CN2491846Y - 测试探针 - Google Patents

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    • H01R11/18—End pieces terminating in a probe
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Abstract

本实用新型公开了一种测试探针,包括针体和弹性元件;针体设有与待测物接触的顶端部及插接部;弹性元件上端点设置一与针体插接部插接的拖抵部,其下部设置插入针板孔内且与导线相连的下端点。拖抵部是由弹簧本身一体卷绕而成,其为底端内缩,直径小于针体插接部的锥形凹槽,可自动导正针体;该拖抵部为一导电块,导电块位于弹性元件的上端点与针体接触。用于测试具有复数个待测点的待测物。

Description

测试探针
本实用新型涉及测试器具，尤指一种测试探针。
一般情况下，印刷电路板在完成线路布置后，为确定每条线路皆可正常导通，通常必须予以测试，以将电子线路完好的印刷电路板挑出，再将各电子元件固定于该印刷电路板上。
参见图6，习知的印刷电路板的测试器具，主要包括一针板10、复数个探针12及夹板14：该针板10上预设有对应待测物(本实施例待测物为印刷电路板11)的待测点13位置的针孔16，复数个探针12是由探针套筒18、针筒20、弹簧22及针体24组成。探针套筒18插置于针板10的预设针孔16内，其一端设有导线19，用来将讯号传递至测试机(图中未示)；弹簧22容置于针筒20内，针体24插置于针筒20内，借助弹簧22的伸缩力，使针体24在针筒20内具有弹性伸缩的回复力；该针筒20固定于探针套筒18内，这样，即完成了将整个探针12固定于针板10上的过程。夹板14上也预设有与针板10的针孔16相对应的夹孔26，而针体24穿过夹板14的夹孔26，且凸出于夹板14，并穿过顶板15预设的通孔17。
将印刷电路板11设置于顶板15上方，通过测试机将印刷电路板11的待测点13与探针12的针体24接触，从而将电讯号依序传递至弹簧22、探针套筒18，而由探针套筒18底部连接的导线19传递至测试机上，由测试机判定待测点13是否导通，以完成印刷电路板11的测试作业。
如上所述，习知的测试方法及探针构造具有如下的缺点：
1.由于探针12与印刷电路板11的待测点13接触时，必需具有弹性回复的伸缩力，以防止损坏待测点13的电性，因此针体24必需设于具有弹簧22的针筒20内，使针体24被压缩后可自动弹伸回复，这样的构造组成，使整个探针12的体积无法制成相当细小，即使将其制成相当细小，其相对成本非常大，以致造成测试成本的提高及无法提升测试密度。
2.由于探针套筒18需配合探针12的尺寸设计，因此其尺寸也相对地受到限制，以致针板10的针孔16的整体密度无法提高，造成无法测试高密度待测点13的印刷电路板11的情况。
3.印刷电路板11的待测点13的电讯号是通过针体24、弹性元件22、套筒20、探针套筒18等元件彼此组合的电接触传递，经过多道的接触传递后，将造成讯号传递不良的现象，以致影响印刷电路板的测试质量，尤其在测试高密度的待测点时，其效果不理想。
4.探针12固定于针板10上，无法拆卸，因此，当整批料号的印刷电路板11测试完毕之后，针板10及多数的探针12将无法再行使用，造成测试成本的提高及资源的浪费。
本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种制造便利，可有效降低生产成本；可测试更高密度的待测点，且其测试成本低廉；自动导正探针、能达到更准确测试目的，提高测试的传导性，达到更佳的测试效果；并可回收探针，重复利用，降低生产成本的测试探针。
本实用新型的目的是这样实现的：一种测试探针，包括一针体和一弹性元件，其中：针体设有与待测物接触的顶端部及插接部；弹性元件上端点设置一与针体插接部插接的拖抵部，其下部是一设置于针板针孔内的下端点与一导线相连接。
本实用新型还可通过以下措施实现：该弹性元件为弹簧；弹簧的拖抵部是由弹簧本身一体卷绕而成；弹性元件的拖抵部为一底端内缩，直径小于针体的插接部且可自动导正针体的锥形凹槽：该拖抵部为一导电块，该导电块位于弹性元件的上端点与针体插接部接触。
根据上述构造，本实用新型的优点如下：
1.将弹性元件置入针板的插孔内，再以针体直接与弹性元件接触导通，这样，针体结构单纯，可制得相当细小，其制造成本低廉，可有效降低测试成本。
2.由于针体在技术上可制得相当的细小及成本低廉，因此，可提高测试点的测试密度。
3.针体的插接部对准弹性元件的拖抵部，可自动导正歪斜的针体，提高测试的准确性以达到良好的测试效果。
4.由于针体的插接部规格单一，完成一批测试后，可将探针拆下，装设于其它针板上重复利用，节省资源，降低测试成本。
现结合附图及实施例对本实用新型作进一步详细说明：
图1、为本实用新型立体分解图。
图2、为本实用新型组合剖视图。
图3、为图2的局部放大示意图。
图4、为本实用新型另一实施例的组合剖视图。
图5、为图4的局部放大示意图。
图6、为习知测试器具的立体分解图。
参见图1、2，本实用新型利用针体41与弹性元件42相互组合，使针体41具有弹性回复力，且使针体41可被自动导正。探针4由一具有插接部411和头端412的针体41及末端连接有导线3的弹性元件42所组成。弹性元件42顶部设有底端内缩，且直径小于插接部411的拖抵部421，拖抵部421是用以电连接针体41的插接部411底端，该针体41的插接部411与弹性元件42的拖抵部421接触，可使针体41具有弹性回复力，自动导正歪斜的针体41，而弹性元件42连接有导线3。
参见图2、3，本实用新型用于测试具有复数个待测点的待测物。探针4配合设置于测试器具1的针板11表面，测试器具1上表面叠置有夹板12，夹板12钻设若干与针板11的插孔111相对应的通孔121；其中，夹板12的通孔121供插设针体41，且针体41头端412凸出夹板12的上表面。夹板12顶面为一顶板13，顶板13表面的通孔131是依据相对应针体41头端412的直径大小而设计；夹板12设为二层密度板122，密度板122的通孔121是依据针体41尾端插接部411的规格而设置，且二层密度板122间夹设一层未开孔的软性橡胶板123，另外，针体41头端412设为多种不同直径大小的规格，尾端皆设为单一规格的插接部411，此插接部411可插置于针板11所设的插孔111里，插孔111里设置有弹性元件42，在弹性元件42的顶部设有底端逐渐内缩，且直径小于插接部411的锥形凹槽，即拖抵部421，用以承拖住针体41的插接部411底端，弹性元件42尾端直接与导线3的头端连接导通。
参见图4、5，为本实用新型另一实施例，其中弹性元件42的拖抵部421可为与弹性元件42分离的导电块421′位于弹性元件42上端，针体41的插接部411接触导电块421′，再将电讯号传递至弹性元件42，这样，针体41可制得相当细小，而不致落入弹性元件42所形成的通孔内。
将弹性元件42置入针板11的插孔111内，再以针体41直接与弹性元件42接触导通，这样，针体41结构单纯，可制得相当细小，其制造成本低廉，可有效降低测试成本。
由于针体41在技术上可制得相当的细小及成本低廉，因此，可提高测试点的测试密度。
针体41的插接部411对准弹性元件42的拖抵部421，使用时可自动导正歪斜的针体41，且电讯号经由针体41、弹性元件42及导线3直接传递至测试机，不会造成电讯号传递不良的现象，尤其在测试高密度的待测点时，其测试结果准确，效果好。
由于针体41的插接部411规格单一，完成一批测试后，可将探针4拆下，装设于其它针板上重复利用，节省资源，降低测试成本。

Claims (5)

1.一种测试探针，包括一针体和一弹性元件，其特征在于：针体设有与待测物接触的顶端部及插接部；弹性元件上端点设置一与针体插接部插接的拖抵部，其下部是一设置于针板针孔内的下端点与一导线相连。
2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于：该弹性元件为一弹簧。
3.根据权利要求1或2所述的测试探针，其特征在于：该弹簧的拖抵部是由弹簧本身一体卷绕而成。
4.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于：该拖抵部为弹性元件底端内缩，直径小于针体的插接部且可自动导正针体的锥形凹槽。
5.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于：该拖抵部为一导电块，该导电块位于弹性元件的上端点，与针体插接部接触。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100356184C (zh) * 2005-02-03 2007-12-19 芽庄科技股份有限公司 实装板的测试设备
CN100357745C (zh) * 2004-02-17 2007-12-26 财团法人工业技术研究院 集成化探针卡及组装方式
CN101923127A (zh) * 2009-06-12 2010-12-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 导电性测试棒
CN104280904A (zh) * 2014-09-26 2015-01-14 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板检测头及检测装置、阵列基板检测方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7172431B2 (en) * 2004-08-27 2007-02-06 International Business Machines Corporation Electrical connector design and contact geometry and method of use thereof and methods of fabrication thereof
CN2896287Y (zh) * 2006-03-07 2007-05-02 东莞先得利电子测试配件有限公司 一种测试针
US7601009B2 (en) * 2006-05-18 2009-10-13 Centipede Systems, Inc. Socket for an electronic device
US7874880B2 (en) * 2009-02-26 2011-01-25 Ironwood Electronics, Inc. Adapter apparatus with sleeve spring contacts
WO2014132274A1 (en) * 2013-02-27 2014-09-04 Power-One Italy S.P.A. Programming connector
CN105044405B (zh) * 2015-08-26 2017-11-17 深圳市精实机电科技有限公司 一种自动找正探针组件
JP6395327B2 (ja) * 2016-03-18 2018-09-26 株式会社ヨコオ スプリングコネクタ

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3521012A1 (de) * 1984-06-12 1985-12-12 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktelement
US5521519A (en) * 1992-07-30 1996-05-28 International Business Machines Corporation Spring probe with piloted and headed contact and method of tip formation
JP4414017B2 (ja) * 1999-05-25 2010-02-10 モレックス インコーポレイテド Ｉｃソケット
JP3794608B2 (ja) * 1999-12-01 2006-07-05 矢崎総業株式会社 コネクタ導通検査具

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100357745C (zh) * 2004-02-17 2007-12-26 财团法人工业技术研究院 集成化探针卡及组装方式
CN100356184C (zh) * 2005-02-03 2007-12-19 芽庄科技股份有限公司 实装板的测试设备
CN101923127A (zh) * 2009-06-12 2010-12-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 导电性测试棒
CN104280904A (zh) * 2014-09-26 2015-01-14 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板检测头及检测装置、阵列基板检测方法

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