CS195843B1 - Connection of the circuit for determining the electric zero current with the optico-electric linkage part. for the group of sami-conductive valves - Google Patents
Connection of the circuit for determining the electric zero current with the optico-electric linkage part. for the group of sami-conductive valves Download PDFInfo
- Publication number
- CS195843B1 CS195843B1 CS758081A CS808175A CS195843B1 CS 195843 B1 CS195843 B1 CS 195843B1 CS 758081 A CS758081 A CS 758081A CS 808175 A CS808175 A CS 808175A CS 195843 B1 CS195843 B1 CS 195843B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- circuit
- electric
- group
- optico
- sami
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract description 3
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 abstract 3
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 3
- 238000004870 electrical engineering Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/145—Indicating the presence of current or voltage
- G01R19/15—Indicating the presence of current
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/263—Circuits therefor for testing thyristors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
Vynález se týká zapojení obvodu pro zjišťování nuly elektrického proudu, zejména pro polovodičové měniče využívající к potenciálovému oddělení optoelektrického vazebního členu.
V řadě aplikací v silnoproudé elektrotechnice je zapotřebí získávat pro řídicí obvody informaci o tom, zda určitá skupina ventilů vede nebo nevede proud. Používá se к tomu tzv. činidel nuly proudu, která mohou pracovat na různých principech. Ze známých činidel není žádné zcela po všech stránkách plně vyhovující, zejména z hlediska jednoduchosti provedení, přičemž toto hledisko je důležité zejména proto, že v jednom měniči bývá zapotřebí celé řady činidel nuly proudu.
Velmi spolehlivým ukazatelem toho, zda spínací prvek vede nebo nevede elektrický proud je údaj, zda úbytek napětí na prvku je menší nebo větší než největší možný úbytek, způsobený pracovním proudem v sepnutém stavu. Známá čidla pracující na principu snímání napětí na ventilech, se vyznačují velkou složitostí, protože sledované napětí je zjišťováno na jeho potenciálové úrovni, např. Schmittovým obvodem s vlastním pomocným zdrojem, a informace z tohoto obvodu je po dalším zpracování přenáše1 na s využitím transformátorové vazby na potenciálovou úroveň řídicích obvodů.
Tyto nedostatky jsou odstraněny zapojením obvodu podle vynálezu, který řeší daný úkol tak, že sledovaná napětí na polovodičových ventilech jsou připojena ke vstupům upravovačích obvodů, jejichž výstupy jsou spojeny se vstupními svorkami optoelektrických vazebních členů, jejichž výstupy jsou připojeny к vyhonocovacímu členu.
Zapojení obvodu podle vynálezu se vyznačuje velkou jednoduchostí, spolehlivostí a odolností proti rušivým vlivům, zejména je-li optoelektrický vazební člen tvořen fotoemitujícím a fotocitlivým prvkem ve společném pouzdru.
Na připojených výkresech 1 a 2 jsou zobrazeny příklady zapojení obvodu podle vynálezu, kde obr. 1 je blokové zapojení obvodu a na obr. 2 příklad konkrétního zapojení obvodu.
Sledované napětí 1,1 až 1,N na polovodičových ventilech (nejsou zobrazeny) na obr.
jsou’ připojena ke vstupům 21,1 až 21,N upravovačích obvodů 2,1 až 2,N, jejichž výstupy 22,1 až 22,N jsou spojeny se vstupními svorkami 31,1 až 31,N optoelektrických vazebních členů 3,1 až 3,N, jejichž výstupy
19584 3
4. , ,. , ; .$‘1 £' fa ť N& obr. 2 je konkrétní příklad zapojení podle vynálezu, kde i upr^vgva^еЬуоф &1; 2,2; 2,3 je tvořen můštkb^yiS Japbjlriítííj·kde jedna větev je tvořena Zenerovými· diodami Dli, D12, D21, D22j D31, D32 a druhá větev je tvořená-ďfód^ihr 1)13, D14, D23, D24; D33J, D34. Vstup 21,1 upravbvacího obvodu 2,1, 2,2; 2,3 je střídavým vstupem můstkového zapojení a výstup 22,1, 22,2; 22,3 upravovacího obvodu je stejnoměrným výstupem.
Optoelektrický vazební člen 3,1, 3,2; 3,3 se skládá z elektrolurpiniscenční diody D15, D25, D35 a fototranziistoru Til, T21, T31, jehož výstup je zároveň výstupem z optoelektrického vazebního členu 32,1, 322; 32,3|, který je připojen na vyhodnocovací obvod 4. Vyhodnocovací obvod 4 se skládá ze spínacího tranzistoru TI, do jehož obvodu báze jsou připojeny do série výstupy optoelekrického vazebního členu 32,1, 32,3, 32,3. Kolektor spínacího tranzistoru TI je připojen přes kolektorový odpor R2 na svorku -f-U a přímo na svorku X. Emitor spínacího tranzistoru TI je spojen se svorkou — U.
Upravovacím obvodem 2,1, 2,2, 2,3 so sle^ dováné napětí 1,1, 1,2, 1,3 na spínacím prv4 , ................
V 1$, jehgz ýě^B v£|k$| hej{ jlatá^QdnQta | hfána ЗйвдКШ Wlo Wtoacíj grvefe ne-.-, vede proud, upraví a přizpůsobí prq.y6tup do ®Clenu ЭД·» 3>2> 3»3· У í:> Vé vyhodnaĚóvhbím obvodu 4 je vyhodnocena změna elektrických ^parametrů jednotlivých výstupních obvodů optoelgktrických vazebních prvků a provedena^pn&hťšoá logická funkce, jejíž hodnota může'na,př'. odpovídat stavu, kdy :na všech vantidech· sledované skupiny je úbytek napětí větsipéž určitá hodnota napětí, na spínač tiíi prvku) druhá hodnota logické funkce pc^óíá o^DVídá stavu, kdy alespoň jeden z úbytků napětí je . : menší než. určitá hodnota napětí ve spínacím prvku. Spínací tranzistor TI je sepnut pouze v případě, že všechna tři, napětí 1,1, 1,2, 1,3, jsou větší než jistá hodnota napčtína spínacím prvku. ’J ‘: “
Vstupní obvod optoelektrického vazebního členu může být tvořen prvkem eliminujícím světlo· při průchodu elektrického proudu, např. elektroluminiscenční dioda. Výstup-, r; ; ní obvod .optoelektrického vazebního členu. .• může být tvořen prvkem citlivým na světlo, např. fotonka, fotoelektrický odpor, fotodioda, fototransistor nebo S-dioda citlivá na světlo.
Claims (2)
- · ....... ........ . PŘEDMĚTZapojení obvodu pro zjišřováhí húlý elektrického proudu s optoelektrickou vazbou zejména pro skupinu polovodičových ventilů, vyznačené tím, že sledované napětí (1,1 až 1,N) na polovodičových ventilech jsou .připojená ke.· vstupům; (21,1, až 21,N)VYNALEZU úpravovácíčh obvodů (2,1 až 2,N), jejichž výstupy (22,1 až 22,N) jsou spojeny se vstupními svorkami (31,1 až 31,N) optoelektricikých vazebních členů. (3,1 až 3,N), jejichž výstupy (32,1 až 32,N) jsou připojeny к výhodnocovacfinu členu (4).
- , ····. , ;..··.,· ·' 2 lišty výkresů
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS758081A CS195843B1 (en) | 1975-11-28 | 1975-11-28 | Connection of the circuit for determining the electric zero current with the optico-electric linkage part. for the group of sami-conductive valves |
| DE19762645556 DE2645556A1 (de) | 1975-11-28 | 1976-10-08 | Stromnullpunktsfuehler |
| SU762412103A SU652508A1 (ru) | 1975-11-28 | 1976-10-18 | Устройство дл определени режима работы вентильных преобразователей |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS758081A CS195843B1 (en) | 1975-11-28 | 1975-11-28 | Connection of the circuit for determining the electric zero current with the optico-electric linkage part. for the group of sami-conductive valves |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS195843B1 true CS195843B1 (en) | 1980-02-29 |
Family
ID=5430923
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS758081A CS195843B1 (en) | 1975-11-28 | 1975-11-28 | Connection of the circuit for determining the electric zero current with the optico-electric linkage part. for the group of sami-conductive valves |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS195843B1 (cs) |
| DE (1) | DE2645556A1 (cs) |
| SU (1) | SU652508A1 (cs) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3209737C2 (de) * | 1982-03-17 | 1984-03-01 | "Reo" Boris von Wolff GmbH & Cie Zweigniederlassung Solingen, 5650 Solingen | Schaltungsanordnung zur Regelung einer von einem Transformator abgebbaren Wechselspannung |
-
1975
- 1975-11-28 CS CS758081A patent/CS195843B1/cs unknown
-
1976
- 1976-10-08 DE DE19762645556 patent/DE2645556A1/de active Pending
- 1976-10-18 SU SU762412103A patent/SU652508A1/ru active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| SU652508A1 (ru) | 1979-03-15 |
| DE2645556A1 (de) | 1977-06-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0397102A2 (en) | Power delivery circuit with current sensing | |
| CN1260550C (zh) | 用于检测物理量的装置 | |
| US5136280A (en) | Switch status indicator and self tester | |
| US4931778A (en) | Circuitry for indicating the presence of an overload or short circuit in solid state relay circuits | |
| US20160025792A1 (en) | Device and method for monitoring and switching a load circuit | |
| KR100213845B1 (ko) | 집적 전원 공급 모니터회로 | |
| CS195843B1 (en) | Connection of the circuit for determining the electric zero current with the optico-electric linkage part. for the group of sami-conductive valves | |
| US6145107A (en) | Method for early failure recognition in power semiconductor modules | |
| EP1769255B1 (en) | Apparatus and method for interconnect verification | |
| US4091292A (en) | Fail-safe monitor of d.c. voltage | |
| US6111736A (en) | Static relay with condition detecting | |
| JP4671944B2 (ja) | 接点入力回路 | |
| US4423322A (en) | Self diagnostic switch circuit | |
| US4300018A (en) | Electronic relay arrangement | |
| JPS5836444B2 (ja) | ２線式無接点マイクロスイッチ | |
| JP3690541B2 (ja) | ３相発電機の断線検出装置 | |
| KR910006288B1 (ko) | 원격제어 스위칭 시스템 | |
| SU233774A1 (ru) | Индикатор наибольшего напряжения | |
| JPH0317107B2 (cs) | ||
| CN120161329A (zh) | 一种旁路开关状态检测系统 | |
| KR900005091Y1 (ko) | 인버터 회로의 보호회로 | |
| JPS6118395A (ja) | 駆動回路 | |
| KR890003034Y1 (ko) | 무접점 릴레이의 제어회로 | |
| SU208104A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИНДИКАЦИИ НЕСРАБАТЫВАНИЯ ПАРАЛЛЕЛЬНО ВКЛЮЧЕННЫХ ВЕНТИЛЕЙ ВЫПРЯМИТЕЛЯ | |
| SU790317A1 (ru) | Оптоэлектронный ключ |