CN2482096Y - 电路板功能自动测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种电路板功能自动测试装置,其主要包括有一测试机台及一控制装置,该测试机台主要由一基座、一另一基座及多个探测部所构成,其电性连接于一第一连接单元;该控制装置电性连接于一第二连接单元,通过第一、二连接单元之间的连接以达到该测试机台与该控制装置之间的电性连接,并且由此方式可快速地针对不同的测试机台或不同的控制装置之间进行模块化的搭配及组合,便可针对各种型态的基底或受测电路板进行相关的测试。
Description
本实用新型涉及一种电路板功能自动测试装置，特别涉及一种可针对具有不同型态的一基底进行功能检测的电路板功能自动测试装置。
一般而言，基底(例如：电路板、主机板等)的测试设备多半采用专用测试设备来进行其各项功能(IC组件、电路连接等)、多个接点(例如：储存器用插座、输入/输出用连接端口等)等的检测，或者利用相近似的专用测试设备进行适当的调整后方可进行各项功能的检测。
然而，由于该基底所必须测试的项目及其种类相当的多，并且在该专用测试设备中的各项设备及组件(例如：处理单元(CPU)、数据存/取装置(磁盘设备)、输入装置(键盘等)、输出装置(屏幕等)等)均必须以适当的线路及接头进行该基底的连接，而其相互间的连接方式多半采用人工来进行，不论在组装过程或进行维修均相当的不方便。
有鉴于此，本实用新型针对上述公知技术而提出改良，以对一基底(例如：电路板)进行自动测试。
本实用新型的目的在于提供一种具有模块化的电路板功能自动测试装置，通过第一、第二连接单元的该第一、第二接合部之间的连接方式可针对不同的测试机台或不同的控制装置之间进行搭配及组合。
本实用新型提出的电路板功能自动测试装置包括：一测试机台，包括有至少一基座及多个探测部，该基底设置于该基座，该多个探测部用于接触在该基底；一第一连接单元，连接于该多个探测部，该第一连接单元具有一第一接合部；一第二连接单元，具有一第二接合部，该第二接合部用来连接该第一接合部；以及一控制装置，电性连接于该第二接合部，该控制装置包括有至少一数据存/取装置、至少一输入装置及至少一输出装置。
上述第一、二连接单元为两电路装置，并且该第一、二接合部为连接器。
为让本实用新型的上述目的、特征及优点能更明显易懂，下面特举一较佳实施例，并配合附图详细说明如下：
图1A是表示本实用新型电路板功能自动测试装置T在闭合状态时的立体图；
图1B是表示根据图1A的本实用新型电路板功能自动测试装置T于开启状态时的立体图，该电路板功能自动测试装置T主要包括有一基座1、另一基座2及一控制装置3，其中，该基座1与该另一基座2之间沿着一枢轴a-a而相互连接，该基座1与该控制装置3之间沿着另一枢轴b-b而相互连接；
图2A是表示该基底B即将设置于根据图1B的该电路板功能自动测试装置T时的立体图；
图2B是表示将一基底B设置于该电路板功能自动测试装置T时的立体图；
图3A是表示根据图1A中的该基座1沿着另一枢轴b-b进行回转且分离于该控制装置3时的立体图；以及
图3B是表示根据图3A中的局部分解立体图。
请参阅图1A、图1B。
图1A是表示本实用新型电路板功能自动测试装置T在闭合状态时的立体图，图1B是表示根据图1A的本实用新型电路板功能自动测试装置T在开启状态时的立体图。
本实用新型电路板功能自动测试装置T主要包括有一基座1、另一基座2、一控制装置3、两组推杆4、一第一连接单元5及一第二连接单元6(见图3A、图3B图)，其中，该基座1与该另一基座2构成一测试机台以对于该一基底B(如图2A、图2B所示)进行定位及其各个电性接点的测试，该基座1与该另一基座2之间沿着一枢轴a-a而相互连接，并且两组推杆4设置在该基座1与该另一基座2之间，这样便可通过两组推杆4将该另一基座2沿着枢轴a-a进行有限程度的摆动。
控制装置3包括有一壳体30、一显示装置31、一输入装置32(例如：键盘)、多个数据存/取装置(硬盘驱动器33、光盘驱动器34、软磁盘驱动器35)，其中，上述第一、二连接单元5、6设置于该壳体30之中(如图3A所示)，并且该硬盘驱动器33、该光盘驱动器34、该软磁盘驱动器35设置在该壳体30之上。
由图1B可知，该基座1上包括有一壳体10、一第一板件11及一探针用板件12(如虚线及图3A所示)，其中，第一板件11以可移动方式(例如：以弹簧支承)设置在该壳体10的中，在该第一板件11的表面100上形成有多个导孔100H1、100H2及多个定位柱100P，该探针用板件12以固定不可移动的方式设置于该壳体10之中，在该探针用板件12上设置有多个探针(可作为另一探测部，但未图示)，各探针分别容纳于该第一板件11的多个导孔100H2之中。当该第一板件11受压移动时，多个探针(未图示)可经过多个导孔100H2而浮出在该第一板件11的表面100之上，这样便可通过该探针用板件12上的各测点对于基底B的各位置进行接触式的测量。
该另一基座2上包括有一第二板件21，在该第二板件21的表面200上形成有多支导杆200P1、多支压杆200P2、多个探测部200S1(VGA连接端口)、多个探测部200S2(RAM连接端口)，其中，多支导杆200P1用于配合第一板件11的多个导孔100H1，通过多个导孔100H1对于多支导杆200P1进行引导，多支压杆200P2则是依设计分布于表面200上，通过多支压杆200P2对于设置在基座1的表面100上的该基底B(如图2A、图2B所示)进行压制。多个探测部200S1(VGA连接端口)及多个探测部200S2(RAM连接端口)电性连接于第一连接单元5(如图3所示)
请同时参阅图2A、图2B。
图2A是表示将该基底B即将设置于该电路板功能自动测试装置T时的立体图，图2B是表示将该基底B设置于该电路板功能自动测试装置T时的立体图。
如图2A所示，该基底B可为电脑主机板或是其它电路板。于本实施例中的该基底B具有四个定位孔B0(图中未视，其对应于定位柱100P)，该基底B可通过这些定位孔B0结合多个定位柱100P的方式而设置在该第一板件11的表面100上。
请参阅图3A、图3B。
图3A是表示根据图1A中的该基座1沿着另一枢轴b-b进行回转，并且将该基座1分离于该控制装置3时的立体图，其中，该第一、二连接单元5、6之间是为相互连接。图3B是表示根据图3A中的局部分解立体图，其中，该第一、二连接单元5、6之间为相互分离。
如图3A所示，第一、二连接单元5、6为两电路装置，探针用板件12与该第一连接单元5之间是通过多条平行线L1进行电性的连接，在该硬盘驱动器33、该光盘驱动器34、该软磁盘驱动器35与第二连接单元6之间分别通过多条平行线L2进行电性的连接。
如图3B所示，在第一连接单元5具有多个第一接合部50，在第二连接单元6具有相对于多个第一接合部50的多个第二接合部60，该第一连接单元5可通过多个第一接合部50与相对的多个第二接合部60之间的连接可达到该基座1与该控制装置3之间的电性连接关系。
因此，通过本实用新型T所提供的第一、二连接单元5、6的该第一、二接合部50、60之间的连接方式可针对不同的测试机台或不同的控制装置之间进行模块化的快速搭配及组合，以适用于对于各种型态的基底或受测电路板进行相关的测试。
虽然本实用新型已以较佳实施例公开如上，然其并非用以限制本实用新型，任何熟悉此项技术的人，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可做变动与润饰，因此本实用新型的保护范围当以权利要求所界定的保护范围为准。
Claims (5)
1.一种电路板功能自动测试装置，用于对一基底进行测试，其特征在于，其组成包括：
一测试机台，包括有至少一基座及多个探测部，该基底设置于该基座，该多个探测部用以接触于该基底；
一第一连接单元，连接于该多个探测部，该第一连接单元具有一第一接合部；
一第二连接单元，具有一第二接合部，该第二接合部用于连接该第一接合部；以及
一控制装置，电性连接于该第二接合部。
2.如权利要求1所述的电路板功能自动测试装置，其特征在于：该第一、二连接单元为两电路装置。
3.如权利要求1所述的电路板功能自动测试装置，其特征在于：该第一、二接合部为连接器。
4.如权利要求1所述的电路板功能自动测试装置，其特征在于：该控制装置包括有至少一数据存/取装置及至少一输入装置。
5.如权利要求1所述的电路板功能自动测试装置，其特征在于：该基底为电路板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 01227462 CN2482096Y (zh) | 2001-06-20 | 2001-06-20 | 电路板功能自动测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 01227462 CN2482096Y (zh) | 2001-06-20 | 2001-06-20 | 电路板功能自动测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN2482096Y true CN2482096Y (zh) | 2002-03-13 |
Family
ID=33642904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN 01227462 Expired - Lifetime CN2482096Y (zh) | 2001-06-20 | 2001-06-20 | 电路板功能自动测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN2482096Y (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100373165C (zh) * | 2003-12-26 | 2008-03-05 | 技嘉科技股份有限公司 | 球栅阵列基板检测装置及其构成方法 |
-
2001
- 2001-06-20 CN CN 01227462 patent/CN2482096Y/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100373165C (zh) * | 2003-12-26 | 2008-03-05 | 技嘉科技股份有限公司 | 球栅阵列基板检测装置及其构成方法 |
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