CN2518217Y - 电子元件检测定位装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是一种电子元件检测定位装置,包括一工作机架、定位座及顶杆装置;该定位座设于该工作机架上,具有一定位槽空间,该定位槽空间至少一侧设有一定位臂,而该定位臂是枢接于该定位座上,其枢接端的另端设有一定位底板,该定位底板位于该定位槽空间的底缘;该顶杆装置设于该定位座的定位槽空间底缘,包括有一顶杆及弹性件,该顶杆是受该弹性件的作用而抵顶于该定位臂的定位底板,藉此,能达到电子元件于该定位槽空间进行操作时,可稳固定位及便利退出的功效。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种定位装置,特别是一种提供电子元件于检测或进行其他操作时,可稳固地被定位及便利退出的电子元件检测定位装置。
背景技术
所属表面封装式(晶片式)的被动元件,其于制造完成后需经一激光打印包装机进行打印、检测、校正及包装等的操作,而一般的激光打印包装机主要是藉一吸取装置将被动元件吸取并置放于各工作站的定位装置,以将被动元件定位并进行其检测、校正、打印……而至最后的成条带状包装操作;而传统工作站的定位装置如图1A、图1B所示,该定位装置90设有一定位槽91,而因被动元件92体积相当微小,故其是藉一吸取装置93将被动元件92吸取后置放于该定位装置90的定位槽91,以将该被动元件92定位并进行该工作站的操作,待操作完成后,该吸取装置93再将被动元件92吸取移至下一工作站的定位装置。而完成连续工作站的检测、校正、打印、……包装等操作。而因该被动元件92于各工作站的移位是藉该吸取装置93的吸取,故当该定位槽91侧壁留有毛边或杂物填充时,将使得该吸取装置93无法顺利将被动元件92吸取起,而仍滞留于该定位槽91内,致立即造成整个工作流程的混乱,甚或造成元件或机件的损伤。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种电子元件检测定位装置,其能提供电子元件于工作站进行操作时,可稳固定位且便利退出。
本实用新型的目的是这样实现的,一种电子元件检测定位装置,包括:一工作机架;一定位座,设于该工作机架上,其设有一定位槽空间,该定位槽空间至少一侧设有一定位臂,该定位臂是枢接于该定位座上,其枢接端的另端是设有一定位底板,该定位底板位于该定位槽空间的底缘;一顶杆装置,设于该定位座的定位槽空间底缘,包括有一顶杆及弹性件,该顶杆是受该弹性件的作用而抵顶于该定位臂的定位底板。
本实用新型的电子元件检测定位装置能稳定及顺畅整体操作流程,而确保生产量及电子元件工作机件的安全。
为了便于进一步理解本实用新型的目的、结构特征及其他功效,下面以一较佳实施例并结合附图对本实用新型进行详细说明:
附图说明
图1A、图1B是传统工作站的定位装置示意图。
图2是本实用新型的立体分解示意图。
图3是本实用新型的组合立体图。
图4是本实用新型未置元件的剖视示意图。
图5是本实用新型已置元件的剖视示意图。
附图标号说明:90定位装置;91定位槽;92被动元件;93吸取装置;1工作机架;3定位座;5定位臂;7顶杆装置;11工作面;12动力箱;31第一沟槽;32第二沟槽;33穿孔;34穿孔;35通孔;36转轴;37轴通孔;38上轴通孔;51定位臂;52第二定位臂;5 3穿孔;54穿孔;56第一定位壁;57定位壁;58定位底板;59定位底板;80元件;61检测件;62定位槽空间;71顶杆;72弹簧;73凸环。
具体实施方式
参见图2和图3,本实用新型电子元件检测定位装置包括一工作机架1、定位座3、定位臂5及顶杆装置7,该工作机架1顶缘设有一工作面11,该工作面11的下方设有一动力箱12,该动力箱12内设有马达(未示出);而该定位座3设于该工作机架1的工作面11上方,其上设有第一沟槽31及第二沟槽32,该第一沟槽31及第二沟槽32的侧边设有穿孔33、34,该定位座3对应该第一沟槽31及第二沟槽32的中心设有一通孔35(请参见图4);另,定位座3的底缘设有一转轴36:该转轴36伸入该工作机架1的动力箱12内,并受该马达的传动;而该转轴36对应该通孔35设有一轴通孔37,该轴通孔37的上段设有一直径较大的上轴通孔38;该定位臂5包括成对的第一定位臂51及第二定位臂52,该第一定位臂51及第二定位臂52设有穿孔53、54,可藉数梢杆55分别将第一定位臂51及第二定位臂52枢接于该第一沟槽31及第二沟槽32的穿孔33、34处,该成对的第一定位臂51及第二定位臂52其相对端各设有一定位壁56、57及定位底板58、59,而该第一定位臂51及第二定位臂52枢接于该第一沟槽31及第二沟槽32后并形成一定位槽空间62;该顶杆装置7包括有一顶杆71及弹簧72,该顶杆71设于该通孔35与轴通孔37间,其设有一凸环73,并使该凸环73位于该上轴通孔38处,而该弹簧72是设于该上轴通孔38内,并使其分别抵顶于该凸环73及上轴通孔38底缘。
此外,该成对第一定位臂51及第二定位臂52是呈四方向面十字形的X寥Y轴设置,或至少是有一定位臂的设置,用与该顶杆装置7产生抵顶的配合操作。如图4、图5所示,定位臂亦可以两方向面的X轴或Y轴的对称设置,当定位臂为两面对称设置时,可进一步配合转轴36上的一检测件61对元件80进行检测。
参见图4,该第一定位臂51及第二定位臂52的定位底板58、59是受该顶杆71的弹性抵顶而依其枢接端向上掀起,当吸取装置93吸取一元件80下压时,如图5所示,即克服该弹簧72的弹力而使该定位底板58、59向下旋摆,并藉其所形成的该定位槽空间62以承置定位该元件80,而使元件80的底缘接触该检测件61以进行检测。当检测揉作完成时,该吸取装置93即将元件80向上吸取移走,而由于该弹簧72的弹力,将使得该定位底板58`59提供一向上的助力而使元件80能顺利离开该定位槽空间620。
此外,由于该转轴36是被该动力箱12内的马达所传动,故该定位座3可旋转一百八十度,以进行元件80的极向检测。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,本领域的熟练技术人员依本实用新型精神所作的等效修饰或变化,皆应涵盖在本实用新型的范围内。
Claims (11)
1、一种电子元件检测定位装置,其特征在于包括:
一工作机架;
一定位座,设于该工作机架上,其设有一定位槽空间,该定位槽空间至少一侧设有一定位臂,该定位臂是枢接于该定位座上,其枢接端的另端是设有一定位底板,该定位底板位于该定位槽空间的底缘;
一顶杆装置,设于该定位座的定位槽空间底缘,包括有一顶杆及弹性件,该顶杆是受该弹性件的作用而抵顶于该定位臂的定位底板。
2、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于定位座上设有沟槽,用以容设该定位臂。
3、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于定位座的定位槽空间底缘是设有一通孔,用以容置该顶杆。
4、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于定位座的底缘是设有一转轴,而该工作机架设有一动力装置,该转轴连结该动力装置而可被传动。
5、如权利要求3或4所述的电子元件检测定位装置,其特征在于该转轴对应该通孔设有轴通孔,用以容置该顶杆装置。
6、如权利要求2所述的电子元件检测定位装置,其特征在于该沟槽侧壁及定位臂设有穿孔,用以藉梢杆相枢接。
7、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于定位臂设有一定位壁,用以构成该定位槽空间。
8、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于该定位底板设有一缺槽5用以供固设于该转轴上的一检测件所贯穿凸出。
9、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于该顶杆是设有一凸环,用以抵顶该弹性件。
10、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于该定位臂是可呈四方向面的设置。
11、如权利要求1所述的电子元件检测定位装置,其特征在于定位臂是可呈两方面的设置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
CN 01270581 CN2518217Y (zh) | 2001-11-14 | 2001-11-14 | 电子元件检测定位装置 |
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CN 01270581 CN2518217Y (zh) | 2001-11-14 | 2001-11-14 | 电子元件检测定位装置 |
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CN2518217Y true CN2518217Y (zh) | 2002-10-23 |
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Family Applications (1)
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CN 01270581 Expired - Fee Related CN2518217Y (zh) | 2001-11-14 | 2001-11-14 | 电子元件检测定位装置 |
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CN (1) | CN2518217Y (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100353171C (zh) * | 2004-12-23 | 2007-12-05 | 中国科学院半导体研究所 | 用于电调制光致发光光谱测量的样品架 |
CN100459086C (zh) * | 2002-11-07 | 2009-02-04 | 伊斯梅卡半导体控股公司 | 一种测试电子元件的装置和方法 |
CN106269547A (zh) * | 2015-12-31 | 2017-01-04 | 桂林斯壮微电子有限责任公司 | 一种测试分选机用的器件定位座 |
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2001
- 2001-11-14 CN CN 01270581 patent/CN2518217Y/zh not_active Expired - Fee Related
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