CN2537053Y - 一种主机板功能测试治具 - Google Patents

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陈贻波
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Abstract

本创作系提供一种测试主机板功能治具,其系将主机板测试所需相关测试组件,集合成一体之治具,该治具设有第一基座,该第一基座上设有一连杆装置、一集成接口设备接口于一体的集成座,另,该连杆装置系配合第二基座而设置的,并可使得该第二基座可藉由该连杆装置的驱动沿着该第一基座平行方向移动,再者,该第二基座上设有至少一个以上之开放空间,这样,利用该治具,测试者在完成测试后,只需要更换待测之主机板,而不需更换与之相配套的接口设备如显示器、键盘、鼠标,如此,即可减少了主机板之接口和接口设备之接口之插拔次数,从而提高了工作效率。

Description

一种主机板功能测试治具
本创作系提供一种测试主机板功能治具,其系一种将主机板测试所需相关测试组件,集合成一体之治具。
电脑用户越来越多了,而厂家在进行整个生产电脑流程中,主机板测试也是其中的一个重要环节,然以往之测试方法,皆是将主机板连同整台主机一起测试,并没有将主机板单独分离开来,而与之相反的是,在进行大量主机板测试时,是需要将测试过的主机板从整台主机上拆离下来,这样,上述之测试方法,则显得极为的不方便,同时需要时间长,影响生产效率。
为了改进上述习用测试方法之各种缺点,创作人经过长久努力与试验,终于开发设计本创作之测试主机板功能治具。
本创作之目的,系提供一种将主机板测试所需相关测试组件,集合成一体,提高测试之质量及工作效率之治具,该治具设有第一基座,该第一基座上设有一连杆装置、一集成主机板接口于一体的集成座,另,该连杆装置系配合第二基座而设置的,使得该第二基座可藉由该连杆装置的驱动而沿着与该第一基座平行方向平移,再者,该第二基座上设有至少一个以上之开放空间。
为能对本创作之目的,形状构造装置及特征,作更进一步的认识与了解现兹举一较佳实施例并配合图式详细说明如下:
图1系本创作之立体分解图;
图2系本创作未驱动连杆装置之第一基座上各个装置之分解图;
图3系本创作驱动连杆装置后之第一基座上各个装置之状态图;
图4系本创作之测试主机板时装载到该测试治具上之状态图;
图5系本创作之主机板接口连接到集成座之接口座之状态图。
本创作系一种测试主机板功能治具,请参照图1所示,该装置设有第一基座1,于本实施列该第一基座1为一矩形支撑板,该第一基座1之一侧设有一连杆装置11,该连杆装置11系配合该第一基座1上方之第二基座2而设置的,使得该第二基座2可借助该连杆装置11之驱动,而沿着水平方向在该第一基座1上来回移动,如图2所示,该连杆装置11设有第一固定座111,该第一固定座111系配合一推拉手柄112而设置,该第一固定座111上设有凹槽1111(如图4所示),使得该推拉手柄112可藉由销子113之插套,而固定在该第一固定座111之凹槽1111中,使推拉手柄112可藉由销子113之枢接,而在第一固定座111中来回移动,于本实施列中,该推拉手柄112呈”L”状,另,在该推拉手柄112之一端,藉由一销子113销接一连杆114,该连杆114另一端则藉由一销子113销接一光轴115,另,配合该光轴115上设有一滑块116、一支撑块117,该滑块116、支撑块117皆设有一穿孔118,令该光轴115可穿过该等穿孔118而与该滑块116、该支撑块117穿套在一起,令使用者驱动推拉手柄112时,可藉由销子113之枢接,而带动连接杆114随之作动,进而带动光轴115作直线运动,再藉由该光轴115带动该滑块116,又,该滑块116系固定于第二基座2之底部,该支撑块117系固定在第一基座1,故在驱动推拉手柄112时,就可藉由上述之机构组件相互连接,达到驱动第二基座2沿着第一基座1平行方向来回移动之目的(如图2、3所示)。
另,该该第一基座1在一定位置上设有一开放式凹槽12(如图2所示),该凹槽12系配合第二基座2之底部一滑轮21而设置的,当驱动推拉手柄112时,可藉由该滑轮21在该开放式凹槽12里滑动,而增加驱动第二基座2来回移动之灵敏度,且该滑轮21两侧各枢接有一相对之凸块23,该等凸块23另一端则与一底板22相接,该底板22系固定于第二基座2底部。
又,在该第一基座1在未设有第一基座11之一侧上设有一集成座13,该集成座13系一集成单元,其设有一个以上之凹槽131,该等凹槽131主要系用来供待测试之主机板所有可能用到之I/O(输入,输出),Epp/Ecp(高速增强型/扩展型并行端口),Audio(音频),电源等接口所需之连接器1311、1312、1313、1314置放,于本实施例中该集成座13设有四个大小不一之凹槽131,该等凹槽131系用来配合主机板3之键盘接口31、鼠标接口32、显示器接口33以及列表机接口34,所需之键盘连接器1311、鼠标连接器1312、显示器连接器1313以及列表机连接器1314而设置的,以便将该等连接器1311、1312、1313、1314安置在该等凹槽131中(如图1及图2所示)。
令测试者在测试过程中,只需将主机板3所有接口分别插接在该等凹槽131中之连接器,使该等接口可藉由该等连接器1311、1312、1313、1314之连接,而与配合之接口设备相连接,如显示器,键盘,鼠标,再藉由第二基座2之移动,使该主机板3之接口可同时脱离与其互相插接之连接器1311、1312、1313、1314,而不需一一拔除,且不需每次测试时,所有接口设备皆需更换或移动。
再者,该第二基座2上设有第一开放空间24,该第一开放空间24系用来在测试过程中,将所需要使用之键盘4存放在该第一开放空间24里,该第一开放空间24系配合置放其中键盘4大小而设计,另,根据不同之主机板,该第二基座2上在不同之方位还设有与之配合之定位柱25,令主机板3可藉由该等定位柱25之固定及撑靠,而固定在到第二基座2上,并与第二基座2保持一定之距离,使得该主机板3之键盘接口31、鼠标接口32、显示器接口33以及列表机接口34,与集成座13之凹槽131里之连接器1311、1312、1313、1314处在同一水平线上,这样,当测试者驱动连杆装置11时,既可带动在第二基座2上之主机板3一起移动到集成座13之边缘,且恰好令主机板3之接口31、32、33、34可分别与该集成座13之凹槽131之连接器1311、1312、1313、1314互相紧密插套在一起,从而避免用手插拔接口,减少插拔次数,提高了工作效率。
又,该第二基座2还设有第二开放空间26,该第二开放空间26系配合光驱5而设置的,以便将该光驱5填置于其中,该第二开放空间26可随放置其中光驱之大小而改变面积,另,该第二基座2上还设有第三开放空间27,该第三开放空间27系供主机板3之中央处理单元(CPU)散热风扇6而设置的,使得该散热风扇6恰可被安置于其中。
再者,在该第二基座2上还设有第二固定座28,该第二固定座28系配合软盘7和硬盘8而设置的,于本实施列中,该第二固定座28系在该第二基座2上设有两相隔一定间距之支架281,该等支架281上设有一盖板282,这样,该两支架281、第二基座2及盖板282就构成一空间283,该空间283则恰可容纳软盘7于其中,另,于本实施列中,该盖板282系一薄板,其系用来支撑上述之硬盘8。
使用时,首先,将键盘连接器1311、鼠标连接器1312、显示器连接器1313、列表机连接器1314分别固定到集成座13之四个大小不一之凹槽131中,将键盘4安放到第二基座2上之第一开放空间24中,然后将键盘之连接线41绕过该测试治具连接到该键盘连接器1311上,其次,是将光驱5装载到该第二基座2上之第二开放空间26上,并让该光驱5之各种连接线连接到主机板3和电源上(图未显示),同样,将软盘7和硬盘8分别放置到第二基座2上之空间283与盖板282上,并将该软盘7和硬盘8之连接线连接到主机板3和电源上(图未显示),最后则是将整个主机板3固定到定位柱25上(如图4所示)。
这样,由于整个主机板3之接口31、32、33、34与集成座13之凹槽131中之连接器1311、1312、1313、1314处于同一水平线上,又由于在第一基座1上驱动连杆装置11,可带动第二基座2沿着与第一基座1的平行方向移动,同时由于该主机板3系藉由定位柱25固定到该第二基座2上,故当测试者驱动在第一基座1上之连杆装置11即可带动整个主机板3亦沿着与第一基座1平行方向上移动,最终到达集成座13之边缘,并藉由该连杆装置11之推拉力,可将主机板3之键盘接口31,鼠标接口32、显示器接口33,列表机接口34牢牢的固定到与之相对应的集成座13之键盘连接器1311、鼠标连接器1312、显示器之连接器1313、打印机之连接器1314中,则整个将主机板3之接口固定到集成座13上(如图5所示)。
由于该测试装置设有连杆装置11及集连接器1311、1312、1313、1314于一体之集成座13,故当测试者驱动该连杆装置11之推拉手柄112,即可带动在第二基座2上之主机板3平移到集成座13之边缘,且可藉由该推拉手柄112之推拉力,将主机板3之接口31、32、33、34固定到该集成座13之连接器1311、1312、1313、1314中,而又由于在进行主机板3测试时,所需的外围的设备都是一样,故,测试时,仅需事先将外围设备连接到该集成座3之连接器1311、1312、1313、1314上,再轻轻推拉该连杆装置11之推拉手柄112,即可使主机板3脱离集成座13之连接器1311、1312、1313、1314,或与该等连接器插接在一起1311、1312、1313、1314,不需要如习知测试装置一样,将主机板3装配已有配备接口设备之主机一起测试,测试过后,再将主机板3从主机上拆离,并将其上众多的接口由主机与其配合之接口上一一拆卸,故透过该治具就可达到提高工作效率之目的。
以上所述者,仅为本创作的最佳实施列而已,并非用来限定本新型的范围,凡依本创作申请专利范围所作的均等变化与修饰,皆为本新型所涵盖。

Claims (4)

1、一种用于测试主机板所需相关测试组件的治具,其特征在于它包括:
一第一基座;
一第二基座,该第二基座上设有至少一个以上开放空间;
一连杆装置,该连杆装置系固定在该第一基座上,另,该第二基座可藉由该连杆装置连接第一基座,并可平置在该连杆装置上;
一集成座,该集成座系设在第一基座上,并位于邻近第二基座处,另,该集成座设有至少一个以上之凹槽;
2、根据权利要求1所述之测试主机板功能治具,其特征在于其连杆装置包含:
一第一固定座,该第一固定座系固定在第一基座上;
一推拉手柄,该推拉手柄系设在该第一固定座上;
一连杆,该连杆一端系连接到该推拉手柄上;
一光轴,其系连接到该连杆未与推拉手柄连接之一端上;
一滑块,该滑块设有一个穿孔,并藉由该穿孔穿套该光轴上,另,该滑块系固定该第二基座之底部;
一支撑块,该支撑块也设有一个穿孔,并藉由该穿孔穿套该光轴上,另,该支撑块系设在第一基座上。
3、根据权利要求1所述之测试主机板功能治具,其特征在于其第二基座上还设有第二固定座。
4、根据权利要求3所述之测试主机板功能治具,其特征在于其第二固定座系在第二基座上设有两支架,该两支架上设有一盖板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN100561245C (zh) * 2005-11-26 2009-11-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 输入输出板的测试系统及方法
CN102662814A (zh) * 2012-04-10 2012-09-12 昆山迈致治具科技有限公司 台式电脑检测治具
TWI498729B (zh) * 2013-10-31 2015-09-01 Wistron Corp 用來檢測主機板之自動化檢測系統

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