CN2890923Y - 分离式测试治具 - Google Patents

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刘萍
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Abstract

一种分离式测试治具,用于测试计算机输入输出端口,包括一端口引伸部,该端口引伸部包括一插头端,该端口引伸部设有一将该端口的引脚引出的插槽端,该分离式测试治具还包括一测试板卡,该测试板卡设有一连接该插槽端及设于该测试板卡上的测试线路的插头连接部。

Description

分离式测试治具
【技术领域】
本实用新型涉及一种分离式测试治具,特别是指一种使用方便、扩展性强的分离式测试治具。
【背景技术】
计算机在组配完成之后,需要经过全面的功能测试来确定其是否为优良品,这其中包括对计算机上各种I/O(input/output输入输出)设备的测试,这些对I/O设备的测试过程中可能出现各种错误,例如,开路、短路等状况,在出厂前这些问题都应该被检测出来并加以解决。
在大规模生产时,由于需要测试的机器数量多,测试时间短,所以大部分设备的测试均要求实现高速化,为此通常都使用测试治具来实现高速化测试。现有的I/O设备测试治具是将一待测试的I/O设备直接插接在一测试板上,这需要对I/O设备的接口部分进行频繁的插拔动作,时间一长则容易将该I/O设备的接口部分的引脚损坏。
【发明内容】
鉴于以上内容,有必要提供一种能有效保护待测端口引脚并能简化测试程序的测试治具。
一种分离式测试治具,用于测试计算机输入输出端口,包括一端口引伸部,该端口引伸部包括一插头端,该端口引伸部设有一将该端口的引脚引出的插槽端,该分离式测试治具还包括一测试板卡,该测试板卡设有一连接该插槽端及设于该测试板卡上的测试线路的插头连接部。
相对于现有技术,该分离式测试治具可靠性好,使用方便,能减少测试中对I/O端口的引脚的磨损,更换测试治具过程简化。
【附图说明】
图1是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的立体图。
图2是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的第一串口插槽端的正视图。
图3是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的第二串口插槽端的正视图。
图4是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的第三串口插槽端的正视图。
图5是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的滑动式串口测试板卡部分的平面示意图。
图6是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的自由连接式串口测试板卡及其测试线路的平面示意图。
图7是本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的一对多测试示意图。
【具体实施方式】
请参阅图1,本实用新型分离式测试治具包括一端口引伸部10及一测试板卡30。
请继续参阅图1,该端口引伸部10的一端为一插头端11,另一端为一插槽端13,该插头端11与该插槽端13由电缆相连,该插头端11的形式应与计算机的待测I/O端口形式保持一致。例如,若测试端口为串口,则该插头端11应选择串口插头,若测试端口为并口,则该插头端11应选择并口插头。该插槽端13需根据该插头端11的具体形式设计成相对应的形式。例如,若该插头端11为串口形式,则该插槽端13应设计为串口的连线形式,若该插头端11为并口形式,则该插槽端13应设计为并口连线形式。其中,每一种形式的插槽端13均可以设计成多种结构。
下面以串口形式的插槽端13为例,介绍三种不同的串口插槽端设计。
请参阅图2,第一串口插槽端131:该第一串口插槽端131的插槽引脚排布与串口的针脚排布一一对应,该第一串口插槽端131的第一到第五引脚按顺序排列在插槽的一侧,其第六到第九引脚按顺序排列在插槽的另一侧。由于该第一串口插槽端131的引脚排布的位置与串口针脚的排布位置是一一对应的,这种基本连线方式设计方便了工作人员的测试及检查。
请参阅图3,第二串口插槽端133:该第二串口插槽端133的插槽引脚中去掉了第五引脚(该第五引脚为地线,故在测试时可暂不连接),第一到第四引脚及第六到第九引脚共八个引脚按顺序呈“一”字形平行排列,引脚的平行排布只要求在测试板卡的一个面上集成测试线路,方便了工作人员的查看,并减少了测试板卡30测试线路设计的复杂度,有利于多种测试线路版本集成的测试板卡设计。
请参阅图4,第三串口插槽端135:该第三串口插槽端135的引脚中也去掉了第五引脚,其引脚是按照使用频率的高低来分组排列,第二引脚、第三引脚、第四引脚、第六引脚依次按顺序排列在插槽的一侧,第七引脚、第八引脚、第九引脚、第一引脚依次按顺序排列在插槽的另一侧,由于引脚是按照使用频率的高低来排布,因此也可有效降低测试板卡30测试线路设计的复杂度,有利于多种测试线路版本集成的测试板卡30设计,并且能同时减少本测试治具占用的空间。
对于并口插槽端也可以做相类似的结构设计。例如,将并口插槽端的引脚排布位置与计算机并口的引脚排布位置一一对应,这样可方便工作人员的测试及检查;也可将并口插槽端的引脚排布按照各引脚的使用频率高低来决定其排布位置,并且由于并口的引脚相对较多,这种引脚排布方式更加能有效降低测试板卡30测试线路设计的复杂度。其他I/O端口形式的设计可以参照以上串口及并口的设计思路设计出与各种I/O端口形式相适应的插槽端。
该测试板卡30的设计相对比较灵活,集成于该测试板卡30上的测试电路有多组,并可根据测试要求进行有针对性的设计,但其接口部分的设计需与该端口引伸部10的插槽端13的形式相对应。下面以与第一串口插槽端131相对应的测试板卡30为例,介绍两种不同的测试板卡30,每种板卡的测试扩充装置有所区别。
请参阅图5,滑动式串口测试板卡31:该滑动式串口测试板卡31的插头连接部311与该第一串口插槽端131相对应,该插头连接部311的一侧设有10个可滑动金属弹片313及5个引脚315,这些引脚315分别对应该第一串口插槽端131的第一至第五引脚;该插头连接部311的另一侧设有8个可滑动金属弹片317及4个引脚319,这些引脚319分别对应该第一串口插槽端131的第六脚至第九脚。该滑动式串口测试板卡31上已集成好的测试线路分为两组,不同组的测试线路对待测端口的测试重点不同。该滑动金属弹片313及317被分为两组,任意两相邻的滑动金属弹片属于不同组别。该滑动式串口测试板卡31上设置有与该滑动金属弹片313及317相连的滑动开关33,该开关33拨动时将带动该滑动金属弹片313及317滑动,分别使该引脚315及319连到不同组别的滑动金属弹片313及317上,以连接不同组别的测试线路。
请参阅图6,自由连接式串口测试板卡35:该自由连接式串口测试板卡35的插头连接部351与该第一串口插槽端131相对应,该插头连接部351的一侧设有五个引脚355,其另一侧设有4个引脚359。该自由连接式串口测试板卡35上设有与该引脚355及359相对应的插孔37,该引脚355、359可通过连线与该插孔37按测试需要自由组合连接。如图6所示,该插孔37的第二、第三脚连在一起,第四、第六脚连在一起,第七、第八脚连在一起,第一、第五及第九脚悬空,这种连接方法对应测试该测试板卡上的一组测试线路,可测试计算机的待测I/O端口的某个特定的功能;不同的连接方法对应该测试板卡上不同的测试线路。
请参阅图7,该自由连接式串口测试板卡35还能实现一对多的并行测试。一对多的并行测试只需将计算机的待测I/O端口51、53、55的引脚对应连线并联在该自由连接式串口测试板卡35的插孔37处,即可实现一对多的并行测试。
本实用新型较佳实施方式分离式测试治具的该端口引伸部10的插槽端13及该测试板卡30均为印刷电路板。该端口引伸部的第一串口插槽端131可用第二串口插槽133或第三串口插槽135替换,同时测试板卡30也做相应替换;若计算机待测端口为其他形式(如并口、USB通用串行总线端口或IEEE1394火线端口等),该端口引伸部10及与其配套的测试板卡30也应做相应的设计替换。

Claims (10)

1.一种分离式测试治具,用于测试计算机输入输出端口,包括一端口引伸部,该端口引伸部包括一插头端,其特征在于:该端口引伸部设有一将该端口的引脚引出的插槽端,该分离式测试治具还包括一测试板卡,该测试板卡设有一连接该插槽端及设于该测试板卡上的测试线路的插头连接部。
2.如权利要求1所述的分离式测试治具,其特征在于:该插槽端设有若干连接该插头连接部的引脚。
3.如权利要求2所述的分离式测试治具,其特征在于:该插槽端的引脚的排布形式与该端口的引脚排布形式一致。
4.如权利要求2所述的分离式测试治具,其特征在于:该插槽端的引脚的排布形式为所有引脚呈“一”字平行排列。
5.如权利要求2所述的分离式测试治具,其特征在于:该插槽端的引脚的排布形式根据测试线路使用频率的高低分组排列。
6.如权利要求1所述的分离式测试治具,其特征在于:该端口引伸部的插槽端与插头端之间由电缆连接。
7.如权利要求1所述的分离式测试治具,其特征在于:该测试板卡上设有若干可扩充该测试板卡测试功能的滑动金属弹片。
8.如权利要求7所述的分离式测试治具,其特征在于:该测试板卡上设有多组不同的测试线路,所述滑动金属弹片被分为两组,每一组滑动金属弹片分别与一组测试线路相连。
9.如权利要求8所述的分离式测试治具,其特征在于:该测试板卡上设有一带动所述滑动金属弹片滑动以选择测试线路组别的开关。
10.如权利要求1所述的分离式测试治具,其特征在于:该测试板卡上设有可扩充测试端口数量并能自由连接测试线路的若干插孔。
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