CN2567767Y - 具连续式双测试区的测试机 - Google Patents

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王裕贤
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Abstract

本实用新型涉及一种具连续式双测试区的测试机，尤指一种应用于半导体组件封装制程中，用以测试完成电性连接后的组件半成品功能是否正确的测试机，其包括一机台以及至少一组可存置复数个待测物的承载匣，该机台上设有一组具有双暂存区的输送轨道、一组装设于输送轨道侧端的取匣组件、一组具有双测试区的测试组件以及一组装设于测试组件与输送轨道间的取置移送组件等组件，该测试组件中设有一计算机以及可于二测试区间移动的测试头，藉此组合，使其利用双暂存区、双测试区配合特定的输送模式依序配送待测物进行连续性测试作业，并可缩减测试组件等待的空闲时间，增进其测试效率。

Description

具连续式双测试区的测试机
技术领域
本实用新型涉及一种具连续式双测试区的测试机，尤指一种应用于半导体组件封装制程中，对打线完成、封胶前或完成封胶后的组件半成品进行测试，并可据以有效提升其测试效率的测试机。
背景技术
为了维持半导体组件一定的产品良率，在其封装制程中，各重要制程步骤之后均会设下特定测试站，以监控其产制过程，藉以及时发现问题及筛选不良品，并避免损失扩大，因此，测试作业在半导体组件封装是不可或缺的重要流程。
在半导体组件封装制程中诸项测试作业中，对于该打线完成后、封胶前或封胶后的组件半成品所作功能性的检测尤为重要，目前有关封胶后组件功能性检测的测试方式，主要系将若干数量的待测半成品置放于承载匣中，移送至测试机的机台侧边，透过测试机台侧边所设的机械手臂自承载匣中取出一个待测物半成品移置机台测试区上，再由测试头对该待测半成品每一单元进行测试，直到该待测物完成测试后，复由机械手臂将该完成测试的对象移置承载匣原位置，再由该机械手臂取出另一待测物移送测试区进行测试作业，如此，以前述步骤反复进行，直到各待测物完成测试为止。
前揭测试方法虽提供一种应用于封胶后半导体半成品的测试方法，然而，该测试方法所使用的测试机仅能提供每次移入一待测物，待测试完成后移出，再接续进行下一待测物测试的一进一出操作方式，造成该测试机的测试头在机械手臂移送待测物及测试后对象的过程中是呈闲置状态，以致无法让该测试机发挥其最佳的测试效率。
发明内容
为此，本实用新型的主要目的在于提供一种具连续式双测试区的测试机，希藉以缩短其测试组件等待移送待测物往返定位的空闲时间，而能以更有效率的方式来完成测试作业。
本实用新型的技术方案是：该测试机包括一机台以及至少一组可存置复数个待测物的承载匣，该机台上设有一组具有双暂存区的输送轨道、一组装设于输送轨道侧端的取匣组件、一组具有双测试区的测试组件以及一组装设于测试组件与输送轨道间的取置移送组件等组件，该测试组件中且设有一计算机以及可于二测试区间移动的测试头，藉此组合，使其利用双暂存区、双测试区配合特定的输送模式依序配送待测物进行连续性测试作业。
本实用新型的优点在于：该测试机利用其特有的双暂存区及双测试区结构设计，在特定的输送模式配送待测物配合下，使其可以缩减测试组件等待的空闲时间，有效地增进其测试效率，进而提升其产业利用性。
附图说明
图1为本实用新型测试机的主视示意图；
图2为本实用新型测试机的局部俯视示意图；
图3至图9为本实用新型测试机的操作示意图。
具体实施方式
请参阅图1及图2所示，其分别为本实用新型提供的具连续式双测试区的测试机的主视示意图及局部俯视示意图。该测试机是应用于半导体组件制程中对封胶后半成品所进行的测试时使用，其包括一组具有测试组件14的机台10以及至少一组用以存置复数个待测物的承载匣11，该机台10上设有一组用以输送待测物且具有双暂存区121、122的输送轨道12、一组装设于输送轨道12侧端用以取置移动承载匣11且可升降移动及取置待测物的取匣组件13、一组具有双测试区141、142的测试组件14以及一组装设于测试组件14与输送轨道12之间且可三维空间移动的取置移送组件15等组件，该测试组件14中具有一计算机、一可移动的测试头以及相关组件(图未示)，该测试头并可于二测试区141、142间移动。
有关本实用新型测试机进行测试作业的操作情形，请配合参阅图3至图9所示，其中待测物系于一载体上设有至少一个待测的半导体组件单元，该待测半导体组件单元的输出入接点朝下置于承载匣11中，于测试时，首先是利用取匣组件13抓取一组承载匣11自准备区移至输送轨道12的侧端处，复自承载匣11中取出第一待测物21移置输送轨道12上，如图3所示，透过输送轨道12输送至第二暂存区122，复由取置移送组件15将该第一待测物21移置测试组件14的第二测试区142上，由测试组件14的测试头依序对该第一待测物21各半导体组件单元进行检测，前述第一待测物21被移置测试组件14第二测试区142的同时，因输送轨道12第二暂存区122空闲，取匣组件13随即自承载匣11取出第二待测物22移置输送轨道12上输送至第二暂存区122，如图4所示，又因测试组件14第一测试区141空闲，故即由取置移送组件15将该第二待测物22移置第一测试区141，并于移送的同时，因输送轨道12第二暂存区122空闲，如图5所示，取匣组件13再自承载匣11取出第三待测物23移置输送轨道12上输送至第二暂存区122暂时等待。
其次，第二测试区142的第一待测物21先完成测试，测试头接续移至第一测试区141对第二待测物22进行测试，同时，第一待测物21由取置移送组件15将其移置输送轨道12第一暂存区121，如图6所示，经输送轨道12配合取匣组件13转送至承载匣11原位置，另一方面，取置移送组件15移至第二暂存区122，如图7所示，将第三待测物23移置第二测试区142，同时，取匣组件13另自承载匣11中取出第四待测物24移置输送轨道12，并输送至第二暂存区122，如图8所示。
前述取置移送组件15将第三待测物23移置第二测试区142后，接续将第一测试区141完成测试的第二待测物22移置输送轨道12第一暂存区121，如图9所示，再经输送轨道12配合取匣组件13转送至承载匣11原位置，另一方面，取置移送组件15再移至第二暂存区122，将第四待测物24移置第一测试区141，同时，取匣组件13另自承载匣11中取出下一个待测物20移置输送轨道12，并输送至第二暂存区122，如此，周而复始持续进行半导体组件的测试作业，直至该承载匣11中各待测物20完成测试后，由取匣组件13将该承载匣11移开再接续下一承载匣11内待测物20的测试作业。
由前述说明可以了解：本实用新型的测试机利用其双测试区以及双暂存区等设计，再特定的输送模式配合下，使其测试组件的测试头以连续式对待测物进行测试作业。减少测试头等待的闲置时间，以更有效率的方式完成半导体组件的测试作业，故此，本实用新型确可提供一极具有产业利用性的测试机。

Claims (1)

1、一种具连续式双测试区的测试机，其特征在于：该测试机主要包括一机台及至少一组存置复数个待测物的承载匣，该机台上设有一组用以输送待测物且具有双暂存区的输送轨道、一组装设于输送轨道侧端用以取置移动承载匣且可升降移动及取置待测物的取匣组件、一组具有双测试区的测试组件以及一组装设于测试组件与输送轨道间且可三维空间移动的取置移送组件，该测试组件中具有一计算机以及可于二测试区间移动的测试头。
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