed nickel of 50 to 100 nm thickness is immersed in the bath. A source of galvanic current with a current pulse of 1: 10 and a repetition of the frequency of 1 Hz is connected. It is plated for 50 minutes to remove a copper layer of about 35 μτη. EXAMPLE 2 To increase the conductivity of thin layers of steam-baked titanium-palladium-gold sandwich, it is necessary to galvanically apply these motifs. a substrate with thin conductive layers immersed in the bath is connected to a galvanic source to apply a layer of gold to the holes of the resist mask. The surface of the deposited gold layer needs to be smooth so that the shapes of the edges produced by the motifs are accurate and the dimensional tolerance of 5 μτη. A gold bath containing 10 g of gold-potassium cyanide, 60 g of potassium phosphate, 60 g of phosphoric acid and 60 g of water per liter of bath is prepared. The bath is heated to a working temperature of 50 ° C. The current density is 2 A / dm 2. Plates with thin conductive motifs are immersed in a plating bath and a pulsed source of galvanic current is coupled, with a negative and positive current duration ratio of 15: 1 with a repetition rate of 0.5 Hz. Plating for 20 minutes. The deposited gold layer has a thickness of about 10 μτη and meets the above requirements. the current which supplies alternating current pulses, the ratio of the duration of the negative to positive pulses varies depending on the 4: 1 to 25: 1 plating bath used with a repetition rate of 0.1 to 1 Hz and the mean current density of the used galvanic bath.
CS787478A 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits CS201379B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS787478A CS201379B1 (en) 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS787478A CS201379B1 (en) 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS201379B1 true CS201379B1 (en) 1980-11-28

Family

ID=5428626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS787478A CS201379B1 (en) 1978-11-30 1978-11-30 Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS201379B1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1212071A (en) Electrochemical treatment of copper for improving its bond strength
TWI250223B (en) Apparatus for electroplating a semiconductor substrate
CA1167406A (en) Process for electroforming copper foil
US4633035A (en) Microwave circuit boards
MXPA00005871A (en) Empty
JPH0224037B2 (en)
JPH0255943B2 (en)
CN1787114A (en) Composite electromagnetic screen film material and mfg. method thereof
JPS6257120B2 (en)
CS201379B1 (en) Method of amplifiing the thin conductive layers of hybrid integrated circuits
JPS5927592A (en) Microwave circuit board and method of producing same
US4082622A (en) Electrodeposition of ruthenium
DE3922477A1 (en) SOURCING AGENT FOR PRE-TREATING SYNTHETIC RESIN BEFORE ELECTRICIZED METALIZATION
CA1162505A (en) Process for high speed nickel and gold electroplate system
JP4000225B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board
JP3276919B2 (en) High adhesion plating method for resin substrate and copper plating solution used for the method
US3516848A (en) Process and solution for sensitizing substrates for electroless plating
KR20060053149A (en) Method of manufacturing electrical parts
KR100826113B1 (en) Printed Circuit Board and Manufacturing Method
EP0269208A1 (en) A process for the treatment of copper foil
JPH06260759A (en) Manufacture of printed circuit board
JPH02194182A (en) High-phosphorus nickel plating method
JPS6317597A (en) Printed circuit copper foil and manufacture of the same
JPH03196597A (en) Manufacture of printed wiring board
JP2002016111A (en) Copper foil used for tab tape carrier, and tab carrier tape and tab tape carrier using copper foil