CN2636219Y - 光学镜头测试装置 - Google Patents

Abstract

一种光学镜头测试装置，用来检测光学镜头的成像质量，包括取像模块、光源模块及测试平台。其中光源模块处于取像模块的下方，提供检测光学镜头所需的测试条纹图样，而所述的测试平台则位于取像模块与光源模块之间，且比较靠近该取像模块的下方，光学镜头水平放置在所述的测试平台上以供检测；这样就构成了取像模块在上、光学镜头在下结构的光学镜头测试装置，可检测后焦距较短的光学镜头，并且具有阻绝灰尘的效果。

Description

光学镜头测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种检验如数字相机或具有摄影功能的彩色手机等的光学镜头的成像质量的光学镜头测试装置，尤其涉及一种用来检验后焦距较短的光学镜头的成像质量的光学镜头测试装置。

现有技术

图1是一种公知的光学镜头测试装置的平面示意图，如图1所示，该光学镜头测试装置1a主要利用光源模块10a提供检测所需的被检测的光学镜头的测试条纹图样，并配合计算机系统2a控制电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)或互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor，CMOS)进行信号存取，由此测量该光学镜头的成像质量的各项参数，再利用计算机系统2a中的软件程序计算所测量的各项参数值，并将检验效果以波形图表的形式呈现在屏幕上，从而了解该光学镜头的成像质量。

同时，如图2所示，光学镜头3a放置在光学镜头测试装置1a的承载机构11a上，承载机构11a主要包括可作上、下微调移动的测试平台110a以及通过导螺杆112a控制该测试平台110a作微调移动的马达111a。该马达111a通过承载座113a设置在光学镜头测试装置1a的机壳13a上。该承载座113a底面设有两个垂直向下平行延伸的滑动导杆114a，这两个滑动导杆114a可以使测试平台110a平稳地进行微调移动。另外在测试平台110a上可开出一阶梯状凹槽115a，光学镜头3a可以水平地放置在阶梯状凹槽115a上。阶梯状凹槽115a底部被镂空以对应于取像模块12a。取像模块12a装配在承台14a上，可以是电荷耦合器件或互补式金属氧化物半导体，用来将感应到的由光源模块10a透过光学镜头3a所产生的明暗间隔的光信号转换成高低不同的电信号，进而检测该光学镜头3a的成像质量。

此外，如图2所示，当上述光学镜头测试装置1a对光学镜头3a进行检测时，由于光学镜头3a的影像会呈现在后焦距处，故必须依靠马达111a控制测试平台110a作上、下的微调移动，来调整光学镜头3a与取像模块12a之间的距离D。

在测试平台110a的阶梯状凹槽115a靠近底部的地方必须具有一定厚度T，只有这样才能使测试平台110a支撑光学镜头3a。然而，当光学镜头3a与取像模块12a之间的距离D近似等于甚至小于厚度T时，该光学镜头3a所产生的影像焦距会因此厚度T的阻碍而无法落在取像模块12a上，以致无法对该光学镜头3a进行检测。尤其是，目前市场上具有摄像功能的彩色手机等科技产品相继推出，而应用在这些手机上的光学镜头又比一般应用在数字相机上的光学镜头小，所以其后焦距更短，通常在1.5mm～2.0mm之间，因此，根本无法用现有光学镜头测试装置来检测这些后焦距较短的光学镜头。

通过上面的分析可以看出，上述公知的光学镜头测试装置，在实际使用中，存在明显的缺点，应该加以改进。

因此，本实用新型的发明人针对现有技术的缺点，潜心研究，结合学理，发明了一种设计合理且可有效克服上述缺点的实用新型。

实用新型内容

本实用新型的主要目的，在于提供一种光学镜头测试装置，采用光学镜头的取像模块在上、光学镜头在下的结构，使光学镜头与取像模块之间的距离调整可不受测试平台的凹槽厚度的影响，以解决无法检测后焦距较短的光学镜头的问题，同时，还能起到防止灰尘的效果。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种光学镜头测试装置，用来检测光学镜头的成像质量，包括取像模块、光源模块及测试平台；其中，所述的光源模块处于取像模块的下方，以提供检测光学镜头所需的测试条纹图样，而所述的测试平台则位于取像模块与光源模块之间，并且靠近所述的取像模块的下方。将光学镜头水平放置在所述的测试平台上，进行检测；进而达到上述目的。所述的取像模块可以是电荷耦合器件或互补式金属氧化物半导体。另外，所述的取像模块设置在承载机构上。

上述光学镜头测试装置还进一步包括机壳，所述的测试平台固定在所述机壳的内部，且所述承载机构固定安装在该机壳内的上方，而所述的光源模块则固定安装在所述机壳内的下方。在进一步所述的承载机构包含承台以及通过导螺杆控制所述承台作上、下微调移动的马达，且所述取像模块设置在该承台的底面。所述的马达设置在承载座上。

所述的承载座与所述测试平台上、下相对，且所述承载座底面设有两个垂直向下平行延伸的滑动导杆，所述的两个滑动导杆分别活动穿过所述承台两侧，而所述的两个滑动导杆末端及所述导螺杆末端都分别垂直延伸到所述的测试平台上。所述的光源模块包含测试用标板、灯光柔和板、灯光反射板、至少一个灯源以及用来控制所述灯源亮度的控制器。

所述的测试平台与所述的取像模块相对的位置上设有可水平放置所述光学镜头的凹槽，且所述凹槽底部打有通孔。

所述的测试平台为一可循环带动所述光学镜头移动的输送平台。

由于本实用新型采用取像模块在上、光学镜头在下的结构，所以光学镜头与取像模块之间的距离调整不受测试平台的凹槽厚度的影响，能够检测后焦距较短的光学镜头，并且由于取像模块朝向光学镜头而位于其上方，故灰尘不易掉落在取像模块上，所以还有阻绝灰尘的效果。

附图说明

图1是公知光学镜头测试装置的平面示意图；

图2是公知光学镜头测试装置的承载机构与承台的平面示意图；

图3是本实用新型的第一实施例的平面示意图；

图4是本实用新型第一实施例的承载机构与测试平台的平面示意图；

图5是本实用新型第一实施例的承载机构与测试平台的侧面示意；

图6是本实用新型的第一实施例在使用状态下的平面示意图；

图7是本实用新型的第二实施例在使用状态下的平面示意图。

附图1和附图2中，各标号所代表的部件列表如下：

1a    光学镜头测试装置    10a   光源模块    11a   承载机构

110a  测试平台            111a  马达        112a  导螺杆

113a  承载座        114a  导杆     115a  凹槽

12a   取像模块      13a   机壳     14a   承台

2a    计算机系统    3a    光学镜头

附图3至附图7中，各标号所代表的部件列表如下：

1      光学镜头测试装置    10   光源模块      100  测试用标板

101    灯光柔和板          102  灯光反射板    103  灯源

104    控制器              11   承载机构      110  测试平台

110′  测试平台            111  马达          112  导螺杆

113    承载座              114  导杆          115  凹槽

12     取像模块            13   机壳          14   承台

2      计算机系统          3    光学镜头

具体实施方式

下面参照附图，对本实用新型的特征及技术内容进行详细说明。所列附图仅供参考与说明，并非是对本实用新型的限制。

图3和图4分别是本实用新型的第一实施例的平面示意图及本实用新型的第一实施例的承载机构与测试平台的平面示意图。本实用新型提供一种光学镜头测试装置，检测光学镜头3的成像质量，并适用于后焦距在1.5mm～2.0mm之间的光学镜头3，该光学镜头测试装置1主要包括取像模块12、光源模块10及测试平台110。其中：

所述取像模块12可以是电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)或互补式金属氧化物半导体(Complementary Metal OxideSemiconductor，CMOS)，并放置在承载机构11上；承载机构11主要包括可作上、下微调移动的承台14、以及通过导螺杆112控制所述承台14作微调移动的马达111，取像模块12则设置在该承台14底面上，朝向光学镜头3。

承载机构11的马达111可以是步进马达，设置在承载座113上。而所述的承载座113则固定在光学镜头测试装置的机壳13内，用来承载马达111并可使承载机构11固定安装在机壳13内的上方。另外，该承载座113底面设有两个垂直向下平行延伸的导杆114，这两个滑移导杆114分别活动地穿过承台14的左、右两侧，使承台14在微调移动时保持平稳，并可依靠计算机系统2精确地计算出承台14作上、下微调时所需移动的距离，同时控制马达111执行动作，进而使光学镜头3所产生的影像焦点落在取像模块12上。

该光源模块10处于上述取像模块12的下方，即固定安装在机壳13内的下方，包含测试用标板100、灯光柔和板101、灯光反射板102、至少一个灯源103及控制这些灯源103亮度的控制器104，用来提供检测上述光学镜头3所需的测试条纹图样。

光学镜头3水平放置在测试平台110上，以利于检测动作的进行。该测试平台110位于取像模块12与光源模块10之间，并且比较靠近取像模块12的下方，并固定在光学镜头测试装置的机壳13内。同时，承载机构11的承载座113与测试平台110上、下相对，两个导杆114及导螺杆112的末端分别垂直延伸到测试平台110上，这样，承座14就可在马达111的控制下贴近测试平台110表面了。

在本实施例中，在测试平台110上与取像模块12相对应的位置设置可水平放置光学镜头3的阶状凹槽115，该凹槽115底部镂空，以使位于下方的光源模块10所产生的光源可透过该凹槽115而投射到光学镜头3上。这样就得到了本实用新型的光学镜头测试装置。

如图4、图5及图6所示，当光源模块10所产生的光源透过凹槽115而投射到光学镜头3上时(如图6所示)，测试平台14即可在马达111的控制下而作上、下的微调移动，使光学镜头3所产生的影像焦距落在取像模块12上。同时，由于本实用新型采用取像模块12在上、光学镜头3在下的结构，所以光学镜头3与取像模块12之间的距离调整即可不受测试平台110的凹槽115厚度的影响，而使后焦距较短的光学镜头3(如应用在具有摄影功能的彩色手机上的光学镜头)也可以在该光学镜头测试装置1进行检测。当然，以往一般应用在数字相机上的光学镜头也能使用。尤其是，由于取像模块12朝向光学镜头3而位于其上方，故灰尘不易掉落在取像模块12上并进而影响其检测品质，所以还有阻绝灰尘的效果。

另外，图7是本实用新型的第二实施例在使用状态下的平面示意图。如图7所示，由于受马达111控制而作上、下微调移动的是承台14，因此，在本实用新型中，测试平台110′还可以是能够循环带动光学镜头3移动的具有输送功能的平台，例如可利用输送带等输送装置将多个光学镜头3依次带至取像模块12下方以供其检测，这样，就可以达到自动化的目的，而对大量的光学镜头3进行快速的检测。

综上所述，本实用新型实在是不可多得的新型产品，确已达到了预期的使用目的，而克服了现有技术的缺点，又因极具新颖性及进步性，完全符合新型专利申请要件，特此提出申请。

以上所述的仅是本实用新型的较佳实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，所有运用本实用新型的说明书及附图内容所进行的等效结构变化，均包含在本实用新型的保护范围内，特此说明。

Claims (10)

1.一种光学镜头测试装置，用于检测光学镜头的成像质量，其特征在于包括：

取像模块；

光源模块；位于所述的取像模块下方，用于提供检测所述光学镜头所需要的测试条纹图样；和

测试平台，位于所述取像模块与所述光源模块之间，并且更靠近所述取像模块的下方，所述光学镜头水平放置在所述测试平台上以供检测。

2.如权利要求1所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的取像模块为电荷耦合器件或互补式金属氧化物半导体。

3.如权利要求1所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的取像模块设置在承载机构上。

4.如权利要求3所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述光学镜头测试装置进一步包括机壳，所述的测试平台固定在所述机壳的内部，且所述承载机构固定安装在该机壳内的上方，而所述的光源模块则固定安装在所述机壳内的下方。

5.如权利要求3所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的承载机构包含承台以及通过导螺杆控制所述承台作上、下微调移动的马达，且所述取像模块设置在该承台的底面。

6.如权利要求5所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的马达设置在承载座上。

7.如权利要求5所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的承载座与所述测试平台上、下相对，且所述承载座底面设有两个垂直向下平行延伸的滑动导杆，所述的两个滑动导杆分别活动穿过所述承台两侧，而所述的两个滑动导杆的末端及所述导螺杆末端都分别垂直延伸到所述的测试平台上。

8.如权利要求1所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的光源模块包含测试用标板、灯光柔和板、灯光反射板、至少一个灯源以及用来控制所述灯源亮度的控制器。

9.如权利要求1所述的光学镜头测试装置，其特征在于在所述的测试平台与所述的取像模块相对的位置上设有可水平放置所述光学镜头的凹槽，且所述凹槽底部镂空。

10.如权利要求1所述的光学镜头测试装置，其特征在于所述的测试平台是可循环带动所述光学镜头移动的输送平台。

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